TW201248793A - Patterned substrate structure, manufacturing method thereof and light-emitting device having the same - Google Patents
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201248793 六 '發明說明: 【發明所屬之技術領域】 其製作方法及其發光 其製作方法及其發光元 本發明係有關於一種基板結構 元件’尤指一種圖案化基板結構、 件。 【先前技術】 各種三五族化合物,例如用於製造n 發光二極體的磷化鋁鎵銦(AiGaInp) 认' 立或'•工先 紫外光發光二極體的氮化鎵(GaN)以大旦運=監光或 。其中,超高亮度之藍光或紫:卜:發光::二 在未來將可取代現行之白熱燈泡與南素燈泡。 —由於前述之三五族化合物晶體是成長—基板上,例如 Μ石的晶體結構與氮化鎵相同,故—般會在藍寶石的基 板上製作氮化鎵層,但藍寶石的s狄命》 土 a ^石的日日格與鼠化鎵晶體的晶格 不匹配’因此發光二極體_氮化鎵晶體通f會具有高密 度的線差排,此種晶體的缺陷會降低藍光或紫外光發光二 極體的光輸出功率’其原因在於過高的缺陷密度,4造成 凡件之發光效率與電子遷移速度無法提升。因此,發光元 件的特性會取決於三五族化合物的蟲晶品質,而三五族化 合物的蟲晶品質,則與所使用的基板表面之品質息息相 關。 【發明内容】 本發明之目的之一在於提供一種可降低磊晶結構中 3/14 201248793 的缺=且可提高元件之效率的圖案化基板結構。 兔明之實施例提供一種圖案化基板結構,包含:一 圖案化基板,盆且古 I — 之圖荦M j 似—成砂料板區域上 圖案匚域,其中該圖案區域包括多個 凹部係由側面及底面所界定者;以及一遮蔽層,二= 於該側面與該底面之至少其中之一者。文曰A係伋盍 方法本::之實施例係提供-種圖案化基板結構的製作 方法,包含以下步驟:提供一圖案化基 =板區域及一成型於該基板區域上之圖案區= 戈包括多個凹部及凸部,每-凹部係由側面及 層係覆蓋於所述之凹部及凸邱.士荆L 亥遮蚊 m i 成型—総相覆蓋於該 ,層,去除部分之該光阻層,使該光阻層殘留於每一凹 ^,去除未被殘留之該光阻層所覆蓋之該遮蔽層;去除殘 留之該光阻層’使該遮蔽層覆蓋於該側面與該底面之至少 其中之一。 本發明之實施例係提供一種發光元件,包含:一圖案 化基板’其具有一基板區域及一成型於該基板區域上之圖 案區域,其中該圖案區域包括多個凹部及凸部,每一凹邙 係由側面及底面所界定者;一遮蔽層,其係覆蓋於該側 面與》亥底面之至少其中之一者;以及一成型於該圖案化基 板上且覆蓋於該遮蔽層之磊晶結構。 本發明可達成的功效在於,利用覆蓋於圖案化基板上 τ 之凹部的側面、底面的遮蔽層使後續的磊晶層出現橫向生 · 長的現象,使磊晶層的生長缺陷被限制於某些特定的區 4/14 ⑤ 201248793 域,例如被遮蔽層之上的磊 故可降低整體磊晶的缺陷, 性。 日日區域具有較低的差排密度, 進行提升元件的製程良率及特 進—步瞭解本發明之特徵及技術内容,請參 #失考^ /明之$細朗與關,然而所附圖式僅提 供多考與况明用’並非用來對本發明加以限制者。 【實施方式】 本文將以下實施例具體地的針對本發明提出參考例 太私=下對&貫施例的内容為—圖例之說明,’然並非限制 ==之料。本發明係提出—種圖案化基板結構及其製 乍其係在圖案化基板上製作覆蓋於圖案之側面及/ 遮蔽層,以大幅降低在圖案化基板上之蟲晶結構 社構^ ί的缺陷’進而可提高利用本發明之目案化基板 、-,。構所製成之發光元件的效率。 制你I茶考圖1(aMf),其顯示本發明之圖案化基板結構的 衣 法之流程示意圖,該方法的步驟如下: t驟(一广提供一圖案化基板U,該圖案化基板 ’、有4板區域11A及—成型於基板區域llA 之圖案區域’其中圖案區域包括多個凹部11C及凸部 =B (如圖1 (a)所示)。在本具體實施例中,基板區 或丄1A的上表面成型有多個凹部丄ic:及凸部丄丄 :,:每-凹部11C可由側面112及底面…所界 :,母-凸部1 1B則可由側面丄12及頂面丄丄◦所界. 5/14 201248793 你仔朗的是,本㈣並不案化基板1 1的f 述之圖宰的酬或乾_方式均可形成前 0案化基板i丄;而以藍寶石(單晶三氧化二鋁)基 去」;亥凸二1 1B可為三角錐體(以立體角度觀察, 。二t ’m基板之上表面(C_平面)的結晶方向為 )’且每―三角錐體可具有平直之頂面(即相當於 月=之頂面110)’頂面11 〇之結晶方向同樣為 〇〇,且相鄰凸部i i B之間的間距p較佳地小於 3um’一亦或者’凸部11 B可為矩形體(以立體角度觀察, 仁未不之)’其同樣具有平直之頂面(即相當於前述之頂 面1 1 0),然本發明並不限定圖案化基板工工上之凹部 1 1 c及凸部1 1 3的態樣,例如:圖案化基板.1 1上的 圖案可為三角錐、四角錐、圓錐、多角錐,而所述之錐體 上方有平台,或者上述之錐體或平台側壁有大於一處之轉 折(亦即上小下大之矩形結構體、角錐狀結構體、弧狀結 構體、圓錐狀結構體、圓柱狀結構體、肖柱狀結構體或梯 形結f體等等);圖案化基板1 1之的圖案亦可為點狀也 可=線狀。本發明亦不限定圖案化基板11的材質,例 士藍貝石基板(包括不同軸向的藍寶石基板,可簡稱為 —a之藍寶石基板,其中a_平面、卜平面以及…平面以 米勒^數_161· indices)表示分別為(_)、(_)、 j 1010))、矽基板或碳化矽基板等等均係為本發明保護之 辄嘴’而以下說明係以藍f石之圖案化基板丄i進行說 明0 步驟( :成型遮蔽層12於圖案化基板11上 6/14 201248793 該遮蔽層1 2係覆蓋於所述之 1 ^ (如圖1⑴所示)。在一呈二:lc及凸部11Β - 步驟在圖案化基板i丄上成型一 ir' 礼 化石夕層覆蓋於所述之凹部丄lc連/性的氧化物層,如氧 述之遮蔽層12,財之,11 ^成為所 案化基板!!的底面係批覆於前述之圖 然而,所述之遮蔽層丄2可 2及頂面1 1 0。
物層(如氣化石夕)或以半導體方為^不同材質’例如氣化 f ) ® 、方去(如化學氣相沈積,CVD 寺)所衣作之金屬層、金屬氧化物 步驟(二):成型一光阻層P V舜― (如圖1(相示本步驟係利::;覆盖該遮蔽層12 置上成型不同厚度之結構’以在後声光阻層p尺在不同位 同區域產生裸露/非裸露的效果。2餘刻製程中針對不 中,位於每一凹部 更具體地說,在此步驟 大於位於每一凸之光阻層pR的厚度係實質地 丁2)。 M1B之光阻層U的厚度(即丁,〉 步驟(四):去除部分之 殘留於每一凹部j9 P R,使光阻層P R ^ 1 C中(如圖1 ( d)挪-、 要在於去除部分之光阻層PR,、2 )所不);此步驟主 除之遮蔽層1 2的深戶9 + θ,以控制下一步驟中所要移 咖法將部分之係利_刻, 中,由於光阻層尺加以移除。而在前-步驟 度,故在此I虫刻步驟中 σ 巾具有較大的厚 凸部11β之頂面丄丄 、、阻層p R部分(如位於 而留下填入凹部ilc中的光= 會被完全清.除, 7/14 201248793 _步驟(五):去除未被殘留之光阻層^所覆蓋之遮 蔽層1 2 (如圖1 (e)所示);在具體步驟中,係利用飯 刻,如膽方法將未被殘留之光阻層PR所覆蓋之遮蔽 層1 2加以去除,使被殘留之光阻層pm覆蓋之遮蔽層 1 2未被移除而成型為批覆於凹部1 1 ◦之纟士構。 最後,步驟(六):去除殘留之該光阻層pR (如圖1 ⑺所不);在此步驟中,係將光阻加以去除而形成本發 明之圖案化基板結構。具體而言,所殘留之 覆蓋於側面i i 2與底面工工1。 曰丄Z了 姑! 由上述所提出之步驟’本發明可在圖案化基 板11之圖案區域上的凹部11C之内壁面(即側面工1 2與底面1 1 1)成型有遮蔽層1 2。 明參相2,其顯*本發明之—變 步驟(四)中姓刻光阻的心 1 1 C之5降低’進而使殘留之遮蔽層12僅覆蓋於凹部 1 1 C之底面1 1 1。 1 中可圖二,其顯示本發明之另-變化實施例,其 之η 之後更進行黃光'钱刻等步驟,使殘留 之遮=上2僅覆蓋於凹部llc之側面112。 遮蔽ρ 2係填滿於凹部^中再雜貫施例,其中 可選用不::二’?顯不本發明之又一變化實施例’其中 狀之凸部ΐ ^ 例之圖案化基板11,其具有圓弧 二”,而殘留之遮蔽層12可覆蓋於凹部11 L之底面1 1 1與側面1工2。 丄 8/14
201248793 二芩考圖2D,其顯示本發明之更一變化實施例,其 中可選用不同於前述實施例之圖案化基板1 1,其具有三 :錐狀之凸1 1 B (但無平直之頂面)’而殘留之遮蔽 層1 2可覆蓋於凹部i丄c之底面丄丄丄與側面丄丄 2 °由上述各種實施例可知,本發明並不限定遮蔽層1 2 的態樣,凡在圖案化基板丄丄上的凹部丄工c之底面丄丄 1士與/或側面1 1 2上覆蓋有材料皆為本發明所涵蓋之範 :本發明Μ作之㈣化基板結構可在後續的蟲晶 、壬達到提咼磊晶品質的效果。具體而言’當在本發明 所製作之圖案化基板結構上進行蟲晶的成長初期,蟲晶層 =會成長在賴層1 2上,—絲在未設置有遮蔽層 1 2之頂面1 1 ◦(實質包括部分裸露的側面]_工2) 著晶體成長的進行,在遮蔽層丄2上產生義晶層的 ==長(L細1 gr〇wth),而由遮蔽層12的兩側成長 、從B曰層與原本在厚度方向上的蟲晶層可形成—體化。一 般衫晶層的成長過財會“錢,而本發明可將差排 ㈣生限制在未設置有遮蔽層1 2之頂面! ! Q所成長 之^層中。換言之’當以層進行橫向成長時,差排並 =會f向擴張’即使差排進行橫向擴張,只會沿著平面方 :-直於厚度方向)延伸,而不會構成貫通上下的差排, =遮蔽層12所設置之區域(底面UU/及側面Η 2)的上方形成有較差排密度低的磊晶層,由此可降低磊 晶層的整體差排密度。 了降低μ 舉例來說,請參閱圖3,其顯示一種發光元件,如應 9/14 201248793 用於雷射(LDs)或發光二極體(LEDs) 2ΠΙ_ν族半導 體,該發光元件包括上述的圖案化基板丄丄、遮蔽層工2 及成型於該圖案化基板^ ^上且覆蓋於該遮蔽層丄2之 磊晶結構。具體而言,該發光元件之磊晶結構至少包括一 设於圖案化基板1 1上的第一型半導體層丄3、一設於第 型半導體層1 3上之發光層1 4及一設於該發光層1 4上的第二型半導體層1 5,而如圖所示,該發光元件更 可包括分別電連接於第一型半導體層1 3與第二型半導 體層1 5的第-電極工6、第二電極丄7。具體而言,該 第一、二型半導體層1 3、1 5是由電性彼此相反的m_v 私系半導體材料構成,例如可為氤化鎵系半導體材料,該 發光層14則是可為接收電能後可以光電效應發光的材 料構成,例如硫化鋅(ZnS)、硫化鎘(CdS)、磷化鎵(Gap)、 磷砷鎵(GaASl_xPx)、砷鋁鎵(GaAiAs),或氮化鎵(GaN)等, 該第一、二電極i 6 ' i 7則可為鎳、鉛、鈷、鐵、鈦、 銅、錢、金、釕、鶴、錯、翻、组、翻、銀、此等之氧化 物、氮化物,及前述材料之組合所構成,於本實施例中圖 案化基板11是由藍寶石構成,該第一、二型半導體層工 3 1 5分別由η型及p型氮化鎵構成,該發光層1 4為 由氮化鎵構成,§亥第一、二電極1 6、1 7則為由在白金構 成。 因此,如同前文所述,由於本發明之圖案化基板結構 了有效降低後續蠢晶的缺陷密度,故本發明之圖案化美板 釔構應用於製作半導體元件(如前述之發光元件)時,即 可有效提高後續元件製作的良率及元件的特性。 10/14 201248793 惟以上所述僅為本發明之較佳實施例,非意欲侷限本 發明之專利保護範圍,故舉凡運用本發明說明書及圖式内 容所為之等效變化’均同理皆包含於本發明之權利保護範 圍内,合予陳明。 【圖式簡單說明】 圖U a)至圖1⑺係顯示本發明之圖案化基板結構的製 作方法的流程示意圖。 圖2係顯示本發明之圖案化基板結構的 意圖。 一變化實施例之示 圖2A係顯示本發明之圖案化基板結構的另一變化實施例
一變化實施例 之示意圖。 示本發明之圖案化基板結構的又一變化實施例 不本發明之圖案化基板結構的更一變化實施例
【主要六 疋件符號說明】 圖案化基板 基板區域 凸部 凹部 11/14 201248793 0 頂面 1 底面 2 側面 遮蔽層 14 第一型半導體層 發光層 第二型半導體層 16 第一電極 17 第二電極 P R 光阻層 T, ' T2 厚度
Claims (1)
- 201248793 七、申請專利範圍: 1、一種圖案化基板結構,包含· 一圖案化基板,其具有一A F ^ ^ ^ 基板s域及一成型於該基板 :s之圖木區域,其中該圖案區域包括多個凹部 ^凸:,每-凹部係由側面及底面所界定者;以及 一遮敝層,其係覆蓋於該側面與該底面之至少其令之 一者。 2、,申?專利範15第1項所述m基板結構,其中 5玄遮敝層係為氧化物層、氮化物層或金屬層。 3如申凊專利範圍第工項所述之圖案化基板結構,其中 。玄圖木化基板係為藍寳石基板、發基板或碳化石夕基 板0 4 '如:請專利範圍第3項所述之圖案化基板結構,其令 該藍_寶石基_板的上表面之結晶方向為(〇_〕、 ("20)、("02)或(】〇1〇)。 5、如、申請專利範圍第丄項所述之圖案化基板結構,其中 所述之相鄰的凸部之間的間距係小於3um。 6 θ種圖案化基板結構的製作方法,包含以下步驟: 提供一圖案化基板,該圖案化基板具有一基板區域及 、成i於。玄基板區域上之圖案區域,其中該圖案區 域包括多個凹部及凸部,每一凹部係由側面及底面 所界定者; 成型一遮蔽層於該圖案化基板上,該遮蔽層係覆蓋於 所述之凹部及凸部; 成型一光阻層以覆蓋於該遮蔽層; 13/14 201248793 去除部分之該光阻層,使該光阻層殘留於每-凹部; 去除未被殘留之該光阻層所覆蓋之該遮蔽層; 去除殘留之該光阻層,使該遮蔽層覆蓋於該側面盘該 底面之至少其中之一。 、Λ 7、 如申料利範圍第6項所述之_化基板結構的製作 f法,其中成型-遮蔽層之步驟中係成型氧化物層、 虱化物層或金屬層於該圖案化基板上。 8、 如中請專利範圍第6項所述之圖案化基板結構的製作 方法,其中在成型-光阻層之步驟中,位於每一 =阻層的厚度係大於位於每-凸部之該光阻 9 > - 種發光元件,包含 一圖案化基板’其具有—基㈣域及1型於該基板 區域上之?案區域,其中該圖案區域包括多個凹部 及凸部,每一凹部係由側面及底面所界定者; 一遮敝層,其係覆蓋於該侧面與該底面之至少其中之 一者;以及 、 成型於该圖案化基板上且覆蓋於該遮蔽層之蟲晶 結構。 如中請專利範圍第9項所述之發光元件,其中該蟲 晶結構至少包括一設於該圖案化基板上的第一型= 導體層、一設於該第一型半導體層上之發光層及一設 於該發光層上的第二型半導體層。 14/14 ⑤
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Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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TWI514460B (zh) * | 2014-08-22 | 2015-12-21 | Sino American Silicon Prod Inc | 晶圓製作方法 |
TWI722712B (zh) * | 2019-08-13 | 2021-03-21 | 大陸商黃山博藍特半導體科技有限公司 | 一種發光器件基板及製造方法 |
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