TW201423458A - 分析尺寸鏈的處理方法及其系統 - Google Patents

Abstract

一種分析尺寸鏈的處理方法及其系統，應用在設計模具時對外觀部件的調整是否可以符合所要求的公差，並在不符合時播放相應的提示。處理方法包括以下步驟：選擇待測樣本，待測樣本具有多個外觀部件與相應的外觀尺寸資訊；載入調整參數；將調整參數套用於待測樣本，計算待測樣本的輸出良率；判斷輸出良率是否符合期望值；若輸出良率符合期望值，則將調整參數記錄至匯出報告；若輸出良率不符合期望值，調整外觀尺寸資訊的範圍並重新計算新的輸出良率。

Description

分析尺寸鏈的處理方法及其系統

一種數值分析的方法及其處理系統，特別有關於一種分析尺寸鏈的處理方法及其系統。

隨著3C產品的多樣化，許多廠商為了能迎合消費者的需求，所以會每經過一段時間後就對現有產品(或新產品)提出新的外觀設計。當設計人員修改外觀設計時，可能會將現有的外觀部件進行異動(例如：刪除、增加、變更尺寸或移動)。但由於3C產品的內部空間有限，因此一旦異動外觀設計就可能干涉到內部元件的擺放。所以外觀設計異動時，也會連帶的牽扯到其他元件的設計。

為避免此一問題的產生，在相關的設計軟體中有提供了部件異動且產生干涉時會發出警示的功能。而此一警示功能雖然可以發出干涉時的提示，但無法對具體的修改提出相應的建議。所以外觀設計人員還須得其他部門的設計人員進行協商，方能得到合理的修改方式。

鑒於以上的問題，本發明在於提供一種分析尺寸鏈的處理方法，應用在設計模具時對外觀部件的調整是否可以符合所要求的公差，並在不符合時播放相應的提示。

本發明所揭露之分析尺寸鏈的處理方法包括：選擇待測樣本，待測樣本具有多個外觀部件與相應的外觀尺寸資訊；載入調整參數；將調整參數套用於待測樣本，計算待測樣本的輸出良率；判斷輸出良率是否符合期望值；若輸出良率符合期望值，則將調整參數記錄至匯出報告；若輸出良率不符合期望值，調整外觀尺寸資訊的範圍並重新計算新的輸出良率。

本發明另提出一種分析尺寸鏈的處理系統，其係包括儲存單元、顯示單元、輸入單元與處理單元。處理單元電性連接於儲存單元、顯示單元與輸入單元。顯示單元顯示視覺介面，視覺介面包括目標輸入區、條件輸入區與分析輸出區；儲存單元儲存待測樣本、公差分析程序與產生視覺介面的介面繪製程序；處理單元運行介面繪製程序並於顯示單元上顯示該視覺介面；目標輸入區接收該期望值，條件輸入區接收調整參數，處理單元根據期望值與調整參數計算待測樣本的輸出良率。

本發明所提出的分析尺寸鏈的處理方法及其系統可以即時的提供外觀部件被異動時，系統可以回應該外觀部件的公差分析與修改建議。使得開發人員可以節省重新規劃其他部件的尺寸鏈。

有關本發明的特徵與實作，茲配合圖式作最佳實施例詳細說明如下。

請參考第1圖所示，其係為本發明處理系統的架構示意圖。 本發明的處理系統100包括儲存單元110、顯示單元120、輸入單元130與處理單元140。處理單元140電性連接於儲存單元110、顯示單元120與輸入單元130。儲存單元110記錄視覺介面111、待測樣本112與調整參數113。顯示單元120用以播放視覺介面111與待測樣本112的各項資訊(顯示內容與處理方式將於後文詳述)。輸入單元130用以接收使用者所鍵入的指令與資訊。

為清楚說明本發明運作時的各項資訊。在此對所述名詞進行定義。待測樣本112所指的是欲進行修改的產品設計圖，而調整參數113也是該產品的產品設計圖。待測樣本112具有至少一個以上的外觀部件與該外觀部件的外觀尺寸資訊。外觀部件係為產品設計圖中的任一元件。以筆記型電腦的外殼為例：通用序列匯流排的開孔係為筆記型電腦的外觀部件。本發明中的調整參數113的種類有第一參數(容許公差)、第二參數(外觀標準)與第三參數(設計值)。而通用序列匯流排的開孔的外觀尺寸資訊則是該開孔的面積。第一參數的主要作用是偵測所有外觀部件並判斷哪一個外觀部件的容許公差對於待測樣本112的影響程度最大。第二參數的主要作用在於調整外觀標準的限制，藉以提高良率。第三參數的作用在於調整設計值，使得調整後的設計值可以符合外觀標準的範圍內。

外觀標準係為產品中兩個零件之間的間隙或高低差(段差)的尺寸標準。由於在設計過程中可能因為累積公差過大，進而造成 設計出來的產品尺寸與預想的外觀標準不符。如此一來，會使得製造時的良率過低。此時可藉由放寬預設的外觀標準，讓更多實際產品能符合標準，而使良率提高。其中，良率指的是由產品設計的結果和外觀標準做比較，預估實際生產時，會符合外觀標準的比例。例如，原本規格上間隙為2mm，在設計時因為公差的關係，而使得產品實際的間隙為2.5mm，此時可將原外觀標準由2mm放寬至3mm，而使實際間隙符合規格而使良率提高。

當每次輸入外觀部件不同的外觀尺寸資訊時，均會產生對應的輸出良率。期望值係為該筆外觀尺寸資訊對應的良率最低門檻。期望值的產生可以調整該項待測樣本112的尺寸鍊進而得到每次修改外觀部件時的可以接受的對應範圍。換句話說，每次修改外觀部件的尺寸時，處理單元140對於修改的尺寸最大值與最小值都會計算出不同的範圍。

為清楚說明本發明對待測樣本112的調整處理，還請參考第2圖所示，其係為本發明之運作流程示意圖。本發明的運作流程包括以下步驟：步驟S201：選擇待測樣本，待測樣本具有多個外觀部件與相應的外觀尺寸資訊；步驟S202：載入調整參數；步驟S203：將調整參數套用於待測樣本，計算待測樣本的輸出良率； 步驟S204：判斷輸出良率是否符合期望值；步驟S205：若輸出良率符合期望值，則將調整參數記錄至匯出報告；以及步驟S206：若輸出良率不符合期望值，調整外觀尺寸資訊的範圍並重新計算新的輸出良率。

使用者可以透過輸入單元130從儲存單元110中選擇任一待測樣本112。處理單元140會根據所選的待測樣本112載入相應的調整參數113。而調整參數113的處理順序可以將第一參數、第二參數與第三參數並行處理，也可以依序對第一參數、第二參數與第三參數進行處理。在此先以整體流程作為解說。處理單元140將調整參數113套用於待測樣本112上，並計算該筆待測樣本112的輸出良率。

接著，處理單元140判斷輸出良率是否符合期望值。若不符合期望值時，則代表該待測樣本112的調整並未符合期望值。此時系統可以調整外觀尺寸資訊，之後處理單元140會重新判斷輸出良率是否符合期望值。若輸出良率符合期望值，則將調整參數113記錄至匯出報告。

所述的調整參數113又可分為第一參數、第二參數與第三參數，因此以下分別對各種參數的調整流程作更進一步的說明。請參考第3A圖所示，其係為本發明的第一參數的運作流程示意圖。

步驟S211：選擇第一參數；以及 步驟S212：重複調整第一參數並計算每一外觀尺寸資訊的輸出良率，直至完成所有每一第一參數為止。

當選擇第一參數對待測樣本112進行調整，則處理單元140將會逐次的變更第一參數。並在改變第一參數後，隨即產生相應的輸出良率。處理單元140將記錄每一次的輸出良率，並將所有結果繪製於該分析輸出區，藉以提供給使用者選擇。

此外，本發明的第二參數的運作方式還請參考第3B圖所示，其係為本發明的第二參數的運作流程示意圖。其中所述的中心區間係代表期望值的區間，上限區間與下限區間可以由使用者自行決定。

步驟S221：判斷輸出良率是否落在調整參數的中心區間、偏向下限區間或偏向上限區間；步驟S222：若輸出良率偏向下限區間，則調整下限邊界；步驟S223：若輸出良率偏向上限區間，則調整上限邊界；步驟S224：判斷輸出良率是否位於新的中心區間內；步驟S225：若位於新的中心區間內，則執行步驟S205；步驟S226：若未位於新的中心區間內，重複執行步驟S223步驟S227：若輸出良率位於中間區間時，則拉大上限邊界與下限邊界的距離；以及步驟S228：判斷輸出良率是否符合期望值，若輸出良率不符合期望值則重新執行步驟S227，若輸出良率符合 期望值則執行步驟S225。

當使用者選擇第二參數進行調整，則處理單元140會判斷調整後的輸出良率是否落在調整參數113的中心區間、下限區間或上限區間。當輸出良率落在不同範圍時，使用者可以對上限邊界或下限邊界進行調整。

本發明對於調整上限邊界更包括以下步驟，請配合第3B-1圖所示，其係包括以下步驟：步驟S222-1：判斷最初的上限邊界與當前的上限邊界之差值是否超過上限門檻值；步驟S222-2：若大於上限門檻值時，則輸出錯誤訊息；以及步驟S222-3：若小於或等於上限門檻值時，則調整上限邊界。

相對上限邊界，對於下限邊界的調整也包括以下步驟，請配合第3B-2圖所示，其係包括：步驟S223-1：判斷最初的下限邊界與當前的下限邊界之差值是否超過下限門檻值；步驟S223-2：若小於下限門檻值時，則輸出錯誤訊息；以及步驟S223-3：若大於或等於下限門檻值時，則調整下限邊界。

若步驟S222-1與步驟S223-2均成立時，處理單元140會在分析輸出區中跳現「無法調整外觀標準，以達到輸出良率」的訊息。

請參考第3C圖所示，其係為本發明的第三參數的運作流程示意圖。 意圖。

步驟S231：選擇第三參數；步驟S232：取得調整參數的上限邊界與下限邊界，並根據上限邊界與下限邊界得到中間值；步驟S233：判斷第三參數與中間值的大小；步驟S234：若第三參數大於中間值，則調低第三參數並重新計算新的輸出良率；以及步驟S235：若第三參數小於中間值，則調高第三參數並重新計算新的輸出良率。

本發明所提出的分析尺寸鏈的處理方法可以即時的提供外觀部件被異動時，系統可以回應該外觀部件的公差分析與修改建議。使得開發人員可以節省重新規劃其他部件的尺寸鏈。

雖然本發明以前述之較佳實施例揭露如上，然其並非用以限定本發明，任何熟習相像技藝者，在不脫離本發明之精神和範圍內，當可作些許之更動與潤飾，因此本發明之專利保護範圍須視本說明書所附之申請專利範圍所界定者為準。

100‧‧‧處理系統

110‧‧‧儲存單元

111‧‧‧視覺介面

112‧‧‧待測樣本

113‧‧‧調整參數

120‧‧‧顯示單元

130‧‧‧輸入單元

140‧‧‧處理單元

第1圖係為本發明處理系統的架構示意圖。

第2圖係為本發明之運作流程示意圖。

第3A圖係為本發明的第一參數的運作流程示意圖。

第3B圖係為本發明的第二參數的運作流程示意圖。

第3B-1圖係為本發明的調整上限邊界的運作流程示意圖。

第3B-2圖係為本發明的調整下限邊界的運作流程示意圖。

第3C圖係為本發明的第三參數的運作流程示意圖。

Claims (10)

1. 一種分析尺寸鏈的處理方法，其係包括：選擇一待測樣本，該待測樣本具有多個外觀部件與相應的一外觀尺寸資訊；載入一調整參數；將該調整參數套用於該待測樣本，計算該待測樣本的一輸出良率；判斷該輸出良率是否符合一期望值；若該輸出良率符合該期望值，則將該調整參數記錄至一匯出報告；以及若該輸出良率不符合該期望值，調整該外觀尺寸資訊的範圍並重新計算新的該輸出良率。
2. 如請求項1所述之分析尺寸鏈的處理方法，其中該調整參數包括一第一參數、一第二參數與一第三參數。
3. 如請求項2所述之分析尺寸鏈的處理方法，其中在調整該外觀尺寸資訊的步驟中包括：選擇該第一參數；以及重複調整該第一參數並計算每一該外觀尺寸資訊的該輸出良率，直至完成所有每一該第一參數為止。
4. 如請求項2所述之分析尺寸鏈的處理方法，其中在調整該外觀尺寸資訊的步驟中包括： 判斷該輸出良率是否落在該調整參數的一中心區間、偏向一下限區間或偏向一上限區間；若該輸出良率位於該下限區間，則調整一下限邊界；若該輸出良率位於該上限區間，則調整一上限邊界；以及判斷該輸出良率是否位於新的該中心區間之中。
5. 如請求項4所述之分析尺寸鏈的處理方法，其中在調整該上限邊界的步驟中更包括：判斷最初的該上限邊界與當前的該上限邊界之差值是否超過一上限門檻值；以及若小於或等於該上限門檻值時，則調整該上限邊界。
6. 如請求項4所述之分析尺寸鏈的處理方法，其中在調整該下限邊界的步驟中更包括：判斷最初的該下限邊界與當前的該下限邊界之差值是否超過一下限門檻值；以及若大於或等於該下限門檻值時，則調整該下限邊界。
7. 如請求項4所述之分析尺寸鏈的處理方法，若該輸出良率位於該中心區間，則同時拉大該上限邊界與該下限邊界的距離；以及判斷輸出良率是否符合期望值。
8. 如請求項2所述之分析尺寸鏈的處理方法，其中在調整該外觀尺寸資訊的步驟中包括：選擇該第三參數； 取得該調整參數的一上限邊界與一下限邊界，並根據該上限邊界與該下限邊界得到一中間值；判斷該第三參數與該中間值的大小；若該第三參數大於該中間值，則調低該第三參數並重新計算新的該輸出良率；以及若該第三參數小於該中間值，則調高該第三參數並重新計算新的該輸出良率。
9. 一種應用請求項1的處理系統，其係包括：一顯示單元，顯示一視覺介面，該視覺介面包括一目標輸入區、一條件輸入區與一分析輸出區；一儲存單元，儲存該待測樣本、一公差分析程序與產生該視覺介面的一介面繪製程序；以及一處理單元，電性連接於該顯示單元與該儲存單元，該處理單元運行該介面繪製程序並於該顯示單元上顯示該視覺介面；其中，該目標輸入區接收該期望值，該條件輸入區接收該調整參數，該處理單元根據該期望值與該調整參數計算該待測樣本的該輸出良率，該處理單元在該分析輸出區中繪製該輸出良率。
10. 如請求項8所述之應用請求項1的處理系統，其中更包括一輸入單元，該輸入單元用以將該調整參數輸入至該條件輸入區或 將該期望值輸入至該目標輸入區中。