TW201140403A - Touch apparatus with identification of reduced performance - Google Patents

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201140403 (二）本代表圖之元件符號簡單說明： 101- 引入光線到面板； 102- 接收及計算光線； 10 3-產生表示接收的光線的能量； 10 4 -監測信號的暫時變化性； 1 05-根據暫時變化性識別照明排列及 〜1貝别排列的膝 低的性能； + 106-決定觸碰面板的物件的位置，作為信號的函數。 五、本案若有化學式時，請揭示最能顯示發明特徵的化學式： 六、發明說明： 【發明所屬之技術領域】 種關於觸控面板 本發明係有關於一種觸控面板以及一 的資料處理技術。 【先前技術】 觸控面板已經用於接供私 捉供輸入資料給計算機、手機、電 子測量及測試震備、遊戲裝置等。面板可能提供圖形使用 者介面（GUO給使用者以便於跟指標器、手寫筆或手指互 動。GUI可能靜態或動離。。 ‘心、靜L G UI可能是以印刷方式放 至於面板的上面、下方戋內 、 4内#。動態GUI可能是整合其中 或者是放置於其下的顯千越 ‘”、、’、螢幕所提供，或以投影機投影到 201140403 面板的影像所提供。 $ 了達到偵測觸控物彳土 ㈣冬“ ㈤控物件及面板之間互動之目的，已經 有很夕已知的技術可 用於k供面板的觸控，例如藉由使用 攝影機截取面板上伞 4 政射觸控點（light scattered off p f t〇uch)，或藉由結合電阻式線閘極（Wire-grid)、 電容式感測器、壓力計等等到面板中。 US 7432893揭露—種根據受抑全反射（frustrated total internal reflection, 光源的轄散光束藉由全反射耗合到面板以傳播到内部面 板來自每個光源的光平均地散佈於整體面板^光感測器 的陣列位於面板的周圍以债測來自光源的光。當物件接觸 面板表面’光源在接觸點會轉弱。根據來自光感測器的陣 列的每-來源的光的弱化藉由三角測量決定物件與面板的 互動。 US 3673327揭露類似技術，也使用FTIR，光線的陣列 傳輸器是沿著面板的二邊緣放置以設定藉由反射傳遞整個 面板的交又光源的網格。光束偵測器的對應陣列放置在面 板的相反邊緣。當物件接觸面板表面時，在觸點交又的光 束將會減弱。藉由在偵測器的陣列上的減弱的光束直接識 別物件與面板的互動。 US 200 9/0 1 53519揭露另一種使用FTIR的技術。斷層 掃描包括信號流動埠，其位於環繞觸控面板的邊界的離散 位置。信號被引入面板以從每一離散面板邊界位置通過到 很多其他離散面板邊界位置。通過的信號被斷層掃描處理 4 201140403 以判定是否在信號通過面板期間面板上的觸 :化。藉：斷㈣描的信號，可以判定引起變化的面::[! 、斷層掃指#异且輸出指示面板觸控位置的信號。 上述的FTIR技術通常能識別觸控點且假設在處理期 間面板的各種組件操作成所要的狀況。然而，一些組件: 如發光β或光源偵測益有時會退化或失靈，面板將會逐 無喪失精確識別觸控點的能力。

US 464592G揭露在所謂光矩陣觸控輸入裝置伯測錯誤 ，方法。在這個裝置’光束由排列於觸控表面周邊料光 :與價測器之間的許多方向傳遞到觸控表面上。接觸觸控 表面的物件將阻斷一些光束。藉由處理偵測器的輪出 統決定觸控表面的位置。此外’當沒有發射光線時，偵則 益的接收光的讀數比較週邊光線的接收光的讀數。假如、 數之間的差異超過第一或第二臨界準位， I 為，，壞光束”或’，邊界光束”。亦即，觸控裝置中= 乡且件引起的缺陷狀態。 "這Τ技術可能很難應用於FTIR系統，光線不是被物件 擋住而是減弱，例如在依據物件型態以及在觸控表面上、 物件的移動模式的〇· K0%的範圍中。 的 u κ糸統，可能 因此报難區分觸控所引起的信號弱 信號弱化。 為-件所引起的 發明内容】 本發明目的在於至少部份地克服先前技術的—或更多 201140403 限制。特別是致能觸控裝置上的觸控判斷與裝置上組件的 退化或錯誤同步實施。在發明的實施例中，目的也在於提 供補償或處理偵測退化的可能性。 本發明的第一層面是處理來自觸控裝置的資料。觸控 裝置包括光傳輸面板、引入光線到面板的所有照明排列、 接收在面板中傳輸的光線以及測量接收光的能量的光偵測 排列。裝置包括處理器單元’用於取得包括時間系列的信 號值的信號’信號值表示光偵測器排列所接收的光能量； 計算表示信號中信號數值的暫存變化性的參數數值；以及 根據參數值識別照明排列以及光偵測排列的任何衰減的性 能。 暫時變化性，是時間系列信號數值的短暫變化的測 量，相較於各別信號數值很少被觸控表面的觸控所影響。 因此’藉由使用暫時變化性當作測量或參數，可能識別 系統降低的性能，即使觸控表面上存在一或更多觸控點。 暫時欠化I·生’在此也稱為暫時變化，可能視為信號中 推測學變化性的測量。推測學變化性可能推測信號數值環 繞信號本地平均值變化。暫時變化性也可視為雜訊特性或 雜訊相關的信號特徵。舉例來說，可能計算參數值以表示 絕對雜訊準位以及信號雜訊比的其中一個。 因此在發明的第一層面，當信號被處理以決定觸控 表面觸控點的位置時，根據被認為干擾的信號成分識別降 低的性能。 典里地4理器單位用於重複地根據時間系列信號數 6 201140403 值計算參數值以產生一序列的來數 J爹数仡唬，亦即，在每個 間瞬間取得的一或更多最新信號數值。 在-實施例中，計算參數數值以表示信號的時間視窗 中的暫時變化性。_視窗可能對應信號中的信號片段， 例如一序列的信號數值。 可能計算暫時變化性作為時間視窗的信號數值的統計

分散測量。統計分散測量可能包括至少一個：標準誤L 變化、變化係數、差昱姊人、At θ 左，、Μ ^ ^ 1、功率、來自平均數值 的絕對誤差總合，以及來自伞仏垂 木目十均數值得絕對差異平均。 時間視窗的長度可能祐, 没」把被選擇到表.示信號中的瞬間或括 期變化性。 β 於一. 中基於高 波器到原 波器到原 結果高通 樣一個實 被視為表 目前信號 視窗内的 能被計算 一個。 實施例中’處理器單元更用於高通渡波信號，其 通濾波的仏號計算參數值。可能藉由施加高通濾 本信號取得高通濾波的信號，或藉由應用低通濾 始信號且將原始信號減去結果。在其他變化中， 慮波信號可能表示原始信號的暫時變化性。在這 施例中’纟南通濾、波信號的各自的信號數值可能 不暫時變化性’參數值可能由高通濾波信號中的 疋另外，可能為了高通濾波信號中的時間 L號數值汁算參數數值。舉例來說，參數數值可 成L號數值的平均，或上述統計分散測量的任何 於一貫施例中，虛搜吳σσ - ΓΟ ^ 益早凡用於識別降低的性能、比 較參數數值與參考測量，其中參考測量I個範圍或是- 201140403 個臨界值。 定。 參考測量可能根據先前 信號數值預先定義或決 &可能以各種適當的方式完成取得或產生表示接收信號 此量的信號，且可能包括處理來自光债測襄置的測量資料 :任何操作。典型地，信號反射不只光偵測排列接收的能 量二也有因為-些原@裝置組件所導致的雜訊。信號不必 要:定是光债測排列的測量信號（原始信號），但可能是由 此何生的任何信號，例如正規劃信號及/或表示一或更多 (例如二度)觸控表面的空間中接收的光線的能量的處理信 號。 一更仔細來說，信號可能是描述例如面板中所謂衰減的 一組資料、經由面板的光傳輸（τ)、對數傳輸（i〇g(T))'接 收的光的強度、或任何關於面板中光分佈的其他信號數 值。彳S號可能指不被接觸觸控表面的物件或被觸控表面上 存在的汗點所影響的正在傳輸的光的位置。 降低的性能可能包括由照明排列輸出的逐漸減弱的 光’或逐漸降低的光偵測排列的偵測光的能力，以及可能 包括照明排列與光偵測排列所引起的遞增的雜訊。降低的 性此可能也包括照明排列與光偵測排列的故障，或它們其 中一部份的故障，例如某些發光器或光偵測器的故障。此 外’”降低的性能”可能解釋為照明排列的發光性能的降 低及/或光偵測排列的光彳貞測性能的降低，典型的降低是偏 離想要的性能。這樣的偏離可能發生，例如，假如照明排 列的一些部份或光偵測排列是傾向於附著到面板但卻鬆 8 201140403 Γ性=件的實例包括轉合光線進出面板的架構。降低 厂原“裝置中可能影響(例如轉換、放大'傳 輸、傳遞）信號的任何其他組件。 根據參數值以及仏定沾招日丨 私 何表示，可能藉由被執 灯的規則驗證降低的性能 M 例如’參數值落在某些準位以 上或以下。 在 貫施例中，虛 ^ ^ ^ 态早兀用於藉由比較目前參數值 '、一或更夕先前參數值識別 v B 牛低的性迠。藉由實施相同計 异但疋在不同時間點可能：彡曰η a ^^ 了犯取侍目則參數值與先前參數值， 先别參數值相較於目前參數值是 疋权干取传的。然而，目前 多數值不而要一定在目前時間取得。 :““列中，處理器單元用於藉由比較目前參數值 則參數值的時間平均識別降低的性能。比較目前來數 值與先前參數的是更特定的版本， u马時間平均表示複數 先則參數值（可能彼此地加權）。 在一實施例中’處理器單元用於 馮別降低的性能當作 時間系列信號值的雜訊特性的函數。 池上 雜讯特性可能包括熱 雜sfl或散彈雜訊的準位，直诵堂县 ^ 〃通吊疋原本就存在於裝置，但 虽組件沒有運轉好時會增加。雜訊準位可能包括其他型式 ^雜訊’往往被裝置的組件缺陷影響，例如閃爍雜訊以及 蕞發雜訊（burst)，以及週邊電磁干擾。 、藉由實施傳統實行於信號的雜訊測量技術可能取得雜 訊準位。這樣的技術通常基於不同時 U吟間點取得的信號數值 決疋雜訊。雜訊可能比較參考測量， 且·1此決定雜訊的推 201140403 測特性例如變動、八 /動为配與頻譜密度且用於比較。 於一實施例中，處理器單元 識別降低的特性。此 :’觸發事件用於 即在一些時間間隔，評估Γ 可能用於規律地，亦 事件的實例可能是功能列試降低的性能。運算子觸發 第十#，I f + b而4，以及某些時間間隔可能是每 第十私，到、4，每 等等。為保存處理^裝置開始一次 可能較不頻繁決定：：里以及/能量，相較於觸控的位置， 只緊决疋降低的性能。 於一實施例中，虛理哭g m 別，產生呼叫一 假如降低的性能被識 二刼作者運動的信號’例如呼叫維護、清 理觸控表面、取代某些組件。 2實施例t ’處理器單元用於假如降低的性能被識 a，±增加來自照明排列的某些發光器的光能量的信 某些發光器是關連降低的性能。這提供足夠的方法補 仏降低的性能’特別是假如發光器效率逐漸衰退引起降低 的性能。 於一實施例中，處理器單元用於決定，當物件觸碰觸 控表面時，衰減面板中的光傳輸，觸控表面上的物件的位 置作為信號函數。可用橫過觸控表面的物件位置、形狀及/ 或物件延伸疋義觸控表面上的物件位置。 。藉由觸㈣S與相反表面之間的全反射傳送光線可能 操作觸控裝置，以至於觸控物件引起傳送光線藉由叮^至 少部份被衰減。須注㈣，有—些適當的技術用於引進光 線到面板且接收光線，包括在許多不同光内耦合點以及光 10 201140403 外柄口點可月匕引進與接收不同光，例如面板邊緣或面板的 更上或更下表面。典型地，只要裝置在操作模式，光連續 地或間歇地被照明排列引谁， 拼幻5丨進，然而先偵測排列連續地或間 歇地接收光’且產生測量資料。虚理哭留- 里貝了寸處理态早兀可能用於即時 取得信號、計算參數傕、埤2|丨政u , 并 >敷值識別降低的性能以及決定位置。 更進一步解釋如下，處理器單 益早凡可此用於利用任何已知技 術決定位置，例如：r备、、目丨丨旦a , 一 ’、]里基礎的技術、斷層掃描基礎的 技術等等，使用光偵測排列士 ^ ^ ^ ^ ^ ^ N〜项始彳5唬或由其衍生的信號 做為輸入。 決定位置可能不關聯識別減少的性能，即使當決定位 夺可此考慮降低的性能。在任何案例，裝置可能決定觸 控位置，同時偵測裝置組件的退化或失靈，有助於處理退 化的影響。 上述ϋ 反應冑減的相對複雜信號可能被處理， 所以裝置可能特定適用於FTT〇 / ^ k用於FTIR糸統。特別是，關於有效決 、山置而使用相對簡單且有效資料處理以識別性能退化， 這個裝置已經被認為大有可為。 处'實施例中，處理器單元用於，假如識別降低的性 、、田决疋位置時’不考慮發射字照明排列的一些發光器 的光’某些發光11關聯降低的性能。對應於不用考慮某些 發光器的光線，個‘甘 _ U如某些偵測器影響信號以至於處理器單 ° b在决定位置時發生錯誤，這可能特別有利的。 〇於實施例中’處理器單元用於藉由比較信號中的信 '值.、至v —觸控臨界數值決定位置，其中該處理器單 11 201140403 I觸二新至少一觸控臨界值當作降低性能的函數。更新 、：臨界值可能用於決定位置’舉例來說，當信號通過 以上或以下）更新的觸控臨界數值時藉由解釋源自於觸 控表面的觸控點的信號變化。 现殳化因為雜訊（降低的性能引起） 破解釋成觸碰，觸控臨界數、^ ^ 例如被更新以避免信號 ㉟異’舉例來說，藉由母定黏 ^ 觸控臨界值。 一秘微-於最高測量雜訊數值的 於-實施例中，處理器單元用於計算信號中一組子信 號的參數值，其中每個子作卢 m 于仏唬對應延伸於照明排列的發光 器以及光偵測排列的偵泪丨丨哭 〇 的俏測态之間的各自偵測線。每個子信 號可能包括表示各自伯泪丨|綠μ。。 合目偵測線上發先器所接收的光能量的時 間系列信號數值》 於一實施例中，處理器單元用於計算信號中每一組子 信號的信號值，其中每一子信號對應到延伸於照明排列的 發光器與光谓測排列的福測考之門女ώ 1貝j益之間各自的偵測線。藉此， 處理器單元操作於識別降低的神At徒达 J m的I·生月b作為不同子信號的信號 值中暫時變化性的函數。 ’根據關聯於某些偵測線的 部份（子信號）信號所計算的參數 某些偵測線可能識別 降低的性能。 於一實施例中’處理器單元用 用於假如一些偵測線識別 降低的性能，當決定位詈眸尤去由 ^ 置時不考慮關聯這些信號偵測線的 k號數值。另外’處理器單元可台t 亞早凡了此用於假如某些偵測線識 別降低的性能’在決定位置之前 月J 4正虽決定位置時，濾波 關聯這些偵測線的信號值以抑制雜訊。 12 201140403 在一實施例中，處理器單 玻值與各自的觸碰臨界值，其 值作為降低的性能的函數。可 的觸碰臨界值之方式在此決定 碰臨界值。 70用於比較每一子信號的信 中處理器用於更新觸碰臨界 能以類似於之前討論的信號 邊更以及利用偵測線的觸 於一實施例中 參數值判定哪個照 器導致降低的性能 明 處理器單元用於根據偵測線所計算的 排列的發光器以及光俄測排列的偵測 發明的第二層面是來自於 裝置。觸控裝置包括光傳輸.面 排列、接收面板之中的光傳遞 光谓測排列。裝置包括：取得 個化號的裝置，時間系列信號 的光能量；計算表示信號中信 觸控裝置之用於處理資料的 板、引入光線到面板的照明 以及測量接收的光之能量的 包括時間系列信號數值的一 數值表示光偵測排列所接收 號數值的暫時變化性的參數 值的裝置；以及根據參數值，識別照明排列與光偵測排列 的降低的性能的裝置。 發明的第二層面的實施例可能對應於上述發明的第一 層面的實施例。 須注意到，根據第二層面裝置中包括各種實施例的一 或更多裝置，可能實施於硬體或軟體，或其組合。 發明的第三層面是決定觸控表面的至少一物件的位置 的裝置。裝置包括：定義觸控表面以及相反表面的光傳輸 面板；用於藉由觸控表面及相反表面之間的全反射引入光 線到面板的照明排列；用於接收面中的光線傳輸以及測量 201140403 接收的光的能量之光線偵測排列；以及根據第一與第二層 面的裝置。 發明的第四層面是操作觸控裝置的方法。觸控裝置包 括光傳輸面板、引入光線到面板的照明排列、接收光線的 光偵測排列。方法包括：藉由觸控表面與反表面的全反射 操作照明排列去引進光線到面板；操作光線偵測排列去測 量接收的光的能量；取得表示光偵測排列所接收的光線能 量的一時間系列的信號值的信號；計算表示信號中信號數 值暫時變化性的參數值；以及根據參數值識別照明排列以 及光偵測排列的降低的性能。 發明的第五層面是處理來自觸控裝置的資料的方法。 觸控裝置包括光傳輸面板、引入光線到面板的照明排列、 接收面板中傳遞的光線與測量接收的光的能量之光偵測排 列。方法包括：取得表示光偵測排列所接收的光線能量的 -時間系列信號值的信號；計算表示信號中信號數值暫時 變化性的參數值；以及根據參數值識別照明排列以及光偵 測排列的降低的性能。 吐方法包括上述關聯創作性裝置所實施的功能 的方法且享有對應的傷It。與/x丨xh 心的優點。舉例來說’方法可能包括詞 於上述處理器單元操作的很多步驟。 發明的第六層面是計篡嬙* n老 疋冲真機可碩取媒體，其儲存處理 執订的處理指令，根據第 , 龈弟四或第五層面實施方法。 為使本發明之上述 下文特舉實" #特徵和優點能更明顯易懂 r又W举貫％例’並 口所附圖不，詳細說明如下。 14 201140403 【實施方式】 第1圖以及第2圖說明決定觸碰觸控表面4的物件3 的位置A1的觸控裝置的實施例。觸控裝置1包括可能是平 面式或曲線式的光傳輪面板。面板2定義觸控表面4以及 反面反面5相反且平行觸控表面4。面板2用於允許先 線L藉由觸控表面4與反面5之間的全反射傳遞到面板2。 在第1圖，引入卡特森（Cartesian)座標系統，X軸平 行於面板2的第一側21以及第二側2 2，而y軸平行面板2 ' 側2 3及弟四側2 4。示範例的面板2是矩陣型但可 月匕也疋例如圓形、橢圓、三角形或多邊形，且座標系統， 例如極座標、橢圓座標或拋物線座標系統可能用於描述位 置八1以及面板2的各種方向。 、，面板是由傳送足夠的相對波長範圍的光線的材 枓組成以允許傳輪能量的合理測量。這樣的材料包括玻填 與聚碳_。面板2以週邊邊緣定義，例如側自I… 可能是或者可能不是垂直於頂表面或底表面4、5。 光：L可能經由面板的—或更多内搞合位置 板2。舉例來說，光線L可能經 向 内耦合位置8 ' 一貝1 3的第一 置8X以及經由面板2的第—❹的第二内輕人 置8y輕合到（引入）面板2。 σ 參考第3圖’照明排列的第— 耦合位晋4伤12x排列在第— 位置8x，且照明排列的第二 ^ 合位詈—兩 12y排列在第二内叙 置。母一零件12x、12y包括許多 内輛 發光益，例如照明 15 201140403 列的第一部份12x的發光器12x-3，以及照明排列的第二 部份 12y 的發光器 12y-2、12y_3、12y-4。零件 12x、I2y 可視為形成一個照明排列12χ、1 2y。 發光器12x-3、12y-2、12y-3、12y-4以各自的散光（在 面板2的平面分離）引入光線，散光傳遞到接收光線之（耦 合出）位於面板2第四側面的第一外耦合位置i 〇χ以及位於 面板2第二側面22的第二外耦合位置丨0y。光偵測排列14χ 的第一部份排列在第一外耦合位置丨〇χ，且光偵測排列l4y 的第二部份排列在第二外耦合位置丨〇y，且可能測量在各 自外耦合位置1 0X、1 〇y所接收的光線能量。光偵測排列的 零件14x、14y可能視為光偵測排列14X、14y。 發光器可能是可發出在一定波長範圍的光線的任何一 種裝置，舉例來說，二極體雷射、垂直空腔表面射型雷射 (vertical-cavity surface-emitting laser， VCSEL)、或 發光二極體、白熾燈、齒素燈等。 光偵測排列14x、14y包括很多依序排列的光偵測器， 例如第一部份14x的光偵測器Μχΐ到14χ_6以及第二部 伤14y的光偵測器。光偵測排列、丨竹包括覆蓋 !個外耦合位置！ 〇χ、i 〇y長度的光偵測器，其對應第四侧 面24與第—側面22的整體長度。這意味著光偵測器是相 鄰排列地，例如光偵測器14x-3到14x — 6。 光偵測器可能是任何型態可偵測照明排列12χ、12y所 發出的光能量的任何-種裝置’例如光偵測器，光阻器、 光電電池、伞-k . —極體、g作成光二極體的反偏壓LED、光 16 201140403 耦合裝置等等。 一些光偵測排列的第一部份丨4X及/或光偵測排列的 第二部份的光偵測器接收發射自發光器1 2 - 3、1 2 - 2、1 2 - 3、 12-4的散光。實際上哪各光偵測器接收發光器的光是依據 偵測益與發光器的位置以及發射光的光線分離（角度測 量）。舉例來說’以光線L1-L6的路徑來說明，來自發射器 12y-2、12y-3、12y-4的光可能傳遞到光偵測器Hyq，然 而來自發光器12x-3的光可能傳遞到光偵測器14χ-1、 14χ-2、14χ-3 的每一個。 虽然，依據光分離以及發光器與偵測器的位置，光線 可能通過其他組的發光器/偵測器，即使沒有在此說明。 每個發光器可能發射多路徑光，舉例來說，藉由使用 波長分波多工或脈衝編碼多工，以至於可能識別來自一些 發光器的單一光路徑。舉例來說，假如使用波長分波多工， 發光器12χ-3可能發射具有波長λχ_3的光線，發光器 12y-2可能發射波長Ay_2的光線，發光器可能發 射波長Ay-3的光線以及發光器12y —4可能發射波長… 的光線。每個光债測器14〜14χ_2、14χ_3以及 可能偵測且區別不同波長的光線，且可能產生表示特定波 長的接收光的能量的信號。在這個幸 、丨回系例中，可以使用能分 別偵測特定波長的光線的任何適合 』迴0 i已知型態的發光器以 及光偵測器。 U為光偵測器能偵測且區分呈有 刀，'有不冋波長的光線，例 如可能決定光線L1-L6的路徑。 17 201140403 光線路經可以稱為谓測路線，以第3圖作為範例，每 個偵測路線U-L6包括由發光器到偵測器的各自的（單一） 光線路徑。 連續地提供表示光偵測排列14x、14y所接收與測量的 光能量的信號s到處理器單元(CPU)26。特別是，在示範例 中，信號S可能包括許多子信號b Su、Sl2、Sl3、s“、、 s“，其中每個子信號表示某些發光器所發射以及某些光伯 測器所接收的光線能量，以至於子信號SU_S4應到㈣ 線Su- Su的各自單一偵測線。需注意到以下描述信號s 的操作可能實施於信號S的一或更多個子信號Sli_Sl6，以 及直接在（聚集的）信號s。 聚集的信號S包括例如子信號Su_ Su的總合，其中再 同樣時間測量子信號Su- Su。也可能以其他方式處理子信 號SL1- Su以形成聚集信號Su_ Su，舉例來說，信號s表 示在面板2的2維光線分布。 為了接收信號S、Su- Su，處理器單元26連接到光债 測排列14x、14y以至於處理器單元可擷取信號/子信號。 又，處理器單元連接到照明排列12x、12y以初始化且控制 面板2之光線的進入。 如上述’光線L藉由觸控表面4與反面5的内部反射 傳遞到面板内部。如觸控面板領域已知的，内部反射是全 内部反射引起的’只要光線L以大於面板的光線注入點位 置的臨界角度之正常面板角度注入面板，就可以維持内部 反射。 18 201140403 當光線L照射觸控表面4，觸 觸控物件互動，且在觸控位置Μ 允許光線L與 3所分散，部份光4 T Y At + 77光線L可能被物件 丨伤光線L可能被物件3 線可能以内部反射方式傳遞。光的斤及收’以及部份光 減。觸控物件盥觸枰表 ，、吸收可通稱為衰 面的接觸面積， 義為物件與觸控表 件3與光線[之間的互動通常造成斤互八動。物 (FTHO,假如物件3比起環繞 成广-抑全反射 的折射指數4的材料具有較高 光… 控表面數個波長距離的位置， 先線L的靶量由傳遞光l所带占 物件3β 迟7^ 1所形成的逐漸消失的波形消散到 =是與當…碰觸觸控表面4，沿著—些細 位t減。舉例來說，對於第3圖的伯測線，當物件3的 立如所逑的被定位，則沿著價測線L2與U的光衰 w思才曰光偵測H 14η所接收的光能量以及發光器 、y 3所發射的光能量因為衰減而降低。以同樣方式，發 光器出―3所發射的光能量以及光_器14X-2所接收的 光能量因為衰減而降低。 …由此可知’當沿著偵測線L2與L5的光線衰減，關聯 农減線L2與L5的子信號Sl2、s“的信號準位變化。因為子 k號Su、Su表示沿著偵測線L2與L5的光能量當沿著偵 利線L2、L5發生衰減’子信號Sl2、心5的信號準位降低。 ^因此，藉由監視子信號的準位，可能判定哪個偵測線 衰減，假如子信號的準位降低到某個範圍，處理器單元可 19 201140403 月&決之物件位於沿著關聯子信號的谓測線的某位置。實際 上多少k號準位必須變化以指示觸控是依據裝置中的組件 以及憑經驗決定。 藉由使用標準斷層掃描，例如濾波的後投射（back projection)或使用共三角測量基礎（c〇mm〇n 1：143叫1^31；丨0114336(1)技術，可決定位置41的又座標11 以及y座標yA1。這個技術拿子信號作為輸入且結合沿著χ 軸/y軸的發射器與偵測器的位置的知識。 須注意到’在實施例中’光偵測器的距離較佳地是小 於觸碰的延伸，以至於不會有觸碰點是位於沒被偵測線索 覆蓋的觸控表面上的位置。 對於上述裝置1，可能以信號s及/或子信號Sli_ Sl6 的基礎識別照明排列1 2χ、1 2y以及光偵測排列i 4χ、i 4y 的降低的性能。降低的性能通常關係到發光器、光偵測器、 照明排列12x、12y及/或光偵測排列14x、14y的光内耦合 架構與光外耦合架構。處理器單元執行一個方法（亦即識別 降低性旎的方法）實施降低的性能之判斷。識別降低的性能 的方法詳細說明如下且使用類似信號s及/或子信號Su一 Si·6的信號當做輸入。 可能使用許多其他用於識別降低的性能的方法。基於 說明的目的，第1圖的裝置可能使用内耦合與外耦合架構 的技術，專利 US6972753、US7432893、US2006/01 14237、 US2007/0075648 ' W02009/048365 > WO2010/006882 > W02010/006884 、 W02010/006885 、 W02010/006886 、 20 201140403 WO201 0/064 983 與 WO201 0/1 34865 引用作為本今 香 π令成明書的揭 示内容。 舉例來說，識別降低的性能的方法可能结人 w〇2〇1〇劇983揭露的技術。裝置^用文件的技術，另 一裝置（稱為脈衝碼裝置）可能達成哪一個將使用脈衝碼多 工以決定偵測線、輸出相對的信號/子信號以及決定物件的 位置。在脈衝碼裝置，發光器藉由光線傳輸各自的獨特碼白， :乂至於碼識別各自的發光器。處理器單元根據傳輸的碼可 能處理來自光偵測器的輸出信號以分開來自各發光器的光 線，且可能決定一組對應於子信號SU_SL6的子信號。原理 上’另-裝置以類似於第i圖的方法操作，但是不同的是 不同偵測線的光線是脈衝碼。 人:另-實施例中’識別降低的性能的方法可能用於結 ^揭路於WG觀/_886的技術。裝置u㈣文件的技術， 裝置（在此稱為掃描裝置）可能達 列引入光線到面板，且在❹以什面^輪人掃描器排 面板内部的光線。當 田在感應區域的光偵測器時’光偵測器接收來 描的光束，且資料處理器連接 ▼ > 尤俱剛盗且根攄卉击笋诘 識:觸控表面的碰觸。在掃描裝置中，例;光 盗以及二光偵測器可能足以識別觸碰。 對於掃描裝置，在面板料邊 的播扣嬙叮从& “ 士 豕幻符疋位置進出面板 的知描線可作為對應第3圖偵 招出未^ Lb的偵測線。當掃 描先束的位置對應於積測線 ^ 的輪出俨轳-扣> 士处 了此精由即時取得偵測器 珣出4唬決疋功能上類似於子 卞唬Su~Sl6的子信 21 201140403 此，面板上掃描光束的暫時分配結合感測器的測量將提供 對應第1圖的裝置1的子信號Su_ SL6的信號。 對於掃描裝置，降低的性能可能關聯於内耦合及/或外 耦合結構（各自的照明排列與光偵測排列）的部份，内耦合 及/或外輕合結構關聯於某些偵測線。舉例來說，假如應該 僅僅附著在面板的光偵測排列的外耦合架構鬆弛，鬆弛部 伤的位置的偵測線（掃描光束麵合出）測量的光線可能呈現 不同信號準位。 因此，其他方法可能結合識別降低的性能的方法，可 能以不同發光器與偵測器的不同波長產生光線，但也可用 同波長的光線，舉例來說，假如裝置使用脈衝碼多工產 生偵測線或假如在照明排列12x、12y的發光器依序地致 動。 又’其他許多技術有許多方式耦合光線進出面板。這 匕括例如經由側面耗合進出面板的可能性。另外，分離的 耦合元件可能附著到側面、觸控表面或面板的相反面以導 引光線進出面板。這樣的耦合元件可能是楔形物。又内 耦合位置可能只是在面板邊緣或角落的小點。依據用於裝 置的特定進/出耦合技術，光線可能以實質上直線光束、分 散/聚合/平行光束、使用多工等編碼的光束傳遞到面板。 另外，内耦合位置以及外耦合位置可能依據特定内外耦合 技，排列在面板的共同位置，以至於内耦合及外耦合位二 沿著一或更多面板邊緣混合。 裝置1可能也包括提供圖形使用者介面給面板的介面 22 201140403 裝置6。介面裝置6可能是以固定影像的基板型式排列在 面板上、下或内部。另外，介面裝置6可能是排列在裝置 I面或内部的螢幕，或排列在裝置以下或以上的投影機以 杈ή像到面板2。這樣一個介面裝置6可能提供電腦影 像提供類似於GUI的動態GUIe決定哪的圖形物件應該 坐洛的地方的GUI控制器28控制介面震置6，舉例來說， 藉由使用對應到描述互動A1的座標之座標。哪控制器28 可能連接到及/或實施於處理器單元26。 現在轉到識別、偵測或決定降低的性能的方法，這方 法的實施例將與決定位置A1的方法—起描述。 在-週期時間内接收信號s，處理器單元Μ可 評估信號S的暫時變化性，2.根據暫時變化性決 列與先價測排列的降低的性能，以及3•決定位置 號S的函數。包括識別降低 …。 此町枉斤以及決定位置的裎 之、且。方法可旎稱之為’處理來自觸控裝置的方法”。 『號S可能包：關聯。個偵測線u_Ln的n個子信號 U歹1如上述乾例子信號Su~ Sl6以及谓測線U-Ln。 識別降低㈣能的程序以及決定位 :㈣在記憶體單元-(第2圖)的處理指令般 早兀：連接到處理器單元26且可被處理器單元％執：。 然而，識別降低的性能的裝置可用適合連 的分開的裝置（包括虛理控農置 用於債測物件與觸控表面的互動。 觸控裝置 安排在計算機飼服器的計算機可讀取媒體可能儲存處 23 201140403 理指令，當處理器執行時，實施識別降低的性能的方法。 在這案例中，處理指令可能例如下載到提供識別降低的性 能的功能性的觸控裝置。 第4圖是組合方法實施例的流程圖。 處理器單元26重複實施步驟10卜106以實施組合方 法步驟1 〇 1_ 1 〇 6善用引入面板2的光線、藉由内部反射 觸控表面4與反面5所傳遞的光以及光偵測排列14x，14y 所接收的光。方法反覆運作且步驟1〇1_1〇6可能執行，只 要裝置1設定在感應觸控互動的模式。另外，以規律的時 間間隔或在某些條件之間實施更進一步描述於下的步驟. 104與105 ’例如每秒，每第2〇次或者1〇〇〇次重複。 更詳細來說，在步驟101，光線L引入面板2且在步 驟1 02 ’引入的光線被接收。可能藉由控制照明排列12χ、 12y以及光線偵測排列14χ、14y實施這些步驟1 〇丨、1 〇2。 在步驟103 ’在外耦合位置i〇x、產生表示光線能 1的信號S。此外，產生上述的η個子信號sL1- Su以表示 各自债測線的光線能量。換言之，下述對信號S的順序操 作可能實施在一或更多子信號Su_ SLn。 特別是，在步驟1 〇3 ’藉由使用取得光偵測排列的原 始信號的處理器單元26產生信號S，或更特別地，在與裝 置1的使用者互動期間取得光偵測排列的每一光偵測器的 原始信號。原始信號可能是光偵測排列所提供的未處理的 信號’且包括測量不同偵測線的光線取得的子信號。 藉由以對應的參考信號正規化信號來處理原始信號。 24 201140403 參考信號可能是類似於產生原始信號的方式產生的一個信 號，但是在某些瞬間，當沒有物件存在觸控表面，例如當 裝置的組合終止或當使用者發出農置丨的重置操作。每個 子信號可能有各自的參考信號。藉由儲存在記憶體單元 27 ’每個參考信號對於處理器單元是有效的。 假如信號S、SL1-SLn設定成參考信冑分割的原始信號， 結果信號S、Su- Su是可能表示跨過面板/沿著偵測線的光 線傳輸^的正規化的信號。另外，假如信Μϋ應 該表不农減，可能以單位減去傳輸（1_τ)來計算。在另一實 允例中’可此產生信號s、Su_ s“表示對數傳輸⑽⑴。 更進階的技術可能用於決定信號s、Su_ SLn，其可能 包括在正規化之前费新I I # /考彳5 5虎。基於範例的目的，國際 專利號 pCT/SE201 0/050932 以及 pcT/SE2〇i〇/〇5u〇5 引用 作為本說明書的揭示内容。 :此n s、sL1- Su可能因此是原始信號或正規化 例如傳輸信號或衰減信號’且可能表示例如在谓 、：n的光線能量’或者-度或二度空間的面板的光 在步驟104,處理器單开 的暫早7° 26監控或評估信號S、SL1-Su 的暫時變化性。第5圖 的子作 m在時間t測量的傳輸信號模式 j 丁 1口 m 。在範例φ，产％ Λ^ . L5虎準位維持實質上地常數，因 為/又有觸极與相對的偵測線互 中的瞬間的暫時變㈣ 、減）°可見到信號數值 能的組件。 —的，且典型地用於觸控裝置功 25 201140403 盗早70 26可能根據信號S的信號數值藉由計算時 i、列的參數值監控暫時的變動性。舉例來說可能給定 量數二作為信號的時間視窗之内的信號數值的統計散佈測 先十散佈測置可能是表示時間視窗内的信號數值的變 或推'則性質。潛在有用的統計散佈測量的非限制範例 I括標準差 ^ ^ 變異（σ )、變異係數（σ//〇以及變異 平句（„σ /以）。其他範例包括差異總合，例如 ΣΚ^,,ι^ΣΣΚ-^ι ^ 〇】 1 或能量測量，例如 η . Σθ， /=1 —η疋時間視窗的信號片段的信號數值X的數量。另一 鞄：包括平均i m的絕對值差異的總合的測量，使用任何 管田的函數什算平均數值爪給信號片段中的信號值，例如 數平均4何平均、中數等等。其他實施例包括分散測 量與頻譜密度測量。須注意到上述散佈測量也包括正規化 及/或權重其變數。 ,可了解到信號數值的暫時變化性典型地發生在不同 (較J的）時間|已圍，相較於觸碰所引起的信號變化，且暫 ，夔化1·生疋彳5唬中的持續現象（除非光偵測器損壞，暫時變 、馬零h然而觸碰所引起的變化在信號中是 分開的事件。熟此技藝者將了解到時間視窗的長度可能最 佳化以至於ί：士里奋备/_ 、 ^ ^ 、'I果4數值抓到變化性而不會被觸碰所引起的 。號隻化顯著地影響。觸碰所引起的信號變化影響可能藉 26 201140403 由設計步驟105(見以下）的 ~策原則給抑制住以在識別降 低的性能之前要求某坻量 ~罝的參數值洛出參考測量值之外。 第6圖說明第5圖為 丁 現^產生的一序列參數值， 其中每個參數表示小時門通#/ β 時間視* (具有幾秒長度）中的變數。

這序列的變數值可能被f α A 反马子k唬Su的雜訊評估，且在第 5圖中才示不為Sn oise。雜ΐ孔作缺q 雜Λ t唬Snt)ise實質上是常數。 熟此技藝者了解$丨丨 β 解到k疋评估或分開信號s的雜訊的另 一方法。可能使用任何已知的雜訊處理技術，使用信號s 作為輸入。舉例來說步理哭结- 兄處理益早兀26可能高通濾波信號s 以實質上隔離信號s的一戋更多雜邛忐八一又上 J 4灵夕雜δίι成分。咼通濾波可能 是直接或間接的’例如藉由低通濾波信號s，且將信號s 減去低通濾、波過的信號。 可此產生雜訊信號Sn(5ise表示熱雜訊 '散彈雜訊、閃爍 雜訊、叢發雜訊以及周圍電磁干擾，或其組合。 依據實施例，參數值可能是藉由雜訊處理的單—數值 輸出’或數個輸出值的聚集。 雜訊信號可信號雜訊比（SNR)表示，其是決定信號與雜 汛的比例’這是眾所皆知的。SNR可能使用任何已知作號 處理技術取得，可能是類比或數位，或其組合。再看使用 時間視窗的範例’ SNR可能是時間視窗的信號數值的平均 與統計散佈測量的比例。 低絕對值雜訊或雜訊變數形態的低或不顯著的雜訊準 位已經被識別當作具有適當功能成份的觸控裝置。 稽由調 查缺陷組件的雜訊數值或其性質可以憑經驗決定雜訊門^ 27 201140403 △ Snoise的適當數值。 參考第6圖，可了解到藉由在一次重複步驟i〇1_l〇6 的步驟104產生每一參數值，且因此藉由一組最近取得的 子信號SLn的信號數值形成時間視窗。時間視窗可能被視為 在每次重複中沿著信號的”滑動，，（slide)，其中連續參數 值可能由時間視窗計算，其部份重疊，雖然也有可能時間 數窗不會重疊。 當在觸控表Φ的組件降級或失靈，㈣s的暫時變化 性將大大不同。第7圖說明根據來自光偵測器的測量資料 所產生的傳輸信號型態的子信H其逐漸流失性能。第 8圖說明’雜訊信號Snc>ise，如同第7圖的時間視窗的變數。 第7圖與第8圖清楚描述暫時變化性隨時間增加性能逐 減弱。 第8圖指示散佈測量可能用於作為識別降低的性能 數值。也可由第8圖見到散佈測量的數值不僅隨時間 加且政佈數值的暫時變化性也隨時間増加。因此，另 參數值也可能計算成雜訊㈣ 散佈測量。可使用上冲.… ”夺間視·内的統 便用上述的任何統計散佈測量。 ::驟105,照明排列12x、12y以及光福測排列⑷ y的降低的性能視為步驟1〇4 信號s的暫時變化性的函 广數值所給定( 值與參考測量，參考、,,曰' 5可能包括比較& , '1置可I是給定的臨界值或範® Λ 如比較指示降低的性能 … 值t範圍。屯 料，錯誤資料浐 °早疋26可能輸出錯誤| 仏不降低的性能。舉例來說，以參數值與參 28 201140403 考測量之間的差的型態’且在其他實施例巾，指示降低的 性能關係到哪一組件。 在第8圖的範例中，信號Sn〇ise的雜訊值比較雜訊間隔 △ Sn°ise。根據決策原則識別降低的性能。舉例來說，決策 原則可旎規定降低的性能存在於當電流雜訊值是偏離雜訊 間隔△ snQlse時。如所見，雜訊信號心。…是在時間之後 偏離間隔AS — e。當時間t2被暫存，可能決定降低的性 能。另外，決策原則，可能規定降低的性能存在於步驟 j 01 1 06的多次重複（可能等效於已知時間週期）的任何信 號S_se的雜訊值脫離間隔的時候。於一實施例中， 如在已知數的重複步驟下接收的既定數的雜訊數值（參 數值）脫離間隔△ SnQise，可能識別降低的性能。既定數量 的適田數值以及已知次數的重複可能憑經驗決定。藉由使 用這樣|决策原則，可能抑制來自參數值的觸碰的 影響。 ；貫&例中，電流參數值與先前計算的參數值比 車乂其T月b疋|置白勺最後組合步驟冑* &測量所取得的參 數值ί列如上述參考信號。也有可能比較電流參數值與 先前計算的參數值的時間平均，其中在電流參數掏取： 前’對於某些週期時^ 4呀間（步驟101-106的重複數量）決定時 間平均。此外，如μ 邪上建’關聯某些間隔執行比較。 於實％例中，處理器單元26由記憶體單元27預定 且掏取臨界值與間[15 二 。假如參數值表示SNR，可能根據在 信號S中被偵測到的县 』的取弱觸碰（衰減）設定臨界值/間隔。特 29 201140403 別是，最弱觸碰定義可能以百分比 變化百分比）表示的谓測限制（最小衰減）。5為的=小可谓測 制，信號S的⑽應該是至少與百分比同様大相侦測限 可能依據谓測限制比例設定臨界值/間隔。 因此， 通常，依據例如裝置的各種型態的 間隔且使用放大以產生信號s。可能憑經驗值/ 的臨界/間隔。當某些組件已知道是有缺陷時:：寺：裝置 臨界值/間隔可能包括測量暫時變化性。…決定 作又如監測表示子作辨ς q 化性，處判單-Γ °聚集的信號3的暫時變 處理…26可能用於建立至少部份的裳 低的性能’且產生需要某些操作者活動的信號。操作者活 括觸控表面的清潔或農置的維護，假如清潔沒有 呈現改善的性能。改善 .^“步驟105的決策原則不 被執订’例如參數值不再超過臨界值或回歸到間隔之内。 對於很多子信號Su_su的每個，如所述的可能識別 降低的性能。這對應到決定一組㈣線L1_Ln的暫時變化 性’可能特別決定降低的性能的原因。 舉例來說，假如由特定發光器到許多光偵測器的所有 偵測線指示（經由關聯的子信號）降低的性能，處理器單元 26可能證實特定發光器有降低的性能。結論可能更進一步 支持假如由其他發光器到同樣光㈣器的偵測線沒有指示 (經由關聯的子信號）降低的性能。 以同樣方式，假如所有從許多發光器到特定光偵測器 的偵測線指示（經由關聯的子信號）降低的性能。處理器單 30 201140403 疋可能證實特定光偵測器有降低的性能。結論可能更進一 步支持假如由同樣發光器到其他光偵測器的谓測線沒有指 示（經由關聯的子信號）降低的性能。 當偵測到具有降低的性能的肖定發光器a夺’當決定位 置A1時可能摒棄來自這發光器的光線，典型地意指不考慮 任何關於發光器的子信號。以同樣方式，可能忽略關於具 有降低的性能的光偵測器的子信號。 另外，來自發光器具有降低的性能的光線能量可能增 加’而非忽略來自發光器的子信號…當決定位置，可 能決定-或更多觸碰㈣臨界值（在此又稱為觸控臨界值） 的特定數值以應用於識別子信號中的觸碰。 促進裝置足夠維護，處理置；9 β & 处埋益早兀26可能用於產生指示 哪個發光器或光偵測器有降低的性能的信號。 回到第6圖’在步驟1 〇6知宗 决疋位置Α1，可能在當物 件3觸碰觸控表面4時執行且笋诘也 仃且衮減先線。可能為了這目的 使用很多標準技術，使用信號/子 丁 l观®作輸入，例如三角 測量基礎的技術與斷層掃描基礎 足的技術。设計用在觸控決 定的斷層掃描演算法的範例 靶例可在W〇201〇/〇〇6883盥 W02009/077962 中發現，以及 2ηιη * ιλ ” 及2010年10月13號申請的 PCT/SE2010/051103 以及 2〇1〇 平3月3號申請的 US6 1 /282973中發現’上述所列 的專利參考文獻全體皆引 用作為本說明書的揭示内容。 依據位置決定技術以及昭 ，、、、明排列與光偵測排列的型 態’決定位置的任務可能有時候合 曰過判斷，所以不是所有 201140403 ，信號必須使用。X ’排除總是忽略關聯缺陷組件的子信 號’可能判定’假如呈現超過—特定觸碰偵測臨界值得信 號準位（數值）時，這些子信號應該被考慮。 這樣一個觸碰偵測臨界值的範例描述於第9圖，第9 圖顯示子信號（傳輸信號）Su，當所有裝置的組件適當操作 時三結合觸碰臨界值準位™】用於決定位置（例如A1)。以 下範例適用於子信號Sli_ Su以及聚集的信號§。較後面的 案例，第9圖的信號外型可能表示觸碰表面的某些區域元 件（像幻的光線能量。原則上，當信號5低於觸:臨界值 準位胤時，處理器單元26可能判定一個物件觸碰面板。 舉例來說’在子信號的Su的區域、的下降表示微弱觸碰， 然而在區域SB的下降表示平均觸碰。如所示，觸碰臨界準 位THR,是設定相對接近信號s的時間平均，這是有可能 的’因為信號S在整個時間都是常數。 第10圖說明子信號(傳輸信號)SLn，當觸控裝置的光偵 測器：在降低的性能時。比較第9圖，子信號k變動劇烈 且可能使用另-觸控臨界準位狐防止裝置翻譯當觸 組件缺陷所引起的信號變動。在這案例中，裝置可能在偵 測子信號Su的區_ Sa時失s，亦即微弱觸碰所引起的衰 減，因為觸碰臨界準位THR2已經設定到相對遠於子信號2 的時間平均的數值。献而，卩敁 、 双值…而區域心所指不的平均觸碰可能 被偵測到，因為落入觸碰臨界準位THR2以下。 、、為了適應逐漸降低的性能，觸碰臨界準位可能隨時間 逐漸變化以至於因為降低的信號的信號變異可能不會被解 32 201140403 釋成觸碰。標準技術可能是逐漸變化觸碰臨界準位。因為 聚集的彳5號s ’觸碰臨界準位可能類似地被使用，且逐漸 地變化。 參考第11圖，監視暫時變化性的步驟1〇4’以及決定 降低的性能的步驟105’可能實施成偵測降低的性能的獨 立程序。這些步驟對應第4圖的組合方法的步驟104、105。 藉由觸控裝置可能提供輸入信號s、SL1_ SLn，然而錯誤資 料可能傳送到同樣的觸控裝i。錯誤資料可能指示降低的 性能。假如子信號作為輪入或缺陷偵測線。舉例來說，假 如觸控裝置是掃描裝置’，’#陷”偾測線可能由偵測線的 故障的光内輕合兀件或光外輕合元件所造成。&關觸控農 置的類型，第11圖的程序提供額外功能到現存的方法以及 決定觸碰表面上的位置的裝置。可了解到在第u圖的㈣ 可能實施適用於連接到觸控裝置的分開的裝置。程序/分開 的裝置也產生信號s或子信號Su_ SLn。 刀开 軟體指令’亦即執行上述方法實施例的電腦程式碼可 能為了發展方便性寫入高階程式語言，例如Java、C及/ 或C + +，也可能是其他程式語言，例如翻譯語言，但不限 於此。軟體指令可能也以組合語言寫入或甚至微程式碼以 加強性能及/或記憶體利用。因此，電腦可讀取媒體（例如 第2圖的27)可能儲存程序（軟體）指令，當處理器單元Μ 執行時，實施上述方法。 可進一步認知到’裝置實施的功能步驟的功能可能也 利用離散硬體組件實施，一或更多應用特定積體電此 33 201140403 程式數位信號處理器或微控制！！。舉例來說，參數值可能 直接取得作為來自類比或數位電路或離散電子組件的組合 的輸出。 如所述，處理器單元實施決定降低的性能/互動的重複 操作。此外’ I自的重複可能連續地實施而不考慮是否物 件與觸控表面互動。又’處理器單元的操作可能以不同順 序實施，可能被組合且可能被分割成子操作。，孰此技 藝㈣知到，處理器單元可能包括—或更多資料處理器， 每一實施一或更多描述過的程序操作。 雖然上述揭露著重在致能降低的性能以及觸碰判定的 並行们則，但是也了解到現存偵測降低的性能的技術可能 :觸碰判定分開被使用，例如在時間週期，當沒有觸碰存 在觸碰表面時。 【圖式簡單說明】 並配合所附圖式作 藉由示範例描述本發明的實施例 詳細說明， 第1圖疋決疋觸控表面上的 刃主乂 物件的位置的觸控 裝置的一貫施例之上視圖； 第2圖是第1圖的剖視圖； 第3圖是第1圖的步罟沾 牙固扪裝置的實施例的平面 描述光線傳輸； 文砰細 第4圖是識別第1圖中奘 ㈣一 圖中裝置的降低的性能的方法的實

施例的流程圖； J I 34 201140403 圓中裝置的光偵測排列所接收的 第5圖說明表示第 光能量的信號時間分配； 第6圖說明第5圖 第7圖說明對應第 裝置的缺陷組件； 第8圖說明第7圖 第9圖說明用於決 位置之臨界準位； 的信號中評估的雜訊的時間分配； 5圖的信號的時間分配，其是剩量 的4號的§平估的雜訊的時間分配； 定第1圖中裝置觸控表面的物件的 第10圖°兒明用於當裝置的組件是缺陷時，決定第1圖 中裝置觸控表面的物件的位置之臨界準位； 例的流程圖 第11圖疋決定第1圖的裝置的降低的性能的方法實施 【主要元件符號說明】 2〜面板； 4〜觸控表面； 介面裝置； 8y〜第二内耦合位置； l〇y〜第二外耦合位置； 14y〜光偵測排列； 22~面板第二側； 2 4〜面板第四側； 卜觸控裝置； 3〜物件； 5〜反面； 8x〜第一内耦合位置； 1 Ox〜第一外耦合位置； 12X〜照明排列的第—部份； I2y〜照明排列的第二部份； 14 X〜光偵測排列； 21〜面板第一側； 2 3〜面板第三側； 35 201140403 26〜處理器單元； 28〜GUI控制器； A1〜位置； 27〜記憶體單元 1 01 -1 0 6 ~ 步驟； L1 - L 6〜僧測線。 36

Claims (1)

1. 201140403 七、申請專利範圍： 1. 一種用於處理來自觸控裝置（1)的資料的裝置，該觸 控裝置（1)包括一傳輸面板（2 )、引進光線到面板（2)之一照 明排列（1 2 X，1 2 y )，以及接收面板（2 )内傳輸的光線且測量 接收的光（L)的能量之光偵測排列（14 X，14 y)，該裝置包括 一處理器單元（26)，該處理器單元（26)用於： 取得包括一時間系列信號數值的一信號（S、Su_Su)， §玄#號數值表示該光偵測排列（14 x，14 y)所接收的光線（l ) 的能量； 計算一參數值，該參數值表示該信號（S、Su~Su)中的 該信號數值的一暫時變化性；以及 根據該參數值識別該照明排列（12x，12y)及該光債測 排列（14x，1 4y )的任意一個的一降低的性能。 2. 如申請專利範圍第1項所述之裝置，其中該參數值 表示該信號（S、SL1-SLn)的一絕對值雜訊準位及一信號雜訊 比的其中一個。 3. 如申請專利範圍第丨或2項所述之裝置，其中該參 數值表示該信號（S、sL1-SL〇的一時間視窗内的該暫時變化 性。 4. 如申請專利範圍第1至3項中任一項所述之裝置， 其中該處理器單元（26)更用於高通濾波該信號（s、 Su-SLn) ’其中根據該高通濾波的信號計算該參數值。 5. 如申s青專利範圍第1至4項中任一項所述之裝置， 其中該處理器單元（26)用於識別該降低的性能，比較該參 37 201140403 數值與一參考測量 的其中一個。 其中該參考測量是一範圍與一 仏界值 % 其中該參考測 6.如申請專利範圍第5項所述之裝置 量是預定義的。 。如中請專利範圍第5項所述之裝置，其中根據該信 號（S、SL1-Su)的前信號數值決定該參考測量。 8. 如申請專利範圍第1至7項中任-項所述之裝置， 其中=處理器單元（26)詩藉由比較—電流參數值與—或 更多前參數值識別該降低的性能。 9. 如申請專利範圍第m項中任—項所述之裝置， 其中該處理器單元（26)用於藉由比較-電流參數值與前參 數值的一時間平均識別該降低的性能。 10. 如申請專利範圍第1至9項中任一項所述之裝置， 其中該處理器單元（26)用於識別該降低的性能作為該時間 系列的信號數值的一雜訊特性的一函數。 Π.如申請專利範圍第1至1〇項中任一項所述之裝 置其中該處理器單;^(26)用於對應一操作者觸發的事件 識別該降低的性能。 12. 如申請專利範圍第丨至u項中任一項所述之裝 置，其中該處理||單元（26)用於，假如該降低的性能被識 別，產生呼叫一操作者活動的一信號。 13. 如申請專利範圍第i至12項中任一項所述之裂 置，其中該處理器單元（26)用於，假如該降低的性能被識 別，產生增加來自該照明排列（丨2X，12y)的一發光器所發射 38 201140403 的光線能量的一信號，該發光器關聯該降低的性能。 14. 如申請專利範圍第！至13項中任一項所述之裝 置，其中該處理器單元（26)用於決定，當一物件（3)觸碰該 觸碰表面且因此衰減該面板2中傳遞的該光線α)，該觸碰 表面（4)上的該物件（3)的一位置（A1)作為該信號（s、 Sli-SlO的一函數。 15. 如申請專利範圍第丨4項所述之裝置，其中該處理 态單元（2 6)用於，假如降低的性能被識別，不考慮來自哕 舨明排列（12x, 1 2y)的一光發器所發射的光，當決定該位置 (A1)時，該發光器關聯該降低的性能。 16. 如申請專利範圍第14或15項所述之裝置，其中該 處理器單元（26)用於，假如該降低的性能被識別，不考慮 該光偵測排列（14x，14y)的一偵測器所偵測的光，當決定該 位置（A1)時’該偵測器關聯該降低的性能。 17. 如申請專利範圍第14至16項中任一項所述之裝 置，其中該處理器單元（26)用於藉由比較信號中的該信號 數值與至少一觸碰臨界數值（THR〇決定該位置（A1),以及 其中該處理器單元（26)用於更新該至少一觸碰臨界數值作 為該降低的性能的一函數。 18. 如申請專利範圍第ι7項所述之裝置，其中該處理 盗單7L (26)用於計算信號（S)的一組子信號（Su_SLn)的每 個的參數值，其中每一子信號對應一各別偵測線（LhL6)， 偵測線（L1-L6)延伸在該照明排列（12X，12y)的一發光器以 及s亥光偵測排列（14x，14y)的一偵測器之間。 39 201140403 19. 如申請專利範圍第18項所述之裝置，其中該處理 器單元（26)用於當決定該位置時（A1)，假如一债測線 (L1-L6)的降低的性能被偵測，不考慮關聯該偵測線（li_l6) 的信號數值。 20. 如申請專利範圍第18或19項所述之裝置，其中該 處理器單元（26)用於比較每-子信號（Su_Su)的該信號數 值與一各自的觸碰臨界值（THRl)’且其中該處理器單元（26) 用於更新該觸碰臨界值（THRl)當作該降低的性能的一函 數。 21. 如申請專利範圍第18至2〇項中任―項所述之裝 置，其中該處理器單元（2 6)用於決定該照明排列（丨2χ，丨2y) 的發光器與該光偵測排列（14 X，14 y )的一偵測器的哪一 個導致該降低的性能，作為每一子信號（Su_SLn)的該信號 數值的該暫時變化性的一函數。 22. —種用於處理來自觸控裝置（！）的資料的裝置，該 觸控裝置（1)包括一傳輸面板（2)、引進光線到面板（2)之一 照明排列（12x’12y) ’以及接收面板（2)内傳輸的光線且測 量接收的光（L)的能量之光偵測排列（14χ, 14y)，該裝置包 括： 用於取得包括一時間系列信號數值的一信號（S、 SuU之裝置’該信號數值表示該光偵測排列（14χ，14γ) 所接收的光線（L)的能量； 計算一參數值之裝置，該參數值表示該信號（s、Su_SLn) 中的該信號數值的一暫時變化性；以及 40 201140403 根據邊參數值識別該照明排列（12x，1 2y)及該光偵測 排列（14x’ 14y )的任意一個的—降低的性能之裝置。 23. —種用於決定一觸控表面（4)的至少一物件（3)的 一位置（A1)的裝置，該裝置包括： 光傳輸面板（2) ’疋義該觸碰表面（4)以及一相反表 面（5); 一照明排列（12x，12y) ’用於引進光線（L)到面板以藉 由該觸碰表面（4)與該相反表面（5)之間的内反射傳遞； 一光價測排列（14x，I4y)，用於接收在該面板（2)中傳 遞的光線’且測量該接收的光線（L)的能量；以及 如申請專利範圍第1至22項中任一項所揭露的一裝 置。 24. —種操作一觸控裝置（1)的方法，該觸控裝置包括 一傳輸面板（2)、引進光線到面板之一照明排列 (1 2x，1 2y)，以及接收面板（2 )内傳輸的光線且測量接收的 光（L )的能量之光偵測排列（14X，1 4y)，該方法包括： 操作該照明排列（12x，12y)以引進光線（L)到該面板 (2)’藉由該面板（2)的一觸控表面（4)及一相反表面（5)的 内反射傳輸； 操作該光偵測排列（1 4x，1 4y)以測量該接收的光（L)的 能量； 取得包括一時間系列信號數值的一信號（S、Su-Su)， 該信號數值表示該光偵測排列（14x，14y )所接收的光線（[) 的能量； 41 201140403 計算一參數值’該參數值表示該信號（s、Su-SLn)中的 該信號數值的一暫時變化性；以及 根據該參數值識別該照明排列（12x，12y)及該光偵測 排列（14x，14y )的任意一個的一降低的性能。 25. —種用於處理來自觸控裝置的資料的方法，該 觸控裝置（1)包括一傳輸面板（2)、引進光線到面板（2)之一 照明排列（12x，12y) ’以及接收面板（2)内傳輸的光線且測 量接收的光（L)的能量之光彳貞測排列（14 X，14 y )，該方法包 括： 取得包括一時間系列信號數值的一信號（s、Su_Su)， 該信號數值表示該光偵測排列（14x，14y)所接收的光線（l) 的能量； 計算一參數值，該參數值表示該信號（S、Su-Su)中的 該信號數值的一暫時變化性；以及 根據該參數值識別該照明排列（1 2x，1 2y)及該光彳貞測 排列（14x，14y )的任意一個的一降低的性能。 2 6. —種儲存處理指令的電腦可讀取媒體，當由一處理 is執行時’根據申請專利範圍第24或25項實施該方法。 42