201248208 六、發明說明： 【發明所屬之技術領域】 本發明係關於一種具有光擴散層之偏光元件保護膜。 【先前技術】 於液晶顯示器或電漿顯示面板、布朗管（陰極射線管： CRT(Cathode Ray Tube))顯示器、有機電激發光（EL， organic electroluminescence)顯示器等圖像顯示裝置之顯示 面上’為了防止表面之刮痕（scratch)，而通常設置有具有 高硬度性能之保護膜。 具有高硬度性能之保護膜通常係於基材膜上設置硬塗層 而製成（例如’參照曰本專利特開平8-197670號公報（專利 文獻1))。作為基材膜，就機械強度、对久性、成本方面優 異而言，例如較佳使用包含聚酯系樹脂之膜。 【發明内容】 於如上所述之保護膜中’由於硬塗層為薄層，故而有因 硬塗層與空氣之界面中之反射光、及硬塗層與基材膜之界 面中之反射光進行干涉而產生虹不均之情況，有圖像顯示 裝置之顯示品質及外觀品質降低之問題。尤其是，於使用 包含聚醋系樹脂之膜作為基材膜之保護膜之類的基材膜與 更塗層之折射率差較大之保護膜中，由於硬塗層與基材膜 之界面中之反射光之強度較大，故而有易於產生因反射光 所引起之虹不均之問題。 於專利文獻U，記載有藉由將基材膜之形成有硬㈣ 之面之表面平均粗糙度設為⑽心⑽，使硬塗層與基材 162612.doc 201248208 膜之界面中之反射光之前進方向產生偏差，而對硬塗層與 空氣之界面中之反射光進行干涉。然而，由於對基材膜之 表面賦予凹凸形狀通常係利用生產線外加工故而有成本提 高之情況。 本發明之目的在於提供一種具有無需繁雜之製成步驟之 構成且抑制因反射光所產生之虹不均從而使視認性良好之 偏光元件保護膜。 本發明係發現因反射光之虹不均之產生亦與反射圖像清 晰度相關而成者。本發明包含下述内容。 [1 ] 一種偏光元件保護膜，其係具有光擴散層者，且 反射圖像清晰度測定試驗中之反射圖像清晰度cn(%)之 總和值Rc滿足以下之式（1)之關係，並且總霧度值Η滿足以 下之式（2)之關係， 上述反射圖像清晰度測定試驗係使源自試驗片之反射光 之光量通過與反射光之光線軸正交、且以10 mm/min之速 度移動之寬度n(mm)之光頻梳（optical frequency comb)而進 行測定者， 上述反射圖像清蜥度Cn(%)係於上述反射圖像清晰度測 定試驗中，於將光線軸上有上述光頻梳之穿透部分時之反 射光量之最高值設為Mn、將光線軸上有上述光頻梳之遮光 部分時之反射光量之最小值設為叫之情形時，由下述之式 (3)算出， 上述總和值R。係上述光頻梳之寬度n(mm)分別為0.5、 1、2之情形時之反射圖像清晰度C〇.5、Ci、C2的總和值。 I62612.doc 201248208 〇^Rc^ 170 式（1) 0SHS6 式（2)
Cn={(Mn— m„)/(Mn+ mn)}xl〇〇 式（3) [2] 如上述[1]之偏光元件保護臈，其積層有基材膜、及 . 上述光擴散層，且 上述基材膜與上述光擴散層之折射率差為〇.03以上。 [3] 如上述[2]之偏光元件保護膜，其中上述基材膜之折 射率為1.59以上。 [4] 如上述[2]或[3]之偏光元件保護膜，其中上述基材 膜以聚醋系樹脂為主成分。 [5] 如上述[2]至[4]中任一項之偏光元件保護膜，其中 上述基材臈之厚度為50 μπι以下。 [6] 如上述[1]至[5]中任一項之偏光元件保護膜，其中 上述光擴散層包含透光性樹脂及透光性微粒子。 [7] 如上述[6]之偏光元件保護膜，其中上述透光性微粒 子包含不定形微粒子。 利用本發明之偏光元件保護膜，可構成抑制因反射光而 產生之虹不均，且外觀品質、顯示品質良好之圖像顯示裝 • 置。 - 【實施方式】 [偏光元件保護膜] 本發明之偏光元件保護膜具有光擴散層。光擴散層例如 係積層於基材膜上。偏光元件保護膜亦可具有除上述之光 擴散層及基材膜以外之其他層。 162612.doc 201248208 圖1係表示本發明之保護膜之較佳之例的概略剖面圖。 本發明之圖1中所示之偏光元件保護膜100包括基材獏 101、及積層於基材膜101上之光擴散層102。光擴散層102 係以透光性樹脂1 03為基材之層，且於透光性樹脂1 〇3中分 散有透光性微粒子1 04而成。以下，針對本發明之偏光元 件保護膜進一步詳細說明。 <偏光元件保護膜之光學特性> 本發明之偏光元件保護膜於反射圖像清晰度測定試驗中 之反射圖像清晰度Cn(°/〇)之總和值1^(%)滿足以下之式（1)之 關係：
Rc^ 170 式（1) 並且總霧度值滿足以下之式（2)之關係： 0SHS6 式（2)。 上述反射圖像清晰度測定試驗係使試驗片（偏光元件保 護膜）之反射光之光量通過與反射光之光線軸正交、且以 10 mm/min之速度移動之寬度n(mm)之光頻梳而進行測定 者。具體而言，使用圖像清晰度（image clarity)測定器 (Suga試驗機（股）製造）進行測定。圖像清晰度測定器包含 將穿透狭縫之光設為平行光線而使其垂直入射於試驗片、 並通過於其反射光中移動之光頻梳而進行檢測之光學裝 置，及將所檢測之光量之變動記錄為波形之測量系裝置。 光頻梳之明部與暗部之寬度之比為1:1，該寬度n(mm)係設 為0.5、1、2之3種’移動速度係設為1〇 mm/min。 反射圖像清晰度Cn(%)係於反射圖像清晰度測定試驗 162612.doc 201248208 中，於將光線軸上有光頻梳之穿透部分（明部）時之反射光 量之最鬲值设為Mn、將光線轴上有光頻梳之遮光部分（暗 部）時之反射光量之最小值設為叫之情形時，由下述之式 (3)算出：
Cn={(Mn-mn)/(Mn+mn)}xl〇〇 式（3)。 總和值Rc(%)係光頻梳之寬度n(mm)分別為〇 5、1、2之 情形時之3個反射圖像清晰度C〇 5(%)、Cl(%)、c2(%)的總 和值，因此可取之最大值為3〇〇〇/0。 藉由總和值Rc(%)滿足上述式（1)之關係、其總霧度值 H(%)滿足上述式（2)之關係，而可提供一種因反射光之虹 不均之產生得到抑制、進而無泛白之偏光元件保護膜。 此處’所謂「總霧度值」’係由表示對偏光元件保護膜 照射光而穿透之光線之總量的總光線穿透率Tt、與因偏光 元件保護膜而擴散並穿透的擴散光線穿透率Td之比，並藉 由以下之式（4)而求出： 總霧度（％)=(丁(1/1^)>< 100 式（4)。 總光線穿透率Tt係在與入射光同轴之狀態下穿透之平行 光線穿透率Tp與擴散光線穿透率Td之和。總光線穿透率Tt 及擴散光線穿透率Td係依據JIS K 7361所測定之值。 偏光元件保護膜之總霧度值具體而言係以下述方式測 定。即’首先為防止膜之翹曲而使用光學透明之黏著劑， 對偏光元件保護膜以光擴散層102成為表面之方式將基材 膜101側貼合於玻璃基板上而製成試驗片，並針對該試驗 片測定總霧度值》總霧度值係使用依據Jis K 71 36之霧度 162612.doc 201248208 穿透率計（例如，村上色彩技術研究所（股）製造之Haze Meter「HM-150」），測定總光線穿透率Tt及擴散光線穿透 率（Td)，並藉由上述式（4)算出。 <光擴散層> 圖1中所示之偏光元件保護膜100包括積層於基材膜1〇1 上之光擴散層102❶光擴散層102係以透光性樹脂1〇3為基 材之層，且於透光性樹脂103中分散有透光性微粒子1 〇4而 成°再者’亦可於基材膜101與光擴散層102之間具有其他 層（包括接著劑層）。 作為透光性樹脂103，若為具有透光性者則無特別限 定’例如可使用：紫外線硬化型樹脂、電子束硬化型樹脂 專電離韓射硬化型樹脂或熱硬化型樹脂之硬化物，熱塑性 樹脂、金屬烷氧化物之硬化物等。於使用電離輻射硬化型 樹脂、熱硬化型樹脂或金屬烷氧化物之情形時，藉由電離 輻射之照射或加熱使該樹脂硬化而形成透光性樹脂103。 其中，於用作具有較高之硬度、且設置於液晶顯示裝置表 面之偏光元件保護膜之情形時，就可賦予較高之耐磨性方 面而言’較佳為電離輻射硬化型樹脂。 作為電離輻射硬化型樹脂，可列舉：多元醇之丙烯酸或 甲基丙稀酸酿之類的多官能性之丙烯酸醋；由二異氰酸酷 與夕π醇及丙稀酸或甲基丙㈣之經基§|等所合成之多官 能之丙稀酸胺基甲酸酿等。χ，除該等以外，亦可使用· 具有丙烯酸醋系之官能基之聚晴脂、聚酷樹脂、環氧樹 脂、醇酸樹脂、螺縮酿樹脂、聚丁二稀樹脂、多硫醇多稀 162612.doc 201248208 樹脂等。 作為熱硬化型樹脂，可列舉：包含丙烯酸多元醇及異氰 酸醋預聚物（isocyanate prepolymer)之熱硬化型胺基甲酸醋 樹脂，及酴樹脂、尿素三聚氰胺樹脂、環氧樹脂、不飽和 聚酯樹脂、聚矽氧樹脂。 作為熱塑性樹脂，可列舉：乙醯纖維素、硝化纖維素、 乙酿丁基纖維素、乙基纖維素、甲基纖維素等纖維素衍生 物；乙酸乙烯酯及其共聚物、氣乙烯及其共聚物、偏二氯 乙烯及其共聚物等乙烯系樹脂；聚乙烯曱醛、聚乙烤丁醛 等縮搭系樹脂；丙烯酸系樹脂及其共聚物、曱基丙烯酸樹 脂及其共聚物等丙烯酸系樹脂；聚苯乙烯系樹脂；聚醯胺 系樹脂；聚酯系樹脂；聚碳酸酯系樹脂等。 作為金屬烷氧化物，可使用以矽烷氧化物系之材料為原 料之氧化矽系基質等。具體而言，為四甲氧基矽烷、四乙 氧基矽烷等’可藉由水解或脫水縮合而製成無機系或有機 無機複合系基質（透光性樹脂）。 又’作為本發明中所使用之透光性微粒子1〇4，可使用 具有透光性之有機微粒子或無機微粒子《例如，可列舉： 包含丙烯酸系樹脂、三聚氰胺樹脂、聚乙烯、聚苯乙稀、 有機聚矽氧樹脂、丙烯酸-苯乙烯共聚物等之有機微粒 子’或包含碳酸鈣、二氧化矽、氧化鋁、碳酸鋇、硫酸 鋇、氧化鈦、玻璃等之無機微粒子等。又，亦可使用有機 聚合物之氣球或玻璃中空珠。透光性微粒子104可包含！種 微粒子，或亦可含有2種以上之微粒子。透光性微粒子1〇4 162612.doc 201248208 之形狀雖然亦可為球狀、扁平狀、板狀、針狀、不定形狀 等任一者’但藉由使用不定形狀之透光性微粒子104 ,對 透光性樹脂103與透光性微粒子1〇4之界面賦予微細之差 異’而容易製成反射圖像清晰度之總和值Rc滿足上述式（1) 之關係之偏光元件保護膜。作為不定形狀之透光性微粒 子，例如可列舉不定形二氧化矽。 此處’關於透光性微粒子1〇4之重量平均粒徑，於為球 狀之情形時，較佳為〇.5 μηι〜15 μηι ’更佳為3 μηι〜9 μηι， 於為不定形狀之情形時，較佳為〇_5 μΓη〜15 μϊη ,更佳為〇 5 μηι〜5 μιη。若透光性微粒子1〇4之重量平均粒徑未達〇 5 Mm，則有時基本無助於可見光之内部散射。又，於重量 平均粒徑超過15 μπι之情形時，有時以總霧度值Η滿足上述 式（2)之關係之方式製成偏光元件保護膜變得困難，進而， 光擴散層102整體之厚度變厚，有時妨礙顯示器之薄型 化。再者，透光性微粒子1 〇4之重量平均粒徑係使用利用 庫爾特原理（空隙電阻法）之庫爾特粒子計數器（Beckman Coulter公司製造）進行測定。透光性微粒子1〇4亦可含有重 量平均粒子徑不同之2種以上。 透光性微粒子1 04之折射率較佳為大於透光性樹脂丨〇3之 折射率，兩者之差較佳為於〇.〇4至〇15之範圍。藉由將透 光性微粒子104與透光性樹脂1〇3之折射率差設為上述範圍 内，而產生因透光性微粒子104與透光性樹脂1〇3之折射率 差之適度之内部散射，變得易於以偏光元件保護膜之反射 圖像清晰度的總和值Re滿足上述式（1)之關係之方式進行控 1626I2.doc -10· 201248208 制。 又，光擴散層102之表面（與基材膜101為相反側之表面） 亦可為利用透光性微粒子104形成有凹凸者。藉由凹凸形 狀，而於光擴散層102之表面中之反射光之前進方向產生 偏差’可以偏光元件保護膜之反射圖像清晰度的總和值Rc 滿足上述式（1)之關係之方式進行控制。 光擴散層102之層厚較佳為4 μπι以上且20 μηι以下。於未 達4 μπι之情形時，光擴散層1〇2之表面之凹凸形狀之表面 粗糙度過大’有時難以以霧度值Η滿足上述式（2)之關係之 方式進行控制。另一方面’若超過20 μηι則偏光元件保護 膜整體變厚，變得易於捲曲、或變得易於破裂，故而於操 作方面不佳。 再者’本發明之偏光元件保護膜亦可包括積層於圖1中 所不之光擴散層102上（與基材膜ι〇1為相反側之面）之抗反 射層。抗反射層係用以使反射率無限低而設置者，藉由抗 反射層之形成可防止於顯示晝面中之映入。作為抗反射 層，可列舉：包含折射率低於光擴散層1〇2之材料之低折 射率層；包含折射率高於光擴散層1〇2之材料之高折射率 層與包含折射率低於該高折射率層之材料之低折射率層的 積層構造等。 <基材膜> 基材膜1GI之材料並無限^，但較佳為包含折射率較高 材料具體而5，基材臈1〇1之折射率較佳為[Μ以 上又，基材臈101與光賤層1〇2之界面之折射率差為 I626I2.doc 201248208 0.03以上的基材膜ι〇1較佳。 基材膜101之材料無特別限定，可使用公知之材質。例 如可列舉·包含聚對苯二甲酸乙二酯之類的聚酯系樹 脂'聚乙烯或聚丙烯之類的聚烯烴系樹脂、乙烯_乙酸乙 烯酯系樹脂、聚甲基丙烯酸甲酯之類的丙烯酸系樹脂、降 褚烯系樹脂之類的環烯系樹脂等之合成高分子，又包含二 乙酸纖維素或三乙酸纖維素之類的纖維素系樹脂等之天然 同刀子。基材膜101較佳為無色透明，為進行面之識別等 於不妨礙缺陷檢測性之範圍内’可為有色亦可為半透明。 使用上述之材料製造基材膜1〇1之方法無特別限定，可 利用/合劑澆鑄法、擠壓法等公知之方法進行製造。又，可 使用於膜成形後經實施單軸延伸或雙軸延伸等延伸處理之 基材膜101 〇作為折射率為上述之範圍内之基材膜1〇1，較 佳為使用經實施延伸處理之包含聚酯系樹脂之基材膜 01例如，可列舉包含經實施延伸處理之聚對苯二曱酸 乙二酯之基材膜101。 延伸通常係一面捲出膜輥一面連續地進行，利用加熱爐 向輥之前進方向、與該前進方向垂直之方向 '或向該兩個 方向進行延伸。加熱爐之溫度通常為自構成基材膜101之 樹知之玻璃轉移溫度附近至玻璃轉移溫度+ 1 之範 圍。 用作基材膜101之聚酯膜係以聚酯為主成分之膜，可為 以聚酷為主成分之單層冑，或亦可為具有以聚酷為主成分 之層之多層膜。又，亦可為於該等單層膜或多層膜之兩面 162612.doc -12- 201248208 或單面實施有表面處 理、“處理表面處理可為利用電晕處 面改質，4亦可為;;=紫外線照射、電子束照射等之表 薄膜升…二w分子或金屬等之塗佈或蒸鍍等之 、、 自0占聚酯膜整體之重量比例通常為50重量％ 以上，較佳為7〇重量％以上，更佳為9()重量％以上。 作為聚醋’例如可而|班. _ 列舉.聚對苯二曱酸乙二酯、聚間苯 甲酸乙一S曰、聚乙烯_2,6_萘二甲酸酯、聚對苯二曱酸丁 二酯、對苯二曱酸昏 馱〗，4-環己二曱酯，視需要亦可使用該等 2種以上。其中較佳為使用聚對苯二甲酸乙二酯。 聚對苯二曱酸乙二酯係具有源自對苯二曱酸之構成單元 作為二甲酸成分、及具有源自乙二醇之構成單元作為二醇 成分的聚酯，較佳為總重複單元之8〇莫耳％以上為對苯二 曱酸乙二酯，亦可含有源自其他共聚成分之構成單元。作 為其他共聚成分，可列舉：間苯二曱酸、對β_氧基乙氧基 苯曱酸、4,4'-二羧基二苯、4,4，-二羧基二苯曱酮、雙（4_二 羧基苯基）乙烷、己二酸、癸二酸、間苯二甲酸_5_磺酸 納、1，4-二叛基環己院等二曱酸成分，或丙二醇、丁二 醇、新戊二醇、二乙二醇、環己二醇、雙酚Α之環氧乙院 加成物、聚乙二醇、聚丙二醇、聚丁二醇等二醇成分。 該等二甲酸成分或二醇成分可依據需要而組合2種以上 使用。又，亦可與上述缓酸成分或二醇成分一同併用對經 基苯曱酸等氧基羧酸。作為其他共聚成分’亦可使用含有 少量之醯胺鍵、胺基曱酸酯鍵、醚鍵、碳酸酯鍵等之二甲 酸成分及/或二醇成分。作為聚對苯二甲酸乙二酯之製造 162612.doc • 13- 201248208 方法，可使用如下任意之製造方法：使對苯二甲酸與乙二 醇、以及視需要其他二甲酸及/或其他二醇直接進行反應 之所謂直接聚合法’使對苯二甲酸之二甲酯與乙二醇、以 及視需要其他二甲酸之二甲酯及/或其他二醇進行酯交換 反應之所謂酯交換反應法等。 視需要亦可於聚s旨中調配公知之添加劑，作為該例可列 舉.淵滑劑、抗結塊劑、熱穩定劑、抗氧化劑、抗靜電 劑、耐光劑、耐衝擊性改良劑。其中，於使用聚酯膜作為 防眩膜之基材膜之情形時，通常透明性為必需，故而添加 劑之添加量較佳為控制於最小限度内。 聚酯膜較佳為進行單軸延伸或雙軸延伸（以下亦將如此 經單轴延伸或雙軸延伸之聚酯膜簡記為「延伸聚酯 膜」）。延伸聚酯膜係機械性質、耐溶劑性、耐刮痕性、 成本等優異之膜’使用此種聚醋膜之光學膜可謀求機械強 度等優異、及厚度之減少。 將聚醋成形為膜狀，並實施單轴延伸處理或雙轴延伸肩 理’藉此可製成經延伸之聚s旨膜。藉由進行延伸處理可指 得機械強度較高之聚醋膜。經延伸之聚酯膜之製成方法為 任意’並無特別限定’例如作為單軸延伸㈣膜，可列摩 Γ在玻璃轉移溫度以上之溫度下利用拉幅機，將使聚_ 融、並擠出為片狀所成形之無定向料行橫向延伸後， 施…、固疋處理之方法。又，於雙軸延伸聚酯膜令，可列兴 Γ在玻璃轉移溫度以上之溫度下利用拉幅機，將使聚_ 融、並擠出為片狀所成形之無定向膜進行縱向延伸後，實 1626l2.doc 201248208 施熱固疋處理’繼而於橫向延伸後實施熱固定處理之方 法。於該情形時，延伸溫度通常為8〇〜l3(rc，較佳為 90 120 C ’延伸倍率通常為2 5〜6倍較佳為3〜$ 5倍。若 I伸倍率較低，則有聚酯膜不會顯示充分之透明性之傾 向0 :’為減少定向主軸之變形，較理想為於延伸後進行熱 固疋處理之别，對聚酯膜進行鬆弛處理。鬆弛處理時之溫 度通常為90〜20〇t，較佳為12〇〜18(Γ(：。鬆他量依據延伸 條件而不同，較佳為以鬆弛處理後之聚酯膜之於1 下 的熱收縮率成為2%以下之方式而設定鬆他量及鬆弛處理 時之溫度。 熱固定處理溫度可設為18〇〜25〇〇c，較佳為2〇〇〜245它。 於熱固疋處理中，於首先以定長進行熱固定處理之後，為 減少定向主軸之變形、並提昇耐熱性等之強度，較佳為進 而進行寬度方向之鬆他處理β該情形時之鬆弛量較佳為以 鬆弛處理後之聚醋臈之於150t下的熱收縮率成為卜⑺％ 之方式進行調整，更佳為2〜5%。本發明中所使用之延伸 聚酯膜之定向主軸之變形的最大值通常為〗〇度以下，較佳 為8度以下，進而較佳為5度以下。若定向主軸之最大值大 於10度，則有於貼合於液晶顯示畫面時著色不良變大之傾 向。再者，延伸聚酯膜之「定向主軸之變形之最大值」例 如可利用大塚電子股份有限公司製造之相位差膜檢查裝置 RETS System進行測定。 基材膜101之厚度較佳為設為2〇〜1 〇〇 μπι，更佳為設為 162612.doc 15 201248208 30〜50 μιη。若基材膜ιοί之厚度未達2〇 μπι則有難以處理之 傾向，若厚度超過100 μιη則有薄壁化之優點減弱之傾向。 <偏光元件保護膜之製造方法> 繼而，針對用以製造圖1中所示之偏光元件保護膜之方 法進行說明。偏光元件保護膜1〇〇較佳為以包含如下之步 驟（Α)及（Β)之方法進行製造。 (Α)基材膜ιοί上塗佈含有分散有透光性微粒子ι〇4之透 光性樹脂之塗佈液，而形成塗佈層之塗佈步驟，及 (Β)上述塗佈層硬化之硬化步驟。 上述步驟（Α)中所使用之塗佈液包含：透光性微粒子 104、構成光擴散層102之透光性樹脂1〇3或形成其之樹脂 (例如’電離輻射硬化型樹脂、熱硬化型樹脂或金屬烷氧 化物）' 及視需要溶劑等其他成分。於使用紫外線硬化型 樹脂作為形成透光性樹脂103樹脂之情形時，上述塗佈液 包含光聚合起始劑（自由基聚合起始劑作為光聚合起始 劑’例如可使用：苯乙酮系光聚合起始劑、安息香系光聚 合起始劑、二苯甲酮系光聚合起始劑、9-氧硫咄〇星系光聚 合起始劑、三畊系光聚合起始劑、呤二唑系光聚合起始劑 等。又’作為光聚合起始劑，例如亦可使用：2,4,6-三曱 基笨曱醯基二苯基氧化膦、2,2，-雙（鄰氣苯基）-4,4，,5,5，-四 本基-1，2’-聯°米°坐、10-丁基-2-氣。丫 n定鲷（chloroacridone)、 2-乙基蒽醌' 二苯乙二酮、9,1 〇·菲醌、樟腦醌、苯基乙醛 酸曱自旨、二茂鈦等。光聚合起始劑之使用量通常相對於塗 佈液中所含有之樹脂1〇〇重量份為〇.5〜2〇重量份，較佳為 162612.doc •16· 201248208 1〜5重量份。再者，為將光擴散膜之光學特性及表面形狀 设為均質’塗佈液中之透光性微粒子1〇4之分散較佳為各 向同性。 上述塗佈液之於基材膜上之塗佈例如可藉由如下方法進 行·凹版印刷塗佈法、微凹版印刷塗佈法、棒式塗佈法、 刮塗法、氣刀塗佈法、接觸式塗佈法、模塗法等。於塗佈 液之塗佈時’較佳為如上所述以硬化後之光擴散層1〇2之 層厚成為10 μηι以上且20 μπι以下之方式調整塗佈層厚。 為改良塗佈液之塗佈性或改良與光擴散層1〇2之接著 性’亦可對基材膜i 〇 1之表面（光擴散層側表面）實施各種表 面處理。作為表面處理，可列舉··電暈放電處理、輝光放 電處理、酸表面處理、鹼表面處理、紫外線照射處理等。 又’亦可於基材膜上例如形成底塗層等其他層’並於該其 他層之上塗佈塗佈液。 又’為提昇本發明之偏光元件保護臈與偏光元件之接著 性，較佳為藉由各種表面處理對基材膜101之表面（與光擴 散層為相反側之表面）進行親水化。 於上述步驟（B)中使塗佈層硬化，於使用電離輻射硬化 型樹脂、熱硬化型樹脂或金屬烷氧化物作為形成透光性樹 脂103之樹脂之情形時，形成上述塗佈層、並依據需要而 進行乾燥（溶劑之去除），進而利用電離輻射之照射（使用電 離輻射硬化型樹脂之情形時）或加熱（使用熱硬化型樹脂或 金屬烧氧化物之情形時）使塗佈層硬化。作為電離轄射， 可依據塗佈液中所含之樹脂之種類而自紫外線、電子束、 162612.doc 17 201248208 近i外線、可見光、近紅外線' 紅外線' χ射線等中進行 適當選擇’於該等尹較佳為紫外線、電子纟，就操作簡便 且可獲得高能量方面而言，特佳為紫外線。 作為务外線之光源，例如可使用：低壓水銀燈' 中壓水 銀燈、高壓水錢、超高壓水銀燈、碳弧燈、金屬函素 燈、氤氣燈等。X，亦可使用：—準分子雷射、Μ準分 子雷射、準分子燈或同步加速器軌道輻射等。於該等之 中，可較佳使用I超高壓水銀燈、高壓水銀燈、低壓水銀 燈、氣弧、金屬函素燈β 又，作為電子束，可列舉自C〇ckcr〇ft 丨t〇n型凡德 格拉夫（Van de Graaff)型、共振變壓型、絕緣心變壓型、 直線型、高頻高壓加速器型、高周波型等各種電子束加速 器放出之具有50〜1000 keV '較佳為1〇〇〜300 keV之能量的 電子束。 偏光το件保護膜之1及H可利用例如下述所示之方法調 整為本發明中規定之範圍。首先，利用上述之材料及方法 製造偏光元件保護臈，並測定Re&H。其結果，於Κ之值 過咼之情形時，進行使表面粗糙度較大之具體而言操作光 擴散層之層厚或透光性微粒子之粒徑而使粒子於層表面露 出、或者形成凹凸等處置，於H之值過高之情形時，進行 減少透光性微粒子之添加份數、使透光性微粒子之形狀為 球狀等任一處理，或者組合該等處置，再次製造偏光元件 保護膜並測定其Rc及Η。重複上述偏光元件保護膜之製造 及其Re及Η之測定，直至成為目標尺。之值及Η之值。 162612.doc -18- 201248208 [偏光板] 本發明之偏光元件保護膜係貼合於偏光元件之表面，構 成包含偏光元件及偏光元件保護獏之偏光板。依據本發明 之偏光元件保護膜，泛白之產生得到抑制、進而因反射光 之虹不均之產生亦得到抑制、且機械強度亦優異，故而使 用其之偏光板與其同樣地成為泛白之產生得到抑制、進而 虹不均之產生得到抑制、且機械強度亦優異之偏光板。作 為偏光元件可使用公知之偏光元件。偏光元件通常包含定 向吸附有碘或二色性染料之聚乙烯醇系樹脂膜。對偏光元 件之至少一個面貼附本發明之偏光元件保護膜，構成偏光 板。可構成配置於圖像顯示元件之視認侧而使用之偏光板 及配置於责面側而使用之偏光板之任一者。例如，自視言次 側依序積層光擴散層102、基材膜101、偏光元件而配置偏 光元件保護膜及偏光元件’可構成視認側之偏光板。例 如’自視認側依序積層偏光元件、基材膜1〇1、光擴散層 1 02而配置偏光元件保護膜及偏光元件，可構成背面側之 偏光板。亦可於一個偏光元件之兩面貼合本發明之偏光元 件保護膜而構成偏光板。 [圖像顯示裝置] 使用本發明之偏光元件保護膜之偏光板與圖像顯示元件 一同構成所使用之圖像顯示裝置。此處，圖像顯示元件具 有於上下基板間填充有液晶之液晶單元，藉由施加電麼使 液晶之定向狀態變化而進行圖像之顯示之液晶面板為代表 性者。如此’具有本發明之偏光元件保護膜之圖像顯示裝 162612.doc -19· 201248208 置成為顯示畫面中之泛白、因反射光之虹不均之產生得到 抑制’且機械強度優異者。 實施例 以下，列舉實施例進而詳細說明本發明，但本發明並不 限定於該等實施例。再者，以下之例中之偏光元件保護膜 之光學特性、及透光性微粒子之重量平均粒徑之測定方法 係如下文所述。 (a) 光圖像清晰度cn之總和值1^ 使用圖像清晰度測定器（Suga試驗機（股）製造）進行上述 之尽射圖像清晰度測定試驗，並基於式（3)算出光頻梳之寬 度分別為0.5 mm、1 mm、2 mm之情形時之反射圖像清晰 度C0.5、（：丨、C2。並且’算出C0.5、C!、C2之總和值rc。 (b) 霧度值Η 使用依據JIS Κ 7136之霧度穿透率計（村上色彩技術研究 所股份有限公司製造之Haze Meter「ΗΜ-1 50」），測定總 光線穿透率Tt、及因偏光元件保護膜而擴散並穿透之擴散 光線穿透率Td，並基於式（4)算出總霧度值Η» (c) 光性微粒子之重量平均粒徑 使用利用庫爾特原理（空隙電阻法）之庫爾特粒子計數器 (Beckman Coulter公司製造）進行測定。 <實施例1> 作為實施例1之偏光元件保護膜，係使用如下光學膜， 其包含：於雙軸延伸聚對苯二曱酸乙二龍（ρΕτ，
Polyethylene terephthalate)膜（基材膜 Κ商品名：T〇ray I62612.doc -20. 201248208
Lumirror(股）製造）上具有主要包含季戊四醇四丙烯酸酯 (PETA，Pentaerythritol tetraacrylate)、異氰尿酸三烤丙酉旨 (商品名：TAIC(註冊商標））及異佛爾酮二異氰酸酯（IPDI， isophorone diisocyanate)之硬塗層，且於硬塗層中含有全 氟聚醚（防污劑）、及重量平均粒徑為6 μηι之透光性微粒子 (苯乙烯、與乙二醇二甲基丙烯酸酯（EDMA，Ethylene glycol dimethacrylate)、與曱基丙烯酸曱酯（MMA，Methyl methacrylate)之共聚物）。 <實施例2 > 作為實施例2之偏光元件保護膜，係使用如下光學膜， 其包含··於雙軸延伸聚對苯二曱酸乙二酯（PET)膜（基材 膜）（商品名：Toray Lumirror(股）製造）上具有主要包含季戊 四醇四丙烯酸酯（PETA)、及異佛爾酮二異氰酸酯（ipdi)之 硬塗層’且於硬塗層中含有重量平均粒徑為6.5 μιη之透光 性微粒子（苯乙烯、與乙二醇二甲基丙烯酸酯（EDMA)、與 曱基丙烯酸甲酯（ΜΜΑ)之共聚物）、重量平均粒徑為1 〇〇 nm之Α1粒子、及Mg凝集物。 <實施例3 > 利用分散機’混合丙稀酸系紫外線硬化型樹脂92重量份 (固形物成分100%，商品名：Light acrylate DPE-6A，共榮 社化學（股）製造）及平均粒子徑1.3 μιη(庫爾特原理）之不定 形二氧化矽8重量份（商品名：ΑΖ-204，Tosoh Silica(股）製 造）、分散劑0.24重量份（商品名：DISPERBYK1〇2，bYK_ Chemie Japan(股）製造）、沈澱防止劑〇16重量份（商品名： 162612.doc •21· 201248208 BYK411，BYK-Chemie Japan(股）製造），而獲得分散體 (A)。利用分散機於上述調配之分散體47 6重量份中混 合、搜拌光起始劑2·4重量份（商品名：IRGACURE184， Ciba Specialty Chemicals(股）製造）、甲苯25 重量份 '異丁 醇25重量份，而獲得塗佈液（B)。利用#1〇棒式塗佈機於38 μηι之聚對苯二曱酸乙二酯（pET)膜（商品名：T〇ray Lumirror(股）製造，折射率為ι.61)上塗佈塗佈液（B)，並利 用300 mJ/cm2之紫外線使其硬化而形成光擴散層，獲得偏 光元件保護膜。 <比較例1> 作為比較例1之偏光元件保護膜，係使用於雙轴延伸聚 對苯二曱酸乙二酯（PET)膜（基材膜）（商品名：T〇ray Lumirror(股）製造）上具有主要包含季戊四醇四丙烯酸醋 (PETA)及三羥f基己基内酯（HDI ，Trimethyl()1 Hexyllactone)之防眩層、且於防眩層中不含透光性微粒子 之光學膜。 <比較例2 > 作為比較例2之偏光元件保護膜，係使用於雙軸延伸聚 對苯二甲酸乙二酯（PET)膜（基材膜）（商品名：Toray Lumirror公司製造）上具有主要包含季戊四醇四丙稀酸醋 (PETA)及異佛爾酮二異氰酸酯（IPDI)之硬塗層、且於硬塗 層中含有重量平均粒徑為3 μηι之透光性微粒子（苯乙稀、 與乙二醇二甲基丙烯酸酯之共聚物）之光學膜。 <比較例3 > 162612.doc -22- 201248208 作為比較例3之偏光元件保護膜’係使用於雙軸延伸聚 對苯二甲酸乙二酯（PET)膜（基材膜）（商品名：T〇ray Lumirror公司製造）上具有主要包含季戊四醇四丙埽酸醋 (PETA)之硬塗層、且於硬塗層中含有不定形狀之二氧化石夕 微粒子之光學膜。 (液晶顯示裝置之製成） 又，使用所獲得之實施例1〜3之偏光元件保護臈、比較 例1〜3之偏光元件保護膜製成液晶顯示裝置 > 並依照下述 之方法評價因反射光而產生之虹不均及泛白。首先，自夏 普（股）製造之液晶顯示裝置「AQUOS(註冊商標）LC-20AX5」將視認側偏光板之視認侧偏光板剝離，進而將代 替該視認側偏光板而分別貼合有實施例1〜3、比較例1〜3之 偏光元件保護膜作為視認側保護膜的偏光板與原始之偏光 板於同軸方向進行貼附，製成液晶顯示裝置。 (虹不均之評價） 使所獲得之液晶顯示裝置顯示黑色，並使螢光燈於顯示 裝置表面上反射而依照以下之基準以目視評價因反射光之 虹不均之產生·· A :虹不均幾乎看不到 B :虹不均稍微可見 C :虹不均清晰可見。 將結果示於表1中。 (泛白之評價） 使所獲得之液晶顯示裝置顯示黑色，於點亮螢光燈之室 162612.doc •23- 201248208 内依照以下之基準以目視評價顯示黑色之圖像之泛白： A :黑色密實、泛白較少 B :黑色稍微泛白 C :黑色泛白。 將結果示於表1中。 [表1]
Η (%) Rc (%) C〇.5 (%) C,(%) C2(%) 虹不均 泛白 實施例1 2.5 167 54.5 56 56.8 B B 實施例2 3.9 56 9.5 16.2 30.3 A A 實施例3 2.7 18 3.1 3.1 11.7 A A 比較例1 0.7 291 95.5 97.2 98.3 C A 比較例2 10.4 79 14.7 23.9 40.3 A C 比較例3 18.4 23 7.1 6.5 9.6 A C 如由表1可知’於反射圖像清晰度之總和值Rc滿足式 之關係、進而總霧度值Η滿足式（2)之關係之實施例1〜3之 偏光元件保護膜中，因反射光之虹不均之產生得到抑制， 並且泛白之產生得到抑制。 (試驗結果之分析） 圖2係表示描繪表1之實施例丨〜3、比較例1〜3之偏光元件 保護膜之總霧度值Η與反射圖像清晰度之總和值Rc的關係 之圖。 如圖2中所示，由比較例i〜3之偏光元件保護膜（通常之 光學膜）之總霧度值Η與反射圖像清晰度之總和值Rc的關係 之描繪點，可導出直線200之關係。另一方面，實施例1〜3 之描繪點較大地偏離了直線2〇〇。可預測若為在與直線200 之關係中’總霧度值Η與反射圖像清晰度之總和值Rc之關 162612.doc •24- 201248208 係的描繪點位於實施例1〜3之周邊區域20 1的光學膜，則可 與實施例1〜3同樣地構成因反射光之虹不均之產生得到抑 制、並且泛白之產生得到抑制之圖像顯示裝置，並導出式 (1)及式（2)之關係。 【圖式簡單說明】 圖1係表示本發明之偏光元件保護膜之較佳之例的概略 剖面圖。 圖2係表示描繪實施例1〜3及比較例1〜3之偏光元件保護 膜之總霧度值Η與反射圖像清晰度之總和值Rc的關係之 圖。 【主要元件符號說明】 100 101 102 103 104 偏光元件保護膜 基材膜 光擴散層 透光性樹脂 透光性微粒子 I62612.doc •25-