TW201435691A - 電容式觸控裝置 - Google Patents

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Abstract

一種電容式觸控裝置，包含一控制處理電路及一觸控面板。該觸控面板具有矩陣排列的複數偵測單元。該控制處理電路用以輸入一驅動信號至該觸控面板之該等偵測單元並依序自該等偵測單元讀取量測資料以進行後處理；其中，一正常模式下該控制處理電路以一第一取樣數目讀取該等偵測單元之該量測資料且一休眠模式下該控制處理電路以一第二取樣數目讀取該等偵測單元之該量測資料，該第二取樣數目低於該第一取樣數目。

Description

電容式觸控裝置
本發明係有關一種輸入裝置，更特別有關一種可降低耗能及提升報告率之電容式觸控裝置。
觸控面板因操作簡單且於操作時不需搭配例如滑鼠或鍵盤等額外周邊裝置，因此普遍地被應用於可攜式電子裝置及家電產品上。於電容式觸控面板中，使用者所操作的觸控區域通常僅佔據觸控面板之部分面積，因此在節能省電的考量上，除了能夠於休眠模式下降低耗能，較佳亦能夠於正常模式下節省整體耗能。
習知技術中，於一休眠模式下，可透過降低掃描頻率來降低耗能。例如，台灣專利第200943156號中揭示一種於正常模式下以4毫秒的頻率進行掃描而於休眠模式下以40毫秒的頻率進行掃描的省電方法，其藉由判斷一長時間是否發生一觸碰事件(touch event)來確認是否從正常模式切換至休眠模式。然而在休眠模式下，降低掃描頻率則會同時降低報告率(report rate)而可能延遲第一次觸碰發生的偵測時間，同時會降低觸控面板的反應時間。
有鑑於此，本發明另提出一種電容式觸控裝置，其於一休眠模式下以及一正常模式下均可降低觸控面板之整體耗能，而且不會降低偵測第一次觸碰發生的即時性。
本發明提供一種電容式觸控裝置，其可於一休眠模式下僅掃描觸控面板的部份區域及/或降低觸控面板之量測資料之一取樣數目，藉以降低整體耗能。
本發明提供一種電容式觸控裝置，其可於一正常模式下僅 掃描觸控面板的部份區域及/或降低觸控的部份區域之量測資料之一取樣數目，藉以降低整體耗能。
本發明提供一種電容式觸控裝置，其可降低觸控面板之量測資料之一取樣數目，藉以增加報告率及偵測即時性。
本發明提供一種電容式觸控裝置，包含一觸控面板以及一控制處理電路。該觸控面板包含矩陣排列的複數偵測單元。該控制處理電路用以輸入一驅動信號至該觸控面板之該等偵測單元並依序自該等偵測單元讀取量測資料；其中，一正常模式下該控制處理電路以一第一取樣數目讀取該等偵測單元之該量測資料且一休眠模式下該控制處理電路以一第二取樣數目讀取該等偵測單元之該量測資料。該第二取樣數目低於該第一取樣數目。
本發明另提供一電容式觸控裝置，包含一觸控面板以及一控制處理電路。該觸控面板包含矩陣排列的複數偵測單元。控制處理電路用以輸入一驅動信號至該觸控面板之該等偵測單元並自該等偵測單元依序讀取量測資料；其中，一正常模式下該控制處理電路於一第一圖框期間以一第一取樣數目讀取該等偵測單元之該量測資料且一休眠模式下該控制處理電路於一第二圖框期間以一第二取樣數目讀取該等偵測單元之該量測資料。該第二取樣數目低於該第一取樣數目且該第二圖框期間短於該第一圖框期間。
本發明另提供一種電容式觸控裝置，包含一觸控面板以及一控制處理電路。該觸控面板包含矩陣排列的複數偵測單元。控制處理電路用以輸入一驅動信號至該觸控面板之該等偵測單元並依序自該等偵測單元讀取量測資料；其中，一休眠模式下該控制處理電路僅讀取部份該等偵測單元之該量測資料。
一實施例中，該控制處理電路以相同之一取樣頻率讀取每一偵測單元之複數筆量測資料。例如，讀取該第一取樣數目及該第二取樣數目之取樣頻率均相同。
一實施例中，該正常模式下，該控制處理單元可選擇以較高的取樣數目(例如第一取樣數目)讀取全部或部分該等偵測單元之量測資料；其中，當該控制處理單元以該第一取樣數目僅讀取部分該等偵測單元 之量測資料時，該控制處理單元以較低的取樣數目(例如該第二取樣數目)讀取其他部分該等偵測單元之量測資料，以進一步節省耗能。
一實施例中，該控制處理電路掃描該觸控面板之一圖框期間可包含或不包含閒置時間。當該圖框期間包含閒置時間時可節省耗能；當該圖框期間不包含閒置時間可進一步提昇掃瞄頻率及報告率。
一實施例中，當該控制處理電路於正常模式及休眠模式僅讀取部分偵測單元之量測資料時，於相鄰圖框期間該控制處理電路較佳讀取不同部份的偵測單元之量測資料，以於至少兩圖框期間能夠偵測所有偵測單元至少一次。
本發明實施例之電容式觸控裝置中，於休眠模式下可以較低的取樣數目讀取部份或全部偵測單元之量測資料，藉以降低耗能並提升偵測即時性；於一正常模式下可於一觸碰點周圍區域以正常取樣數目讀取該周圍區域內全部偵測單元之量測資料並於該周圍區域以外的區域以較低的取樣數目讀取部份或全部偵測單元之量測資料，藉以降低耗能並提升偵測即時性。
為了讓本發明之上述和其他目的、特徵和優點能更明顯，下文將配合所附圖示，詳細說明如下。此外，於本發明之說明中，相同之構件係以相同之符號表示，於此先述明。
1‧‧‧電容式觸控裝置
11‧‧‧觸控面板
111‧‧‧偵測單元
1111~111n‧‧‧偵測單元
111a‧‧‧偵測單元之第一部份
111b‧‧‧偵測單元之第二部份
111c‧‧‧偵測單元之第三部份
13‧‧‧控制處理電路
Tc‧‧‧觸碰點
SN1‧‧‧第一取樣數目
SN2‧‧‧第二取樣數目
Sd‧‧‧驅動信號
Sm‧‧‧量測資料
第1圖顯示本發明實施例之電容式觸控裝置之方塊示意圖。
第2圖顯示本發明實施例之電容式觸控裝置之示意圖。
第3A圖顯示本發明實施例之電容式觸控裝置於一休眠模式下讀取部分偵測單元之量測資料之示意圖。
第3B圖顯示本發明實施例之電容式觸控裝置於一休眠模式下讀取部分偵測單元之量測資料之另一示意圖。
第4圖顯示本發明實施例之電容式觸控裝置於一正常模 式下讀取部分偵測單元之量測資料之示意圖。
第5圖顯示本發明第一實施例之電容式觸控裝置之運作示意圖。
第6圖顯示本發明第二實施例之電容式觸控裝置之運作示意圖。
第7圖顯示本發明實施例之電容式觸控裝置讀取偵測單元之量測資料之示意圖。
參照第1及2圖所示，第1圖顯示本發明實施例之電容式觸控裝置之方塊示意圖而第2圖顯示本發明實施例之電容式觸控裝置之示意圖。本發明之電容式觸控裝置1包含一觸控面板11及一控制處理單元13。本實施例中，該觸控面板11例如為一電容式觸控面板，並包含矩陣排列的複數偵測單元111(例如包含1111~111n)，如第2圖所示，用以供使用者於其上進行觸控操作。該控制處理電路13耦接該觸控面板11，用以輸出一驅動信號Sd至該觸控面板11之該等偵測單元111並依序自該等偵測單元111讀取量測資料Sm，並根據所讀取的量測資料Sm判斷至少一觸碰點並輸出相對應之一控制信號至一使用者圖形介面(GUI)；其中，該控制處理電路13與該觸控面板11的連接方式已為習知，例如可透過複數開關元件輸入該驅動信號Sd並依序讀取該量測資料Sm，故於此不再贅述。該驅動信號Sd例如可為一連續電壓信號，例如可為弦波、方波或其他具有對稱或不對稱波形的電壓信號；該控制處理電路13於讀取每一個偵測單元111時均讀取一預設取樣數目(sampling number)的量測資料來計算觸控資訊，例如以一取樣頻率讀取每一個偵測單元111的128筆、64筆或32筆資料來判斷一觸控事件以及一觸控位置等觸控資訊。可以了解的是，該控制處理電路13計算該觸控資訊所需的取樣數目可根據所需的精確度決定，並不限於本發明說明中所揭示者。該觸控資訊係用以相對控制一電子裝置執行特定程式，因其已為習知故於此不再贅述。
本發明中，該電容式觸控裝置1可運作於一正常模式及一 休眠模式(舉例說明於下)；其中，該正常模式可包含兩種實施態樣。該控制處理單元13於不同模式下較佳輸入相同的驅動信號至每一偵測單元111。該正常模式係指該控制處理電路13判斷出至少一指示物，例如手指正操作於該觸控面板11上之一運作模式；該休眠模式係指該控制處理電路13判斷一預設時間內無任何指示物操作於該觸控面板11上之一運作模式。
一部分休眠模式係為該正常模式的另一種實施態樣；例如，當該控制處理電路13判斷出至少一指示物正操作於該觸控面板11上時，將觸控面板11之該等偵測單元1111~111n區分為一第一部份及一第二部份；其中，該第一部份為至少一觸碰點周圍一預設範圍(包含該觸碰點的偵測單元)而該第二部份為其他偵測單元111。該電容式觸控裝置1於該第一部份之該等偵測單元111執行如同該正常模式之運作並於該第二部份之該等偵測單元111執行如同該休眠模式之運作，此處為方便說明而將此運作模式稱為部份休眠模式。必須說明是，本發明中該部份休眠模式可選擇不實施；亦即，該正常模式下該等偵測單元111可不被另外區分為不同區域。
請參照第3A及3B圖所示，其顯示本發明實施例之電容式觸控裝置1於一休眠模式下讀取部分偵測單元之量測資料之示意圖。如前所述，當該控制處理電路13判定一預設時間內無任何手指觸碰該觸控面板11時則進入該休眠模式以節省耗能。該休眠模式下，該控制處理電路13輸入一驅動信號Sd至該觸控面板11之全部或部份偵測單元111並僅讀取部份該等偵測單元111之量測資料，當該控制處理電路13判斷至少一偵測單元111偵測到一觸碰事件時，則控制該電容式觸控裝置1回到正常模式。
第3A及3B圖顯示該制處理電路13於相鄰圖框期間讀取不同部份的該等偵測單元111之量測資料，例如於第m圖框期間及第(m±1)圖框期間分別讀取不同的偵測單元111。藉此，當一觸碰事件僅發生於單一偵測單元111時，可避免無法結束休眠模式的情形。例如，第3A圖顯示該控制處理電路13所讀取的部份該等偵測單元111呈一西洋棋盤圖案；第3B圖顯示該控制處理電路13所讀取的部份為不相鄰列的該等偵測單元111。必須說明的是，只要是能夠於至少兩相鄰圖框期間擷取完所有偵測單元111即可，該控制處理電路13於每一圖框期間所讀取的部份該等偵測單元111的分布並不限於第3A及3B圖所示，例如該控制處理電路13所讀取的部份 亦可為不相鄰行的該等偵測單元111。本發明中，該圖框期間指該控制處理電路13掃描完所有或部分該等偵測單元111並進行一次報告(report)的期間。
本發明中，該控制處理電路13可進一步於該正常模式或該休眠模式以相同或不同的取樣數目讀取該等偵測單元111之量測資料。
一實施例中，於正常模式下該控制處理電路13可讀取所有該等偵測單元111之量測資料，並相對每一圖框期間報告一次觸碰事件或觸碰座標。請參照第4圖所示，其顯示本發明實施例之電容式觸控裝置1於一正常模式之示意圖；另一實施例中，於正常模式下該控制處理電路13可讀取一第一部份111a之該等偵測單元111之所有偵測單元111之量測資料並讀取一第二部份111b之該等偵測單元111之部份偵測單元111之量測資料；其中，該第一部分111a例如為一觸碰點Tc周圍一預設範圍而該第二部份111b例如為該觸控面板11中，該第一部分111a以外之全部或部分偵測單元111；藉此，由於該控制處理電路13可僅讀取該第一部份111a以外的部份偵測單元111之量測資料，因此可於正常模式下進行省電，即部份休眠模式。
綜上所述，本發明中，可透過於休眠模式或部分休眠模式使該控制處理電路13僅讀取部份偵測單元111之量測資料，以節省耗能。
請參照第5圖所示，其顯示本發明第一實施例之電容式觸控裝置之運作示意圖。本實施例中，一正常模式下，該控制處理電路13以一第一取樣數目SN1讀取該等偵測單元1111~111n之量測資料；一休眠模式下，該控制處理電路13以一第二取樣數目SN2讀取該等偵測單元1111~111n之量測資料，以於該休眠模式下節省耗能；其中，該第二取樣數目SN2低於該第一取樣數目SN1。本實施例中，該控制處理電路13始終以相同之一取樣頻率(sampling frequency)讀取每一個偵測單元111之複數筆量測資料。
第5(A)圖顯示正常模式下的操作示意圖。當該控制處理電路13判斷存在至少一手指碰觸該觸控面板11時(如第7圖之正常模式)，該控制處理電路13以該取樣頻率讀取每一偵測單元1111~111n一第一取樣數目SN1之量測資料；其中，該第一取樣數目SN1例如可為128，但並不以此為限。一圖框期間中，該控制處理電路13掃描完所有偵測單元111並報告一觸控資訊。
第5(B)及5(C)圖顯示休眠模式下的操作示意圖。當該控制處理電路13判斷一預設時間沒有任何手指碰觸該觸控面板11時(如第7圖之休眠模式)，該控制處理電路13以該取樣頻率讀取每一偵測單元1111~111n一第二取樣數目SN2之量測資料；其中，該第二取樣數目SN2例如可為64或32，但並不以此為限。本實施例中，由於該正常模式及該休眠模式均具有相同之一圖框期間，該休眠模式下該控制處理電路13讀取完該第二取樣數目之量測資料後即進入一閒置狀態；例如，第5(B)圖顯示該控制處理電路13可讀取完所有偵測單元1111~111n之量測資料後才進入閒置狀態；第5(C)圖顯示該控制處理電路13可讀取每個偵測單元111之量測資料後即進入閒置狀態。由於該控制處理電路13以相同取樣頻率讀取較少取樣數目的量測資料，故輸入該驅動信號Sd及讀取該量測資料Sm的時間縮短了，而可於每一個圖框期間節省耗能(例如於第5(B)及5(C)圖中的閒置期間進行省電)。
另一實施例中，該休眠模式下該控制處理電路13可以該第二取樣數目SN2僅讀取部份該等偵測單元111之量測資料，如第3A及3B圖所示的斜線區域，以進一步提高省電效果。同理，該休眠模式下，該控制處理電路13於相鄰圖框期間以該第二取樣數目SN2讀取不同部份的該等偵測單元111之量測資料。
詳而言之，第一實施例中，於休眠模式下該控制處理電路13可以較低的取樣數目讀取所有或部分偵測單元111之量測資料以確定觸控資訊，藉以達到節省耗能的目的。
第5(D)及5(E)圖顯示正常模式下的另一操作示意圖(即部分休眠模式)。當該控制處理電路13判斷存在至少一手指碰觸該觸控面板11時則進入正常模式，然而此時該控制處理電路13以該取樣頻率讀取一第一部份111a之該等偵測單元111該第一取樣數目SN1之量測資料(例如偵測單元1113及1114)並以該取樣頻率讀取一第二部份111b之該等偵測單元111第二取樣數目SN2之量測資料(例如偵測單元1113及1114以外的偵測單元)，以於正常模式下亦能達到節省耗能的目的。本實施例中，該第一部份111a為一觸碰點Tc周圍一預設範圍而該第二部份111b為該第一部份111a以外之偵測單元111(例如第7圖之部分休眠模式)。本實施例中，由於該正常模式 及該部分休眠模式均具有相同之一圖框期間，於讀取該等偵測單元111之該第二部份111b之該等偵測單元111之量測資料時，該控制處理電路13讀取完該第二取樣數目SN2之該量測資料後即進入一閒置狀態；例如，第5(D)圖顯示該控制處理電路13可讀取完所有偵測單元111之量測資料後才進入閒置狀態；第5(E)圖顯示該控制處理電路13可讀取該第二部份111b中的每個偵測單元111之量測資料(例如偵測單元1113及1114以外的偵測單元)後即進入閒置狀態而讀取該第一部份111a中的偵測單元111之量測資料後(例如偵測單元1113及1114)沒有閒置狀態。
另一實施例中，該控制處理電路13可將該觸控面板11分成三個部份分別以不同的取樣數目讀取該等偵測單元的複數筆量測資料，例如第7圖之另一部分休眠模式中，該控制處理電路13以該第一取樣數目SN1讀取一第一部份111a之該等偵測單元111之量測資料、以該第二取樣數目SN2讀取一第二部份111b之該等偵測單元111之量測資料並以一第三取樣數目SN3讀取一第三部份111c之該等偵測單元111之量測資料；其中，該第三取樣數目SN3可介於該第一取樣數目SN1及該第二取樣數目SN2間，且該第三部份111c較佳介於該第一部分111a及該第二部份111b間。藉此，當手指於下一張圖框期間移出該第一部分111a外時，該控制處理電路13可較即時地偵測觸碰事件；其中，該第三部份111c可根據不同實施例適當選擇。
請參照第6圖所示，其顯示本發明第二實施例之電容式觸控裝置之運作示意圖。本實施例中，一正常模式下該控制處理電路13於一第一圖框期間以一第一取樣數目SN1讀取該等偵測單元111之量測資料且一休眠模式下該控制處理電路13於一第二圖框期間以一第二取樣數目SN2讀取該等偵測單元111之量測資料；其中，該第二取樣數目SN2低於該第一取樣數目SN1且該第二圖框期間短於該第一圖框期間。本實施例中，該控制處理電路13同樣始終以相同之一取樣頻率讀取每個等偵測單元111之複數筆量測資料且每一圖框期間不包含閒置狀態。
第6(A)圖顯示正常模式下的操作示意圖，本實施例的正常模式與第5(A)圖相同，故於此不再贅述。
第6(B)圖顯示休眠模式下的操作示意圖。當該控制處理電路13判斷一預設時間沒有任何手指碰觸該觸控面板11時，該控制處理電路 13以該取樣頻率讀取每一偵測單元1111~111n一第二取樣數目SN2之量測資料。與第一實施例之差異在於，休眠模式下由於該控制處理電路13改以較低的取樣數目讀取該等偵測單元111之量測資料，因此可縮短圖框時間以增加偵測即時性；例如第6(B)圖的第二圖框結束後就直接進入另一個第二圖框而該第二圖框不包含閒置時間；藉此，可在相同的耗電下增加偵測第一次觸碰的即時性以結束休眠模式。
另一實施例中，該休眠模式下該控制處理電路13亦可以該第二取樣數目SN2僅讀取部份該等偵測單元111之量測資料，如第3A及3B圖所示的斜線區域，以進一步提高省電效果。同理，該休眠模式下，該控制處理電路13於相鄰的第二圖框期間可以該第二取樣數目SN2讀取不同部份的該等偵測單元111之量測資料。
詳而言之，第二實施例中，於休眠模式下該控制處理電路13可以較低的取樣數目讀取所有或部分偵測單元111之量測資料以確定觸控資訊，藉以縮短結束休眠模式的反應時間。
第6(C)圖顯示正常模式的另一操作示意圖(即部分休眠模式下)。當該控制處理電路13判斷存在至少一手指碰觸該觸控面板11時則進入正常模式，然而此時該控制處理電路13於一第三圖框期間以該第一取樣數目SN1讀取一第一部份111a之該等偵測單元111之量測資料(例如偵測單元1113及1114)並以該第二取樣數目SN2讀取一第二部份111b之該等偵測單元111之量測資料(例如偵測單元1113及1114以外的偵測單元)，以於正常模式下亦能達到節省耗能的目的；其中，由於該控制處理電路13於該觸控面板11的部分區域以較低的取樣數目讀取量測資料，該第三圖框期間短於該第一圖框期間而長於該第二圖框期間。同理，本實施例中，該第一部份111a可為一觸碰點Tc周圍一預設範圍而該第二部份111b可為該第一部份111a以外之全部或部份偵測單元111。同理，本實施例中該等偵測單元1111~111n亦可被區分為三個以上的部份並分別以不同的取樣數目讀取不同部部分的量測資料。此外，本發明說明中，所述觸碰點Tc例如可為前一次圖框期間的掃描所獲得的指示物座標；其中，所述前一次圖框期間可操作於本發明所述的正常模式、休眠模式或部分休眠模式。該電容式觸控裝置1較佳包含一儲存單元用以儲存該指示物座標。
必須說明的是，雖然本發明各實施例係以互容式電容感測裝置作為舉例來說明，然而本發明亦可用於其他觸控感測裝置，例如自容式電容感測裝置、電阻式感測裝置、光學式感測裝置等可涵蓋觸控系統主要操作區域之感測裝置上。例如，在內嵌式光學感測裝置中，亦可藉由減少每一個感光單元(cell)所對應的光二極體(photodiode)的曝光時間或者交替切換觸控面板的部分感光單元的光二極體進行感光，來達成近似於本發明實施例的省電目的。
綜上所述，習知電容式觸控面板係透過改變掃描頻率進行省電，但卻有降低反應靈敏度的問題。因此，本發明另提供一種電容式觸控裝置(第1及2圖)，其於一休眠模式下以及一正常模式下均可降低觸控面板之整體耗能，而且不會延遲偵測第一次觸碰發生的偵測時間。
雖然本發明已以前述實例揭示，然其並非用以限定本發明，任何本發明所屬技術領域中具有通常知識者，在不脫離本發明之精神和範圍內，當可作各種之更動與修改。因此本發明之保護範圍當視後附之申請專利範圍所界定者為準。
1‧‧‧電容式觸控裝置
11‧‧‧觸控面板
13‧‧‧控制處理電路
Sd‧‧‧驅動信號
Sm‧‧‧量測資料

Claims (20)

  1. 一種電容式觸控裝置，包含：一觸控面板，包含矩陣排列的複數偵測單元；以及一控制處理電路，用以輸入一驅動信號至該觸控面板之該等偵測單元並依序自該等偵測單元讀取量測資料；其中，一正常模式下該控制處理電路以一第一取樣數目讀取該等偵測單元之該量測資料且一休眠模式下該控制處理電路以一第二取樣數目讀取該等偵測單元之該量測資料，該第二取樣數目低於該第一取樣數目。
  2. 如申請專利範圍第1項所述之電容式觸控裝置，其中該控制處理電路於該正常模式及該休眠模式均以相同之一取樣頻率讀取該量測資料；該休眠模式下該控制處理電路讀取完該第二取樣數目之該量測資料後即進入一閒置狀態。
  3. 如申請專利範圍第1或2項所述之電容式觸控裝置，其中該正常模式下該控制處理電路以該第一取樣數目讀取一第一部份之該等偵測單元之該量測資料並以該第二取樣數目讀取一第二部份之該等偵測單元之該量測資料。
  4. 如申請專利範圍第3項所述之電容式觸控裝置，其中該第一部份為一觸碰點周圍一預設範圍。
  5. 如申請專利範圍第4項所述之電容式觸控裝置，其中該第二部份為該第一部份以外之全部或部份該等偵測單元。
  6. 如申請專利範圍第3項所述之電容式觸控裝置，其中於讀取該等偵測單元之該第二部份之該等偵測單元之該量測資 料時，該控制處理電路讀取完該第二取樣數目之該量測資料後即進入一閒置狀態。
  7. 如申請專利範圍第1或2項所述之電容式觸控裝置，其中該休眠模式下該控制處理電路以該第二取樣數目僅讀取部份該等偵測單元之該量測資料。
  8. 如申請專利範圍第6項所述之電容式觸控裝置，其中於相鄰圖框期間該控制處理電路以該第二取樣數目讀取不同部份的該等偵測單元之該量測資料。
  9. 如申請專利範圍第1或2項所述之電容式觸控裝置，其中該正常模式及該休眠模式具有相同之一圖框期間。
  10. 一種電容式觸控裝置，包含：一觸控面板，包含矩陣排列的複數偵測單元；以及一控制處理電路，用以輸入一驅動信號至該觸控面板之該等偵測單元並自該等偵測單元依序讀取量測資料；其中一正常模式下該控制處理電路於一第一圖框期間以一第一取樣數目讀取該等偵測單元之該量測資料且一休眠模式下該控制處理電路於一第二圖框期間以一第二取樣數目讀取該等偵測單元之該量測資料，該第二取樣數目低於該第一取樣數目且該第二圖框期間短於該第一圖框期間。
  11. 如申請專利範圍第10項所述之電容式觸控裝置，其中該正常模式下該控制處理電路或於一第三圖框期間以該第一取樣數目讀取一第一部份之該等偵測單元之該量測資料並 以該第二取樣數目讀取一第二部份之該等偵測單元之該量測資料，該第三圖框期間短於該第一圖框期間。
  12. 如申請專利範圍第11項所述之電容式觸控裝置，其中該第一部份為一觸碰點周圍一預設範圍。
  13. 如申請專利範圍第12項所述之電容式觸控裝置，其中該第二部份為該第一部份以外之全部或部份該等偵測單元。
  14. 如申請專利範圍第10項所述之電容式觸控裝置，其中該休眠模式下該控制處理電路以該第二取樣數目僅讀取部份該等偵測單元之該量測資料。
  15. 如申請專利範圍第14項所述之電容式觸控裝置，其中於相鄰的該第二圖框期間該控制處理電路以該第二取樣數目讀取不同部份的該等偵測單元之該量測資料。
  16. 一種電容式觸控裝置，包含：一觸控面板，包含矩陣排列的複數偵測單元；以及一控制處理電路，用以輸入一驅動信號至該觸控面板之該等偵測單元並依序自該等偵測單元讀取量測資料；其中，一休眠模式下該控制處理電路僅讀取部份該等偵測單元之該量測資料。
  17. 如申請專利範圍第16項所述之電容式觸控裝置，其中該控制處理電路於相鄰圖框期間讀取不同部份的該等偵測單元之該量測資料。
  18. 如申請專利範圍第16或17項所述之電容式觸控裝置，其中該控制處理電路所讀取的部份該等偵測單元呈一西洋棋盤圖案或者為不相鄰行或不相鄰列的該等偵測單元。
  19. 如申請專利範圍第16項所述之電容式觸控裝置，其中一正常模式下，該控制處理電路讀取所有該等偵測單元之該量測資料或者讀取一第一部份之該等偵測單元之所有該等偵測單元之該量測資料並讀取一第二部份之該等偵測單元之部份該等偵測單元之該量測資料。
  20. 如申請專利範圍第19項所述之電容式觸控裝置，其中該第一部份為一觸碰點周圍一預設範圍。
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