TW201202653A - Fine machining equipment with optical on-line measurement function - Google Patents

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201202653 六、發明說明: 【發明所屬之技術領域】 本發明係關於一種具光擧十A #旦 m匕猫禋具先予式在線量測功能的精微加工 -備尤心-種可在工件加工完成後直接在機台上… 測以減少誤差;又因是以光學方式進行非接觸式量測,: 可避免工件表面刮傷損H-方面,採用白光干涉儀作 為量測裝置’可用以量測工件表面之粗糖度。 儀作 【先前技術】 在加工領域中,工件晉丨— # 里測直知次者確保品質的最終 守門員角色,但一 、 -敛而3,手動量具的操作必須仰賴操作 者的技術熟練私度,另一問題是前述的量測動作’必須將 工件由機台上取下後始能進行’若加工尺寸不在允差範圍 時,又需將工件放回重新定位再做加工尺寸修正’極易引 ^人為工件設定誤差。尤其在精微加工領域,高精度微小 兀件的表面微結構尺寸特徵相當精細,隨著科技的發展, 不,在工業產品及消費性商品均是朝向微小化方向發展, 使得相關零組件的尺寸曰趨精細化’例如近年來電子、光 電、生醫領域更是對高精度微小元件有強烈的需求,與該 等領域相關的零組件’其特色是尺寸通常小於1Qmm,其 表面也往往需要具有1〜數百pm大小的微結構,以達到某 二特定光學、電氣、流道等功能。而這些尺寸小於,〇咖 的U小元件右如用離線量測,其不確定性將會大幅提高, 因此對於精微加工而言’在線量測是必須的。 已知具有在線量測功能的加工機,是將一探測頭組裝 201202653 到機台的加工頭組上,該探測頭接受經過編輯的量測程式 所驅動’以便在機台上移動並對工件表面形成物理上的直 接接觸以進行量測,量測結果將傳回機台上的控制器並儲 存。儘管前述具有在線量測功能的加工機在工件加工後, 無須將工件自機台上取下,即可直接進行在線量測,避免 了離線量測的不確定因素。但該等技術依然存在下列問題 1 既有具在線量測功能的加工機是採用物理接觸式探 測頭,在工件表面特徵結構細小化的狀況下,直接與工件 表面作物理性接觸,恐有刮傷工件表面的疑慮。 、 2·探測頭本身具有尺寸上的限制,一旦工件表面具有 尺寸的細微結構,即無法對工件表面的細微結構進行 置測;另-方面,亦無法執行某些量測項目(如表面粗縫度
採二:Ϊ可知’既有具在線量測功能的精微加工設備係 木用接觸式探―進行尺寸量測,由於探針本身且有尺寸 上的限制,盔 个开八有尺寸 .^ /务對工件表面的細微結構進行量測,亦益法 執行某些量測頊曰u主 .、''由 ( 13表面粗縫度),再加上接觸式量測方 式,以探針對工杜主工 伐啁式罝测方 傷工件表面沾 成實質的物理接觸,大幅提高刮 待進-步檢討,… 見有件量測技術仍有 並4求可行的解決方案。 【發明内容】 因此,本發明主 功能的精微力σχ設備 要目的在提供一種具光學式在線量測 ,主要係採用白光干涉儀作為在線量 201202653 測裝置並將其整合於精微加工設備上,藉以在 工後’直接於精微加工設備上進行尺寸確認,:令:件加 業更為便利外,並可大幅排除人為誤差;再者,^ '貝1作 干涉儀係採用光線干涉量測原理,以對工件進行 量測,故可有效避免刮傷工件表面的細微結構。觸式 為達成前述目的採取的主要技術手段係 工設備包括有一加工機及一光學式在線量測系%.加 =加工機包括一機台、一位於機台上供放置固定待加 藝工件的括面及—設於機台上且位於枱面上方的加工主轴 9 該光學式在線量測系統包括: 一白光干涉儀,係設於機台上並位於其枱面上方; 一控制器,係與前述白光干涉儀連結,其具有一圖形 化使用者介面,該圖形化使用者介面可供輪入並顯示工件 圖檔,並供使用者規劃設定欲量測工件之尺寸,隨即產生 ·—直:隸式送至控制器,由控制器解譯後控制白光干涉儀 移至待量測位置進行取像,並經影像處理後將量測訊號送 回控制器,顯示並儲存量測結果; :於本發明可在工件加工完成後直接在加工機上進行 尺寸量測’故可避免取下工件或重新定位工件時產生誤差 又利用白光干涉儀以光學方式進行非接觸式量測,可避 免工件表面刮傷損傷,且可用以量測工件表面之粗糙度。 【實施方式】 ’首先請參閱圖1、圖2 關於本發明的一較佳實施例 201202653 所不’主要係在一加工機1 〇上整合一光學式在線量測系 統;其中: 热加工機10包括一機殼14、 /λ 11、 ° 设於機台11上的枱面12及一設於機台彳1且相 對位於其抬面12上方的加工主軸13 ;其中,該枱面12 作上係供放置固定待加工的工件,該加工主軸1 3係相對 於抬面 1?,03 ι'ί *
用以對括面1 2上的工件進行鑽孔、裁切等各 考力動作,於本實施例中,該機台1 1進一步包括一控 才。面12移動的驅動機構該驅動機構係用以帶動枱面 另】在X軸、Y軸及Z軸上移動,以配合加工主軸1 3 的加工動作。 又光學式在線量測系統包括: 白光干涉儀20,係設於前述機台11上並位於其枱 12 J" > 方’於本實施例中,該白光干涉儀2〇係鄰近機台 上的加工主軸1 3且並列設置,另與加工主軸1 3以相 同的驅動機構驅動該白光干涉儀2〇相對於枱面彳2上的工 件在X軸、γ軸及Z軸上移動 古一控制器30 ’本實施例中,係設置在加工機! 〇的機 从14上,該控制器3〇係透過一傳輸協定(例如Tcp/丨p)分 與⑴述白光干涉儀2〇及加工機1〇的驅動機構連結;又 控制器30進一步具有一圖形化使用者介面,該圖形化使 用者介面具有一顯示器31、一輸入單元32及一量測程式 編輯軟體;纟中:該量測程式編輯軟體將在顯示$ Μ上 產生-圖形操作介面(如3所示),供操作者在該圖形操 作介面上設置規劃欲量測的尺寸,可供規劃設定的量測項 6 201202653 目包括距離、直徑、夾角等(點-點、點-線、點-圓、點-孤 、線-線、線-圓、線-弧、圓-圓、面-面),並進一步包括表 面粗縫度的量測。 當加工機10的枱面12上利用加工主轴13完成一工 件的加工,利用前述的光學式在線量測系統可直接在枱面 1 2上量測確認工件的加工尺寸;其工作方式係如以下所述 操作者在顯示器31上顯示的圖形操作介面選定工件 _ 的DXF檔’並顯示於顯示器31上,以規劃設定所欲量測 的尺寸,隨即自動產生一量測程式(取像MACRO程式), 並交由控制器30執行。
又控制器3 0將所輸入的量測程式進行解譯,並將白 光干涉儀20移動至編輯軟體所通知之拍攝位置,透過 TCP/IP通知遠端的白光干涉儀2〇進行取像白光干涉儀 20接收到取像指令時,即進行影像取像,完成該取像動作 後通知控制器30’由控制器30控制白光干涉儀2〇移動 至下-取像點。同時白光干涉儀2Q t進行影像的處理, 依據之前輸入的量測指令,進行不同 ^ 進仃不冋的種類的量測組合計 算’如點-點、點-線、圓心、丰和笑知hh… 千t專相關數值,再將結果 回傳至圖形化使用者介面上,讓操作 承保作者輕易的瞭解目前加 工的尺寸。 除前述量測項目外,另可針斜搞 了針對%作者感興趣影像區域 ’進行更多的量測項目,如粗糙度等, ^ 又寻主要原理則是基於 白光干涉儀20的工作特性(如圖4所_、 2〇係令一光源21經光準直巧22、&丄 九干涉儀 2聚光鏡23、濾光鏡24 201202653 後投射在一分光鏡25上形成反射,並經一物鏡27投 射在工件29表面’又物鏡27係由一壓電轉換器 (PZT)26控制其位置,遂可由一檢測器28(可為CCD) 對工件29表面進行量測。而運用前述白光干涉儀2〇可 以量測被測波面(test wavefr〇nt)與參考波面(reference
WaVefr〇nt)間的相位差。若參考波面由標準平面反射產生 ,而被測波面由帶有高低起伏的工件29待測面反射產生 ’則被測波面與參考;皮面間的相#差就是反映此待測物的 鲁表面輪廓又在光路中引進相移技術 technique)求得上述的相位差’利用相位重建技術(phase 喔「apping teChniqur)來恢復重建連續分布的相位,進而 推算出三維的表面輪廓結構,以作為量測表面粗糖度的依 據。 以下配合附件的量測實例說明本發明之在線量測功能 A .首先透過圖形化蚀田Jot. Λ -r- 便用者介面設定規劃欲量測的尺 a1.輸入工件的圖檔; a 2 _由顯示器顯示的圖形a人 幻圖形刼作介面上選擇欲量測的特 徵(如附件的圖A所示),你丨^^ . 此丨 }例如.線對線(LINE-LINE)、線對 圓(LINE-CIRCLE)(如附件的圓 千的圖B所示)及粗糙度(ROUGHNESS) 等 (如附 件的圖 c 所示 ) ; B.量測程式編輯軟體甚a θ Ρ體產生$測程式(如附件的圖D所 示); C _將完成編輯的量測赶斗、& J里㊇程式輸入控制器30 ; 201202653 2·控制器30依據量測程式輸入之指令移動白光干涉 Ί義 ^ (J 5 _g> , 、與 剩位置以非接觸式光學方式進行掃瞄取像,並 、數于方式建立掃瞄面3D座標資料; E.儲存量測結果(如附件的圖E所示)。 别迷步驟B所產生的量測程式,其相關代碼謹說明如 下: 1 定義量測元素
M- - -E___〇_ _V___P___XYZ # 其中: M :單一元素量測M碼 χΥΖ :為機台移動目標點座標(以程式座標系) Ε :工件編號 V·工件上的第幾個加工元素(線、圓、弧、平面) D :元素種類 01 :線 02 :圓 03 :圓弧 04 :平面 Ρ :圖形元素編號(0〜9999) (ex. P5 =第5張影像) 鲁 線:M900E601D01V001P10{X」{Y_}{Z_} 量測工件601上第1個加工元素{X_}{Y_}{Z_}座標上 的「線」,編號為10 圓:M900E601D02V010P20{X」{Y」{Z」 量測工件601上第1 0個加工元素{X_}{Y_}{Z_}座標上 的「圓」,編號為20 圓弧:M900E601D03V020P50{X」{Y」{Z_} 量測工件601上第20個加工元素{X_}{Y_}{Ζ_}座標上 的「圓弧」,編號為50 201202653 平面:M900E601D04V030P80{X」{Y」{Z_} 量測工件601上第30個加工元素{X__}{Y_}{Z_}座標上 的「平面」,編號為80 座標格式: X ±____.______ Υ ±_____.______ Ζ ±_____.______ # 2.定義組合量測元素(單純組合元素,不進行量測) Μ___Ε___D_ _V___Ο___Q___ 其中: Μ :組合量測Μ碼,如Μ 9 01 Ε :工件編號 V :工件上的第幾個加工元素(線、圓、弧、平面) D :組合量測模式 01 :線對線組成線02 :圓組合 ® 03 :弧組合04 :平面組合 〇、Q :圖形元素編號(0 :起始點、Q :終點) 線、線:M901E601D01V0010066Q068 (組成線) D01線組合模式,編號為66~68的線平均值存回 V001 圓組合:M901E601D02V0100077Q080 D02圓組合模式,編號為 77〜80的圓平均值存回 V010 弧組合:M901E601D03V020Q177Q190 10 201202653 D03弧組合模式’編號為177〜190的弧平均值存回 V020 平面組合:M901E601D04V0300192Q195 D04平面組合模式,編號為192~195的平面組合存回 V030 3 ·定義量測目標 統一格式:組合模式(D00〜D1 2 )
Μ Ε D Η Η (點&點的距離格式) Μ Ε D Η V Μ_ _ _ _Ε_ .v V _(其他組合模式格式) Μ_ _ 式) _ _Ε_ V V 統一 格式: :單一 模式 (D20, * D30 ) Μ Ε D ---(點的座標&兩線夾角格式 Μ_ . _ _Ε_ --D. -_v_ --(其他單一模式格式) 其中: Μ :量測目標Μ碼 Ε :工件編號 V .工件上的第幾個加工元素(線、圓、弧、平面) D :量測目標 Η、V .圖形疋素編號(Η點、線圓弧面皆以工件上定 義的V表示) 11 201202653 距離(點、點):M902E601D00H001H002 D00量測距離模式,Η1編號為1的點元素,H2編號 為2的點元素 距離(點、線):M902E601D01H003V004 D01量測距離模式,Η3編號為3的點元素,V4編號 為4的元素 距離(點、圓心):M902E601D02H005V006 D02量測距離模式,H5編號為5的點元素,V6編號 # 為6的元素 距離(點、端點):M902E601D03H007V008 D03量測距離模式,H7編號為7的點元素,V8編號 為8的元素 距離(線、線):M902E601D04V009V010 D04量測距離模式,V9編號為9的元素,V1 0編號為 10的元素 距離(線、圓心):M902E601D05V011V012 籲 D05量測距離模式,V11編號為11的元素,V1 2編 號為1 2的元素 距離(線、端點):M902E601D06V013V014 D06量測距離模式,V13編號為13的元素,V14編 號為14的元素 距離(圓心、圓心):M902E601D07V015V016 D07量測距離模式,V5編號為1 5的元素,V1 6編號 為1 6的元素 高度(面、面):M902E601D08V017V018 12 201202653 D08量測距離模式,V17編號為17的面元素,V18 編號為1 8的面元素 角度(線、線):M902E601D09V003V004 D09量測角度模式,V3編號為3的元素,V4編號為 4的元素 交點(線 '線):M902E601D10V005V006H010 D1 0量測交點模式,V5編號為5的元素,V6編號為 6的元素,回傳至H10的點元素 • 交點(線、圓):M902E601 D1 1V005V006H010 D11量測交點模式,V5編號為5的線元素,V6編號 為6的圓元素,回傳至H10的點元素 交點(線、弧):M902E601D12V005V006H010 D1 2量測交點模式,V5編號為5的線元素,V6編號 為6的弧元素,回傳至Η1 0的點元素 點座標:M902E601D20H001 D20回傳點座標,Η1編號為1的點元素 •兩線角度:M902E601D21H002 D21回傳兩線交點的夾角角度,Η2編號為2的點元 素 直線的兩端點:M902E601D22V002 D22回傳直線的兩端點,V2編號為2的元素 圓的圓心:M902E601D23V002 D23回傳圓的圓心,V2編號為2的元素 圓的半徑:M902E601D24V002 D24回傳圓的半徑,V2編號為2的元素 13 201202653 弧的圓心:M902E601D25V002 D25回傳弧的圓心,V2編號為2的元素 弧的半徑:M902E601D26V002 D26回傳弧的半徑,V2編號為2的元素 弧的端點:M902E601D27V002 D27回傳弧的端點,V2編號為2的元素 面的高度:M902E601D28V002 D28回傳面的高度,V2編號為2的元素 • 面的面粗糙度:M902E601D29V002 D29回傳面的面粗糙度,V2編號為2的元素 面的中心線粗縫度:M902E601D30V002 D30回傳面的中心線粗糙度,V2編號為2的元素 【圖式簡單說明】 圖1係本發明一較佳實施例的外觀圖。 圖2係本發明一較佳實施例的局部立體圖(加工機内 籲部)。 圖3係本發明圖形化使用者介面在顯示器上顯示的圖 形操作介面示意圖。 圖4係白光干涉儀的工作原理示意圖。 【主要元件符號說明】 10加工機 1 1機台 1 2枱面 13加工主軸 14機殼 14 201202653 21光源 2 3聚光鏡 25分光鏡 27物鏡 29工件 31顯示器 20白光干涉儀 22光準直器 24濾光鏡 26壓電轉換器 28檢測器 30控制器 32輸入單元 【附件内容說明】 該圖形操作介 ^ 圖A~圖E係本發明進行在線量測時 面在各個階段的顯示内容。
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Claims (1)

  1. 201202653 七、申請專利範圍: 1 · 一種具光學式在線量測功能的精微加工設備,包括 有一加工機及一光學式在線量測系統; 該加工機包括一機台、一位於機台上供放置固定待加 工工件的枱面及一設於機台上且位於枱面上方的加工主軸 該光學式在線量測系統包括: 一白光干涉儀’係設於機台上並位於其枱面上方; _ 控制器’係與刖述白光干涉儀連結,其具有一圖形 化使用者介面,該圖形化使用者介面可供輸入並顯示工件 圖檔’並供使用者規劃設定欲量測工件之尺寸,隨即產生 里測程式,由控制器解譯後控制白光干涉儀移至待量測 位置進行取像,並經影像處理後將量測訊號送回控制器, 顯示並儲存量測結果。 2. 如申請專利範圍第1項所述具光學式在線量測功 ^ 能的精微加工設備,該控制器的圖形化使用者介面具有一 顯示器、一輸入單元及一量測程式編輯軟體;其中:該量 測程式編輯軟體將在顯示器上產生一圖形操作介面,供操 作者在該圖形操作介面上設置規劃欲量測的尺寸。 3. 如申請專利範圍第2項所述具光學式在線量測功 能的精微加工設備,該圖形操作介面供規劃設定的量測項 目包括距離、直徑、夾角等’並進一步包括表面粗糙度的 量測。 4_如申請專利範㈣彳至3項中任—項所述具光學 式在線量測功能的精微加工設備,該機台進一步包括一控 16 201202653 用以帶動枱面分別 工主軸的加工動作 制抬面移動的驅動機構’該驅動機構係 在x軸、γ軸及z軸上移動,以配合加 述白光干涉儀及 该控制器係透過一傳輸協定分別與前 加工機的驅動機構連結。
    At ^如申請專利範圍第4項所述具光學式在線量測功 月匕的知妓加工設備,該白光干涉儀係鄰近機台上的加工主 軸且並列設置,另與加工主軸以相同的驅動機構驅動該白 光干涉儀相對於枱面上的工件在父軸、丫軸及2軸上移動 八、圖式·(如次頁)
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