TW201415005A - 穀粒外觀測定裝置 - Google Patents

Abstract

本發明之技術目的在於：使用以拍攝裝置拍攝的穀粒之影像資訊來進行該穀粒之光學性檢查，並且使用該影像資訊來製作將穀粒投放至穀粒觀察皿上的集合影像(擬似影像)，藉以在進行光學性檢查的同時，藉由該集合影像來擬似性地進行利用穀粒觀察皿的目視下檢查。因此，穀粒外觀測定裝置係由下列者構成：拍攝機構，拍攝多數之穀粒；分析機構，以粒為單位來分析該拍攝機構所拍攝的穀粒之影像資訊；加工機構，加工該影像資訊而形成集合影像；以及保存及/或顯示機構，保存及/或顯示該加工機構所加工的集合影像；且在該加工機構中，以粒為單位，從該影像資訊中抽取穀粒之影像，將抽取的粒單位之各穀粒之影像配置成彼此密接狀態，形成該穀粒之影像之集合影像。

Description

穀粒外觀測定裝置

本發明係關於一種穀粒外觀測定裝置，包含：製作、保存及/或表示機構，使用為了測定而拍攝的多數之穀粒之影像資訊，來製作、保存及/或表示將穀粒投放至穀粒鑑定皿上的狀態下之集合影像(擬似影像)。

【背景技術】

以往，係使用掃描器等拍攝裝置來拍攝穀粒，並使用拍攝獲得的影像資訊來進行該穀粒之判別。專利文獻1中記載事項，係從拍攝有穀粒之影像資訊中逐粒抽取穀粒，以粒為單位來判別抽取的該穀粒，並將判別結果表示成以粒為單位來排列的狀態。依據此表示方法，能夠如圖12所示地表示判別後的各穀粒。

即使到現在，穀粒仍然藉由目視來檢查。係使用如專利文獻2所記載的稱為托盤(carton)之穀粒鑑定皿來進行目視檢查。利用穀粒鑑定皿進行的目視檢查之價值在於，依據投放至穀粒鑑定皿上的狀態下之穀粒，一眼即能進行大致的判別。

即使在使用專利文獻1所記載的光學性機構來進行檢查之情況下，也希望能保存及表示將該檢查中使用的樣本穀粒投放至穀粒鑑定皿上的狀態下之影像。

但是，將掃描器等拍攝裝置所拍攝之後的樣本穀粒投放至穀粒鑑定皿 上，並利用與該拍攝裝置不同的其他拍攝機構(數位相機等)來拍攝投放後的穀粒鑑定皿不僅費工，且必須將互相之影像資訊保存及表示成互相對照。

【專利文獻】

專利文獻1：日本特開2004-361333號公報

專利文獻2：日本專利第4716389號公報

本發明有鑑於上述事項，目的在於使用掃描器等拍攝裝置所拍攝的影像資訊來進行穀粒之檢查，並且使用該影像資訊來製作出表示將穀粒投放至穀粒觀察皿上的狀態下之集合影像(擬似影像)，藉以在進行光學性檢查的同時藉由該集合影像來擬似性地進行利用穀粒觀察皿的目視下檢查。

本發明為解決上述問題，提及一種技術手段，係一種穀粒外觀測定裝置，包含下列構成：拍攝機構，拍攝多數之穀粒；分析機構，以粒為單位來分析該拍攝機構所拍攝的穀粒之影像資訊；加工機構，加工該影像資訊而形成該穀粒之集合影像；以及保存及/或顯示機構，保存及/或顯示該集合影像；且其特徵在於，該加工機構，從該影像資訊中以粒為單位抽取穀粒之影像，將抽取的粒單位之各穀粒之影像配置成彼此密接狀態(或密集狀態)，形成該穀粒之影像之集合影像。

又提及一種技術手段，其中，於該加工機構設置面積設定值輸入部，從該面積設定值輸入部輸入設定值，該設定值係設定該密接狀態下穀粒影像彼此重疊部分的面積大小之值。

又提及一種技術手段，其中，該加工機構係藉由在該面積設定值輸入部輸入該設定值之最小值，而形成穀粒之影像彼此不重疊地相接的狀態之集合影像。

又提及一種技術手段，其中，該加工機構在該集合影像中設置與穀粒鑑定皿之穀粒載置面為相同形狀的外框。

又提及一種技術手段，其中，在利用該加工機構而形成的集合影像中，利用特定的顏色來顯示各穀粒之影像間產生的間隙部分，並加以保存及/或表示。

本發明之穀粒外觀測定裝置可藉由光學性手法檢查穀粒之外觀，並且能將該檢查的穀粒保存或表示成投放在用於目視檢查之穀粒鑑定皿的狀態之集合影像(擬似影像)。藉此，能在獲得光學性檢查之結果的同時，使用該集合影像來擬似性地進行利用穀粒鑑定皿的目視下檢查。

本發明之穀粒外觀測定裝置的加工機構中，因為設定上限使得穀粒之影像彼此重疊的部分之面積大小不會成為固定量以上，所以能表現與投放至穀粒鑑定皿之狀態的穀粒相同的穀粒彼此重疊。

在該集合影像中，能容易地製作穀粒之影像彼此不重疊而相接的狀態之集合影像，因為只要是該集合影像即無穀粒之影像彼此重疊，所以能表示各穀粒的全部影像。

因為將該集合影像之外框定為與穀粒鑑定皿之穀粒載置面相同形狀，所以易於進行利用該集合影像之擬似性目視檢查。

因為藉由使用於穀粒鑑定皿的藍、白獲黑等特定顏色來表示該集合影像中的各穀粒間之間隙，所以易於進行利用該集合影像之擬似性目視檢查。

1‧‧‧穀粒外觀測定裝置

2‧‧‧電腦

3‧‧‧彩色掃描器

4‧‧‧影像讀取面

5‧‧‧掃描器本體

6‧‧‧罩蓋

7‧‧‧糙米

20‧‧‧試料托盤

21‧‧‧底面

22‧‧‧基準板

25‧‧‧外框

26‧‧‧穀粒鑑定皿

27‧‧‧面積設定值輸入部

X、X1~X6、Y1~Y2、Z1~Z2‧‧‧穀粒之影像

S1~S7‧‧‧步驟

α‧‧‧間隙

圖1係本發明之穀粒外觀測定裝置的立體圖。

圖2係顯示本發明中的集合影像製作順序的流程圖。

圖3係顯示本發明中的集合影像製作之方法。

圖4係顯示本發明中的集合影像製作之方法。

圖5係顯示本發明中的集合影像製作之方法。

圖6係顯示本發明中的集合影像製作之方法。

圖7係顯示本發明中的集合影像的一例。

圖8係顯示本發明中的集合影像的一例。

圖9係顯示本發明中的集合影像製作之方法。

圖10係顯示本發明中的集合影像的一例。

圖11係利用本發明之穀粒外觀測定裝置所拍攝的穀粒之影像資訊。

圖12係從利用習知穀粒外觀測定裝置所拍攝的穀粒之影像資訊中加工出的排列狀之集合影像。

【實施發明之較佳形態】

以下參照圖式來詳細說明。圖1係顯示本發明之穀粒外觀測定裝置1。

如圖1所示，穀粒外觀測定裝置1構成為包含：電腦2；以及連接於電腦2作為「拍攝裝置」的彩色掃描器3。

電腦2裝備有：分析影像資訊的分析機構、加工該影像資訊的加工機構、保存該影像資訊的保存機構、表示的該影像資訊表示機構、以及經由網路傳送測定結果及影像資訊等功能。電腦2亦包含後述面積設定值輸入部27之功能。

彩色掃描器3係由下列者構成：掃描器本體5，在頂端面具有影像讀取面4；以及罩蓋，在測定時覆蓋此掃描器本體5的影像讀取面4。

影像讀取面4係玻璃製，且配設於掃描器本體5的頂面。影像讀取面4不限定於玻璃板，可使用壓克力板，亦可使用由其他透明材料構成的板材。影像讀取面4於測定時載置試料托盤20。

掃描器本體5內配設有掃描裝置，掃描裝置係由下列者構成：光照射部(光源)，對於試料托盤20的底面照射光線；以及受光部，接受從光照射部照射而在穀粒表面反射的反射光。

掃描裝置的受光部係藉由彩色CCD等來構成，將來自載置於影像讀取面4的穀粒之反射光例如分別以RGB三色(紅色、綠色及藍色)的光線來接受，並將受光獲得的影像資訊輸出至電腦2。

罩蓋6的一邊鉸合於掃描器本體5的頂端一邊，藉由鉸鏈而可轉動。測定時可藉由藉由罩蓋6來遮蓋掃描器本體5的影像讀取面4，而能防止來自外部的雜光。彩色掃描器3可使用一般的掃描器。

以下說明本實施形態的穀粒外觀測定裝置1之試料托盤20。如圖所示，試料托盤20在俯視中形成為矩形框狀，並由下列者構成：底板21；側壁，從該底板21的周邊部朝向上方豎起；握持部，在該側壁的二處設為易於操作。底板21係透明的板，採用丙烯酸樹脂等。在試料托盤20載置於影像讀取面4頂面的狀態下，係載置成底面21抵接於影像讀取面4頂面的狀態。

在側壁所圍繞區域的一部分亦可設置基準板22。基準板22係用於取得影像資訊，該影像資訊用於修正彩色掃描器3的測定值。配置基準板22之位置只要在該區域內即無特別限定，只要配置在便於設計的位置即可。又，形狀方面亦無特別限定，但定為矩形形狀則容易設計。本實施形態中，將基準板22的形狀定為矩形形狀，並將基準板22之長邊方向的一端配置成 接於側壁。基準板22雖也能僅以一個顏色來形成，但希望係將例如白色與黑色等2色的基準板加以組合來構成。

試料托盤20因為係利用彩色掃描器3來進行測定，所以要顧及來自試料托盤20本體的反射光在該測定時產生影響。為了防止反射光所致的影響，宜為至少表面無光澤，希望利用黑體或接近黑體的材料來形成試料托盤20。

以下說明本實施形態之作用及效果。本實施形態中說明檢查對象的穀粒係糙米之情形。

在試料托盤20的底面21上，將約千粒的糙米7投放成顆粒彼此各不重疊。投放後，如圖1所示，將試料托盤20載置於彩色掃描器3的影像讀取面4上。在利用彩色掃描器3的測定時，因為試料托盤20的底面21成為光路，所以不宜與手指等接觸而使底面21附著髒污。另，在一次測定中測定的穀粒個數並無特別限定，只要在試料托盤的底面可載置的個數範圍中自由增減即可。

載置試料托盤20之後，利用罩蓋6遮蓋試料托盤20的頂面，並使用彩色掃描器3來拍攝糙米7的影像。具體的拍攝動作為，使掃描器本體5的掃描裝置沿著影像讀取面4的底面來移動(二維掃描)。此時，從掃描裝置的光照射部向糙米7照射光線，並於掃描裝置的受光部接受糙米7所反射的反射光。受光的信號作為RGB的影像資訊而輸出至電腦2。利用彩色掃描器3拍攝的糙米7係以接於底面21的面，亦即以顆粒的下側受到拍攝。

利用電腦2來分析影像資訊，藉而得以光學性地高精度檢查所測定的糙米之外觀(完整粒、碎米、死米、變色米、青未熟米、受蟲害米等)來判別。在電腦2中，能保存及表示影像資訊。圖11係顯示在電腦2表示該影像資訊之情形的一例。

電腦2中的分析，可使用一般性分析手法。例如可使用如日本特開2011-242284號公報所記載的方法。又，在本實施側中，不排列糙米並進行測定，但亦可例如藉由進行如在中國公開的CN101281112號公報(公開公報)所記載的影像處理，以粒為單位來識別各糙米。因此，亦能如圖12所示，表示成以粒為單位來排列所測定糙米7各自之影像的狀態。

以下說明使用該影像資訊來製作將穀粒投放至穀粒觀察皿上的集合影像(擬似影像)之方法。圖2係顯示集合影像製作順序的流程圖。

首先藉由該電腦2的加工機構，以粒為單位將測定的穀粒分組(步驟S1)。分組只要依據完整粒、變色粒、青綠未熟粒、受蟲害粒、碎粒等各穀粒的外觀來進行即可。本實施形態中，為便於hnn說明，係說明分成完整粒、變色粒及受蟲害粒3個群組之情形。分組方法並無特別限定，亦可將測定的各穀粒以256階段分色後分成多數之群組。

為了將步驟S1分組的各穀粒之影像，依序配置在所製作的集合影像之外框25內側，而選擇配置的穀粒之影像(步驟S2)。在穀粒之影像的選擇中，只要依序逐次去選擇以粒為單位抽取的該影像資訊之各穀粒之影像即可，例如，在圖12所示的影像資訊中，只要從圖的左上起依序去選擇即可。一個穀粒之影像僅被選擇一次。集合影像的外框25之形狀，宜定為與穀粒鑑定皿之穀粒載置面(底面)相同的形狀，通常為圓形，但四角形等，只要自由設定即可。在本實施形態中，將外框25定為圓形。

該外框25的大小只要定為與實際的穀粒鑑定皿之穀粒載置面相同即可，亦可縮小，但此時亦必須對於穀粒之影像進行與外框25縮小同等的縮小。

其次說明決定配置步驟S2中選擇的穀粒之影像的位置(座標)之步驟S3。圖3係表示製作初始階段的集合影像。最初選擇的一個(第1個)穀粒之影像，可自由配置於外框25內。第2個以後選擇的穀粒之影像，配置成與 已配置過的穀粒之影像至少有一部分相鄰接。此時的穀粒之影像上的角度只要自由設定即可。圖3顯示將第4個穀粒之影像X4配置於外框25內的階段。穀粒之影像X4係完整粒之影像，鄰接配置成其一部分與已配置過的穀粒之影像X3稍微重疊的狀態。本發明中的穀粒之影像彼此的「鄰接」之用語，定為亦包含穀粒之影像的一部分重疊的狀態。

穀粒之影像X4的配置後，確認穀粒之影像X4所鄰接的穀粒之群組。在本發明中，因為目的在於擬似性重現目視下檢查時將穀粒投放至穀粒觀察皿的狀態下之影像，所以必須將完整粒以外的變色粒或受蟲害粒分散配置於該集合影像內。因此，在步驟S3中的配置時確認新配置的穀粒之影像所鄰接的配置過的穀粒之影像的群組，使得完整粒彼此仍可互相接觸，但變色粒彼此、受蟲害粒彼此、或變色粒與受蟲害粒不相接觸(步驟S4)。圖3中，因為穀粒之影像X4係與完整粒、變色粒及受蟲害粒其中任何者均可鄰接的完整粒，所以即使將穀粒之影像X4配置在此位置亦無問題。在本實施形態中分成步驟S3與步驟S4，但亦可在步驟S3的時間點也進行群組之確認。

以下使用圖5及圖6來說明步驟S4(群組之確認)。圖5係顯示配置成第5個穀粒(變色粒)的影像X5鄰接有第6個穀粒(變色粒)的影像X6之狀態。此時會成為變色粒彼此鄰接，所以變更穀粒之影像X6的配置位置(座標)而修正配置於與其他穀粒之影像鄰接的位置，或中止使穀粒之影像X6為第6個配置，從該影像資訊中選擇其他穀粒(此時為完整粒)的影像(步驟S2)。在圖6中顯示有變更穀粒之影像X6的配置位置之情形，將穀粒之影像X6所配置的位置，變更至與作為完整粒的穀粒之影像X3及X4鄰接的位置，解除變色粒彼此之鄰接。

在該步驟S3中的配置時，確認新配置的穀粒之影像所與配置過的其他穀粒之影像重疊的部分之面積大小是否有超過事前設定的設定值，確認到超過該設定值大小的面積重疊時，為了解除該重疊，必須調整該穀粒之影像的位置。此時，調整新配置的穀粒之影像或已配置過的穀粒之影像的任 一方或者雙方之位置。

設定值可利用兩個穀粒之影像所重疊的部分之面積大小來設定，但在本實施形態中，係利用兩個穀粒之影像所重疊的部分相對於全體面積的「比例」來設定，該比例係利用「穀粒之重疊的部分之面積/穀粒之影像的全面積」來求得。並且，就該比例之值而言，將25%定為設定值。因此，穀粒之影像彼此重疊的部分之面積大小容許直到穀粒之影像的全面積之25%為止。設定值係從設於電腦2的面積設定值輸入部27來輸入。

因為穀粒大小係每個穀粒不同，所以穀粒之影像大小亦會成為每個影像不同。所以，即使新配置的穀粒之影像Y1所與配置過的穀粒之影像Y2的影像重疊的部分之面積在設定值(比例)以內，當配置過的穀粒之影像Y2的影像大小，小於新配置的穀粒之影像Y1的影像時，就穀粒Y2的影像而言，與穀粒之影像Y1重疊部分的面積之比例有可能超過設定值。所以，必須使得已配置過的穀粒之影像與新配置的穀粒之影像重疊的部分之面積也不超過設定值。也對於已配置過得穀粒之影像，求出與新配置的穀粒之影像重疊的部分之面積大小或比例，確認是否未超過該設定值，超過設定值時，必須調整新配置的穀粒之影像或與該穀粒重疊的配置過的穀粒之影像的位置。就配置過的穀粒之影像而言，可無視與新配置的穀粒之影像重疊的部分來製作集合影像，亦可在僅有已配置過的穀粒之影像側產生超過設定值的重疊之情況下省略該位置調整。

在該步驟S3的配置時，新配置的穀粒之影像的面積、和該穀粒之影像所與已配置的穀粒之影像重疊的部分之面積的比例，或已配置的穀粒之影像的面積、和該穀粒之影像所與新配置的穀粒之影像重疊的部分之面積的比例，不必全部定為25%，只要對於每個穀粒自由地決定該比例，使其成為25%以下即可。亦可在0%~25%的範圍內設定多階段的設定值，對於每個穀粒以任意的設定值來決定重疊大小。就設定值而言，宜設定0%、5%、10%、15%、20%及25%共6個設定值，在步驟S3的配置時對於每個穀粒選擇任意的設定值，以多種重疊情形將穀粒之影像重現於集合影像上。設 定值的上限並非限定為25%，只要配合所製作的集合影像之目的來随時設定任意之值即可。該設定值之幅度亦非限定為5%，只要配合所製作的集合影像之目的随時以任意之值來設定該幅度即可。設定值為0%之情形，會成為穀粒之影像彼此不重疊而相接。

在步驟S3的配置時，有些情況下穀粒之影像的一部分超出外框25的外側。此時，將穀粒之影像的一部分可超出外框25外側之面積大小或比例設定為設定值來對應。此時的設定值只要以超出外框25外側之部分的穀粒之影像的面積大小或比例來設定即可，該穀粒中的比例只要利用「超出外框25外側的部分之面積/穀粒之影像的全面積」來求取即可。在本實施形態中，將比例的25%定為設定值。因此，即使在穀粒之影像的一部分超出外框25外側之情況下，亦容許直到該比例為25%為止。設定值並非限定為25%，只要配合所製作的集合影像之目的來随時變更即可。亦可與穀粒之影像彼此重疊之情形同樣地將該設定值設定成多階段，將超出外框25外側的面積設定成任意大小。設定值為0%之情形，穀粒之影像不顯示於外框25外側，會成為該影像的最外緣與外框25相接。

穀粒之影像彼此的一部分重疊時，會成為一方的穀粒之影像位於另一方的穀粒之影像的上側或下側。穀粒之影像彼此重疊時，必須決定哪一個為上側或下側之該影像的上下關係，但此上下關係只要任意且自由地決定即可。亦可基於特定的法則來決定該上下關係。

步驟S4之後，因應於必要而進行穀粒之影像的位置(座標)調整。在此位置調整中，進行將如圖3所示的縮小間隙α之處理(步驟S5)。具體而言如圖4所示，使穀粒之影像X4維持與穀粒之影像X3的鄰接並予以旋轉，將位置調整成亦鄰接於其他穀粒之影像X2來縮小間隙α。在利用目視之穀粒檢查中，因為係於使穀粒無間隙地密集在穀粒鑑定皿上的狀態下進行，所以為了在所製作的集合影像中表示密集狀態之穀粒，必須有在步驟S5下的間隙之削減處理。

在步驟S5的間隙削減處理中，會成為與多數的穀粒之影像鄰接(除了集合影像製作的初始階段)。因此，產生了求出每個鄰接的穀粒之影像重疊的部分之面積大小或比例的必要。此大小或比例，只要與步驟S3同樣地藉由穀粒之影像與穀粒之影像重疊的部分之面積大小或比例，設置設定值來對應即可。在本實施形態中，利用「穀粒之重疊的部分之面積/穀粒之影像的全面積」來求取該穀粒之影像中的該比例。步驟S3之設定值與步驟S5之設定值可定為共通之值，亦可個別地設定管理其值。步驟S5之設定值亦係從電腦2的面積設定值輸入部27輸入。

在步驟S5中亦與步驟S3相同，即使新配置的穀粒之影像Z1所與配置過的穀粒之影像Z2重疊的部分之面積係在設定值(比例)以內，當配置過的穀粒之影像Z2的大小，小於新配置的穀粒之影像Z1時，就穀粒之影像Z2而言，與穀粒Z1重疊的部分之面積的比例亦有可能超過設定值。所以，就已配置過的穀粒之影像而言，亦必須使得與新配置的穀粒之影像重疊的部分之面積不超過設定值。

亦對於已配置過的穀粒之影像，求取與新配置的穀粒之影像重疊的部分之面積的比例或大小，並確認是否未超過設定值，超過設定值時，必須進行新配置的穀粒之影像或與該穀粒之影像重疊的配置過的穀粒之影像的位置調整。就配置過的穀粒之影像而言，可無視與新配置的穀粒之影像重疊的部分來製作集合影像，亦可即使在產生僅有已配置過的穀粒之影像側超過設定值的重疊時亦省略位置調整。

在本實施形態中，就步驟S5中的該比例之值而言，將25%定為設定值。因此，穀粒之影像彼此重疊的部分之面積，容許直到該穀粒之影像的全面積的最大25%為止。步驟S5中，進行位置調整的穀粒之影像所與已配置的穀粒之影像重疊的部分隻面積不必全部定為25%，只要對於每個穀粒自由決定比例使其成為25%以下即可。又，亦可在0%~25%的範圍設置多階段的設定值，對於穀粒毎決定以任意之設定值重疊。例如，就設定值而言，宜設置0%、5%、10%、15%、20%及25%之6個設定值，在步驟S5之位 置調整時選擇任意之設定值，以多種之重疊情形將穀粒之影像重現於集合影像上。設定值之上限不限定於25%，只要配合所製作的集合影像之目的而随時設定任意之值即可，設定值之幅度並不限定於5%，只要配合所製作的集合影像之目的而随時以任意之值來設定該幅度即可。設定值為0%時，會成為穀粒之影像彼此不重疊而相接。

如圖9所示，在步驟S5之位置調整時，某個穀粒之影像X(以虛線表示)與多數的穀粒之影像重疊時，會成為與各該穀粒之影像個別地以任意比例重疊。此時，考慮到該穀粒之影像X與所鄰接的全部穀粒之影像重疊的部分之總面積的比例超過穀粒之影像X的面積之50%。因此，宜在步驟S5之位置調整時設置設定值，使得作為位置調整對象的穀粒之影像所與其它穀粒之影像重疊的總面積，與作為對象的穀粒之影像的面積之比例不超過固定的值，而不產生超過設定值的重疊。因為穀粒之影像彼此重疊時，重疊於上側的穀粒之影像被表示在集合影像中，所以在求取比例之際，亦可從總面積中去除重疊於上側的部分之面積來計算。

到步驟S5為止的作業，重複進行直到將該影像資訊的全部穀粒之影像配置於集合影像上為止。全部穀粒之影像的配置後，保存及/或表示所製作的集合影像。圖7係顯示製作後的集合影像。如圖8所示，亦可製作並保存及/或表示在集合影像的背景使用穀粒鑑定皿26之平面圖的影像。製作後的集合影像不僅可表示在電腦2，亦可藉由定為能夠使用網際網路瀏覽，即使在外國等遠距場所也能在穀粒的處理時在該場所進行活用。

圖10係穀粒之影像彼此不重疊而互相相接的狀態之集合影像。在本發明中，可藉由將穀粒之影像彼此的重疊大小或比例之設定值定為最小(0或0%)，而容易地製作集合影像。

在集合影像之製作最終階段中，無法確保出可將一粒或數粒穀粒之影像配置外框25內的空間時，不必勉強配置此等穀粒之影像，只要將該時間點的影像定為最終的集合影像即可。

該間隙α，只要利用任意顏色來表示或保存即可，宜定為與穀粒鑑定皿相同顏色即可，定為青色、黑色或白色等即可。因為間隙α會成為集合影像中的背景(background)，所以只要對於每個檢查的穀粒自由選擇容易檢查的顏色即可。

在上述實施例中，配置成變色粒彼此、受蟲害粒彼此、或變色粒與受蟲害粒不相接觸，但亦可省略步驟S1及步驟S4，製作亦能有變色粒彼此、受蟲害粒彼此、或變色粒與受蟲害粒相接觸之情形的集合影像。

只要能以粒為單位來取得穀粒之影像者即能使用作為本發明的拍攝裝置，例如日本特開2006-200945號公報所記載的，逐粒運送並拍攝穀粒的裝置亦能實施本發明。

(產業利用性)

本發明的穀粒外觀測定裝置不僅可檢查穀粒，亦可檢查豆類。又，只要是樹脂型顆粒等粒狀物，即可用於檢查中。

25‧‧‧外框

Claims (5)

1. 一種穀粒外觀測定裝置，包含下列構成：拍攝機構，拍攝多數之穀粒；分析機構，以粒為單位來分析該拍攝機構所拍攝的穀粒之影像資訊；加工機構，加工該影像資訊而形成該穀粒之集合影像；以及保存及/或顯示機構，保存及/或顯示該集合影像；且其特徵在於，該加工機構，從該影像資訊中以粒為單位抽取穀粒之影像，將抽取的粒單位之各穀粒之影像配置成彼此密接狀態，形成該穀粒之影像之集合影像。
2. 如申請專利範圍第1項之穀粒外觀測定裝置，其中，於該加工機構設置面積設定值輸入部，從該面積設定值輸入部輸入設定值，該設定值係設定在該密接狀態下穀粒影像彼此重疊部分的面積大小之值。
3. 如申請專利範圍第2項之穀粒外觀測定裝置，其中，該加工機構係藉由在該面積設定值輸入部輸入該設定值之最小值，而形成穀粒之影像彼此不重疊地相接的狀態之集合影像。
4. 如申請專利範圍第1至3項中任一項之穀粒外觀測定裝置，其中，該加工機構在該集合影像設置與穀粒鑑定皿之穀粒載置面為相同形狀的外框。
5. 如申請專利範圍第1至3項中任一項之穀粒外觀測定裝置，其中，在利用該加工機構所形成的集合影像中，以特定的顏色來顯示各穀粒之影像間所產生的間隙部分，並加以保存及/或表示。