TW201248793A - Patterned substrate structure, manufacturing method thereof and light-emitting device having the same - Google Patents

Patterned substrate structure, manufacturing method thereof and light-emitting device having the same Download PDF

Info

Publication number
TW201248793A
TW201248793A TW100117938A TW100117938A TW201248793A TW 201248793 A TW201248793 A TW 201248793A TW 100117938 A TW100117938 A TW 100117938A TW 100117938 A TW100117938 A TW 100117938A TW 201248793 A TW201248793 A TW 201248793A
Authority
TW
Taiwan
Prior art keywords
layer
substrate
patterned substrate
patterned
light
Prior art date
Application number
TW100117938A
Other languages
English (en)
Other versions
TWI455255B (zh
Inventor
Shao-Hsien Chiu
Bo-Wen Lin
Chun-Yen Peng
Wen-Ching Hsu
Original Assignee
Sino American Silicon Prod Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sino American Silicon Prod Inc filed Critical Sino American Silicon Prod Inc
Priority to TW100117938A priority Critical patent/TWI455255B/zh
Publication of TW201248793A publication Critical patent/TW201248793A/zh
Application granted granted Critical
Publication of TWI455255B publication Critical patent/TWI455255B/zh

Links

Landscapes

  • Led Devices (AREA)
  • Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)

Description

201248793 六 '發明說明: 【發明所屬之技術領域】 其製作方法及其發光 其製作方法及其發光元 本發明係有關於一種基板結構 元件’尤指一種圖案化基板結構、 件。 【先前技術】 各種三五族化合物,例如用於製造n 發光二極體的磷化鋁鎵銦(AiGaInp) 认' 立或'•工先 紫外光發光二極體的氮化鎵(GaN)以大旦運=監光或 。其中,超高亮度之藍光或紫:卜:發光::二 在未來將可取代現行之白熱燈泡與南素燈泡。 —由於前述之三五族化合物晶體是成長—基板上,例如 Μ石的晶體結構與氮化鎵相同,故—般會在藍寶石的基 板上製作氮化鎵層,但藍寶石的s狄命》 土 a ^石的日日格與鼠化鎵晶體的晶格 不匹配’因此發光二極體_氮化鎵晶體通f會具有高密 度的線差排,此種晶體的缺陷會降低藍光或紫外光發光二 極體的光輸出功率’其原因在於過高的缺陷密度,4造成 凡件之發光效率與電子遷移速度無法提升。因此,發光元 件的特性會取決於三五族化合物的蟲晶品質,而三五族化 合物的蟲晶品質,則與所使用的基板表面之品質息息相 關。 【發明内容】 本發明之目的之一在於提供一種可降低磊晶結構中 3/14 201248793 的缺=且可提高元件之效率的圖案化基板結構。 兔明之實施例提供一種圖案化基板結構,包含:一 圖案化基板,盆且古 I — 之圖荦M j 似—成砂料板區域上 圖案匚域,其中該圖案區域包括多個 凹部係由側面及底面所界定者;以及一遮蔽層,二= 於該側面與該底面之至少其中之一者。文曰A係伋盍 方法本::之實施例係提供-種圖案化基板結構的製作 方法,包含以下步驟:提供一圖案化基 =板區域及一成型於該基板區域上之圖案區= 戈包括多個凹部及凸部,每-凹部係由側面及 層係覆蓋於所述之凹部及凸邱.士荆L 亥遮蚊 m i 成型—総相覆蓋於該 ,層,去除部分之該光阻層,使該光阻層殘留於每一凹 ^,去除未被殘留之該光阻層所覆蓋之該遮蔽層;去除殘 留之該光阻層’使該遮蔽層覆蓋於該側面與該底面之至少 其中之一。 本發明之實施例係提供一種發光元件,包含:一圖案 化基板’其具有一基板區域及一成型於該基板區域上之圖 案區域,其中該圖案區域包括多個凹部及凸部,每一凹邙 係由側面及底面所界定者;一遮蔽層,其係覆蓋於該側 面與》亥底面之至少其中之一者;以及一成型於該圖案化基 板上且覆蓋於該遮蔽層之磊晶結構。 本發明可達成的功效在於,利用覆蓋於圖案化基板上 τ 之凹部的側面、底面的遮蔽層使後續的磊晶層出現橫向生 · 長的現象,使磊晶層的生長缺陷被限制於某些特定的區 4/14 ⑤ 201248793 域,例如被遮蔽層之上的磊 故可降低整體磊晶的缺陷, 性。 日日區域具有較低的差排密度, 進行提升元件的製程良率及特 進—步瞭解本發明之特徵及技術内容,請參 #失考^ /明之$細朗與關,然而所附圖式僅提 供多考與况明用’並非用來對本發明加以限制者。 【實施方式】 本文將以下實施例具體地的針對本發明提出參考例 太私=下對&貫施例的内容為—圖例之說明,’然並非限制 ==之料。本發明係提出—種圖案化基板結構及其製 乍其係在圖案化基板上製作覆蓋於圖案之側面及/ 遮蔽層,以大幅降低在圖案化基板上之蟲晶結構 社構^ ί的缺陷’進而可提高利用本發明之目案化基板 、-,。構所製成之發光元件的效率。 制你I茶考圖1(aMf),其顯示本發明之圖案化基板結構的 衣 法之流程示意圖,該方法的步驟如下: t驟(一广提供一圖案化基板U,該圖案化基板 ’、有4板區域11A及—成型於基板區域llA 之圖案區域’其中圖案區域包括多個凹部11C及凸部 =B (如圖1 (a)所示)。在本具體實施例中,基板區 或丄1A的上表面成型有多個凹部丄ic:及凸部丄丄 :,:每-凹部11C可由側面112及底面…所界 :,母-凸部1 1B則可由側面丄12及頂面丄丄◦所界. 5/14 201248793 你仔朗的是,本㈣並不案化基板1 1的f 述之圖宰的酬或乾_方式均可形成前 0案化基板i丄;而以藍寶石(單晶三氧化二鋁)基 去」;亥凸二1 1B可為三角錐體(以立體角度觀察, 。二t ’m基板之上表面(C_平面)的結晶方向為 )’且每―三角錐體可具有平直之頂面(即相當於 月=之頂面110)’頂面11 〇之結晶方向同樣為 〇〇,且相鄰凸部i i B之間的間距p較佳地小於 3um’一亦或者’凸部11 B可為矩形體(以立體角度觀察, 仁未不之)’其同樣具有平直之頂面(即相當於前述之頂 面1 1 0),然本發明並不限定圖案化基板工工上之凹部 1 1 c及凸部1 1 3的態樣,例如:圖案化基板.1 1上的 圖案可為三角錐、四角錐、圓錐、多角錐,而所述之錐體 上方有平台,或者上述之錐體或平台側壁有大於一處之轉 折(亦即上小下大之矩形結構體、角錐狀結構體、弧狀結 構體、圓錐狀結構體、圓柱狀結構體、肖柱狀結構體或梯 形結f體等等);圖案化基板1 1之的圖案亦可為點狀也 可=線狀。本發明亦不限定圖案化基板11的材質,例 士藍貝石基板(包括不同軸向的藍寶石基板,可簡稱為 —a之藍寶石基板,其中a_平面、卜平面以及…平面以 米勒^數_161· indices)表示分別為(_)、(_)、 j 1010))、矽基板或碳化矽基板等等均係為本發明保護之 辄嘴’而以下說明係以藍f石之圖案化基板丄i進行說 明0 步驟( :成型遮蔽層12於圖案化基板11上 6/14 201248793 該遮蔽層1 2係覆蓋於所述之 1 ^ (如圖1⑴所示)。在一呈二:lc及凸部11Β - 步驟在圖案化基板i丄上成型一 ir' 礼 化石夕層覆蓋於所述之凹部丄lc連/性的氧化物層,如氧 述之遮蔽層12,財之,11 ^成為所 案化基板!!的底面係批覆於前述之圖 然而,所述之遮蔽層丄2可 2及頂面1 1 0。
物層(如氣化石夕)或以半導體方為^不同材質’例如氣化 f ) ® 、方去(如化學氣相沈積,CVD 寺)所衣作之金屬層、金屬氧化物 步驟(二):成型一光阻層P V舜― (如圖1(相示本步驟係利::;覆盖該遮蔽層12 置上成型不同厚度之結構’以在後声光阻層p尺在不同位 同區域產生裸露/非裸露的效果。2餘刻製程中針對不 中,位於每一凹部 更具體地說,在此步驟 大於位於每一凸之光阻層pR的厚度係實質地 丁2)。 M1B之光阻層U的厚度(即丁,〉 步驟(四):去除部分之 殘留於每一凹部j9 P R,使光阻層P R ^ 1 C中(如圖1 ( d)挪-、 要在於去除部分之光阻層PR,、2 )所不);此步驟主 除之遮蔽層1 2的深戶9 + θ,以控制下一步驟中所要移 咖法將部分之係利_刻, 中,由於光阻層尺加以移除。而在前-步驟 度,故在此I虫刻步驟中 σ 巾具有較大的厚 凸部11β之頂面丄丄 、、阻層p R部分(如位於 而留下填入凹部ilc中的光= 會被完全清.除, 7/14 201248793 _步驟(五):去除未被殘留之光阻層^所覆蓋之遮 蔽層1 2 (如圖1 (e)所示);在具體步驟中,係利用飯 刻,如膽方法將未被殘留之光阻層PR所覆蓋之遮蔽 層1 2加以去除,使被殘留之光阻層pm覆蓋之遮蔽層 1 2未被移除而成型為批覆於凹部1 1 ◦之纟士構。 最後,步驟(六):去除殘留之該光阻層pR (如圖1 ⑺所不);在此步驟中,係將光阻加以去除而形成本發 明之圖案化基板結構。具體而言,所殘留之 覆蓋於側面i i 2與底面工工1。 曰丄Z了 姑! 由上述所提出之步驟’本發明可在圖案化基 板11之圖案區域上的凹部11C之内壁面(即側面工1 2與底面1 1 1)成型有遮蔽層1 2。 明參相2,其顯*本發明之—變 步驟(四)中姓刻光阻的心 1 1 C之5降低’進而使殘留之遮蔽層12僅覆蓋於凹部 1 1 C之底面1 1 1。 1 中可圖二,其顯示本發明之另-變化實施例,其 之η 之後更進行黃光'钱刻等步驟,使殘留 之遮=上2僅覆蓋於凹部llc之側面112。 遮蔽ρ 2係填滿於凹部^中再雜貫施例,其中 可選用不::二’?顯不本發明之又一變化實施例’其中 狀之凸部ΐ ^ 例之圖案化基板11,其具有圓弧 二”,而殘留之遮蔽層12可覆蓋於凹部11 L之底面1 1 1與側面1工2。 丄 8/14
201248793 二芩考圖2D,其顯示本發明之更一變化實施例,其 中可選用不同於前述實施例之圖案化基板1 1,其具有三 :錐狀之凸1 1 B (但無平直之頂面)’而殘留之遮蔽 層1 2可覆蓋於凹部i丄c之底面丄丄丄與側面丄丄 2 °由上述各種實施例可知,本發明並不限定遮蔽層1 2 的態樣,凡在圖案化基板丄丄上的凹部丄工c之底面丄丄 1士與/或側面1 1 2上覆蓋有材料皆為本發明所涵蓋之範 :本發明Μ作之㈣化基板結構可在後續的蟲晶 、壬達到提咼磊晶品質的效果。具體而言’當在本發明 所製作之圖案化基板結構上進行蟲晶的成長初期,蟲晶層 =會成長在賴層1 2上,—絲在未設置有遮蔽層 1 2之頂面1 1 ◦(實質包括部分裸露的側面]_工2) 著晶體成長的進行,在遮蔽層丄2上產生義晶層的 ==長(L細1 gr〇wth),而由遮蔽層12的兩側成長 、從B曰層與原本在厚度方向上的蟲晶層可形成—體化。一 般衫晶層的成長過財會“錢,而本發明可將差排 ㈣生限制在未設置有遮蔽層1 2之頂面! ! Q所成長 之^層中。換言之’當以層進行橫向成長時,差排並 =會f向擴張’即使差排進行橫向擴張,只會沿著平面方 :-直於厚度方向)延伸,而不會構成貫通上下的差排, =遮蔽層12所設置之區域(底面UU/及側面Η 2)的上方形成有較差排密度低的磊晶層,由此可降低磊 晶層的整體差排密度。 了降低μ 舉例來說,請參閱圖3,其顯示一種發光元件,如應 9/14 201248793 用於雷射(LDs)或發光二極體(LEDs) 2ΠΙ_ν族半導 體,該發光元件包括上述的圖案化基板丄丄、遮蔽層工2 及成型於該圖案化基板^ ^上且覆蓋於該遮蔽層丄2之 磊晶結構。具體而言,該發光元件之磊晶結構至少包括一 设於圖案化基板1 1上的第一型半導體層丄3、一設於第 型半導體層1 3上之發光層1 4及一設於該發光層1 4上的第二型半導體層1 5,而如圖所示,該發光元件更 可包括分別電連接於第一型半導體層1 3與第二型半導 體層1 5的第-電極工6、第二電極丄7。具體而言,該 第一、二型半導體層1 3、1 5是由電性彼此相反的m_v 私系半導體材料構成,例如可為氤化鎵系半導體材料,該 發光層14則是可為接收電能後可以光電效應發光的材 料構成,例如硫化鋅(ZnS)、硫化鎘(CdS)、磷化鎵(Gap)、 磷砷鎵(GaASl_xPx)、砷鋁鎵(GaAiAs),或氮化鎵(GaN)等, 該第一、二電極i 6 ' i 7則可為鎳、鉛、鈷、鐵、鈦、 銅、錢、金、釕、鶴、錯、翻、组、翻、銀、此等之氧化 物、氮化物,及前述材料之組合所構成,於本實施例中圖 案化基板11是由藍寶石構成,該第一、二型半導體層工 3 1 5分別由η型及p型氮化鎵構成,該發光層1 4為 由氮化鎵構成,§亥第一、二電極1 6、1 7則為由在白金構 成。 因此,如同前文所述,由於本發明之圖案化基板結構 了有效降低後續蠢晶的缺陷密度,故本發明之圖案化美板 釔構應用於製作半導體元件(如前述之發光元件)時,即 可有效提高後續元件製作的良率及元件的特性。 10/14 201248793 惟以上所述僅為本發明之較佳實施例,非意欲侷限本 發明之專利保護範圍,故舉凡運用本發明說明書及圖式内 容所為之等效變化’均同理皆包含於本發明之權利保護範 圍内,合予陳明。 【圖式簡單說明】 圖U a)至圖1⑺係顯示本發明之圖案化基板結構的製 作方法的流程示意圖。 圖2係顯示本發明之圖案化基板結構的 意圖。 一變化實施例之示 圖2A係顯示本發明之圖案化基板結構的另一變化實施例
一變化實施例 之示意圖。 示本發明之圖案化基板結構的又一變化實施例 不本發明之圖案化基板結構的更一變化實施例
【主要六 疋件符號說明】 圖案化基板 基板區域 凸部 凹部 11/14 201248793 0 頂面 1 底面 2 側面 遮蔽層 14 第一型半導體層 發光層 第二型半導體層 16 第一電極 17 第二電極 P R 光阻層 T, ' T2 厚度

Claims (1)

  1. 201248793 七、申請專利範圍: 1、一種圖案化基板結構,包含· 一圖案化基板,其具有一A F ^ ^ ^ 基板s域及一成型於該基板 :s之圖木區域,其中該圖案區域包括多個凹部 ^凸:,每-凹部係由側面及底面所界定者;以及 一遮敝層,其係覆蓋於該側面與該底面之至少其令之 一者。 2、,申?專利範15第1項所述m基板結構,其中 5玄遮敝層係為氧化物層、氮化物層或金屬層。 3如申凊專利範圍第工項所述之圖案化基板結構,其中 。玄圖木化基板係為藍寳石基板、發基板或碳化石夕基 板0 4 '如:請專利範圍第3項所述之圖案化基板結構,其令 該藍_寶石基_板的上表面之結晶方向為(〇_〕、 ("20)、("02)或(】〇1〇)。 5、如、申請專利範圍第丄項所述之圖案化基板結構,其中 所述之相鄰的凸部之間的間距係小於3um。 6 θ種圖案化基板結構的製作方法,包含以下步驟: 提供一圖案化基板,該圖案化基板具有一基板區域及 、成i於。玄基板區域上之圖案區域,其中該圖案區 域包括多個凹部及凸部,每一凹部係由側面及底面 所界定者; 成型一遮蔽層於該圖案化基板上,該遮蔽層係覆蓋於 所述之凹部及凸部; 成型一光阻層以覆蓋於該遮蔽層; 13/14 201248793 去除部分之該光阻層,使該光阻層殘留於每-凹部; 去除未被殘留之該光阻層所覆蓋之該遮蔽層; 去除殘留之該光阻層,使該遮蔽層覆蓋於該側面盘該 底面之至少其中之一。 、Λ 7、 如申料利範圍第6項所述之_化基板結構的製作 f法,其中成型-遮蔽層之步驟中係成型氧化物層、 虱化物層或金屬層於該圖案化基板上。 8、 如中請專利範圍第6項所述之圖案化基板結構的製作 方法,其中在成型-光阻層之步驟中,位於每一 =阻層的厚度係大於位於每-凸部之該光阻 9 > - 種發光元件,包含 一圖案化基板’其具有—基㈣域及1型於該基板 區域上之?案區域,其中該圖案區域包括多個凹部 及凸部,每一凹部係由側面及底面所界定者; 一遮敝層,其係覆蓋於該侧面與該底面之至少其中之 一者;以及 、 成型於该圖案化基板上且覆蓋於該遮蔽層之蟲晶 結構。 如中請專利範圍第9項所述之發光元件,其中該蟲 晶結構至少包括一設於該圖案化基板上的第一型= 導體層、一設於該第一型半導體層上之發光層及一設 於該發光層上的第二型半導體層。 14/14 ⑤
TW100117938A 2011-05-23 2011-05-23 圖案化基板結構、其製作方法及其發光元件 TWI455255B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
TW100117938A TWI455255B (zh) 2011-05-23 2011-05-23 圖案化基板結構、其製作方法及其發光元件

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
TW100117938A TWI455255B (zh) 2011-05-23 2011-05-23 圖案化基板結構、其製作方法及其發光元件

Publications (2)

Publication Number Publication Date
TW201248793A true TW201248793A (en) 2012-12-01
TWI455255B TWI455255B (zh) 2014-10-01

Family

ID=48138825

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
TW100117938A TWI455255B (zh) 2011-05-23 2011-05-23 圖案化基板結構、其製作方法及其發光元件

Country Status (1)

Country Link
TW (1) TWI455255B (zh)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI514460B (zh) * 2014-08-22 2015-12-21 Sino American Silicon Prod Inc 晶圓製作方法
TWI722712B (zh) * 2019-08-13 2021-03-21 大陸商黃山博藍特半導體科技有限公司 一種發光器件基板及製造方法

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6247986B1 (en) * 1998-12-23 2001-06-19 3M Innovative Properties Company Method for precise molding and alignment of structures on a substrate using a stretchable mold
KR100744071B1 (ko) * 2006-03-31 2007-07-30 주식회사 하이닉스반도체 벌브형 리세스 게이트를 갖는 반도체 소자의 제조방법
US20090286402A1 (en) * 2008-05-13 2009-11-19 Applied Materials, Inc Method for critical dimension shrink using conformal pecvd films

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI514460B (zh) * 2014-08-22 2015-12-21 Sino American Silicon Prod Inc 晶圓製作方法
TWI722712B (zh) * 2019-08-13 2021-03-21 大陸商黃山博藍特半導體科技有限公司 一種發光器件基板及製造方法

Also Published As

Publication number Publication date
TWI455255B (zh) 2014-10-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100649769B1 (ko) 반도체 발광 다이오드 및 그 제조 방법
TWI455345B (zh) 具有垂直結構之發光二極體及其製造方法
US8847265B2 (en) Light-emitting device having dielectric reflector and method of manufacturing the same
US20110204412A1 (en) Method for manufacturing semiconductor light emitting element
US20070221907A1 (en) Light emitting device having vertical structure and mehod for manufacturing the same
JP2007214576A (ja) 窒化物半導体発光素子およびその製造方法
TW200807773A (en) Semiconductor light-emitting diode
JP2008047860A (ja) 表面凹凸の形成方法及びそれを利用した窒化ガリウム系発光ダイオード素子の製造方法
JP2011228628A (ja) 垂直型の光抽出メカニズムを備える発光素子及びその製造方法
US9972748B2 (en) Thin-film semiconductor body with electronmagnetic radiation outcoupling structures
TW201031024A (en) Light-emitting device and manufacturing method thereof
TWI493747B (zh) 發光二極體及其形成方法
KR20110054318A (ko) 발광소자 및 그 제조방법
JP2010114159A (ja) 発光素子及びその製造方法
TWI411125B (zh) 三族氮化合物半導體發光元件之製造方法及其結構
JP2010171391A (ja) 半導体発光素子
CN105742958A (zh) 一种带有dbr掩膜的三族氮化物发光器件及制备方法
US11641005B2 (en) Light-emitting element and manufacturing method thereof
JP2013110426A (ja) 半導体装置の製造方法
TW201248793A (en) Patterned substrate structure, manufacturing method thereof and light-emitting device having the same
TW201244157A (en) A thin-film light-emitting diode with nano-scale epitaxial lateral growth and a method for fabricating the same
TW201246607A (en) Large-area light-emitting device and method for fabricating the same
TW201327902A (zh) 發光二極體晶片及其製造方法
US9620670B2 (en) Solid state lighting dies with quantum emitters and associated methods of manufacturing
JP2009252826A (ja) 半導体発光素子およびその製造方法