TW201427387A - 測量結果驗證系統 - Google Patents

Abstract

本發明提供一種測量結果驗證系統，其係可驗證於聯機上測量之測量結果。本發明之測量結果驗證系統包括：第1測量裝置，其係就每一單位區測量被檢查體，傳送單位區之測量結果資訊；標示裝置，其係於被檢查體之每一單位區，標示具有索引資訊之碼圖案；讀取機，其係從被檢查體之預定單位區之碼圖案，取得該單位區之索引資訊；第2測量裝置，其係再測量已取得索引資訊之單位區，傳送單位區之再測量結果資訊；及驗證裝置，其係分別接收第1測量裝置之測量結果資訊及第2測量裝置之再測量結果資訊，比較對應於讀取機所取得的索引資訊之第1測量裝置之測量結果資訊與第2測量裝置之再測量結果資訊，驗證第1測量裝置之測量結果。

Description

測量結果驗證系統

本發明係關於一種測量結果驗證系統，更詳細而言是有關一種可驗證測量裝置所測量的結果之測量結果驗證系統。

一般而言，圖案化延遲器(Patterned Retarder)適用於偏光眼鏡方式之立體圖案顯示裝置，可利用於具體實現立體影像。又，圖案化延遲器被提供給半穿透型LCD等之一面，藉由具備分別將反射部及穿透部之光學性能最佳化之補償膜之功能，亦可不受外部光之明亮度影響而利用在用以獲得良好的LCD圖像之識別力。圖案化延遲器亦稱為複折射介質或相位差膜。
第1圖係表示一般的圖案化延遲器之立體圖。
參考第1圖，圖案化延遲器10包括有基材膜11、配向層13及液晶塗膜層15。在此，液晶塗膜層15具有第1偏光圖案區21與第2偏光圖案區23構成條紋(Stripe)形狀而交替重複配置之構造。
第1偏光圖案區21構成為可令穿透之光進行左圓偏光(Left Circularly Polarization)，第2偏光圖案區23構成為可令穿透之光進行右圓偏光(Right Circularly Polarization)。亦即，液晶塗膜層15具有令穿透之光進行左圓偏光之區域、與進行右圓偏光之區域交替重複配置之構造。
穿透第1偏光圖案區21之光係於使用者之偏光眼鏡通過左圓偏光片，穿透第2偏光圖案區23之光係於使用者之偏光眼鏡通過右圓偏光片。如此，經由第1偏光圖案區21及第2偏光圖案區23，於使用者之雙眼形成互異的像，藉此可具體實現立體影像。

第1偏光圖案區21及第2偏光圖案區23係於立體圖像顯示裝置之像素區中，分別對應於第奇數個像素線及第偶數個像素線而形成。此時，當第1偏光圖案區21及第2偏光圖案區23之寬度與既已設定之寬度不同地形成，或者第1偏光圖案區21及第2偏光圖案區23未以直線形成而彎曲地形成時，發生雜訊(Cross-Talk)現象，影像變得朦朧，視聽者覺得暈眩。因此，須測量第1偏光圖案區21及第2偏光圖案區23之寬度是否形成如既已設定之寬度，且第1偏光圖案區21及第2偏光圖案區23是否具有某一定之直度而形成。
然而，於現在生產中之聯機(In-line)上所測量的測量資料(聯機測量資料)，可與離機時，在單位製品之狀態下所測量的測量資料(離機測量資料)相比較來驗證。然而，為了將聯機測量資料與離機測量資料相比較，必須檢測聯機上連續生產之圖案化延遲器10中，該當於離機測量資料之單位製品之位置，但具有難以正確檢測該單位製品之位置的問題點。因此，尋求一機構，其係可按各單位製品區之別，識別聯機上連續生產之圖案化延遲器10，可比較驗證聯機測量資料與離機測量資料。

發明所欲解決之課題
本發明之目的在於提供一種測量結果驗證系統，其係可驗證於聯機上測量之測量結果。
解決課題之手段

1.本發明之一實施形態之測量結果驗證系統包括：第1測量裝置，其係就每一單位區測量被檢查體，傳送前述單位區之測量結果資訊；標示裝置，其係於前述被檢查體之每一單位區，標示具有索引資訊之碼圖案；讀取機，其係從前述被檢查體之預定單位區之碼圖案，取得該單位區之索引資訊；第2測量裝置，其係再測量已取得前述索引資訊之單位區，傳送前述單位區之再測量結果資訊；及驗證裝置，其係分別接收前述第1測量裝置之測量結果資訊及前述第2測量裝置之再測量結果資訊，比較對應於前述讀取機所取得的索引資訊之第1測量裝置之測量結果資訊與前述第2測量裝置之再測量結果資訊，驗證前述第1測量裝置之測量結果。
2.本發明之其他實施形態之測量結果驗證系統包括：第1測量裝置，其係就每一單位區測量被檢查體，傳送前述單位區之測量結果資訊；標示裝置，其係接收前述第1測量裝置之測量結果資訊，於前述被檢查體之每一單位區，標示具有該單位區之測量結果資訊及索引資訊之碼圖案；讀取機，其係從前述被檢查體之預定單位區之碼圖案，取得該單位區之測量結果資訊及索引資訊；第2測量裝置，其係再測量已取得前述測量結果資訊及索引資訊之單位區，傳送前述單位區之再測量結果資訊；及驗證裝置，其係接收述第2測量裝置之再測量結果資訊，比較前述讀取機所取得的測量結果資訊與前述第2測量裝置之再測量結果資訊，驗證前述第1測量裝置之測量結果。
3.如前述項目1或2，其特徵在於：前述第1測量裝置為聯機測量裝置，前述第2測量裝置為離機測量裝置。
4.如前述項目3，其中前述第1測量裝置包括：移送部，其係令前述被檢查體往一定方向移送；照明部，其係從前述被檢查體之上部，以預定角度照射光；攝影部，其係接受由前述被檢查體反射之光，就每一單位區拍攝前述被檢查體；及影像分析部，其係分析並測量就每一前述單位區拍攝之影像，傳送前述單位區之測量結果資訊；前述攝影部係設定攝影處，以便拍攝前述移送部之中與前述被檢查體相接的部分。
5.如前述項目4，其中前述被檢查體係交替形成有第1偏光圖案區與第2偏光圖案區之圖案化延遲器。
6.如前述項目5，其中前述第1測量裝置進一步包括：線性偏光濾光片，其係設於前述照明部與前述圖案化延遲器之間；及圓形偏光濾光片，其係設於前述圖案化延遲器與前述攝影部之間；前述影像分析部係分析前述第1偏光圖案區之寬度、前述第2偏光圖案區之寬度、前述第1偏光圖案區之直度、前述第2偏光圖案區之直度、及前述圖案化延遲器之整體寬度中之至少一者。
7.如前述項目4，其中前述第1測量裝置進一步包括移送速度測量部，其係測量前述被檢查體之移送速度；前述攝影部係依據前述被檢查體之移送速度來調節攝影週期，以便就每一單位區拍攝前述被檢查體。

8.如前述項目4，其中前述移送部係從由輥、輥式輸送機、無線軌道型(crawler-type)皮帶、及移送台所組成的群組中選擇。
發明之效果

若依據本發明之實施形態，可將聯機測量裝置之測量結果與離機測量裝置之再測量結果相比較而驗證。在此，聯機測量裝置之測量結果與離機測量裝置之再測量結果之間之一致度超過既已設定之值時，可信賴聯機測量裝置之正確度，藉此可保證聯機測量裝置之測量結果。另一方面，聯機測量裝置之測量結果與離機測量裝置之再測量結果之間之一致度小於既已設定之值時，確認聯機測量裝置之正確度降低，可具備用以提高聯機測量裝置之正確度之機構。
然後，於聯機上，圖案化延遲器往一定方向移送時，攝影部始終拍攝位於移送部上之圖案化延遲器，即使發生馬達之週期性振動或外部衝擊所造成的不規則振動及搖晃，仍可減少圖案化延遲器之攝影圖像扭曲，藉此，即使於聯機上，仍可即時分析第1偏光圖案區及第2偏光圖案區之寬度及直度。又，藉由於照明部與圖案化延遲器之間設置線性偏光濾光片，於圖案化延遲器與攝影部之間設置圓形偏光濾光片，可於圖案化延遲器之攝影影像，明確區別第1偏光圖案區與第2偏光圖案區，藉此可正確分析第1偏光圖案區及第2偏光圖案區之寬度及直度。

100．．．測量結果驗證系統

102、108．．．測量裝置

104．．．標示裝置

106．．．讀取機

110．．．驗證裝置

150．．．被檢查體

151．．．單位區

152、154．．．偏光圖案區

160．．．碼圖案

202．．．移送輥

204．．．照明部

206、208．．．偏光濾光片

210．．．攝影部

212．．．移送速度測量部

214．．．影像分析部

TW．．．整體寬度

W1、W2．．．寬度

第1圖係表示一般的圖案化延遲器之立體圖。
第2圖係表示本發明之一實施形態之測量結果驗證系統之構成之圖式。
第3圖係表示本發明之一實施形態之聯機測量裝置之構成之圖式。
第4圖係表示本發明之一實施形態之圖案化延遲器之俯視圖。

用以實施發明之形態
以下參考第2圖至第4圖，來說明本發明之測量結果驗證系統之具體實施形態。然而，該等只是作為例示之實施例，本發明不受該等所限制。

說明本發明時，判斷關於本發明之習知技術之具體說明並無需要，得脫離本發明之要旨時，則省略其詳細說明。然後，後述之用語是考慮本發明之功能所定義的用語，該等可依使用者、運用者之意圖或慣例等來變更。因此，其定義應根據本說明書整體所記載的內容來定義。

本發明之技術思想係由申請專利範圍的記載來決定，以下實施形態只是用以對於具有本發明所屬技術領域中之一般知識的人士，有效率地說明進步的本發明之技術思想。

第2圖係表示本發明之一實施形態之測量結果驗證系統之構成之圖式。

參考第2圖，測量結果驗證系統100包括第1測量裝置102、標示裝置104、讀取機106、第2測量裝置108、及驗證裝置110。

第1測量裝置102可於製造被檢查體150之過程，即聯機(In-line)上測量被檢查體150。亦即，第1測量裝置102可為聯機測量裝置。此時，被檢查體150係於聯機測量裝置內，由移送部往一定方向移送。然而，第1測量裝置102不限定於聯機測量裝置。被檢查體150可為例如圖案化延遲器，但不限定於此，當然其他各種片材狀製品或膜狀製品均可為被檢查體。以下為了方便，被檢查體150說明作為圖案化延遲器。
第1測量裝置102能以每一定週期，拍攝被檢查體150，分析攝影影像，測量被檢查體150之第1偏光圖案區之寬度、第2偏光圖案區之寬度、第1偏光圖案區之直度、第2偏光圖案區之直度、及被檢查體150之整體寬度等。關於第1測量裝置102之構成及動作之詳細說明，係參考第3圖及第4圖而於後文敘述。第1測量裝置102可將被檢查體150之測量結果資訊，傳送給標示裝置104。
第1測量裝置102可就被檢查體150之每一單位區，排社被檢查體150而測量。在此，單位區可為單位製品區。亦即，於聯機上連續製造之被檢查體150結果會裁切為某一定尺寸，構成個別單位製品。此時，第1測量裝置102可就被檢查體150之每一單位製品區，拍攝被檢查體150而測量，將構成各單位製品區之被檢查體150之測量結果資訊傳送給標示裝置104。然而，單位區不限定於單位製品區，可進行其他各種設定。
標示裝置104可於聯機上，週期性地於被檢查體150表示碼圖案160。被檢查體150可於被檢查體150之每一單位區，表示碼圖案160。碼圖案160具有該單位區之測量結果資訊及索引資訊。在此，索引資訊是用以識別該單位區之資訊。例如索引資訊可為表示該單位區是整體被檢查體150中第幾個單位製品區之製品號碼。碼圖案160可為例如條碼類之資料矩陣(Data Matrix)之形態。
具體而言，標示裝置104可從第1測量裝置102，週期性地接收測量結果資訊，於被檢查體150之每一單位區，分別形成具有該單位區之測量結果資訊及索引資訊之碼圖案160，將形成之各碼圖案160標示於被檢查體150之該單位區。此時，碼圖案160可標示於被檢查體150中未做為實際製品使用而廢棄之區域(例如被檢查體150之緣部)。
讀取機106係讀取表示於被檢查體150之單位區151之碼圖案160。此時，讀取機106可讀取被裁切為單位區151之製品之碼圖案160。讀取機106係從碼圖案160取得該單位區151之測量結果資訊及索引資訊，並傳送給驗證裝置110。
第2測量裝置108可於離機(off-line)上再測量被檢查體150。亦即，第2測量裝置108可於正在製造被檢查體150之聯機之外部之離機上，再測量被檢查體150。然而，第2測量裝置108不限定於離機測量裝置。第2測量裝置108可再測量裁切為被檢查體150之單位區151之製品。此時，第2測量裝置108再測量讀取機106所讀取的碼圖案160之單位區151。
第2測量裝置108可再測量與第1測量裝置102相同的事項。例如第2測量裝置108可測量單位區151內之第1偏光圖案區之寬度、第2偏光圖案區之寬度、第1偏光圖案區之直度、第2偏光圖案區之直度、及被檢查體150之整體寬度等。第2測量裝置108係將再測量單位區151之再測量結果資訊，傳送給驗證裝置110。
在此，表示為讀取機106與第2測量裝置108分開設置，但不限定於此，讀取機106亦可與第2測量裝置108一體設置。此時，第2測量裝置108讀取單位區151之碼圖案160，將該單位區151之測量結果資訊及索引資訊傳送給驗證裝置110，並將再測量單位區151之再測量結果資訊傳送給驗證裝置110。
驗證裝置110比較從讀取機106接收之單位區151之測量結果資訊、與從第2測量裝置108接收之單位區151之再測量結果資訊，驗證第2測量裝置108之測量結果。此時，驗證裝置110係藉由從讀取機106接收之單位區151之索引資訊，容易地辨識該單位區151相當於整體被檢查體150中之何個部分。
驗證裝置110可藉由單位區151之測量結果資訊與單位區151之單位區151之一致程度，來驗證第1測量裝置108之測量結果。在此，單位區151之測量結果資訊與單位區151之再測量結果資訊之間之一致度超過既已設定之值時，可信賴第1測量裝置102之正確度，藉此可保證第1測量裝置102之測量結果。另一方面，單位區151之測量結果資訊與單位區151之再測量結果資訊之間之一致度小於既已設定之值時，確認第1測量裝置102之正確度降低，可備有用以提高第1測量裝置102之正確度之機構。
另，在此，第1測量裝置102係就被檢查體150之單位區之別，將測量結果資訊傳送給標示裝置104，標示裝置104係於被檢查體150之各單位區，逐一表示具有測量結果資訊及索引資訊之碼圖案160，但不限定於此。亦即，第1測量裝置102亦可將被檢查體150之單位區之別之測量結果資訊，傳送給驗證裝置110，標示裝置104亦可於被檢查體150之各單位區，逐一標示僅具有索引資訊之碼圖案160。此時，驗證裝置110可依序保存從第1測量裝置102接收之測量結果資訊。此情況下，讀取機106係從標示於被檢查體150之單位區151之碼圖案160，取得索引資訊，並傳送給驗證裝置110，第2測量裝置108係再測量讀取機106取得索引資訊之單位區151，將該單位區151之再測量結果資訊傳送給驗證裝置110。如此一來，驗證裝置110係經由從讀取機106接收之索引資訊，讀取該單位區之測量結果資訊，並與從第1測量裝置102接收之再測量結果資訊相比較。

若依據本發明之實施形態，可將第1測量裝置102之測量結果與第2測量裝置108之再測量結果相比較而驗證。在此，第1測量裝置102之測量結果資訊與第2測量裝置108之再測量結果資訊之間之一致度超過既已設定之值時，可信賴第1測量裝置102之正確度，藉此可保證第1測量裝置102之測量結果。另一方面，第1測量裝置102之測量結果資訊與第2測量裝置108之再測量結果資訊之間之一致度小於既已設定之值時，確認第1測量裝置102之正確度降低，可備有用以提高第1測量裝置102之正確度之機構。
第3圖係表示本發明之一實施形態之第1測量裝置之構成之圖式，第4圖係表示本發明之一實施形態之圖案化延遲器之俯視圖。在此，第1測量裝置為聯機測量裝置。
參考第3圖及第4圖，第1測量裝置102包括：移送輥202、照明部204、第1偏光濾光片206、第2偏光濾光片208、攝影部210、移送速度測量部212、及影像分析部214。

移送輥202發揮在聯機(In-Line)上，令圖案化延遲器150往一定方向移動的作用。於本發明，移送部若是可移送薄膜的機構均可，並未特別限制，例如可從由輥、輥式輸送機、無線軌道型皮帶、及移送台所組成的群組中選擇。於本實施形態，以輥為例示來說明。
又，在此，為了便於說明，表示一移送輥202，但不限定於此，於製造生產圖案化延遲器150之聯機設備內，可相互離隔形成用以移送圖案化延遲器150之複數個移送輥202。此時，藉由移送輥202之旋轉速度來決定圖案化延遲器150之移送速度。
於圖案化延遲器150，如第4圖所示，第1偏光圖案區152與第2偏光圖案區154構成條紋形狀而交替形成。此時，第1偏光圖案區152之液晶配向角度設為α，第2偏光圖案區154之液晶配向角度設為β。第1偏光圖案區152之液晶配向角度α與第2偏光圖案區154之液晶配向角度β相互呈垂直。於第1偏光圖案區152及第2偏光圖案區154之長度方向作為基準軸時，α及β係與基準軸構成的角度。第1偏光圖案區152係藉由具有α之液晶配向角度而具有α之相位差，第2偏光圖案區154係藉由具有β之液晶配向角度而具有β之相位差。此時，由於α及β相互呈垂直，因此第1偏光圖案區152令照射之光進行左圓偏光，第2偏光圖案區154令照射之光進行右圓偏光。

照明部204係發揮為了取得圖案化延遲器150之影像而照射光之作用。照明部204可於圖案化延遲器150之上部，以一定角度θ照射光。照明部204可利用例如LED燈、螢光燈、白熾燈泡、及鹵素燈等各種光源裝置。
第1偏光濾光片206設於照明部204與圖案化延遲器150之間。此時，由照明部204照射之光係於穿透第1偏光濾光片206後，由圖案化延遲器150反射。第1偏光濾光片206可利用線性偏光濾光片(PL)。此時，第1偏光濾光片206僅令照明部204照射之光中一定方向之線性偏光穿透，並阻隔剩餘方向之偏光。第1偏光濾光片206可無限制地利用本領域所用之線性偏光濾光片，例如可備有一構造，其係包括在玻璃或透明高分子基板上接合之線性偏光子層。
第2偏光濾光片208設於圖案化延遲器150與攝影部210之間。此時，由圖案化延遲器150反射之光係於穿透第2偏光濾光片208後，由攝影部210接受。第2偏光濾光片208可利用圓形偏光濾光片(CPL)。此時，第2偏光濾光片208係利用與第1偏光圖案區152及第2偏光圖案區154中某一者之相位差為同一相位差之圓形偏光濾光片。此時，阻隔由圖案化延遲器150之某一偏光圖案區反射之光，令由另一偏光圖案區反射之光穿透，因此於拍攝圖案化延遲器150之影像中，於第1偏光圖案區152與第2偏光圖案區154之間，會顯現高亮度對比。第2偏光濾光片208可無限制地利用本領域所用之圓形偏光濾光片，例如可備有一構造，其係包括在玻璃或透明高分子基板上接合之線性偏光子層及1/4波片。此時，第2偏光濾光片208之線性偏光子層係選擇其吸收軸不與第1偏光濾光片206之線性偏光子層之吸收軸呈平行者，更宜選擇呈垂直者。
攝影部210設於圖案化延遲器150之上部。攝影部210接受由圖案化延遲器150反射之光，拍攝圖案化延遲器150。攝影部210可對應於由圖案化延遲器150反射之光之角度而設置。攝影部210可依據影像分析部214所產生的攝影控制訊號，來拍攝圖案化延遲器150。此時，攝影部210可依據攝影控制訊號來調節拍攝圖案化延遲器150之攝影週期。攝影部210係將拍攝有圖案化延遲器150之攝影影像，傳送給影像分析部214。

攝影部210可預先設定攝影處，以拍攝移送輥202中與圖案化延遲器150相接之部分。如此一來，圖案化延遲器150往一定方向移送時，攝影部210始終會拍攝位於移送輥202上之圖案化延遲器150。此時，於圖案化延遲器150之拍攝時，圖案化延遲器150之被拍攝部分始終由移送輥202所支撐，平坦性會保持在一定水準，可減少振動或搖晃所造成的攝影影像扭曲。
在此，由於攝影部210始終拍攝位於移送輥202上之圖案化延遲器150，因此攝影部210是利用反射照明來拍攝圖案化延遲器150。因此，照明部204設置成於圖案化延遲器150之上部，以一定角度θ照射光。

移送速度測量部212測量圖案化延遲器150之移動速度。移送速度測量部212可為例如與移送輥202連動設置之編碼器。此時，可計測移送輥202之旋轉速度來測量圖案化延遲器150之移送速度。在此，移送速度測量部212雖表示成與移送輥202連動設置之編碼器，但不限定於此，移送速度測量部212可為其他各種速度測量機構。移送速度測量部212可將圖案化延遲器150之移送速度傳送至影像分析部214。此時，移送速度測量部212能以一定週期傳送圖案化延遲器150之移送速度。

影像分析部214可依據從移送速度測量部212傳送來之圖案化延遲器150之移送速度，令攝影部210產生攝影控制訊號，以調節攝影週期。在此，雖表示影像分析部214令攝影部210產生攝影控制訊號，但不限定於此，移送速度測量部212直接令攝影部210產生攝影控制訊號亦可。

影像分析部214可經由圖案化延遲器150之攝影影像，來測量第1偏光圖案區152之寬度W1、第2偏光圖案區154之寬度W2、第1偏光圖案區152之直度、第2偏光圖案區154之直度、及圖案化延遲器150之整體寬度TW。

具體而言，由照明部204照射、由圖案化延遲器150反射之光，在穿透圓形偏光濾光器(CPL)之第2偏光濾光片208後，由攝影部210接受。此時，第2偏光濾光片208具有與第1偏光圖案區152及第2偏光圖案區154中某一者之相位差相同之相位差時，使得由與第2偏光濾光片208具有同一相位差之偏光圖案區反射之光通過，使得由與第2偏光濾光片208具有不同相位差之偏光圖案區反射之光阻隔。如此一來，於拍攝有圖案化延遲器150之影像，較亮顯示與第2偏光濾光片208具有同一相位差之偏光圖案區，較暗顯示與第2偏光濾光片208具有不同相位差之偏光圖案區，因此於第1偏光圖案區152與第2偏光圖案區154之間，會明確顯示明暗對比。此時，由於影像分析部214可於圖案化延遲器150之攝影影像，明確區分第1偏光圖案區152與第2偏光圖案區154，因此可容易測量各偏光圖案區之寬度及直度。此時，為了使得第1偏光圖案區152與第2偏光圖案區154之交界更明確，影像分析部214可對圖案化延遲器150之攝影影像適用邊緣濾光片。

影像分析部214可將有關第1偏光圖案區152之寬度W1、第2偏光圖案區154之寬度W2、第1偏光圖案區152之直度、第2偏光圖案區154之直度、及圖案化延遲器150之整體寬度TW之測量結果資訊，傳送給標示裝置104。然而，不限定於此，影像分析部214亦可將前述測量結果資訊傳送給驗證裝置110。

若依據本發明之實施形態，於聯機上，圖案化延遲器150往一定方向移送時，攝影部210始終拍攝位於移送輥202上之圖案化延遲器150，即使發生馬達之週期性振動或外部衝擊所造成的不規則振動及搖晃，仍可減少圖案化延遲器150之攝影圖像扭曲，藉此，即使於聯機上，仍可即時分析第1偏光圖案區152及第2偏光圖案區154之寬度及直度。又，藉由於照明部204與圖案化延遲器150之間設置線性偏光濾光片，於圖案化延遲器150與攝影部210之間設置圓形偏光濾光片，可於圖案化延遲器150之攝影影像，明確區別第1偏光圖案區152與第2偏光圖案區154，藉此可正確分析第1偏光圖案區152及第2偏光圖案區154之寬度及直度。

以上透過代表性之實施形態來說明了本發明，但具有本發明所屬技術領域中之一般知識的人士，應理解對於上述實施形態，可於不脫離本發明範疇之範圍內施以各種變形。因此，本發明之權利範圍不得限定於所說明的實施形態來制訂，不僅須藉由後述之申請專利範圍，還須藉由與該申請專利範圍同等之技術等來制訂。

100．．．測量結果驗證系統

102、108．．．測量裝置

104．．．標示裝置

106．．．讀取機

110．．．驗證裝置

150．．．被檢查體

151．．．單位區

160．．．碼圖案

Claims (1)

1. 一種測量結果驗證系統，包括：第1測量裝置，其係就每一單位區測量被檢查體，傳送前述單位區之測量結果資訊；

標示裝置，其係於前述被檢查體之每一單位區，標示具有索引資訊之碼圖案；

讀取機，其係從前述被檢查體之預定單位區之碼圖案，取得該單位區之索引資訊；

第2測量裝置，其係再測量已取得前述索引資訊之單位區，傳送前述單位區之再測量結果資訊；及

驗證裝置，其係分別接收前述第1測量裝置之測量結果資訊及前述第2測量裝置之再測量結果資訊，比較對應於前述讀取機所取得的索引資訊之第1測量裝置之測量結果資訊與前述第2測量裝置之再測量結果資訊，驗證前述第1測量裝置之測量結果。

2. 一種測量結果驗證系統，包括：第1測量裝置，其係就每一單位區測量被檢查體，傳送前述單位區之測量結果資訊；

標示裝置，其係接收前述第1測量裝置之測量結果資訊，於前述被檢查體之每一單位區，標示具有該單位區之測量結果資訊及索引資訊之碼圖案；

讀取機，其係從前述被檢查體之預定單位區之碼圖案，取得該單位區之測量結果資訊及索引資訊；

第2測量裝置，其係再測量已取得前述測量結果資訊及索引資訊之單位區，傳送前述單位區之再測量結果資訊；及

驗證裝置，其係接收前述第2測量裝置之再測量結果資訊，比較前述讀取機所取得的測量結果資訊與前述第2測量裝置之再測量結果資訊，驗證前述第1測量裝置之測量結果。

3. 如申請專利範圍第1項或第2項之測量結果驗證系統，其中前述第1測量裝置為聯機測量裝置，前述第2測量裝置為離機測量裝置。

4. 如申請專利範圍第3項之測量結果驗證系統，其中前述第1測量裝置包括：移送部，其係令前述被檢查體往一定方向移送；

照明部，其係從前述被檢查體之上部，以預定角度照射光；

攝影部，其係接受由前述被檢查體反射之光，就每一單位區拍攝前述被檢查體；及

影像分析部，其係分析並測量就每一前述單位區拍攝之影像，傳送前述單位區之測量結果資訊；

前述攝影部係設定攝影處，以便拍攝前述移送部之中與前述被檢查體相接觸的部分。

5. 如申請專利範圍第4項之測量結果驗證系統，其中前述被檢查體係交替形成有第1偏光圖案區與第2偏光圖案區之圖案化延遲器。

6. 如申請專利範圍第5項之測量結果驗證系統，其中前述第1測量裝置進一步包括：

線性偏光濾光片，其係設於前述照明部與前述圖案化延遲器之間；及

圓形偏光濾光片，其係設於前述圖案化延遲器與前述攝影部之間；前述影像分析部係分析前述第1偏光圖案區之寬度、前述第2偏光圖案區之寬度、前述第1偏光圖案區之直度、前述第2偏光圖案區之直度、及前述圖案化延遲器之整體寬度中之至少一者。

7. 如申請專利範圍第4項之測量結果驗證系統，其中前述第1測量裝置進一步包括移送速度測量部，其係測量前述被檢查體之移送速度；前述攝影部係依據前述被檢查體之移送速度來調節攝影週期，以便就每一單位區拍攝前述被檢查體。

8. 如申請專利範圍第4項之測量結果驗證系統，其中前述移送部係從由輥、輥式輸送機、無線軌道型皮帶、及移送台所組成的群組中選擇。