TW201346875A - 顯示裝置 - Google Patents
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Abstract
本發明之顯示裝置(1)包括檢測物體之接近或接觸且沿顯示面板(11)而配置之檢測部(21),檢測部(21)係於自開始向某閘極信號線(G)供給掃描信號之時間點至開始向下一閘極信號線(G)供給掃描信號之期間中、除供給至源極信號線(S)的源極信號之上升期間外之期間,進行物體之接近或接觸之檢測。
Description
本發明係關於一種顯示圖像之顯示裝置。
近年來,推進包括輸入器件之顯示裝置之普及,該輸入器件係組合有顯示圖像之顯示驅動裝置、與檢測使用者向該顯示驅動裝置之接觸(或接近)操作之輸入檢測裝置。一般而言,此種顯示裝置係通常個別地生產輸入檢測裝置所包括之觸控面板、與顯示驅動裝置所包括之顯示面板,且係將觸控面板重疊組裝至顯示面板。
例如,於專利文獻1中,揭示有如下之技術:自對顯示器面板進行驅動之顯示器驅動電路向觸控螢幕控制器(輸入檢測裝置)提供時序資訊,藉此謀求觸控螢幕控制器與顯示器之同步。
又,於專利文獻2中,揭示有如下之技術:於藉由對複數個驅動電極進行掃描驅動之顯示掃描驅動而進行特定之次數之顯示畫面的顯示之期間內,對多於特定之次數之顯示畫面進行連續地掃描驅動複數個驅動電極之整個部分或一部分的檢測掃描驅動。
[專利文獻1]日本公開專利公報「日本專利特開2010-108501號公報(2010年5月13日公開)」
[專利文獻2]日本公開專利公報「日本專利特開2011-13760號公
報(2011年1月20日公開)」
然而,如上所述般包括輸入檢測裝置之顯示裝置係因於顯示驅動裝置中產生之雜訊,而存在如下之問題:無法充分地獲得輸入檢測裝置之檢測精度。例如,於顯示裝置為液晶顯示裝置之情形時,於驅動顯示驅動裝置所包括之液晶時產生雜訊之情況較多。
具體而言,於為了使圖像顯示至顯示驅動裝置而將與圖像資料對應之電壓施加至像素時產生雜訊。
為了解決該情況,提出有如下情形:於因液晶之驅動而產生之雜訊較少之期間(垂直返馳線期間、及水平返馳線期間),進行輸入檢測裝置之檢測處理。然而,藉由顯示部之高解析度化及檢測部之高報告速率化等而返馳線期間呈減少傾向,故如下情形變困難:為了於檢測部獲得較高之檢測精度,確保充分之檢測期間。
與此相對,發明者發現如下情形:除返馳線期間外,亦存在因液晶之驅動而產生之雜訊較少之期間。
本發明係為了解決上述課題而基於發明者之知識見解完成者,其主要目的在於提供一種可確保更長之檢測期間,並且獲得較高之檢測精度之顯示裝置。
為了解決上述課題,本發明之一態樣之顯示裝置之特徵在於,其係包括顯示圖像的顯示驅動裝置、及檢測物體向該顯示驅動裝置之接近或接觸之輸入檢測裝置者,且上述顯示驅動裝置包括:顯示面板,其包括複數根掃描線、以與該複數根掃描線交叉之方式配置之複數根圖像信號線、連接於該複數根圖像信號線之各者之像素電極、及以與該像素電極之各者對向之方式配置之共通電極;掃描線驅動電
路,其向上述複數根掃描線依次供給掃描信號;及信號線驅動電路,其向上述複數根圖像信號線依次供給圖像信號;上述共通電極中,至少於掃描線被供給有掃描信號之掃描期間,施加有固定之電壓;上述輸入檢測裝置包括檢測上述物體之接近或接觸且沿上述顯示面板而配置之檢測面板,上述檢測面板係於自開始向第m根(m為自然數)掃描線供給掃描信號之時間點至開始向第m+1根掃描線供給上述掃描信號之期間中、除供給至上述圖像信號線的圖像信號之上升期間外之期間即可檢測期間,進行上述物體之接近或接觸之檢測。
上述顯示裝置係可為了檢測上述檢測面板之輸入操作而確保更長之檢測期間,藉此可獲得較高之檢測精度。
1、2‧‧‧顯示裝置
1H‧‧‧第1水平同步期間
2H‧‧‧第2水平同步期間
3H‧‧‧第3水平同步期間
10、10'‧‧‧顯示驅動裝置
11‧‧‧顯示面板
12‧‧‧掃描線驅動電路
13‧‧‧信號線驅動電路
14‧‧‧共通電極驅動電路
15、15'‧‧‧時序控制部(控制機構)
16‧‧‧電源電路
20、20'‧‧‧輸入檢測裝置
21‧‧‧檢測部(檢測面板)
22、22'‧‧‧檢測部控制部
30、30'‧‧‧系統側控制部
151、151'‧‧‧檢測同步信號生成部(同步信號供給機構)
A‧‧‧變化
C‧‧‧感測線
C(1)~C(Q)‧‧‧感測線
D‧‧‧驅動線
D(1)~D(P)‧‧‧驅動線
FPOL‧‧‧訊框極性信號
G(1)~G(M)‧‧‧閘極信號線
GOE‧‧‧閘極輸出控制信號
HSYNC‧‧‧水平同步信號
Id‧‧‧縱軸
LPOL‧‧‧線極性信號
Noise‧‧‧雜訊
S(1)~S(N)‧‧‧源極信號線
Vgh‧‧‧橫軸
Vsync‧‧‧訊框開始訊號
VSYNC‧‧‧垂直同步信號
x‧‧‧軸
y‧‧‧軸
z‧‧‧軸
圖1係表示本發明之一實施形態之顯示裝置之整體構成的概略之方塊圖。
圖2係表示本發明之一實施形態之檢測部之構成的概略之圖。
圖3(a)、(b)係表示於本發明之一實施形態之顯示面板中產生之雜訊的測定結果之圖表。
圖4(a)~(d)係表示於本發明之一實施形態之檢測同步信號生成部中生成之檢測同步信號的時序圖。
圖5(a)、(b)係表示本發明之一實施形態之檢測部之使用者的輸入操作之檢測精度之圖表。
圖6(a)~(g)係表示本發明之一實施形態之顯示裝置之驅動方式為1點反轉驅動方式的情形時之檢測處理之時序之時序圖。
圖7(a)~(g)係表示本發明之一實施形態之顯示裝置之驅動方式為1行反轉驅動方式的情形時之檢測處理之時序之時序圖。
圖8係表示本發明之其他實施形態之顯示裝置之整體構成的概略
之方塊圖。
圖9(a)~(g)係表示本發明之進而其他實施形態之顯示裝置之驅動方式為1點反轉驅動方式的情形時之檢測處理之時序之時序圖。
圖10(a)~(g)係表示本發明之進而其他實施形態之顯示裝置之驅動方式為1行反轉驅動方式的情形時之檢測處理之時序之時序圖。
圖11係表示於本發明之各實施形態之顯示裝置中,使用有氧化物半導體之TFT(Thin Film Transistor,薄膜電晶體)、使用有a-Si(Amorphous Silicon,非晶矽)的TFT、及使用有LTPS(Low Temperature Poly Silicon,低溫多晶矽)之TFT之各者之特性的圖表。
<實施形態1>
參照圖1至圖5,對本發明之一實施形態之顯示裝置進行說明。然而,本實施形態中所記載之構成係若無特別特定之記載,則僅為說明例,而並非將本發明之範圍僅限定於此之主旨。
[顯示裝置之構成]
首先,參照圖1,對本實施形態之顯示裝置1之構成例進行說明。圖1係表示本實施形態之顯示裝置1之整體構成之概略的方塊圖。
如圖1所示,顯示裝置1包括顯示驅動裝置10、輸入檢測裝置20、及系統側控制部30。
[顯示裝置之構成]
如圖1所示,顯示驅動裝置10包括顯示面板11、掃描線驅動電路12、信號線驅動電路13、共通電極驅動電路14、時序控制部(控制機構)15、及電源電路16。
於本實施形態中,作為顯示驅動裝置10而採用主動矩陣型液晶顯示裝置。因此,本實施形態之顯示面板11係主動矩陣型液晶顯示面板,且上述其他構成要素係用以驅動該液晶顯示面板者。
(顯示面板)
顯示面板11包括複數根閘極信號線(掃描線)G、及複數根源極信號線(圖像信號線)S,又,包括由閘極信號線G與源極信號線S而劃定之複數個像素(像素區域)。再者,複數個像素係配設為包含複數個像素行及複數個像素列之所謂之格子狀。
圖1所示之例中,於顯示面板11設置有總數為N根之源極信號線S、及總數為M根之閘極信號線G,且設置有配設為M列×N行(M、N為自然數)之複數個像素。再者,於圖1中,將第n根源極信號線設為S(n),將第m根閘極信號線設為G(m)(m、n分別為滿足m≦M、n≦N之自然數)。
又,顯示面板11係針對每個像素區域而包括:像素電極;共通電極,其以與像素電極之各者對向之方式而配置;及TFT(開關元件),其藉由供給至閘極信號線G之閘極信號,將像素電極與對應於該像素電極之源極信號線S之電性連接加以導通斷開。
複數根閘極信號線G係於像素行方向(沿像素行之方向)上並列設置。複數根閘極信號線G之各者係相對於複數個像素列中之對應之像素列的各者之像素而電性連接。
複數根源極信號線S係於像素列方向(沿像素列之方向)上並列設置,且均與複數根閘極信號線G之各者正交。複數根源極信號線S之各者係相對於複數個像素行中之對應之像素行的各者之像素而電性連接。
閘極信號線G係將自掃描線驅動電路12供給之閘極信號供給至所連接之TFT。又,源極信號線S係經由所連接之TFT而將自信號線驅動電路13供給之源極信號供給至像素電極。
再者,本實施形態係將顯示面板為液晶顯示面板之情形列舉為例而進行說明,但本發明並不限定於此,例如亦可為EL(Electro
Luminescence,電致發光)顯示器、電漿顯示器等。
(掃描線驅動電路)
掃描線驅動電路12係依次選擇複數根閘極信號線G而進行掃描。具體而言,掃描線驅動電路12係依次選擇複數根閘極信號線G而相對於所選擇之閘極信號線G,供給具有導通電壓之掃描信號,該導通電壓係用以將該閘極信號線G上之各像素中所包括之開關元件(TFT)切換成導通。
(信號線驅動電路)
信號線驅動電路13係於選擇閘極信號線G之期間,自對應之源極信號線S相對於該閘極信號線G上之各像素供給與圖像資料對應之源極信號。若具體地進行說明,則信號線驅動電路13係基於所輸入之圖像信號,算出應輸出至所選擇之閘極信號線G上之各像素之電壓的值,從而自源極輸出放大器向各源極信號線S輸出該值之電壓。其結果,相對於所選擇之閘極信號線G上之各像素而供給源極信號,從而寫入源極信號。
(共通電極驅動電路)
共通電極驅動電路14係相對於設置於複數個像素之各者之共通電極,供給用以驅動該共通電極之特定之共通電壓。
(時序控制部)
時序控制部15係對掃描線驅動電路12、信號線驅動電路13、及共通電極驅動電路14進行控制之控制機構。
自系統側控制部30向時序控制部15輸入圖像信號、及控制信號。此處,於圖像信號中包含時脈信號、同步信號、圖像資料信號等。再者,圖像可為動態圖像,亦可為靜止圖像。
而且,如於圖1中以實線箭頭表示般,時序控制部15係相對於各驅動電路輸出用以使各驅動電路同步動作之各種控制信號。
例如,時序控制部15係相對於掃描線驅動電路12供給閘極起始脈衝信號、閘極時脈信號GCK、及閘極輸出控制信號GOE。掃描線驅動電路12係若接收閘極起始脈衝信號,則開始複數根閘極信號線G之掃描。而且,掃描線驅動電路12係根據閘極時脈信號GCK及閘極輸出控制信號GOE,依次相對於各閘極信號線G供給導通電壓。
又,時序控制部15係相對於信號線驅動電路13,輸出源極起始脈衝信號、源極鎖存器選通信號、及源極時脈信號。信號線驅動電路13係基於源極起始脈衝信號,根據源極時脈信號而將所輸入之各像素之圖像資料儲存至暫存器,從而根據下一源極鎖存器選通信號而相對於各源極信號線S供給與圖像資料對應之源極信號。
又,較佳為,時序控制部15係藉由切換顯示驅動裝置10之驅動方式而切換顯示裝置1之驅動方式,從而根據所切換之驅動方式而對掃描線驅動電路12、及信號線驅動電路13進行控制。
作為驅動方式,除通常之驅動方式外,例如可列舉點反轉驅動方式、及行反轉驅動方式,該點反轉驅動方式係以i(i為自然數)列為單位而反轉供給至閘極信號線G之掃描信號之極性,該行反轉驅動方式係以j(j為自然數)行為單位而反轉供給至源極信號線S之源極信號之曲線,但並不限定於此。例如,亦可列舉線反轉驅動方式、及交錯驅動方式等。
進而,較佳為,藉由時序控制部15而切換之驅動方式均為極性反轉驅動方式。
根據上述構成,可使用極性反轉驅動方式而使顯示驅動裝置10驅動,故可減少顯示面板11之殘像,並且獲得較高之檢測精度。
(檢測同步信號生成部)
此處,本實施形態之顯示驅動裝置10更包括檢測同步信號生成部(同步信號供給機構)151。例如,圖1所示之例係於顯示驅動裝置
10,作為時序控制部15之1個功能而設置有檢測同步信號生成部151。
檢測同步信號生成部151係生成檢測同步信號(同步信號),該檢測同步信號係指示下文將述之檢測部21之檢測使用者之輸入操作時的檢測處理之時序。又,檢測同步信號生成部151係生成與藉由時序控制部15而切換之驅動方式對應之檢測同步信號。再者,以下對檢測同步信號進行敍述。
又,檢測同步信號生成部151係除檢測同步信號外,亦可將極性反轉資訊輸出至檢測部控制部22,該極性反轉資訊係表示自時序控制部15供給至信號線驅動電路13之源極信號之極性反轉。
(電源電路)
如於圖1中以虛線箭頭表示般,電源電路16係相對於掃描線驅動電路12、信號線驅動電路13、及共通電極驅動電路14之各者供給電壓。
[輸入檢測裝置之構成]
其次,對輸入檢測裝置20進行說明。如圖1所示,輸入檢測裝置20包括檢測部(檢測面板)21、及檢測部控制部22。此處,參照圖2,對檢測部21之構成進行說明。圖2係表示檢測部21之構成之概略之圖。
(檢測部)
檢測部21係檢測物體(例如,手指或觸控筆等)之接近或接觸之(以後,亦記載為檢測處理)機構,例如藉由沿顯示驅動裝置10所包括之顯示面板11配置之觸控面板等而實現。再者,本實施形態係將檢測部21為例如靜電電容型觸控面板之情形列舉為例而進行說明。
如圖2所示,檢測部21包括複數根驅動線D、及複數根感測線C,複數根驅動線D與複數根感測線C分別以正交之方式而設置。圖2所示之例中,於檢測部21設置有總數為P根之驅動線D、及總數為Q根之感
測線C(P、Q為自然數)。再者,於圖2中,將第p根驅動線設為D(p),將第q根感測線設為C(q)(p、q為各自滿足p≦P、q≦Q之自然數)。
如圖2所示,驅動線D係自第1根驅動線D(1)至第P根驅動線D(P)依次供給有檢測用脈衝信號。又,於對驅動線D供給有檢測用脈衝信號之期間中由使用者之手指或觸控筆等接觸或接近檢測部21,使得感測線C之電容之值產生變化。檢測部21係藉由輸出產生變化之感測線C之電容之值,而對物體之接近或接觸進行檢測。
(檢測部控制部)
檢測部控制部22係對檢測部21之檢測處理之時序進行控制。例如,檢測部控制部22係以如下方式控制時序:於自開始向構成顯示驅動裝置10所具備之顯示面板11之第m根閘極信號線G(m)供給掃描信號之時間點至開始向第m+1根閘極信號線G(m+1)供給掃描信號的期間中、除供給至各源極信號線S之圖像信號之上升期間外的期間,進行檢測部21之物體之接觸檢測。
如圖1之粗線箭頭所示,檢測部控制部22係自顯示驅動裝置10所具備之時序控制部15獲取檢測同步信號。檢測部控制部22係基於所獲取之檢測同步信號,決定向檢測部21供給檢測用脈衝信號之時序,並且決定所要供給之脈衝信號中所含之脈衝之數量。
檢測部控制部22係依次將基於檢測同步信號而決定之檢測用脈衝信號供給至檢測部21所具備之各驅動線D。檢測部控制部22係基於如上所述般自顯示驅動裝置10供給之檢測同步信號,進行利用檢測部21之物體之接觸檢測。
又,檢測部控制部22係獲取自檢測部21輸出之感測線C之電容之值的變化。檢測部控制部22係基於所獲取之感測線C之電容之值的變化,對檢測部21之使用者之輸入操作進行檢測。又,檢測部控制部22係將表示所檢測到之使用者之輸入操作之檢測資料供給至系統側控制
部30。
[系統側控制部]
系統側控制部30係向顯示驅動裝置10所具備之時序控制部15輸出圖像信號及控制信號。又,系統側控制部30係獲取自檢測部控制部22供給之檢測資料。系統側控制部30係基於所獲取之檢測資料,對顯示裝置1之各部進行控制。
再者,較佳為,於本實施形態中,顯示面板11與檢測面板即檢測部21係以不會進入空氣之方式(以不會形成空氣層之方式)密接形成。根據該情形,可使顯示裝置1之、顯示面板11與檢測部21重疊之方向之厚度變薄。
又,於本實施形態中,顯示面板11與檢測面板即檢測部21係亦可一體地形成。根據該情形,可進一步使顯示裝置1之、顯示面板11與檢測部21重疊之方向之厚度變薄。又,無需個別設置顯示面板11及檢測部21,故可削減顯示裝置1之零件件數,藉此可削減成本。
[雜訊之穩定之期間]
其次,參照圖3,對存在於除返馳線期間外之因液晶之驅動而產生之雜訊較少的(雜訊處於穩定的)期間進行說明。圖3係表示於顯示面板11中,在各水平同步期間產生之雜訊之測定結果之圖表。圖3之(a)係表示第x訊框(x為自然數)之第1~第3水平同步期間(1H~3H)中之雜訊,(b)係表示第x+1訊框之第1~第3水平同步期間(1H~3H)中之雜訊。於圖3之(a)及(b)中,「Vsync(Vertical Synchronization Signal,垂直同步信號)」表示通知各訊框之開始之訊框開始訊號,「GOE」表示水平同步(H同步)之週期,「Noise」表示於顯示面板11中產生之雜訊。再者,作為通常之水平同步信號,除GOE外可列舉Hsync(Horizontal Synchronization Signal,行同步信號)及GCK(Gate Clock Signal,閘極時脈信號)等。
再者,本實施形態係將包含對各閘極信號線進行掃描之掃描期間(DOE與高位準之期間對應)、與水平返馳線期間(DOE與低位準之期間對應)之期間設為水平同步期間。
於第x訊框中,與第1水平同步期間之開始同時開始向源極信號線S供給源極信號。此時,如圖3之(a)所示,於第1水平同步期間之剛剛開始後、即於源極信號向源極信號線S之供給剛剛開始後產生雜訊,於經過固定期間後雜訊變小(穩定)。又,於第2水平同步期間剛剛開始後產生雜訊,於經過固定期間後雜訊穩定。進而,於第3水平同步期間剛剛開始後產生雜訊,於經過固定期間後雜訊穩定。即,自於各水平同步期間剛剛開始後至經過固定期間為止之期間相當於供給至源極信號線S的源極信號之上升期間或下降期間。再者,於本實施形態中,亦存在如下情形:不區分源極信號之上升期間與下降期間而一併表現為「上升期間」。
又,如圖3之(a)所示,於本實施形態中,自第1水平同步期間之開始至雜訊穩定為止之期間為9.0 μs。自第2水平同步期間之開始至雜訊穩定為止之期間為7.6 μs,自第3水平同步期間之開始至雜訊穩定為止之期間為9.0 μs。
再者,如圖3之(a)所示,於本實施形態中,自第1水平同步期間之開始至產生雜訊為止之期間為1.8 μs。自第2水平同步期間之開始至產生雜訊為止之期間為0.4 μs,自第3水平同步期間之開始至產生雜訊為止之期間為1.8 μs。
又,於第x+1訊框中,與第1水平同步期間之開始同時開始向源極信號線S供給源極信號。此時,如圖3之(b)所示,於第1水平同步期間剛剛開始後、即於源極信號向源極信號線S之供給剛剛開始後產生雜訊,於經過固定期間後雜訊變小(穩定)。又,於第2水平同步期間剛剛開始後產生雜訊,於經過固定期間後雜訊穩定。進而,於第3水
平同步期間剛剛開始後產生雜訊,於經過固定期間後雜訊穩定。
再者,如圖3之(b)所示,於本實施形態中,自各水平同步期間之開始至產生雜訊為止之期間、及至雜訊穩定為止之期間係分別與圖3的(a)所示之各期間相同。
再者,於第x訊框與第x+1訊框中,供給至各源極信號線S之源極信號之極性反轉,故如圖3之(a)及(b)所示,於各水平同步期間產生之雜訊之極性亦反轉。
發明者發現如下情形:如上所述,於水平同步期間中,即於進行源極信號向源極信號線S之供給(圖像資料向像素電極之寫入)之期間中,亦存在雜訊較大之期間與較小之(穩定之)期間。
再者,於水平同步期間中,存在雜訊較大之期間與較小之期間之原因在於,首先,藉由源極信號向源極信號線S之供給之開始而源極信號線S之電位大幅變動(即,像素電極之電位大幅變動),藉此產生雜訊,此後,至源極信號之供給結束為止係源極信號線S之電位之變動較小(即,像素電極之電位之變動較小),故雜訊變小且變穩定。
(非檢測期間)
以後,將水平同步期間中且自水平同步期間之開始至雜訊穩定為止之雜訊較大之期間(供給至源極信號線S之源極信號之上升期間)稱為非檢測期間。
該非檢測期間係例如藉由時間常數τ(τ=RC)而決定,該時間常數τ係藉由電晶體之端子間電容(例如,Cds(Drain Source Capacitance,汲源電容)及Cgs(Gate Source Capacitance,閘源電容)等)及各匯流排線電容、與源極信號線S之電阻值(R)而決定。當然,於決定非檢測期間時,除時間常數外,亦可進而考慮TFT之電阻值、顯示面板11所具有之液晶層(未圖示)之液晶電容等而決定。再者,如根據圖3明確般,於本實施形態中,時間常數τ為數μs之等級(亦根據面板尺寸、及
解析度而產生變化)。
再者,如圖3所示,n訊框及n+1訊框之各水平同步期間之極性係幾乎不會對至雜訊穩定為止之期間造成影響,另一方面,存在如下情形:根據各水平同步期間為奇數期間(於圖3中為1H、3H)或偶數期間(於圖3中為2H),而至雜訊穩定為止之期間不同。如上所述,於根據水平同步期間而至雜訊穩定為止之期間不同之情形時,較佳為相對於至雜訊穩定為止之不同之期間之各者,設定非檢測期間(於圖3中係設定2個非檢測期間)。
[檢測同步信號]
本實施形態之顯示裝置1係於檢測同步信號生成部151,生成檢測同步信號,該檢測同步信號係謀求水平同步期間中且雜訊穩定之期間(即,除非檢測期間外之期間)、與進行檢測部21之檢測處理之期間的同步。檢測同步信號係如下之信號:根據藉由時序控制部15而切換之顯示裝置1之驅動方式,指示檢測部21之檢測使用者之輸入操作時之檢測處理的時序。
輸入檢測裝置20係獲取藉由顯示驅動裝置10所包括之檢測同步信號生成部151而生成之檢測同步信號,按照檢測同步信號所示之時序進行利用檢測部21之檢測處理。
檢測同步信號係較佳為如下之信號,即,表示自開始向某個閘極信號線G供給掃描信號之時間點至開始向某個閘極信號線G之下一閘極信號線G供給操作信號為止之期間中的、除非檢測期間外之期間即可檢測期間之開始時序之信號,進而較佳為如下之信號,即,表示自可檢測期間之開始時序至結束時序為止(即,可檢測期間其本身)之信號。如上所述,按照檢測同步信號所示之時序進行檢測部21之檢測動作,藉此例如與僅於垂直返馳線期間或水平返馳線期間中進行檢測動作之情形相比,可確保獲得檢測部21之較高之檢測精度之充分的檢
測期間。
參照圖4,對本實施形態之檢測同步信號進行說明。圖4係表示於本實施形態之檢測同步信號生成部151中生成之檢測同步信號之時序圖。
於圖4之(a)所示之藉由包含於自時序控制部15輸出之控制信號中的水平同步信號(HSYNC)而決定之水平同步期間中,如(b)所示般存在雜訊較大之非檢測期間。如上所述,該雜訊係例如因供給至源極信號線S之源極信號之上升而產生。
如圖4之(c)所示,檢測同步信號生成部151係於1水平同步期間中且(b)所示之非檢測期間經過後,生成檢測同步信號。又,所生成之檢測同步信號係供給至輸入檢測裝置20所包括之檢測部控制部22。
檢測部控制部22係基於所供給之檢測同步信號,而如圖4之(d)所示般生成檢測用脈衝信號。
藉此,檢測部21可於在顯示驅動裝置10中產生之雜訊之影響較小之期間,進行檢測處理,故可獲得較高之檢測精度。
[輸入操作之檢測精度]
其次,參照圖5,對檢測部21之使用者之輸入操作之檢測精度進行說明。圖5係表示檢測部21之使用者之輸入操作之檢測精度的圖表。圖5之(a)係表示不進行因檢測同步信號引起之顯示驅動裝置10與輸入檢測裝置20之同步之情形時的檢測精度,(b)係表示進行同步之情形時之檢測精度。再者,於圖5之(a)及(b)中,分別係x軸及y軸表示檢測部21之位置,z軸表示於檢測部21中檢測之檢測部21之電容之變化。
於未藉由檢測同步信號而進行顯示驅動裝置10之圖像顯示動作與輸入檢測裝置20之輸入操作之檢測動作的同步之情形時,如圖5之(a)所示般於檢測部21中,亦檢測除因手指或觸控筆等接觸檢測部21
產生之檢測部21之電容之變化A外的電容之變化。再者,除變化A外之電容之變化係可認為因於非檢測期間產生之雜訊而引起。
與此相對,於藉由檢測同步信號而進行顯示驅動裝置10之圖像顯示動作、與輸入檢測裝置20之輸入操作之檢測動作的同步之(即,於除非檢測期間外之水平同步期間,進行檢測部21之檢測處理)情形時,可如圖5之(b)所示般僅效率良好地檢測變化A。
再者,本實施形態係將使非檢測期間作為自水平同步期間之開始至雜訊穩定為止之情形列舉為例而進行了說明,但本發明並不限定於此。例如,亦可採用如下構成:將圖3所示之自第1水平同步期間之開始至產生雜訊為止之期間設為不包含於非檢測期間的期間(即,進行檢測部21之檢測處理之期間)。
又,本實施形態係將如圖3所示般供給至各源極信號線S之源極信號之極性進行於第x訊框與第x+1訊框中反轉之訊框反轉驅動的情形列舉為例而進行了說明,但本發明並不限定於此。例如,亦可進行以2訊框為單位而源極信號之極性反轉之2訊框反轉驅動,且亦可進行以X訊框(X為自然數)為單位而源極信號之極性反轉之X訊框反轉驅動。
[檢測處理時序]
其次,對時序控制部15將顯示裝置1之驅動方式切換成點反轉驅動方式、及行反轉驅動方式之情形時之顯示裝置1的動作進行說明。
(點反轉驅動)
首先,參照圖6,對時序控制部15將顯示裝置1之驅動方式切換成以1列之閘極信號線G為單位(i=1)而反轉掃描信號之極性的1點反轉驅動方式之情形時之檢測部21之檢測處理的時序進行說明。
圖6係表示顯示裝置1之驅動方式為1點反轉驅動方式之情形時之檢測處理的時序之時序圖。圖6之(a)係表示垂直同步信號(VSYNC),
(b)係表示水平同步信號(HSYNC),(c)係表示明示每個訊框之極性之訊框極性信號(FPOL),(d)係表示明示每個閘極信號線G之極性之線極性信號(LPOL),(e)係表示雜訊,(f)係表示檢測同步信號,(g)係表示檢測用脈衝信號。
如圖6之(a)所示,水平同步信號包含訊框期間(VSYNC與高位準之期間對應)、與垂直返馳線期間(VSYNC與低位準之期間對應),時序控制部15係以進行於訊框期間顯示於顯示面板11之圖像之更新之方式,對掃描線驅動電路12及信號線驅動電路13進行控制。
於1點反轉驅動中,訊框極性信號係如圖6之(a)及(c)所示般以垂直同步信號所示之訊框期間為單位而反轉。又,如圖6之(b)及(d)所示,線極性信號係以水平同步信號所示之水平同步期間為單位而反轉。
又,如圖6之(b)及(e)所示,於水平同步期間中,存在因供給至源極信號線S之源極信號之上升而產生之雜訊較大的期間。
如圖6之(f)所示,檢測同步信號生成部151係生成將(e)所示之雜訊較大之期間設為非檢測期間之檢測同步信號。此時,如圖6之(e)所示,雜訊之絕對值大致相同,因此藉由檢測同步信號生成部151而生成之檢測同步信號成為高位準之期間係於各水平同步期間中,大致成為固定。時序控制部15係將藉由檢測同步信號生成部151而生成之檢測同步信號供給至檢測部控制部22。
檢測部控制部22係根據所供給之檢測同步信號而生成圖6之(g)所示之檢測用脈衝信號,並將所生成之檢測用脈衝信號供給至檢測部21。檢測部21係根據自檢測部控制部22供給之檢測用脈衝信號,進行檢測處理。
再者,於顯示裝置1之驅動方式為點反轉驅動方式之情形時,如圖6之(f)所示般,檢測同步信號為高位準之期間於各水平同步期間中
大致成為固定,因此如(g)所示,檢測處理之時序、及進行檢測處理之期間之長度係於各水平同步期間中,大致成為固定。
檢測部21係可如上所述般根據檢測同步信號,於在顯示驅動裝置10中產生之雜訊之影響較小之期間,進行檢測處理,故可獲得較高之檢測精度。
(行反轉驅動)
其次,參照圖7,對時序控制部15將顯示裝置1之驅動方式切換成以1行之源極信號線S為單位(j=1)而反轉源極信號之極性的1行反轉驅動方式之情形時之檢測部21之檢測處理的時序進行說明。
圖7係表示顯示裝置1之驅動方式為1行反轉驅動方式之情形時之檢測處理的時序之時序圖。圖7之(a)係表示垂直同步信號(VSYNC),(b)係表示水平同步信號(HSYNC),(c)係表示訊框極性信號(FPOL),(d)係表示線極性信號(LPOL),(e)係表示雜訊,(f)係表示檢測同步信號,(g)係表示檢測用脈衝信號。
於1行反轉驅動中,訊框極性信號係如圖7之(a)及(c)所示般,以垂直同步信號所示之訊框期間為單位而反轉。又,如圖7之(a)、(b)、及(d)所示,線極性信號係與訊框期間、及水平同步信號所示之水平同步期間無關而為固定。
又,如圖7之(b)及(e)所示,於水平同步期間中,存在因供給至源極信號線S之源極信號之上升而產生之雜訊較大的期間。
如圖7之(f)所示,檢測同步信號生成部151係生成將(e)所示之雜訊較大之期間設為非檢測期間之檢測同步信號。此時,如圖7之(e)所示,雜訊之絕對值係針對每個水平同步期間而不同,因此藉由檢測同步信號生成部151生成之檢測同步信號成為高位準之期間亦針對每個水平同步期間而不同。時序控制部15係將藉由檢測同步信號生成部151而生成之檢測同步信號供給至檢測部控制部22。
檢測部控制部22係根據所供給之檢測同步信號,生成圖7之(g)所示之檢測用脈衝信號,並將所生成之檢測用脈衝信號供給至檢測部21。檢測部21係根據自檢測部控制部22供給之檢測用脈衝信號,進行檢測處理。
再者,於顯示裝置1之驅動方式為行反轉驅動方式之情形時,如圖7之(f)所示般,檢測同步信號為高位準之期間係針對每個水平同步期間而不同,因此如(g)所示,檢測處理之時序、及進行檢測處理之期間之長度亦針對每個水平同步期間而不同。
檢測部21係可如上所述般根據檢測同步信號,於在顯示驅動裝置10中產生之雜訊之影響較小之期間,進行檢測處理,故可獲得較高之檢測精度。
本實施形態之顯示裝置1係於時序控制部15切換該顯示裝置1之驅動方式之情形時,可藉由檢測同步信號生成部151,生成表示與經切換後之驅動方式對應之檢測處理之時序的檢測同步信號。因此,於檢測部21,可按照適於時序控制部15所切換之驅動方式之時序進行檢測處理。
再者,本實施形態係將進行1點反轉驅動、及1行反轉驅動之情形列舉為例而進行了說明,但本發明並不限定於此。例如,亦可進行2(i=2)點反轉驅動,且亦可進行2(j=2)行反轉驅動。
又,本實施形態係將檢測同步信號生成部151生成與顯示裝置1之驅動方式對應之檢測同步信號之構成列舉為例而進行了說明,但本發明並不限定於此。例如,亦可採用如下構成:顯示裝置1包括預先存儲有與各驅動方法對應之檢測同步信號之記憶部(未圖示),檢測同步信號生成部151自記憶部讀出與藉由時序控制部15而切換之顯示裝置1之驅動方式對應之檢測同步信號。
再者,本實施形態係將檢測同步信號為表示可執行檢測部21之
檢測處理之期間之信號的情形列舉為例而進行了說明,但本發明並不限定於此。例如,亦可採用如下構成:檢測同步信號為指示檢測部21之檢測處理之開始時序之信號。
進而,本實施形態之時序控制部15係亦可根據線極性信號、及訊框極性信號之組合,判定當前之驅動方式為哪種驅動方式。於該情形時,時序控制部15係只要生成適於根據線極性信號、及訊框極性信號之組合而判定之驅動方式之檢測同步信號即可。
根據該構成,時序控制部15於未識別當前之驅動方式為哪種驅動方式之情形時,亦可生成適於當前之驅動方式之檢測同步信號。
<實施形態2>
基於圖8,對本發明之其他實施形態進行說明。再者,為了方便說明,對具有與實施形態1之構成要素相同之功能之構成要素,標示相同之編號而省略其說明。於本實施形態中,主要對與實施形態1之不同點進行說明。
圖8係表示本實施形態之顯示裝置1之整體構成之圖。如圖8所示,本實施形態之顯示裝置2係除如下情形外,與實施形態1所記載之顯示裝置1為相同之構成:於檢測同步信號自時序控制部15'所包括之檢測同步信號生成部151'輸入於系統側控制部30'後,自系統側控制部30'供給至輸入檢測裝置20'所包括之檢測部控制部22'。
如圖8所示,顯示驅動裝置10'所包括之時序控制部15'係將於檢測同步信號生成部151'中生成之檢測同步信號輸出至系統側控制部30'。
系統側控制部30'係將自時序控制部15'獲取之檢測同步信號供給至輸入檢測裝置20'所包括之檢測部控制部22'。
檢測部控制部22'係基於自系統側控制部30'供給之檢測同步信號,決定向檢測部21供給檢測用脈衝信號之時序,並且決定供給之脈衝之數量。
又,系統側控制部30'係除檢測同步信號外,亦可將極性反轉資訊輸出至檢測部控制部22',該極性反轉資訊係表示經由時序控制部15而供給至信號線驅動電路13之源極信號(影像信號)之極性之反轉。
<實施形態3>
基於圖9及圖10,對本發明之其他實施形態進行說明。再者,本實施形態係除檢測部控制部22具有如下之功能外,與實施形態1之顯示裝置1相同:不根據檢測同步信號而設定用以指定檢測部21之檢測處理之時序之檢測期間。
[檢測處理時序]
針對於檢測部控制部22具有不根據檢測同步信號而設定用以指定檢測部21之檢測處理之時序之檢測期間的功能之情形時,時序控制部15將顯示裝置1之驅動方式切換成點反轉驅動方式及行反轉驅動方式之情形之顯示裝置1之動作進行說明。
(點反轉驅動)
首先,參照圖9,對時序控制部15將顯示裝置1之驅動方式切換成以1列之閘極信號線G為單位(i=1)而反轉掃描信號之極性的1點反轉驅動方式之情形時之檢測部21之檢測處理的時序進行說明。
圖9係表示顯示裝置1之驅動方式切換成1點反轉驅動方式之情形時之檢測處理的時序之時序圖。圖9之(a)係表示垂直同步信號(VSYNC),(b)係表示水平同步信號(HSYNC),(c)係表示訊框極性信號(FPOL),(d)係表示線極性信號(LPOL),(e)係表示雜訊,(f)係表示藉由檢測部控制部22而設定之表示檢測部21之檢測處理之時序的檢測期間,(g)係表示檢測用脈衝信號。
如圖9之(a)所示,水平同步信號包含訊框期間(VSYNC與高位準之期間對應)與垂直返馳線期間(VSYNC與低位準之期間對應),時序控制部15係以進行於訊框期間顯示於顯示面板11之圖像之更新之方
式,對掃描線驅動電路12及信號線驅動電路13進行控制。
於1點反轉驅動中,訊框極性信號係如圖9之(a)及(c)所示般以垂直同步信號所示之訊框期間為單位而反轉。又,如圖9之(b)及(d)所示,線極性信號係以水平同步信號所示之水平同步期間為單位而反轉。
又,如圖9之(b)及(e)所示,於水平同步期間中,存在因供給至源極信號線S之源極信號之上升而產生之雜訊較大的期間。
如圖9之(f)所示,檢測部控制部22係設定將(e)所示之雜訊較大之期間設為非檢測期間之檢測期間。此時,如圖9之(e)所示,雜訊之絕對值大致相同,因此藉由檢測部控制部22而設定為檢測期間之期間(於圖9之(f)中,與成為高位準之期間對應)係於各水平同步期間,大致成為固定。
檢測部控制部22係根據所設定之檢測期間,生成圖9之(g)所示之檢測用脈衝信號,並將所生成之檢測用脈衝信號供給至檢測部21。檢測部21係根據自檢測部控制部22供給之檢測用脈衝信號,進行檢測處理。
再者,於顯示裝置1之驅動方式為點反轉驅動方式之情形時,如圖9之(f)所示般,檢測期間於各水平同步期間大致成為固定,因此如(g)所示,檢測處理之時序、及進行檢測處理之期間之長度係於各水平同步期間大致成為固定。
檢測部21可如上所述般根據藉由檢測部控制部22而設定之檢測期間,於在顯示驅動裝置10中產生之雜訊之影響較小之期間進行檢測處理,故可獲得較高之檢測精度。
(行反轉驅動)
其次,參照圖10,對時序控制部15將顯示裝置1之驅動方式切換成以1行之源極信號線S為單位(j=1)而反轉源極信號之極性的1行反轉
驅動方式之情形時之檢測部21之檢測處理的時序進行說明。
圖10係表示顯示裝置1之驅動方式切換成1行反轉驅動方式之情形時之檢測處理的時序之時序圖。圖10之(a)係表示垂直同步信號(VSYNC),(b)係表示水平同步信號(HSYNC),(c)係表示訊框極性信號(FPOL),(d)係表示線極性信號(LPOL),(e)係表示雜訊,(f)係表示藉由檢測部控制部22而設定之表示檢測部21之檢測處理之時序的檢測期間,(g)係表示檢測用脈衝信號。
於1行反轉驅動中,訊框極性信號係如圖10之(a)及(c)所示般,以垂直同步信號所示之訊框期間為單位而反轉。又,如圖10之(a)、(b)、及(d)所示,線極性信號係與訊框期間、及水平同步信號所示之水平同步期間無關而為固定。
又,如圖10之(b)及(e)所示,於水平同步期間中,存在因供給至源極信號線S之源極信號之上升而產生之雜訊較大的期間。
如圖10之(f)所示,檢測部控制部22係設定將(e)所示之雜訊較大之期間設為非檢測期間之檢測期間。此時,如圖10(e)所示,雜訊之絕對值係針對每個水平同步期間而不同,因此藉由檢測部控制部22而設定為檢測期間之期間(於圖10之(f)中,與成為高位準之期間對應)亦針對每個水平同步期間而不同。
檢測部控制部22係根據所設定之檢測期間,生成圖10之(g)所示之檢測用脈衝信號,並將所生成之檢測用脈衝信號供給至檢測部21。檢測部21係根據自檢測部控制部22供給之檢測用脈衝信號,進行檢測處理。
再者,於顯示裝置1之驅動方式為行反轉驅動方式之情形時,如圖10之(f)所示般,檢測期間針對每個水平同步期間而不同,因此如(g)所示,檢測處理之時序、及進行檢測處理之期間之長度亦針對每個水平同步期間而不同。
檢測部21係可如上所述般根據藉由檢測部控制部22而設定之檢測期間,於在顯示驅動裝置10中產生之雜訊之影響較小之期間進行檢測處理,故可獲得較高之檢測精度。
本實施形態之顯示裝置1係於時序控制部15切換該顯示裝置1之驅動方式之情形時,可藉由檢測部控制部22,設定表示與經切換後之驅動方式對應之檢測處理之時序的檢測期間。因此,於檢測部21,可按照適於時序控制部15所切換之驅動方式之時序,進行檢測處理。
又,本實施形態係將檢測部控制部22設定與顯示裝置1之驅動方式對應之檢測期間之構成列舉為例而進行了說明,但本發明並不限定於此。例如,亦可採用如下構成:顯示裝置1包括預先存儲有表示與各驅動方法對應之檢測期間之資料之記憶部(未圖示),檢測部控制部22自記憶部讀出表示與藉由時序控制部15而切換之顯示裝置1之驅動方式對應之檢測期間的資料。
進而,本實施形態之檢測部控制部22係亦可根據線極性信號、及訊框極性信號之組合,判定當前之驅動方式為哪種驅動方式。於該情形時,檢測部控制部22係只要生成適於根據線極性信號、及訊框極性信號之組合而判定之驅動方式之檢測同步信號即可。
根據該構成,時序控制部15於未識別當前之驅動方式為哪種驅動方式之情形時,亦可生成適於當前之驅動方式之檢測同步信號。
[使用有氧化物半導體之TFT之特性]
於上述實施形態中,並未特別限定顯示面板11所包括之TFT,但作為TFT,可採用所謂之具有以氧化物半導體為材料之半導體層之TFT。於氧化物半導體中,例如包含IGZO(InGaZnOx)。
基於圖11,對作為TFT而使用氧化物半導體之情形時之TFT之特性進行說明。圖11係表示各種TFT之特性之圖。具體而言,圖11係表示使用有氧化物半導體之TFT、使用有a-Si(amorphous silicon)之
TFT、及使用有LTPS(Low Temperature Poly Silicon)之TFT之各者之特性。
於圖11中,橫軸(Vgh)表示於上述各TFT中供給至閘極之導通電壓之電壓值,縱軸(Id)表示上述各TFT之源極-汲極間之電流量。
尤其,於圖中表示為「TFT-on」之期間係表示根據導通電壓之電壓值而成為導通狀態之期間,於圖中表示為「TFT-off」之期間係根據導通電壓之電壓值而成為斷開狀態之期間。
如圖11所示,使用有氧化物半導體之TFT係導通狀態時之電子移動率較使用有a-Si之TFT高20~50倍左右而導通特性非常優異,因此提高更新速率之(例如,60 Hz以上等)情形亦較為容易。
上述實施形態之顯示驅動裝置10及10'所包括之顯示面板11係將此種導通特性優異之使用有氧化物半導體的TFT採用於各像素,藉此可藉由更小型之TFT驅動像素。藉此,顯示面板11係可於各像素中,縮小TFT所占之面積之比率。即,可提高各像素之開口率而提高背光之光之透過率。其結果,可採用消耗電力較少之背光、或抑制背光之亮度,因此可減少消耗電力。
又,由於TFT之導通特性優異,故亦可將源極信號相對於各像素之寫入時間更短時間化,因此可容易地提高顯示面板11之更新速率。
又,如圖11所示,使用有氧化物半導體之TFT係關狀態時之漏電流為使用有a-Si之TFT的100分之1左右,從而為幾乎不會產生漏電流之關特性非常優異者。如上所述,由於關特性非常優異,因此降低更新速率之(例如,30 Hz以下等)情形亦較為容易。
上述實施形態之顯示面板11係將此種關特性優異之使用有氧化物半導體之TFT採用於各像素,藉此可長期間維持顯示面板11所包括之複數個像素之各者之寫入有源極信號的狀態,因此可容易地降低顯示面板11之更新速率。
[總結]
如上所述,本發明之態樣1之顯示裝置之特徵在於,其係包括顯示圖像之顯示驅動裝置、及檢測物體向該顯示驅動裝置之接近或接觸之輸入檢測裝置者,且上述顯示驅動裝置包括:顯示面板,其包括複數根掃描線、以與該複數根掃描線交叉之方式配置之複數根圖像信號線、連接於該複數根圖像信號線之各者之像素電極、及以與該像素電極之各者對向之方式配置之共通電極;掃描線驅動電路,其向上述複數根掃描線依次供給掃描信號;信號線驅動電路,其向上述複數根圖像信號線依次供給圖像信號;上述共通電極中,至少於掃描線被供給有掃描信號之掃描期間,施加有固定之電壓;上述輸入檢測裝置包括檢測上述物體之接近或接觸且沿上述顯示面板而配置之檢測面板,上述檢測面板係於自開始向第m根(m為自然數)掃描線供給掃描信號之時間點至開始向第m+1根掃描線供給上述掃描信號之期間中、除供給至上述圖像信號線的圖像信號之上升期間外之期間即可檢測期間,進行上述物體之接近或接觸之檢測。
根據上述構成,上述輸入檢測裝置係於除經由上述圖像信號線而供給至上述像素電極之圖像信號的上升期間外之期間進行物體之接觸或接近之檢測。根據該情形,上述顯示裝置係可於如下之期間進行上述物體之接觸或接近之檢測:除因經由上述圖像信號線而供給至上述像素電極之圖像信號之上升而產生雜訊之上述上升期間外的雜訊穩定之期間。
因此,上述顯示裝置係可為了檢測上述檢測面板之輸入操作而確保更長之檢測期間,藉此可獲得較高之檢測精度。又,上述顯示裝置係可獲得較高之S/N比,故可獲得較高之檢測精度。
再者,所謂上述「上升期間」係指,供給至像素電極之圖像信號上升之期間或下降之期間。
又,較佳為,本發明之態樣2之顯示裝置係於上述態樣1中,在開始向上述第m根(m為自然數)掃描線供給掃描信號之時間點至開始向第m+1根掃描線供給上述掃描信號之期間中,包含上述掃描期間、及水平返馳線期間。
又,較佳為,本發明之態樣3之顯示裝置係於上述態樣1或2中,上述顯示驅動裝置更包括將表示上述可檢測期間之開始時序之同步信號供給至上述檢測面板之同步信號供給機構,上述檢測面板係與上述同步信號同步地開始上述物體之接近或接觸之檢測。
根據上述構成,上述檢測面板係於自上述同步信號供給機構供給之上述同步信號所示之上述可檢測期間,開始上述物體之接近或接觸之檢測。藉此,上述檢測面板可於在上述顯示驅動裝置中產生之雜訊之影響較小之期間,進行上述物體之接近或接觸之檢測,故可獲得較高之檢測精度。
又,較佳為,本發明之態樣4之顯示裝置係於上述態樣3中,更包括切換上述顯示驅動裝置之驅動方式之控制機構,上述同步信號供給機構係輸出同步信號,該同步信號係表示與藉由上述控制機構而切換之驅動方式對應之可檢測期間之開始時序。
根據上述構成,上述檢測面板可於適於藉由上述控制機構而切換之驅動方式之可檢測期間,進行上述物體之接近或接觸之檢測,故可獲得較高之檢測精度。
又,較佳為,本發明之態樣5之顯示裝置係於上述態樣1或2中,更包括切換上述顯示驅動裝置之驅動方式之控制機構,上述檢測面板係於與藉由上述控制機構而切換之驅動方式對應之可檢測期間,進行上述物體之接近或接觸之檢測。
根據上述構成,上述檢測面板可於在上述顯示驅動裝置中產生之雜訊之影響較小之期間,進行檢測處理,又,可於適於藉由上述控
制機構而切換之驅動方式之可檢測期間,進行上述物體之接近或接觸之檢測,故可獲得較高之檢測精度。
又,較佳為,本發明之態樣6之顯示裝置係於上述態樣4或5中,藉由上述控制機構而切換之驅動方式均為極性反轉驅動方式。
根據上述構成,可使用極性反轉驅動方式而使上述顯示驅動裝置驅動,故可減少上述顯示面板之殘像,並且獲得較高之檢測精度。
又,較佳為,本發明之態樣7之顯示裝置係於上述態樣1至6中,上述顯示面板更包括藉由供給至上述掃描線之掃描信號,將上述像素電極與對應於該像素電極之圖像信號線之電性連接加以導通斷開之開關元件,上述開關元件具有以氧化物半導體為材料之半導體層。
根據上述構成,於顯示裝置中,採用具有導通特性及斷開特性優異之以氧化物半導體為材料之半導體層之開關元件,藉此改變訊框週期、即改變更新速率之情形變容易。
又,較佳為,本發明之態樣8之顯示裝置係於上述態樣7中,上述氧化物半導體為IGZO。
又,較佳為,本發明之態樣9之顯示裝置係於上述態樣1至8中,上述顯示面板與上述檢測面板密接形成。
根據該情形,可使上述顯示裝置之、上述顯示面板與上述檢測面板重疊之方向之厚度變薄。
又,較佳為,本發明之態樣10之顯示裝置係於上述態樣1至8中,上述顯示面板與上述檢測面板一體地形成。
根據該情形,可進一步使上述顯示裝置之、上述顯示面板與上述檢測面板重疊之方向之厚度變薄。又,無需分別設置上述顯示面板及上述檢測面板,故可削減上述顯示裝置之零件件數,藉此可削減成本。
[附記事項]
以上,對本發明之實施形態進行了說明,但本發明並不限定於上述實施形態,可於技術方案所示之範圍內實現各種變更。即,組合於技術方案所示之範圍內適當變更之技術機構而獲得之實施形態亦包含於本發明的技術範圍內。
又,變化例係對將本發明應用至在各像素中採用使用有氧化物半導體之TFT之顯示裝置之例進行了說明,但並不限定於此,亦可於在各像素中採用使用有a-Si之TFT、或使用有LTPS之TFT等其他TFT之顯示裝置中,應用本發明。
本發明之顯示裝置係可較佳地利用於電視接收器、個人電腦、汽車導航系統、行動電話、智慧型手機、平板型PC(Personal Computer,個人電腦)、數位相機、及數位視訊攝影機等中。
1‧‧‧顯示裝置
10‧‧‧顯示驅動裝置
11‧‧‧顯示面板
12‧‧‧掃描線驅動電路
13‧‧‧信號線驅動電路
14‧‧‧共通電極驅動電路
15‧‧‧時序控制部(控制機構)
16‧‧‧電源電路
20‧‧‧輸入檢測裝置
21‧‧‧檢測部(檢測面板)
22‧‧‧檢測部控制部
30‧‧‧系統側控制部
151‧‧‧檢測同步信號生成部(同步信號供給機構)
C‧‧‧感測線
D‧‧‧驅動線
G(1)~G(M)‧‧‧閘極信號線
S(1)~S(N)‧‧‧源極信號線
Claims (10)
- 一種顯示裝置,其特徵在於:其係包括顯示圖像之顯示驅動裝置、及檢測物體向該顯示驅動裝置之接近或接觸之輸入檢測裝置者,且上述顯示驅動裝置包括:顯示面板,其包括複數根掃描線、以與該複數根掃描線交叉之方式配置之複數根圖像信號線、連接於該複數根圖像信號線之各者之像素電極、及以與該像素電極之各者對向之方式配置之共通電極;掃描線驅動電路,其向上述複數根掃描線依次供給掃描信號;及信號線驅動電路,其向上述複數根圖像信號線依次供給圖像信號;上述共通電極中,至少於掃描線被供給有掃描信號之掃描期間,施加有固定之電壓,上述輸入檢測裝置包括檢測上述物體之接近或接觸且沿上述顯示面板而配置之檢測面板,上述檢測面板係於自開始向第m根(m為自然數)掃描線供給掃描信號之時間點至開始向第m+1根掃描線供給上述掃描信號之期間中、除供給至上述圖像信號線的圖像信號之上升期間外之期間即可檢測期間,進行上述物體之接近或接觸之檢測。
- 如請求項1之顯示裝置,其中於自開始向上述第m根(m為自然數)掃描線供給掃描信號之時間點至開始向第m+1根掃描線供給上述掃描信號之期間中,包含上述掃描期間、及水平返馳線期間。
- 如請求項1或2之顯示裝置,其中上述顯示驅動裝置更包括將表示上述可檢測期間之開始時序之同步信號供給至上述檢測面板之同步信號供給機構,上述檢測面板係與上述同步信號同步地開始上述物體之接近或接觸之檢測。
- 如請求項3之顯示裝置,其更包括切換上述顯示驅動裝置之驅動方式之控制機構,上述同步信號供給機構係輸出同步信號,該同步信號係表示與藉由上述控制機構而切換之驅動方式對應之可檢測期間之開始時序。
- 如請求項1或2之顯示裝置,其更包括切換上述顯示驅動裝置之驅動方式之控制機構,上述檢測面板係於與藉由上述控制機構而切換之驅動方式對應之可檢測期間,進行上述物體之接近或接觸之檢測。
- 如請求項4或5之顯示裝置,其中藉由上述控制機構而切換之驅動方式均為極性反轉驅動方式。
- 如請求項1至6中任一項之顯示裝置,其中上述顯示面板更包括藉由供給至上述掃描線之掃描信號,將上述像素電極與對應於該像素電極之圖像信號線之電性連接加以導通斷開之開關元件,上述開關元件包含以氧化物半導體為材料之半導體層。
- 如請求項7之顯示裝置,其中上述氧化物半導體為IGZO。
- 如請求項1至8中任一項之顯示裝置,其中上述顯示面板與上述檢測面板係密接形成。
- 如請求項1至8中任一項之顯示裝置,其中上述顯示面板與上述檢測面板係一體地形成。
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