TW201121638A - Hot-trap assembly - Google Patents

Hot-trap assembly Download PDF

Info

Publication number
TW201121638A
TW201121638A TW99140344A TW99140344A TW201121638A TW 201121638 A TW201121638 A TW 201121638A TW 99140344 A TW99140344 A TW 99140344A TW 99140344 A TW99140344 A TW 99140344A TW 201121638 A TW201121638 A TW 201121638A
Authority
TW
Taiwan
Prior art keywords
heat sink
vacuum pump
collector means
enclosure
sink device
Prior art date
Application number
TW99140344A
Other languages
English (en)
Inventor
Bhangu Kavreet
Stefan Schneider
Original Assignee
Oerlikon Leybold Vacuum Gmbh
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Oerlikon Leybold Vacuum Gmbh filed Critical Oerlikon Leybold Vacuum Gmbh
Publication of TW201121638A publication Critical patent/TW201121638A/zh

Links

Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C16/00Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
    • C23C16/44Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
    • C23C16/4412Details relating to the exhausts, e.g. pumps, filters, scrubbers, particle traps
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C16/00Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
    • C23C16/44Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
    • C23C16/455Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating characterised by the method used for introducing gases into reaction chamber or for modifying gas flows in reaction chamber
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C16/00Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
    • C23C16/44Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
    • C23C16/455Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating characterised by the method used for introducing gases into reaction chamber or for modifying gas flows in reaction chamber
    • C23C16/45557Pulsed pressure or control pressure
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C16/00Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
    • C23C16/44Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
    • C23C16/48Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating by irradiation, e.g. photolysis, radiolysis, particle radiation
    • C23C16/481Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating by irradiation, e.g. photolysis, radiolysis, particle radiation by radiant heating of the substrate

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • General Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Toxicology (AREA)
  • Chemical Vapour Deposition (AREA)

Description

201121638 六、發明說明: 【發明所屬之技術領域】 本發明係有關於熱阱之領域,亦即 起在許多不同之應用中被用以清潔從處 的裝置。尤其,本發明揭示熱阱裝置之 外,本發明亦揭示包括此類熱阱裝置之 【先前技術】 真空泵系統在本藝中係習知者,並 被用以產生真空,例如在光電工業或顯 以生產薄膜式太陽能電池或TFT顯示器 空栗系統包括真空泵,例如預真空泵, 似渦輪分子泵之高真空泵。連同此真空 處理站或模組或處理室可被配置在上游 何習知之沉積方法來沉積基質於一表面 模組可包括例如以下所列者中之任一1 段、冷卻手段、用於尤其藉化學汽相沉 沉積之手段、用於蝕刻或品質控制之手 EP 0 5 75 0 5 5 與 US 4,3 5 8,472 C 案 (inline)真空泵系統。槪括而言,此真空 藉閥或閘而被彼此分離以便可避免交叉 內之壓力係藉真空泵(諸如預真空泵或 定成低於周圍空氣(亦即大氣)壓力。 與真空處理系統一 理室所排出之氣體 多種修改型式。此 真空處理系統。 在許多不同用途中 示器工業中分別用 。槪括而言,一真 真空助力器,及類 泵系統,若干基質 處,以利於運用任 上。上述之諸站或 阃或全部:加熱手 積(CVD )進行層 段等等。 顯7K所謂之串列式 泵系統之諸模組係 汙染,且此諸模組 高真空泵)而被設 -3- 201121638 在沉積處理期間,例如二乙鋅(DEZ)之處理氣體被 供應至例如一透明導電氧化物(TCO)沉積模組之處理環 境或處理室內。此外,處理氣體在沉積期間被耗盡,且一 持久之新處理氣體流被供應至此處理系統中。同時,諸真 空泵被持久地運轉以便保持所要之處理壓力。因此,包括 反應副產物及/或未經反應之試劑的處理氣體將藉使用此 真空泵系統而被連續地抽空/排氣。 然而’此反應副產物及/或未經反應之試劑在若干盛行 之條件下傾向於一起聚集在模組式排氣、真空泵以及設備 管路中,此可能導致在處理效率上之負面效果、管路與真 空泵之阻塞、生產循環時間之減少、及/或經常性清潔循環 之需求。尤其因爲氣體被壓縮在真空泵內部並由於壓縮而 同時被加熱,所以此諸真空泵會被影響。另外,此一處在 上述諸條件下之泵的表面當作反應中心,其導致了會在此 泵中增加沉積金屬或氧化物材料(例如來自二乙鋅之鋅或 氧化鋅)之反應速率。此轉而將導致泵之使用壽命降低、 通氣管路之堵塞等。此問題在進行工業規模生產(其中基 質之高輸出量必須高消耗處理氣體)期間甚至會更爲顯著。 在傳統之真空泵系統中,一阱體被安置在此真空泵之 上游處,以便清潔來自反應副產物及/或未經反應之試劑的 排出氣體。熱阱與冷阱在本藝中係爲習知的。冷阱允許多 個氣體組成物之凝結或再結合,以便移除或鈍化部分之未 被使用的處理氣體及/或反應副產物。然而,冷阱將非常迅 £ -4 - .201121638 速地飽和’且可能導致排放氣流中之單一成分的濃縮,其 可能是一種必須有額外安全處理需求之健康危害物。 熱阱之許多不同設計在本藝中係習知的,其在氣體流 動之路徑中利用若干機械性縮緊或一經擴大之表面積。這 些前提係以下列事實爲基礎:存在於處理氣體之多個成分 的反應係基於表面的。因此,此表面可藉由機械設計而被 設置’或是可在當產生自諸先前循環之反應產物被沉積在 設備(例如管路)內時被創造。 傳統熱阱必須廣泛且經常之清潔及/或更換,這由於此 熱阱之結構因素而必需花費需相當的時間。低效率之熱阱 亦造成真空泵系統需要經常之清潔,以便可移除氧化物或 金屬的沉積,並隨之減少沉積系統的運作時間以及高維護 費用。 由未公告之PCT/EP2009/〇5 7395案可知一種汽相沉積 熱阱裝置,其包括:一圍體,其具有至少一個入口及至少 一個出口;至少一個加熱手段;及至少一個收集器手段, 其用於將反應副產物轉變成被沉積在此收集器手段及/或 此圍體之內表面上之產物,其中該收集器手段被配置在該 圍體內並位於該入口與該出口之間,且其中該至少一個收 集器手段被呈現爲若干個九體。 如前所述,該熱阱裝置被使用以清潔排自一真空泵系 統之氣體,並移除或部分移除反應副產物。用於此處之「反 應副產物」一詞亦包括未經反應之試劑,較佳係未經反應
之DEZ -5- 201121638 【發明內容】 本發明之一目的在於提供一種熱阱裝置,其可供輕易 且有效率並具成本效益地從排出處理氣體處移除反應副產 物及未經反應之試劑。 本發明之一第一實施例係有關於一種汽相沉積熱阱裝 置1,其包括:一圍體2,其具有至少一個入口 3以及至少 一個出口 5;至少一個加熱手段7;及至少一個收集器手段 13,其用於將反應副產物轉變成被沉積在此收集器手段及/ 或此圍體之內表面上之產物,其中此收集器手段被配置在 此圍體內並位於該入口與該出口之間,而其特徵在於:此 收集器手段包括一擋板結構。 在一第二實施例中,本發明係關於一種汽相沉積熱阱 裝置1,其包括:一圍體2,其具有至少一個入口 3及至少 一個出口 5;至少一個加熱手段7;及至少一個收集器手段 13,其用於將反應副產物轉變成被沉積在此收集器手段及/ 或此圍體之內表面上之產物,其中此收集器手段被配置在 此圍體內並位於該入口與該出口之間,其特徵在於:此熱 阱包含一分離之氣體入口,其係用於引入有助於增加反應 效率之反應氣體。 此外,本發明之熱阱裝置係一適用於一真空栗系統之 熱阱裝置。在一實施例中,此熱阱裝置適用於一真空泵系 統(較佳係一串列式真空泵系統)之模組。在另一實施例 中,此真空泵系統或其模組被使用於汽相沉積。在又一實 -6 - 201121638 施例中,此汽相沉積係選自於由物理汽相沉積(pvc )、 化學汽相沉積(CVD )、低壓化學汽相沉積(LPCVD )、 或電漿增強化學汽相沉積(PECVD )所組成之群組。此汽 相沉積較佳地係LPCVD或PECVD » 在又一之較佳實施例中,此汽相沉積係矽、矽氧化物 或金屬氧化物之沉積,更佳地係氧化鋅(ZnO )或氧化銦 錫(ITO )之沉積物。ZnO層顯示一作爲傳導接觸材料之優 質性能,例如用於(薄膜)太陽能電池用途。最佳地,此 汽相沉積係ZnO-LPCVD或ZnO-PECVD。在又一較佳的實 施例中,此汽相沉積被使用於薄膜之生產,較佳地薄膜電 晶體(TFTs )或透明導電氧化物(TCO )層。 在另一具體實施例中,本發明之熱阱裝置適用於可供 對大小在>lm2之基質(較佳地係薄玻璃板)進行CVD處 理用之真空泵系統。 本發明之熱阱裝置的圍體並不受限於一特定之幾何形 狀,而是可爲任何允許將收集器手段配置在此圍體內部及 此圍體之入口與出口之間的形狀,以便使得由此入口流入 及由此出口流出之氣流可被強制流經該收集器手段。在若 干具體實施例中,此圍體具有一圓筒管之形狀及/或此圍體 之截面係圓形或方形。在一較佳實施例中,此圍體係管路 之一加寬部分,其例如將一PECVD或TCO或疊合機模組 連接至真空泵。 .201121638 在另一較佳實施例中,此圍體另包括至少一個可關閉 開口 ,例如一蓋或一罩,最佳地係一管口蓋板(blind flange)。此可關閉開口允許藉例如一利用無機酸及/或其他 適當有機溶劑之化學處理來清潔圍體內部以及更換收集器 手段。更佳地,此可關閉開口被安置在圍體之頂部及/或底 部處。尤佳地,此圍體包括兩個可關閉開口,其被定向成 彼此對立,例如一個形成此圍體之頂部,而另一個形成此 圍體之底部。此一配置將可輕易地清洗圍體,其中例如無 機酸及/或有機溶劑之清潔試劑經由第一開口而被引入,穿 過整個圍體後再經由第二開口離開。在另一具體實施例 中,此圍體及/或此諸可關閉開口係由任何可承受2 25 0°C 及S 5 00°C溫度之材料所製成。較佳地,此圍體及/或此諸 可關閉開口可抵抗化學處理,例如以無機酸及/或有機溶劑 所進行之處理。最佳地,此圍體及/或此諸可關閉開口係由 金屬所製成。 此圍體包括至少一個入口及至少一個出口,其被分別 配置在收集器手段之各側上。在一實施例中,此入口較佳 地被連接至一沉積站,而此出口則被連接至一真空泵系 統。較佳地,此入口被連接至一 PECVD或LPCVD沉積或 —疊合機模組,而此模...組較佳地係用於沉積ZnO、Si或 Si 0X。在另一實施例中,此入口及此出口被配置在分別鄰 近圍體之頂部及底部處。在另一實施例中,此圍體包括一 單一入口及一單一出口。此圍體之入口及出口可具有適當 -8 - 201121638 之截面與直徑,其將取決於該PECVD或LPCVD系統之輸 出量,或在另外之用途中將取決於一太陽能模組疊合機之 輸出量。 在另一實施例中,熱阱裝置被安裝在真空泵系統內且 較佳地位於一真空助力器與一後援預真空泵之間,如同第 1圖中所示者。此熱阱裝置之效率係取決於許多參數,亦 即溫度、表面控制式反應用之大表面積的存在、反應物之 駐留時間、壓力等。在一藉由將熱阱安置在位於一由助力 器與後援預真空泵所組成之典型真空泵系統中之多個泵間 所形成的具體總成中,在此熱阱中之壓力分佈可被影響以 便獲得較高之壓力,藉此增加反應物(DEZ與較佳地氧) 在此熱阱中之駐留時間,以致使得可以增加在後援預真空 泵之前移除反應物之效率。 此圍體包括至少一個加熱手段,較佳地包括兩個加熱 手段。在本發明之多個具體實施例中,此加熱手段係至少 一個內部加熱手段及/或至少一個外部加熱手段。最佳地, 此圍體包括一個內部加熱手段及/或一個外部加熱手段,其 可用一可靠之溫度控制。內部加熱手段被配置在此圍體 內,而外部加熱手段則被配置在此圍體之外側。在本發明 之多個具體實施例中,加熱手段Λ可傳遞2 l〇〇°C及S 600°C,較佳2250°C及S500°C之溫度。在又一較佳實施 例中,此內部加熱手段係一電加熱桿,更佳地係一被安置 在此圍體中之一中心軸內的加熱元件。較佳地,此內部加
S -9 - .201121638 熱手段被配置在此圍體之中心處。在另一較佳實施例中, 加熱手段遍佈大約此圍體的全長,亦即自此圍體之頂部至 底部,或從幾乎頂部至幾乎底部。更佳地,此內部加熱手 段被連接至可關閉開口,且可連同此可關閉開口之蓋一起 被移除。在另一實例中,外部加熱手段係一加熱套。較佳 地,此外部加熱手段被以隔熱帶纏繞。更佳地,此圍體被 至少部分地隔熱以避免能量損失。最佳地,此圍體被完全 地隔熱。在另一較佳實施例中,外加熱總成可爲一感應加 熱器,其在無實體接觸下將局部性之熱供應至收集器手段。 在本發明之多個具體實施例中,內部加熱手段被直接 熱耦接至或較佳地間接熱耦接至收集器手段。如以下將討 論的,此收集器手段可被配置在一諸如盤體或籠體之保持 器中。加熱手段可與此保持器相接觸,且因此被間接地熱 耦接至該包含於此保持器內之收集器手段。 本發明之熱阱另包括至少一個收集器手段,其用於將 反應副產物(包含未經反應之試劑)轉變成被沉積在此收 集器手段及/或圔體之內表面上之產物,其中此收集器手段 被配置在此圍體內介於入口與出口之間。 如上所討論者,收集器手段被配置在圍體內並介於此 圍體的入口與出口之間。依此方式,經由該入.口流入熱阱 內並經由該出口離開此熱阱之氣體被強迫通過該收集器手 段。在一較佳實施例中,此收集器手段覆蓋熱阱之整個截 面,亦即此收集器手段完全地覆蓋圍體之截面區域。此具
S -10- ,201121638 有優點在於:流過熱阱之氣體必須接觸收集器手段,且將 不被允許在此收集器周圍流動。 在一較佳之實施例中,經轉變之反應副產物(例如Zn 及/或ZnO )之沉積主要發生在收集器手段上,且一較小程 度發生在圍體之內側表面上。此具有優點在於:並不需要 或較少需要經常性地對此圍體進行清潔工作,例如藉用無 機酸及/或有機溶劑予以清洗。如以下將討論的,此收集器 手段可較快速地且較容易地被移除/更換。因此,在一較佳 之實施例中,圍體之內表面相較於收集器手段之表面係較 小。在一更佳之實施例中,此圍體之內表面藉避開在此圔 體內不受收集器手段所覆蓋之諸空間而被保持爲小的。例 如,圍體之容積的 3 5 0 %,$ 6 0 %,$ 7 0 %,$ 8 0 %,2 9 0 % 可被一個以上的收集器手段所覆蓋。 根據本發明,收集器手段較佳地係一種陶瓷材料。在 下文中,此類呈波浪狀之收集器手段(例如由Saint-Gobain Norpro所開發之Wavepak®)被稱爲「·陶瓷」。在一較佳之 實施例中,此陶瓷具有一爲及S75mm之直徑長度。 在又一具體實施例中,此陶瓷之幾何形狀提供一大表面, 且同時不會展現一強烈流動阻力。較佳地,此陶瓷具有波 浪形狀,但亦可爲具有類似化學成分與催化性質之丸珠 體、圓球體、擠製圓柱體、或擠製矩形圓柱體。在本發明 之多個更佳實施例中’此陶瓷之幾何形狀係一波浪狀結 構,因爲這些結構可在表面積與流動阻力之間提供一良好 的比率。
S -11- 201121638 在本發明之一實施例中,熱阱之嵌入件之催化表面的 配置係藉利用如第2圖中所示之擋板設計來提供一較長之 氣體路徑而被最佳化》此熱阱在制止活性物種進入真空泵 之效率方面可藉利用大量之較大表面積催化劑材料而被進 —步改善,而此材料同時當作可供沉積反應產物(如ZnO ) 用的催化劑與表面積》此材料可被置於一大孔網體上,而 此大孔篩網可對氣流提供低阻力並用以將熱從具有加熱元 件之熱阱表面處傳遞至該催化劑材料;或者此材料本身以 —適當之方位被置於熱阱圍體中。此催化劑材料典型地係 成各種不同比例之Si02/Al203。一典型之催化劑元件可如 以下所示來自Saint-GobainNorPro公司者。此外,諸反應 物在熱阱中之駐留時間可藉由增加熱阱中之氣體路徑而被 增加,從而影響反應之可行性。這可藉由利用多個位於熱 阱中之擋板而達成,而此諸擋板不只增加了反應物用來流 動越過熱阱之路徑的長度,且還藉阻撓此氣體流動而造成 擾動。有助於增加諸活性物種碰撞率之擾動與增加駐留時 間之氣體路徑的組合效應將導致較高之熱阱效率。 在另一具體實施例中,收集器手段係由一當作可供轉 變反應副產物用之催化劑的材料所製成。在另一具體實施 例中,收集器手段係由一陶瓷材料所製成。在本發明之一 較佳實施例中,此收集器手段包括矽,二氧化矽(Si02)、 鋁、氧化鋁(Al2〇3 )、銅、氧化鈉(Na20 )或其等之組合。 更佳地,此收集器手段係由一種含2 5 Owt% (重量百分比)
S -12- .201121638 且 S85wt% 之 Si02 及/或 2 15wt% 且 g50wt% 之 Al2〇3 的陶 瓷材料所製成。甚至更佳地,此收集器手段係由一種含$ 65wt% 且 S 70wt% 之 Si02 或 2 23wt% 且 S 28wt% 之 Al2〇3 或 其等組合之陶瓷材料所製成。最佳地,此收集器係由一種 含 2 65wt% 且 S 70wt% 之 Si02 及 2 23wt% 且 S 28wt% 之 A1203的陶瓷材料所製成。此收集器手段之材料另可包含些 許其他材料。 在本發明之另一具體實施例中,此收集器手段呈現一 大的空隙比,其被定義爲:在一混合物中之空隙體積除以 諸固態物體積。此具有之優點在於:在此系統中之壓力降 會被制止。 在另一具體實施例中,此收集器手段呈現一在高溫之 物理及化學穩定性,較佳地在2100°c且S600°c之溫度 處;更佳地在2250°C且S500°C之溫度處。 在另一具體實施例中,此收集器手段呈現一在化學的 活性及/或具催化之表面。 在一較佳實施例中,本發明之熱阱裝置被使用來從一 ZnO沉積處理移除反應副產物。因此,收集器手段呈現一 可供轉變ZnO沉積處理之反應副產物用之催化表面。在一 工業ZnO沉積處理中,大量之產自於DEZ及水(H20 )的 反應副產物從化學汽相沉積模組處經由一熱阱與真空泵總 成被泵啷至排氣處理系統。此未經反應成分(DEZ、 Η20) 傾向於在後處理室總成內反應。已被觀察到,此反應經由 -13- 201121638 水與一表面之互動而被表面控制並進行。兩影 主要參數是表面積與其溫度》藉由對ZnO化學 間之分子軌道硏究而被證實之反應機制被示如 等人在 J. Colloid and Interface Science 之『二 之相互作用』165: 367-385,1994): Zn(C2H5)24ZnC2H5 + *C2H5 Ζη〇2Η5~^Zn + *C2H5 H2〇 + *C2H5-^C2H6 + *〇H Zn(C2H5)2 + .OH ->Zn(OH)C2H5 + .C2H5 Zn(OH)C2H5 + *〇H^Zn(OH)2 + *C2H5 •OH + *C2H5—>〇2Η5〇Η 2·〇2Η5—>C4Hi〇 在以上所提議之機制中之速率限制反應係 自由基之解離(步驟3)。一較高能量(亦即較 致一較快之反應,且亦影響DEZ分解成乙基鋅 率。 在另一較佳實施例中,收集器手段係以上 氧化矽(Si〇2)陶瓷’其可包括額外的成分’較1 Cu及/或Na20。意外地發現到’此類陶瓷可被 以轉變及收集來自被排氣之沉積處理氣體( ZnOCVD處理)之副產物。因此’使用本發明 將可減少或避免在一真空栗系統的管路及真空 或氧化沉積物的累積。 響反應率之 汽相沉積期 下(見Vigil 氧化矽表面 (起始)· 1 (起始)-2 (鏈增長)-3 (鏈增長)-4 (鏈增長)-5 (終止)-6 (終止)-7 水轉變爲諸 高溫度)導 自由基之速 所界定之二 [圭係 A 1 2 〇 3、 有效地使用 較佳地來自 之熱阱裝置 泵中之金屬 -14- 201121638 二氧化矽與未經反應處理氣體之交互作用將被說明於 下。在二氧化矽表面的水之優先吸收會降低將水解離成氫 氧(-OH)自由基及氫(H+)自由基所需之能量,其可顯 著地加速反應速率。一氫氧自由基維持被鍵結於二氧化矽 表面,並作用爲一使DEZ反應之活性中心(反應機制中之 第4步驟)。由於在陶瓷材料中_〇H自由基於二氧化矽上 的局部存在以及Ζη-0鍵結之強鍵結強度,使得鋅維持被鍵 結至該表面。結果乙烷(C2H6)被釋出。 根據本發明使用含陶瓷的二氧化矽當作收集手段以便 轉變並捕獲反應副產物之方式,涉及有效率地使用高溫與 —在將Zn建立在陶瓷表面的期間對氣體造成最小流動阻 力之構造。同時,此陶瓷具有一足夠大之空隙體積以便調 節Zn或ZnO沉積物。 在另一較佳實施例中,收集器手段被配置成使得流動 阻力被保持在最小的樣子。如熟習技術之人士將顯然可察 的,此定向將取決於所用收集器手段的幾何形狀。對於一 已給定之收集器手段幾何形狀而言,其最佳定向將可輕易 地由熟習技術之人士所決定。 在本發明之一具體實施例中,此收集器手段係可更換 的,亦即其並非該圍體的一部分。此具有之優點在於:此 收集器手段在飽和後可隨即被輕易且快速地移除及/或更 換。維護時間將轉而被減少,且真空泵系統之運轉時間將 增加。除此之外,因爲沒有例如涉及機械性縮緊之傳統式
S -15- 201121638 熱阱被使用,所以不再需要耗時的清理步驟。在多個較佳 實施例中,此收集器手段被包含或配置在一保持器中。因 此,此保持器用來達成儲藏此收集器手段之目的。更佳地, 此保持器可輕易地被從圍體移除。 此保持器可具有任何幾何形狀及/或結構,其適於儲存 收集器手段且允許氣體流經此保持器與此收集器手段。在 多個較佳實施例中,此保持器係一盤體或籠體。在另一較 佳實施例中,此保持器具有21個開口。在另一較佳實施 例中,此保持器係一籠體,且若干當作入口之開口與若干 當作出口之開口被配置成彼此相對。此外,諸開口具有一 直徑,其係小於所用陶瓷材料之直徑/大小。較佳地,此保 持器係由任何可承受2 25 0°C與S 500°C溫度之適當材料 所製成。較佳地,此保持器可抵抗化學處理,例如以無機 酸及/或有機溶劑所進行之處理。最佳地,此保持器係由例 如鋁或不銹鋼等之金屬所製成。在另一#佳實施例中,此 保持器具有一幾乎與圍體之內徑相同之直徑,以便使此保 持器可在不留太大空間於此保持器與此圍體內表面間之下 被嵌入此圍體。 ..._一盤體可被理解爲一種在底部具有若干開口之淺碗 體,其具有比所用陶瓷材料小之直徑。較佳地,此一盤體 係由鋁所製成。一籠體可由金屬線網所製成,其具有若干 直徑小於所用九體直徑之開口。
S -16- 201121638 在另一實施例中,其存在一個以上之收集器手段。較 佳地,其存在22或23個收集器手段。在一較佳之實施例 中,這些收集器手段係不同幾何形狀之陶瓷材料。此有利 地造成不同程度之反應副產物處理效率。在多個較佳實施 例中,多種不同幾何形狀之陶瓷材料被混合在至少一個保 持器中及/或被分開在至少兩個保持器中。 在一較佳實施中,22個(更佳地23)盤體被疊置在 圍體內。甚至更佳地,此疊置係藉由若干分隔件而被達成。 此具有之優點在於:一單一盤體可使兩個(較佳地係不同 的)收集器手段相互分離。 在又一實施例中,熱阱裝置額外地包括至少一個用於 測量溫度之手段(例如一熱感應器或一熱阻器),較佳地係 在此熱阱裝置中之多個不同點處。此具有優點在於:此熱 阱裝置內之溫度條件可被監視並維持在所要位準處。較佳 地,此用於測量溫度之手段被配置以測量圍體內的溫度或 此圍體之外表面的溫度。更佳地,此手段被配置以測量一 收集器手段/一保持器之溫度。甚至更佳地,此用於測量溫 度之手段被用以控制諸加熱手段中之至少一者。 在一個實施例中,真空泵系統是一成直線的真空泵系 統。在另一實施例中,此真空泵系統或其處理模組被用於 汽相沉積。在又一實施例中,此汽相沉積係選擇自由PVC、 CVD、LPCVD或PECVD所組成之群組。較佳地,此汽相 沉積係LPCVD或PECVD。在又一實施例中,此汽相沉積 -17- .201121638 是矽、矽氧化物或金屬氧化物,更佳地係氧化鋅(ZnO ) 或氧化銦錫(ITO )之沉積物。最佳地’此汽相沉積係 ZnO-LPCVD或ZnO-PECVD。在另外的實施例中,此汽相 沉積被使用於薄膜之生產,較佳地係薄膜電晶體(TFTs ) 或透明導電氧化物(TCO )層。 在本發明之另外實施例中,抽空手段係一排氣泵、一 真空泵、一預真空泵、一旋轉葉栗、一魯氏(roots)泵、 一高真空泵、一油擴散泵、一低溫泵或一渦輪分子泵。在 一較佳之實施例中,此抽空手段係一後援預真空泵及一機 械助力器;最佳地係一可達到《10H l〇_“mbar壓力之真 空系統。 真空泵系統、抽空手段、及此真空泵系統之熱阱裝置 需要被連接(較佳地被成直線連接),其中此熱阱裝置被配 置在諸真空泵之一者的上游處,但是在沉積處理模組之下 游處。「上游」與「下游」術語意指由基質沉積處理模組處 所抽出之處理氣體的流動方向。換言之,熱阱裝置被配置 在該沉積處理模組與抽空手段之間,且此沉積處理模組中 所用之處理氣體被該抽空手段所抽空,其中該處理氣體首 先流經根據本發明所實施之熱阱裝置,爲了在反應副產物 進入後援預真空泵內之前先將其等移除。 本發明之真空泵系統之諸組件的連接可藉任何已被熟 悉技能之人士所習知之適當手段而被達成,而此諸手段係 可讓處理氣體從沉積處理模組處被抽出並被引領通過熱阱 £ -18- 201121638 裝置以便最終達到抽空手段者。較佳地,此真空泵系統之 諸組件係藉由管路、排氣管線及/或分支管路而被連接。 在一個實施例中,21、22或23個沉積處理模組被 一單一抽空手段所抽空,亦即所有的處理模組被連接至一 單一抽空手段。21、22或23個處理模組被22個抽空 手段所抽空,亦即每一個單一處理模組可被個抽空手 段所抽空,及/或2 2個處理模組可被2 1個抽空手段所抽 空。 此真空泵系統之諸組件間的連接可另包括多個閥。此 外,在真空泵系統中之熱阱連接可包括多個閥,其可在需 要時能輕易地拆卸並更換熱阱。閥可被有利地用以使此真 空泵系統之諸組件相互分開。介於此真空泵系統與沉積處 理模組間之諸閥將可在不影響真空程度下分離此系統。在 —較佳實施例中,21個閥被安置在熱阱裝置之上游處, 且21個閥被安置在此熱阱裝置之下游處。因此,該至少 一個位於此熱阱裝置之上游處的閥可將此熱阱裝置從真空 助力器上分離,且該至少一個位於此熱阱裝置之下游處的 閥可將此熱阱裝置從後援預真空泵分離。在又一實施例 中,(諸)熱阱裝置可位在沉積處理模組與真空栗系統之 間。介於熱阱與處理模組之間的連接可包括多個閥。在一 較佳實施例中,個閥被安置在此熱阱裝置之上游處, 且21個閥被安置在此熱阱裝置之下游處。
S -19- 201121638 在又一實施例中,此閥被額外地連接至另一閥(較佳 係較小),其有利地可用於此真空泵系統之一軟泵。 在另一具體實施例中,此真空泵系統另包括至少一個 用以測量系統壓力之手段,較佳係一壓力變換器。此用於 測量系統壓力之手段可被配置在此真空泵系統內之任何適 當位置處。 在另一具體實施例中,此真空泵系統另包括至少—個 排氣管線,其被配置成一旦被諸閥所隔絕時可將(諸)熱阱 裝置排氣至一大氣壓力水平。在一 '較佳實施例中,此排氣 V ·'- 係用一種惰性氣體(例如氮)來實現。 在另一具體實施例中,此真空泵系統另包括至少一個 排氣管線,其被配置成可藉嵌入一氣體壓載物而將抽空手 段排氣。因此,經由此排氣管線之手段,此抽空手段內部 之壓力可被控制,且由於熱阱裝置內之沉積(此將減小諸 管線之不受限的截面)所導致之不穩定傳導的情形可被|| 切到。在一較佳實施例中,此氣體壓載物係一惰性氣體, 例如氮。 一串列式真空泵系統之較佳實施例係 TCO 1200 LPCVD沉積系統(可由OerlikonSolar處取得),其中可使 用本發明之熱阱裝置。 在另一較佳實施例中,此真空泵系統包括12個根據 本發明所實施之熱阱裝置,其中至少兩者被平行地連接並 因此被定位於至少兩個分支中。換言之,至少兩個平行之
-20- S 201121638 熱阱裝置被定位在不同之分支中,且可用 阱裝置之同時,第二熱阱裝置接替第一熱 且此真空泵系統可被保持在可運轉狀態。 成平行模式之諸熱阱的配置將使得真空泵 運轉,此顯著地簡化維護,增加了抽空手 並改善了整個生產系統之運轉時間與成本 由於此諸平行熱阱裝置之相對較小體 泵系統從第一分支到第二分支的轉換可在 內完成》較佳地,此轉換可在一比此系統 的時間內被實現。因此,在一甚至更佳之 換可在不中斷真空泵系統之作業(較佳地 執行。 在一更佳之實施例中,對每一個存在 中之第一熱阱裝置而言,存在著一相對 置,其與第一熱阱裝置成平行地連接。在 施例中,21個或每一個處理模組被連接至 接之熱阱裝置,或者兩個或更多個熱阱可 連接在此真空泵系統中的助力器與前級泵 至更佳之實施例中,(諸)CVD處理模組在 平行連接之熱阱裝置或一包括個成平 熱阱裝置的真空泵系統。最佳地,這/這当 係 ZnO-LPCVD 或 ZnO-PECVD 模組。 -2 1 - 於維護一第一熱 阱裝置之功能, 有利地,此一由 系統可不中斷地 段之使用壽命, 效益* 積,使得此真空 一非常短的時間 之運送時間更短 實施例中,此轉 沉積作業)下被 於此真空泵系統 應之第二熱阱裝 —甚至更佳之實 :2 1對成平行連 被平行串列式地 之間。在另一甚 :連接至2 1對成 行串列式連接之 CVD處理模組
S .201121638 在另一較佳實施例中,此真空泵系統包括兩個以上之 分支,其各具有一熱阱裝置。因此兩個以上之熱阱裝置係 以一「旋轉體」模式設計被連接,此將可改善運轉時間對 維護比。此具有之優點在於:一自動化之故障安全操作可 例如藉用以監視各別排氣管線中之系統壓力的壓力轉換器 而被實現,並經由一控制迴路將可在多個不同之分支間自 動轉換。若存在兩個以上之分支,則此系統將可在如果一 熱阱裝置在其預期使用壽命到達之前故障的情形下作用。 除此之外,如果此熱阱裝置具有一ρ動化自行清潔循環, 則其可在被隔絕之同時執行該循環,且諸位於不同分支上 之熱阱裝置將係可運轉的。因此,一具有22個分支(各 包括至少一個熱阱裝置)之真空泵系統將有利地結合高可 利用性與低維.修及低停工時間。 在本發明之又一實施例中,熱阱裝置藉由一將諸反應 氣體引入此熱阱內之氣體入口而被修正。小量之高度反應 性氣體(如氧)可用一種純的型式或者如同空氣地被引入 介於催化劑材料之容積間的熱阱內,以便可例如配合二乙 鋅(DEZ[(C2H2)2Zn])來提供高反應速率。甚至在大氣條 件下,這兩物種劇烈地反應以便產生氧化鋅(ZnO );顯著 較快於DEZ-水反應。氧的存在加速DEZ分子的解離而產 生Zn與乙基自由基,其可輕易與氧反應以產生氧化鋅及/ 或鋅。氧亦增加水的解離速度,而此水則可與DEZ反應。 連同可輕易經由熱阱中之內與外加熱元件而達到之較高溫
S -22- .201121638 度(較佳地>4〇〇°C),增大之反應速度與熱阱效率也將一 起可達到。 在本發明之又一實施例中,顯示了該熱阱在助力器與 後援預真空泵之間的水平配置。反應性氣體在一呈垂直配 置之熱阱中的傳統式流動受到來自較短駐留時間與受限大 小等缺點之苦。將熱阱水平地安裝在助力器與預真空泵之 間將提供可增加熱阱大小並減小整個系統壓力降的彈性, 因爲ZnO與Zn的沉積將下沉在此熱阱的下方表面上。 在另一態樣中,本發明係有關一種用於移除一真空處 理系統中之反應副產物的方法,其中包括反應副產物之處 理氣體被強制通過至少一個根據本發明所實施之熱阱裝 置。 在一較佳之實施例中,此熱阱裝置被連接至真空泵系 統之上游處,或根據本發明被串列式地安置在機械助力器 與後援預真空泵之間。 在另一較佳之實施例中’此熱阱裝置被加熱至$25 0°C 與S 5 00°C之溫度。 在另一較佳實施例中’此真空泵系統包括至少兩個熱 阱裝置,其被平行地連接且被連續地運轉,亦即此系統不 會被停機進行維護。 本發明之這些及其他態樣將可經由以下配合多個實施 例所做之說明顯而易知。
S -23- •201121638 【實施方式】 第1圖顯示本熱阱在真空助力器與後援預真空泵之間 的較佳定位,以便可選擇地將一尤其是氧之反應性氣體或 是空氣直接地引入此熱阱。 第2圖顯示一被使用於此熱阱中之較佳擋板結構,此 將由於較長之氣體路徑與增大之流動擾動而導致高的熱阱 效率。 第3圖顯示通過使用根據本發明所實施之擋板結構之 熱阱的氣體流。具體而言,此熱阱之氣體入口被連接至TCO 室或一助力器,而氣體出口則被連接至真空泵系統或後援 預真空泵。此熱阱之一水平或垂直配置係可能的。 第4圖顯示水平流動模式,其中此熱阱被配置在助力 器與後援預真空泵之間,其包含較佳擋.板結構以及用於將 反應性氣體注入此熱阱內之較佳氣體入口。應理解的是, 此擋板結構及此氣體入口將被認爲是較佳之特徵。 .第5圖顯示根據本發明所實施之熱阱裝置1之一較佳 實施例。此熱阱裝置包括一圍體2,其具有一包括一入口 3 及一出口 5之圓筒管形狀。此入口藉由一第一管路4而被 連接至一ZnO-LPCVD處理模組,而此出口則藉由一第二管 路6而被連接至一真空泵系統。 此外,此熱阱裝置包括一加熱手段7,其係一被實施 成一電熱桿8之內部加熱手段,而此桿被配置在圍體的中 心並遍佈在大約此圍體的全長上。 -24- 201121638 此熱阱裝置另包括四個被實施成盤體11且藉由若干 分隔件之手段而被疊置之保持器10。此諸盤體被實施成具 有圓形截面之淺碗體,並係由鋁所製成。諸盤體被安裝成 使其與圍體2之內壁齊平》諸盤體包括若干個可讓氣體流 通於其之開口,但此諸開口具有一比收集器手段小之直 徑。此外,諸盤體係與加熱桿8成直接熱接觸。 此熱阱裝置另包括兩個可關閉開口 16,其係定位成彼 此相對向。此底部可關閉開口被實施成一管口蓋板17。頂 部可關閉開口 18則被實施成一被連接至該加熱桿之管口 蓋板。 此熱阱裝置另外包括兩種成波狀或九狀形式之收集器 手段13,其被包含於兩個分開之盤體11內。第一種類型 14具有一成擠製圓筒狀之幾何形狀,第二種類型15具有 —呈五環(pentaring )之幾何形狀(如圖所示)。諸具有 此五環幾何形狀15之九體分別地具有19mm之直徑與 9.5mm之長度。兩收集器手段13係由一種當作一可供轉變 反應副產物用之催化劑的材料所製成。他們係由一種陶瓷 材料所製,而此材料包括2 65wt%與$ 70wt%的Si02以及 $ 23wt%與$ 28wt%的 Al2〇3。如此收集器手段例如可由 Saint Gob ain Norpo獲得。因爲此諸收集器手段係與諸盤體 11 (其與加熱桿8直接熱接觸)成直接熱接觸,故此諸收 集器手段於是與加熱桿成間接熱接觸。 -25- 201121638 在真空泵系統運轉期間,此熱阱裝置利用加熱桿與外 部加熱套8而被加熱至一大約爲4 5 0°C之溫度。—在此熱 阱中之不同點處之溫度測量被執行,以便確定此熱阱內部 之溫度條件已達到所要程度。 當此真空泵被持久運轉時,處理氣體從ZnO-LPCVD處 理模組處被抽出並拉至此真空泵。當此熱阱裝置被配置在 此ZnO-LPCVD處理模組與此真空泵之間時,處理氣體被強 制分別通過此熱阱裝置(如諸箭頭所示)、諸盤體之開口 與諸收集器手段。 在此諸收集器手段13飽和之後,此真空泵系統被停止 並在頂部18處被開啓,以便可移除諸盤體與諸被配置於其 上之九體。之後,此熱阱裝置之殼體被用無機酸予以清潔/ 清洗,以便移除沉積產物。底部可關閉開口 17被開啓以便 排出該無機酸。 第6圖顯示一根據本發明所實施之熱阱裝置1之另一 較佳實施例。此熱阱裝置包括一圍體2,其具有一包括一 入口 3及一出口 5之圓筒管形狀。此圍體被實施成如同一 將一處理模組連接至一真空泵之管路的擴寬部分。因此, 此入口藉由一第一管路4之手段而被連接至ZnO-LPCVD處 理模組,而此出口則藉由一第二管路6而被連接至一渦輪 分子真空泵。 此外,此熱阱裝置包括兩個加熱手段7。一內部加熱 手段被實施成一電熱桿8,其被配置在圍體的中心並遍佈 £ -26- 201121638 在大約此圍體的全長上。此外,一外部加熱手段9 其遍佈在大約此圍體的全長上,亦即自此圍體之幾 至其幾乎底部。此外部加熱手段被實施成一加熱套 圍體係熱隔絕以便防止能量流失。 此熱阱裝置另包括一保持器10,其被實施成一 所製成之籠體12。此籠體被安裝成使其與圍體(2)之 平。在此線網中之諸開口具有一比收集器手段小之 此外,諸籠體係與加熱桿8成直接熱接觸。 此熱阱裝置另包括一可關閉開口 16。此可關閉 位於該圍體之底部處。 此熱阱裝置另外包括若干成九狀形式之收集 13,其被包含於籠體12。在此所示之收集器手段具 五環之幾何形狀15,且分別地具有25 mm之直徑與 之長度。此諸收集器手段13係由一種當作一可供轉 副產物用之催化劑的材料所製成。他們係由一種陶 所製成,而此材料包括2 65wt%與S 70wt%的Si02
23wt%與S 28wt%的Α1203 »如此收集器手段例如可E
Gob ain No rpo獲得。因爲此諸收集器手段係與籠體 與加熱桿8直接熱接觸)成直接熱接觸,故此諸收 段於是與此加熱桿成.間接熱接觸。 在真空泵系統運轉期間,此熱阱裝置從內部利 桿8及外部加熱套9而被加熱至一大約爲4 5 0°C之 一在此熱阱裝置中之不同點處之溫度測量被執行, 定此熱阱內部之溫度條件已達到所要程度。 -27- 係存在 乎頂部 ,且此 由線網 內壁齊 直徑。 開口係 器手段 有一呈 12.5mm 變反應 瓷材料 以及2 Saint 12 (其 集器手 用加熱 溫度。 以便確 201121638 當此真空泵被持久運轉時,處理氣體從ZnO_LPCVD處 理模組處被抽出並拉至此真空泵。當此熱阱裝置被配置在 此ZnO-LPCVD處理模組與此真空泵之間時,處理氣體被強 制分別地通過此熱阱裝置(如諸箭頭所示)、此籠體之開 口、與諸收集器手段。 第7圖顯示收集器手段之較佳幾何形狀。第7A圖顯示 一五環結構,而第7B圖顯示一蜂巢結構。兩種幾何形狀均 提供一在表面與流動阻力間之良好比例。 第8圖顯示一根據本發明所實施之真空泵系統3 1的較 佳實施例。一處理模組(PM) 19經由諸分支管路20 ' 21 與諸閥22-27而被連接至預真空泵28。此外,根據本發明 所實施之第一及第二熱阱裝置HHT1及HT2)係存在且被 平行地連接。第一分支管線20之每分支兩主閥22、24及 第二分支管線21之兩主閥23、25被用以將諸熱阱裝置與 位於兩側之處理模組及泵相分離。諸位於此泵之側邊上的 主閥24、25具有較小之額外閥26、27,以便可用於此系 統之一軟泵。 此外,壓力轉換器(PT) 28被用以監視系統壓力。除 此之外,一位於各分支管路上之排氣管線29、30係存在以 便藉N1使諸熱阱裝置1在其已分別被閥22、24與23、25 所隔絕後可排氣至大氣壓力水平。另一排氣管線30被用於 藉增加N2來控制此真空泵管路中之壓力。 £ -28· .201121638 操作方法包括:開啓諸閥22、24以便將該處理模組及 該等包含附屬設備之排氣管線抽氣。諸閥23、25、27維持 關閉以便使整個泵配置具有一經控制之傳導性。如前所述 的,沉積作業係利用熱阱裝置HT1被運轉以收集流出之處 理氣體。 在操作期間,位於第二分支21中之熱阱裝置HT2可 被維修、替換或清潔,因爲其將由於諸已關閉之隔絕閥23、 25、27而得維持在隔絕狀態。一旦經維修並安裝後,其等 將可達到可操作狀況。此包括抽氣順序、烘烤及/或冷卻處 理等等。 當熱阱HT1飽和且需維修時,一轉成第二分支21之 切換可藉開啓諸隔絕閥23、25及關閉諸隔絕閥22、24、 26而被執行。此時,第一分支20之熱阱裝置被隔絕且可 被維修,而第二分支21則被用以運轉此系統》 【圖式簡單說明】 在諸圖式中: 第1圖顯示位於一尤爲垂直流動型式之真空泵系統內 之熱阱的較佳位置。 第2圖顯示多個位於此熱阱內之嵌入件(收集器手段) 的較佳結構。 第3圖顯示當在一垂直式熱阱配置中使用多個擋板時 之氣體流動。 第4圖顯示位於助力器與後援預真空泵間之熱讲的水 平配置。 -29- 201121638 第5圖顯示根據本發明所實施之熱阱的另一個較佳實 施例。 第6圖顯示根據本發明所實施之熱阱的另一個較佳實 施例。 第7圖顯示一收集器手段之多個較佳幾何形狀。 第8圖顯示根據本發明所實施之一真空泵系統的一較 佳實施例。 【主要元件符號說明】 1 熱阱裝置 2 圍體 3 入口 4 第一管路 5 出口 6 第二管路 7 加熱手段. 8 電熱桿 9 外部加熱手段 10 保持器 11 盤體 12 籠體 13 收集器手段 14/15 幾何形狀 16 可關閉開口
S -30- 201121638 17 管口蓋板 18 可關閉開口 19 處理模組 20/2 1 分支管路 22-27 閥 28 預真空泵/壓力轉換器 29/3 0 排氣管線 3 1 真空泵系統
S -3 1-

Claims (1)

  1. .201121638 七、申請專利範圍: 1·一種汽相沉積熱阱裝置(η,其包括: 一圍體(2),其包括:至少一個入口(3)及至少一 個出口(5);至少一個加熱手段(7);及 至少一個收集器手段(13),其用於將反應副產物轉 變成被沉積在該收集器手段及/或該圍體之內表面上之產 物,其中該收集器手段被配置在該圍體內介於該入口與 該出口之間,其特徵在於:該收集器手段包括一擋板結 構。 2. —種汽相沉積熱阱裝置(1),其包括: 一圍體(2),其包括至少一個入口(3)及至少一個 出口(5);至少一個加熱手段(7);及 至少一個收集器手段(13),其用於將反應副產物轉 變成被沉積在該收集器手段及/或該圍體之內表面上之產 物,其中該收集器手段被配置在該圍體內介於該入口與 該出口之間,其特徵在於:該熱阱包含一分離之氣體入 口,其係用於引入有助於增加反應效率之反應氣體。 3. 如申請專利範圍第1或2項之熱阱裝置,其中該圍體額 外地包括至少一個可關閉之開口( 1 6 )。 4. 如申請專利範圍第1或2項之熱阱裝置,其包括一被熱 耦接至該收集器手段之中心內部加熱手段(8),並可選 擇地包括一外部加熱手段(9)。 £ -32- 201121638 5. 如申請專利範圍第1或2項之熱阱裝置,其中該收集器 手段包括:矽、二氧化矽、鋁、氧化鋁、銅、氧化鈉或 其等之組合。 6. 如申請專利範圍第1或2項之熱阱裝置,其中該收集器 手段被包含在或被配置在至少一個保持器(10)中。 7. 如申請專利範圍第6項之熱阱裝置,其中存在>2之收集 器手段,且其中這些收集器手段係一陶瓷材料,其係由 被自由地配置,或被配置在一如籠體、盤體、網體等之 支撐體上,或被配置在多個擋板之間的不同化學合成物 & /或不同幾何型式所構成。 8·—種真空泵系統(31),其包括:至少一個處理模組(19), 其被_接於至少一個抽空手段(28):及至少一個如申請 專利範圍第1至8項之熱阱裝置(1),其中該熱阱裝置 被配置成該抽空手段(28)位於一真空助力器與—後援 預真空泵之間的一部分。 甲請專利範圍第9項之真空栗系統,其中存在之熱 @_置,而該等熱阱裝置中之至少2被平行地連接。 1G· 一锺用於移除在一如申請專利範圍第9或10項之真空 胃埋系統中的反應副產物,其中包括該等反應副產物之 處理氣體被強制通過該至少一個.熱阱裝置。 -33-
TW99140344A 2009-11-25 2010-11-23 Hot-trap assembly TW201121638A (en)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE200910055638 DE102009055638A1 (de) 2009-11-25 2009-11-25 Heißfallenanordnung

Publications (1)

Publication Number Publication Date
TW201121638A true TW201121638A (en) 2011-07-01

Family

ID=43413711

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
TW99140344A TW201121638A (en) 2009-11-25 2010-11-23 Hot-trap assembly

Country Status (3)

Country Link
DE (1) DE102009055638A1 (zh)
TW (1) TW201121638A (zh)
WO (1) WO2011072932A1 (zh)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN112430805B (zh) * 2020-11-23 2022-12-30 中国科学院光电技术研究所 一种原子层沉积镀膜机的真空控制系统

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4358472A (en) 1978-06-16 1982-11-09 Optical Coating Laboratory, Inc. Multi-layer coating method
JPH0665724A (ja) 1992-05-20 1994-03-08 Yoichi Murayama インラインプラズマ蒸着装置
US6099649A (en) * 1997-12-23 2000-08-08 Applied Materials, Inc. Chemical vapor deposition hot-trap for unreacted precursor conversion and effluent removal
JP2000256856A (ja) * 1999-03-11 2000-09-19 Tokyo Electron Ltd 処理装置及び処理装置用真空排気システム及び減圧cvd装置及び減圧cvd装置用真空排気システム及びトラップ装置
US8679287B2 (en) * 2005-05-23 2014-03-25 Mks Instruments, Inc. Method and apparatus for preventing ALD reactants from damaging vacuum pumps
US20060276049A1 (en) * 2005-06-06 2006-12-07 Bailey Christopher M High efficiency trap for deposition process
CN102124140B (zh) * 2008-08-19 2014-07-09 东电电子太阳能股份公司
WO2010020446A1 (en) 2008-08-19 2010-02-25 Oerlikon Solar Ip Ag, Trübbach Trap

Also Published As

Publication number Publication date
WO2011072932A9 (en) 2011-08-18
DE102009055638A1 (de) 2011-05-26
WO2011072932A1 (en) 2011-06-23

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5819683A (en) Trap apparatus
US8512452B2 (en) Hot-trap assembly for trapping unreacted gas by-products
US6099649A (en) Chemical vapor deposition hot-trap for unreacted precursor conversion and effluent removal
WO2007119700A1 (ja) 触媒体化学気相成長装置
CN1910739A (zh) 处理装置
CN1918324A (zh) 用于沉积室的处理套件设计
CN101148755A (zh) 衬底处理装置
CN102534569A (zh) 一种常压辉光等离子体增强原子层沉积装置
CN104395498A (zh) 使用快速热处理的原子层沉积
TW201122151A (en) Hot wire chemical vapor deposition (CVD) inline coating tool
CN101208779B (zh) 用于沉积工艺的高效阱
TW201024547A (en) Method for cleaning a vacuum pump
CN109609930A (zh) 原子层沉积设备及其清洗方法
TW201121638A (en) Hot-trap assembly
KR102113293B1 (ko) 배기 가스 처리 장치
WO2011079699A1 (zh) 去除工艺过程中产生的薄膜污染物的方法及pecvd系统
CN101687131A (zh) 集成式抽真空器
WO2010016852A1 (en) Chemical vapor deposition method and system for semiconductor devices
WO2010020446A1 (en) Trap
TW201008672A (en) Remote plasma cleaning method and apparatus for applying said method
TW201015738A (en) Atomic layer deposition apparatus
KR100555385B1 (ko) 반도체장비의 부산물 포집장치
KR102256549B1 (ko) 멀티스테이지 냉각을 갖는 장치
CN102560418A (zh) 化学气相沉积装置
TW201017720A (en) Precursor recycling