TW201119084A - Light-emitting device and the manufacturing method thereof - Google Patents
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- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title description 4
- 239000010410 layer Substances 0.000 claims abstract description 133
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 claims abstract description 52
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims abstract description 41
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 23
- 239000012790 adhesive layer Substances 0.000 claims abstract description 13
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 14
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims description 14
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 14
- XLOMVQKBTHCTTD-UHFFFAOYSA-N Zinc monoxide Chemical compound [Zn]=O XLOMVQKBTHCTTD-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 13
- 238000003892 spreading Methods 0.000 claims description 12
- 239000012535 impurity Substances 0.000 claims description 10
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 claims description 7
- 239000011787 zinc oxide Substances 0.000 claims description 6
- 229910005540 GaP Inorganic materials 0.000 claims description 5
- HZXMRANICFIONG-UHFFFAOYSA-N gallium phosphide Chemical compound [Ga]#P HZXMRANICFIONG-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 5
- 229910052718 tin Inorganic materials 0.000 claims description 5
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 229910052738 indium Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 229910020220 Pb—Sn Inorganic materials 0.000 claims description 2
- PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N aluminium oxide Inorganic materials [O-2].[O-2].[O-2].[Al+3].[Al+3] PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 2
- -1 si〇Nx Chemical class 0.000 claims description 2
- 239000004593 Epoxy Substances 0.000 claims 1
- 239000004020 conductor Substances 0.000 claims 1
- 229910003460 diamond Inorganic materials 0.000 claims 1
- 239000010432 diamond Substances 0.000 claims 1
- 239000011229 interlayer Substances 0.000 claims 1
- 210000003205 muscle Anatomy 0.000 claims 1
- 150000004767 nitrides Chemical class 0.000 claims 1
- 239000002861 polymer material Substances 0.000 claims 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 11
- AMGQUBHHOARCQH-UHFFFAOYSA-N indium;oxotin Chemical compound [In].[Sn]=O AMGQUBHHOARCQH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 7
- BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N Silver Chemical compound [Ag] BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 239000004332 silver Substances 0.000 description 5
- 229910004205 SiNX Inorganic materials 0.000 description 4
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 4
- 229910052749 magnesium Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000011777 magnesium Substances 0.000 description 4
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 4
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 4
- MZLGASXMSKOWSE-UHFFFAOYSA-N tantalum nitride Chemical compound [Ta]#N MZLGASXMSKOWSE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- GYHNNYVSQQEPJS-UHFFFAOYSA-N Gallium Chemical compound [Ga] GYHNNYVSQQEPJS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 3
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910052733 gallium Inorganic materials 0.000 description 3
- 229910052725 zinc Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000011701 zinc Substances 0.000 description 3
- FYYHWMGAXLPEAU-UHFFFAOYSA-N Magnesium Chemical compound [Mg] FYYHWMGAXLPEAU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- GWEVSGVZZGPLCZ-UHFFFAOYSA-N Titan oxide Chemical compound O=[Ti]=O GWEVSGVZZGPLCZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- RNQKDQAVIXDKAG-UHFFFAOYSA-N aluminum gallium Chemical compound [Al].[Ga] RNQKDQAVIXDKAG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000005566 electron beam evaporation Methods 0.000 description 2
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 2
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 2
- 238000004943 liquid phase epitaxy Methods 0.000 description 2
- 230000003647 oxidation Effects 0.000 description 2
- 238000007254 oxidation reaction Methods 0.000 description 2
- 238000002207 thermal evaporation Methods 0.000 description 2
- OGIDPMRJRNCKJF-UHFFFAOYSA-N titanium oxide Inorganic materials [Ti]=O OGIDPMRJRNCKJF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- JBRZTFJDHDCESZ-UHFFFAOYSA-N AsGa Chemical compound [As]#[Ga] JBRZTFJDHDCESZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 241000219112 Cucumis Species 0.000 description 1
- 235000015510 Cucumis melo subsp melo Nutrition 0.000 description 1
- 229910000530 Gallium indium arsenide Inorganic materials 0.000 description 1
- KJTLSVCANCCWHF-UHFFFAOYSA-N Ruthenium Chemical compound [Ru] KJTLSVCANCCWHF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910003087 TiOx Inorganic materials 0.000 description 1
- ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N Tin Chemical compound [Sn] ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- HCHKCACWOHOZIP-UHFFFAOYSA-N Zinc Chemical compound [Zn] HCHKCACWOHOZIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- FJJCIZWZNKZHII-UHFFFAOYSA-N [4,6-bis(cyanoamino)-1,3,5-triazin-2-yl]cyanamide Chemical compound N#CNC1=NC(NC#N)=NC(NC#N)=N1 FJJCIZWZNKZHII-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 1
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052797 bismuth Inorganic materials 0.000 description 1
- JCXGWMGPZLAOME-UHFFFAOYSA-N bismuth atom Chemical compound [Bi] JCXGWMGPZLAOME-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 1
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000000407 epitaxy Methods 0.000 description 1
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000017525 heat dissipation Effects 0.000 description 1
- APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N indium atom Chemical compound [In] APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000007774 longterm Effects 0.000 description 1
- 239000007769 metal material Substances 0.000 description 1
- 238000002488 metal-organic chemical vapour deposition Methods 0.000 description 1
- 238000001451 molecular beam epitaxy Methods 0.000 description 1
- 125000002524 organometallic group Chemical group 0.000 description 1
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 1
- 238000005498 polishing Methods 0.000 description 1
- 238000007517 polishing process Methods 0.000 description 1
- 229910052703 rhodium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010948 rhodium Substances 0.000 description 1
- MHOVAHRLVXNVSD-UHFFFAOYSA-N rhodium atom Chemical compound [Rh] MHOVAHRLVXNVSD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052707 ruthenium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052814 silicon oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- HLLICFJUWSZHRJ-UHFFFAOYSA-N tioxidazole Chemical compound CCCOC1=CC=C2N=C(NC(=O)OC)SC2=C1 HLLICFJUWSZHRJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10H—INORGANIC LIGHT-EMITTING SEMICONDUCTOR DEVICES HAVING POTENTIAL BARRIERS
- H10H20/00—Individual inorganic light-emitting semiconductor devices having potential barriers, e.g. light-emitting diodes [LED]
- H10H20/80—Constructional details
- H10H20/81—Bodies
- H10H20/819—Bodies characterised by their shape, e.g. curved or truncated substrates
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- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10H—INORGANIC LIGHT-EMITTING SEMICONDUCTOR DEVICES HAVING POTENTIAL BARRIERS
- H10H20/00—Individual inorganic light-emitting semiconductor devices having potential barriers, e.g. light-emitting diodes [LED]
- H10H20/01—Manufacture or treatment
- H10H20/011—Manufacture or treatment of bodies, e.g. forming semiconductor layers
- H10H20/018—Bonding of wafers
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- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10H—INORGANIC LIGHT-EMITTING SEMICONDUCTOR DEVICES HAVING POTENTIAL BARRIERS
- H10H20/00—Individual inorganic light-emitting semiconductor devices having potential barriers, e.g. light-emitting diodes [LED]
- H10H20/80—Constructional details
- H10H20/81—Bodies
- H10H20/819—Bodies characterised by their shape, e.g. curved or truncated substrates
- H10H20/82—Roughened surfaces, e.g. at the interface between epitaxial layers
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Description
201119084 五、本案若有化學式時,請揭示最能顯示發明特徵的化學式: 無0 六、發明說明: 【發明所屬之技術領域】 本發明揭露一種發光元件及其製造方法,特別是關於一種包 含一電流擴散層之發光元件及其製造方法。 t 【先前技術】 發光元件例如發光二極體,包含一能夠放射出特定波 長光線的活性層,其可為同質結構(Homostructure)、單 異質結構(Single Heterostructure;SH)、雙異質結構 (Double Heterostructure ; DH)、或是多重量子井(Multiple
Quantum Well; MQW)等半導體化合物所堆疊而成的磊晶 結構。由於發光二極體具有低耗電量、低散熱量、操作 φ 哥命長、耐撞擊、體積小、反應速度快、以及可發出穩 定波長的色光等良好光電特性,因此常應用於家電、儀 表之指示燈、光電產品之應用光源、以及光電通訊領域 等。 【發明内容】 本發明提出一種發光元件,包含一電流擴散層及一半導體疊 層’其中電流擴散層具有一被蝕刻區域及一未被蝕刻區 域,且此一區域間有一水平向度差異值,其值占電流擴 201119084 散層厚度之20%至70%。 本發明提出一種發光元件,包含一電流擴散層及一半導體疊 層,其中電流擴散層厚度至少為4μιη。 本發明提出一種發光元件,包含一電流擴散層及一半導體疊 層,其中電流擴散層的能隙大於半導體疊層中任一層的 能隙。 本發明提出一種發光元件,包含一電流擴散層及一半導體疊 層,其中電流擴散層掺雜雜質且其掺雜濃度至少為 0 5xl017/cm3。 本發明提出一種發光元件,包含一電流擴散層及一半導體疊 層,其中電流擴散層材料可為磷化鎵或氧化鋅。 本發明提出一種發光元件,包含一電流擴散層及一半導體疊 層,其中電流擴散層掺雜之雜質可為鎂或鋅。 本發明提出一種發光元件,包含一中間層位於電流擴 散層與半導體疊層之間,其中中間層掺雜雜質且其掺雜 濃度小於電流擴散層掺雜濃度的三分之一。 本發明提出一種發光元件,包含一中間層位於電流擴 散層與半導體疊層之間,其中中間層材料可為磷化鎵或氧化 鋅。 本發明提出一種發光元件,包含一中間層位於電流擴 散層與半導體疊層之間,其中中間層掺雜之雜質可為鎂 或辞。 【實施方式】 本發明係關於一種發光元件及其製造方法,包含一電流擴 201119084 散層,具有一被蝕刻區域及一未被蝕刻區域,且此二區域 間有一水平南度差異值,其值佔電流擴散層厚度之2〇% 至70%。為了使本發明之敘述更加詳盡與完備,可配合第】圖至 第8圖之圖式,參照下列描述。 第1至4圖為本發明實施例一之發光元件結構側視 圖。請參照第1圖,發光元件1〇〇例如一發光二極體, 包含一成長基板1(Π ’其材料可為砷化鎵(GaAs)。接著, 於成長基板101上形成一半導體疊層10。半導體疊層1〇 係藉由一磊晶製程所形成,例如有機金屬氣相沉積磊晶 法(MOCVD)、液相磊晶法(LPE)或分子束磊晶法(MBE) 等磊晶製程。此半導體疊層丨0至少包含一第一電性半導 體層103,例如為一 n型磷化紹鎵銦 二活性層104,例如為一磷化鋁鎵銦Α1χ(}〜Ιη(】_χ y)p層所 形成的多重量子井結構;以及一第二電性半導體層1〇5, 例如為一 P型磷化鋁鎵銦AlxGMn(i”)p層,其中 OSyy’ 0^x+ys卜另外,本實施例之活性 層104可由例如同質結構、單異質結構、雙異質結構、 或是單一量子井結構所堆疊而成。 請參照第2圖。接著,於半導體疊層1〇上形成一中 間層106及一電流擴散層1〇7。於本實施例中,中間層 106的材料可為罐化鎵(Gap)或氧化鋅(zn〇),其中 可掺雜雜質例如為Mg、Zn,且其掺雜濃度為Dr電流 擴散層107的材料可為磷化鎵(GaP)或氧化鋅(Zn〇), 其中可掺雜雜質例如為Mg、Zn’且其接雜雜質濃度為 〇2。於本實施例中,電流擴散層厚度至少為4μιη, 201119084 且電/瓜擴散層107的能隙(energy band gap)大於半導體 疊層10之任一層材料的能隙,D2g5xl017/Cm3, D2/3。並可選擇性地於電流擴散層1〇7上以蝕刻製程形成 特疋圖案使其表面形成一粗縫面。為了增加後續與 久基板黏接的效果,可於電流擴散層107之上另形二L 第一透明黏接層108A。 板,其材料可為破、^\$板^ j光絕緣基 # μ。楚 ★哨監貝石鐘酸鈮、乳化鎵、氧化链笠 S ΑΪΝ5,'ί^ 參照第4圖’接著’將如第2圖所示具有第—透明黏 層108Α之結構與如第3圖所示具有第二透明黏接層職 結構面對面直接接合,且第一透明黏接層1〇8Α與第二透明 黏接層麵形成為-透明黏接層1〇8。再藉由姓刻製程 化學機械研磨製料方式移除成長基板⑽未㈤。成長 基板移除後’裸露出半導體疊層1〇之第一電性半導體層; 103的表面,並可選擇性地於第一電性半導體層1〇3丄 以蝕刻製程形成特定圖案’使其表面形成一粗糙面(圖未 示)。 如第4圖所示,由上而下姓刻半導體疊層1〇、中間 層106及部分電流擴散層1〇7以露出電流擴散層ι〇7表面 S ’使得電μ擴散層107形成具有一被餘刻區域&及一未被 蝕刻區域S。且此二區域間有一水平高度差異值d,其 值佔電流擴散層厚度之20%至70%。 201119084 接著’利用熱蒸鍍(Thermal Evaporation)、電子束蒸 鍍(E_beam)或離子濺鍍(Sputtering)等方法,於第一電^ 半導體層103上形成一第一電極112,並於電流擴散層1〇7 表面s上形成一第二電極113,以形成發光元件1〇〇。當 發光件100操作時,將第一電極112和第二電極^ 3 與一電源供應系統(圖未示)電性連接,於第二電極113 注入一電流,此電流藉由被蝕刻區域S2橫向擴散至整個 電流擴散層107,並經由中間層106、第二電性半導體層 • ι〇5傳遞至整個活性層丨⑽,因而改善電流侷限的問題, 發光元件的發光效率也隨之增加。 以下僅就本發明實施例二與實施例一之差異處進行 說明,相似處則不再贅述。如第2圖所示,於電流擴散 層107上以蝕刻製程形成特定圖案,使其表面形成一粗 糙面後,為了增加後續與永久基板黏接的效果,可於電 流擴散層107之上另形成一第一金屬黏接層111A,如第 5圖所示。再如第6圖所示,於一永久基板11〇上形成 φ 一反射層109及一第二金屬黏接層111B。其中永久基板 11〇為不透光絕緣基板,例如··陶瓷基板。反射層1〇9 可為金屬材料,如紹、金、翻、辞、銀、錄、錯、姻、 錫及其合金,或金屬和氧化物組合而成,如氧化銦錫/ 銀(ITO/Ag)、氧化銦錫/氧化銘/銀(IT〇/A1〇x/Ag)、氧化 銦錫/氧化鈦/氧化;5夕(IT〇/Ti〇x/Si〇x)、氧化鈦/氧化石夕/ 銘(TiOx/SiOx/Al)、氧化銦錫/氮化矽 /鋁(IT〇/SiNx/A1)、 氧化銦錫/氮化矽/銀(IT0/SiNx/Ag)、氧化銦錫/氮化矽/ 氧化鋁/鋁(ITO/SiNx/A12〇3/A1)、或氧化銦錫/氮化矽/氧 201119084 化鋁/銀(IT〇/SiNx/Al2〇3/Ag)。第一金屬黏接層 111A及第二 金屬黏接層111B的材料可以為Au、Au_Sn、Sn、In、Au-Ag及 Pb-Sn 〇 參照第7圖,接著’將如第5圖所示具有第一金屬黏接 層111A之結構與如第6圖所示具有第二金屬黏接層1116之 結構面對面直接接合,且第一金屬黏接層1UA與第二金屬 黏接層111B形成為一金屬黏接層m。再藉由蝕刻製程或 化學機械研磨製程等方式移除成長基板(圖未示)。成長 • 基板移除後,裸露出半導體疊層10之第一電性半導體層 103的表面,並可選擇性地於該第一電性半導體層上以 钱刻製程形成特定圖案,使其表面形成一粗縫面。 如第7圖所示’由上而下蝕刻半導體疊層1〇、中間 層106及部分電流擴散層107以露出電流擴散層107表面 S’使得電流擴散層107形成具有一被蝕刻區域心及一未被 姓刻區域S〗’且此二區域間有一水平高度差異值d,其 值佔電流擴散層厚度之20%至70%。 _ 接著,利用熱蒸鍍(Thermal Evaporation)、電子束蒸鍍(E_beam) 或離子賴(Sputtering)等方法,於第一電性半導體層⑽上形成一 第-電極112,並於電流擴散層1()7表面&上形成 113’以形成發光元件2〇〇。當發光元件2〇〇操作時,將第一 電極m和第二電極113與-電源供應系統(圖未示)電 性連接’於第二電極113注入一電流,此電流藉由被蝕 刻區域S2橫向擴散至整個電流擴散層1〇7,並經由中間 層廳、第二電性半導體層105傳遞至整個活性層104, 因而改善電流侷限的問題’發光元件的發光效率也隨之 201119084 增加。 來昭第8 1¾ ^ 背光模組裝置6GG 示本發明實施例之料模組結構。其中 成的一光源裝㈣元件議或所構 述光源襄置⑽所需之it从—電源供應系統㈣,提供上 听日月iH9圖,其顯示本發明實補之照日繼結構。上述 :裝置雇可以是車燈、街燈、手電筒、路燈、指示燈等。立 中知明裝置700包含:-光源裝置71〇,係由本發明上述之例 的發光元件或所構成;_電源供麵統72(),提供二 =〇所需之電源,·以及-控制元件73〇控制電源輸入光源裝置、 雖然本發明已以較佳實施例揭露如上,然其並非用 以限定本發明,任何本發明所屬技術領域中具有 知識者,在不脫離本發明之精神和範圍内,去 田J作各 之更動與_ ’因此本發明之保魏圍當視後附之 申請專利範圍所界定者為準。 ' 【圖式簡單說明】 ^發明的較佳實施例將於實施方式之說明 以下列圖形做更詳細的說明: 中輔 第1圖至第4圖係描述本發明實施 1〇〇的雀程示意圖。 之發光疋件 第5圖至第7圖係描述本發明實 施例 之發光元件 201119084 200的製程示意圖。 第8圖係描述本發明實施例之背光模組結構。 第9圖係描述本發明實施例之照明裝置結構。 【主要元件符號說明】 10 :半導體疊層 100、200 :發光元件 101 :成長基板 103 :第一電性半導體層 104 :活性層 105 :第二電性半導體層 106 :中間層 107 :電流擴散層 108 :透明黏接層 108A :第一透明黏接層 108B :第二透明黏接層 109 :反射層 110 :永久基板 111 :金屬黏接層 111A :第一金屬黏接層 111B :第二金屬黏接層 112 :第一電極 113 :第二電極 600 :背光模組裝置 610、710 :光源裝置 201119084 620 :光學裝置 630、720 ··電源供應系統 700 :照明裝置 730 :控制元件 S:裸露之電流擴散層表面 S!:電流擴散層未被钱刻區域 s2:電流擴散層被蝕刻區域 d:電流擴散層二區域之水平高度差異值
11
Claims (1)
- 201119084 七、申請專利範圍·· 1. 一種發光元件,至少包含: 一永久基板; 一黏接層位於該永久基板上; 一電流擴散層位於該黏接層上,其係具有一被蝕刻區域 及一未被蝕刻區域,且該二區域間有一水平高度差異值;及 一半導體疊層位於該電流擴散層上; 其中該電流擴散層之該二區域間水平高度差異值佔該電 φ 流擴散層厚度之20%至70%。 2. 如申請專利範圍第1項所述之發光元件,其中更包含 一中間層位於該電流擴散層與該半導體疊層之間。 3. 如申請專利範圍第1項所述之發光元件,其中該永久 基板為透光絕緣基板。 ^ 4.如申請專利範圍第3項所述之發光元件,其中該黏接 層為透明黏接層。 5. 如申請專利範圍第1項所述之發光元件,其中該永久 基板為不透光絕緣基板。 6. 如申請專利範圍第5項所述之發光元件,其中該黏接 層為金屬黏接層。 12 201119084 7. 如申請專利範圍第5項所述之發光元件,其中更包八 一反射層位於該永久基板與該黏接層之間。^ S 8. 如申請專利範圍第i項所述之發光元件, 擴散層掺雜雜質,且其掺雜濃度至少為肌10·如申請專利範圍第2項所述之發光元件,1中 且其掺雜濃度小於該電流擴散層掺雜濃度 申請專利範圍第2項所述之發光元件, 層糝雜之雜質可為Mg或Ζη。 ,、中"中η ^^:第1項所述之發光元件,其中㈣ :第二電性半導體層位於該電流擴散層上; 一,性層位於該第二電性半導體層上.以及 電性層位於該活性層上:其中該第二 性。+導體相電性料同於該第—電性半導體層的電 其中該f流 13·如申請專利範圍第1項所述之發光元件 13 201119084 擴散層能隙大於該半導體疊層各層能隙。 14. 如申請專利範圍第〗項所述之發光元件,其中該電流 擴散層材料可為磷化鎵或氧化鋅。 15. 如申請專利範圍第2項所述之發光元件,其中該中間 層材料可為磷化鎵或氧化鋅。 φ I6.如申請專利範圍第1項所述之發光元件,其中該電流 擴散層其厚度至少為4μιη。 17. 如申請專利範圍第1項所述之發光元件,其中該電流 擴散層之上表面及/或下表面為粗糖面。 18. 如申請專利範圍第4項所述之發光元件,其中該透明 黏接層的材料係選自BCB、Epoxy等高分子材料,或為 Φ 氧化物如 Tl02、Ti2〇5、Ta2〇3、Al2〇3,或氮化物如 si〇Nx、 GaN、A1N ’ 或 diamond。 19. 如申請專利範圍第6項所述之發光元件,其中該金屬 黏接層的材料係選自Au、Au_Sn、Sn、In、Au-Ag及 Pb-Sn。 2〇. —種背光模組裝置包含: 一光源裝置,係由申請專利範圍第1〜19項所述之發光元件 201119084 任選其一所組成; 一光學裝置,置於該光源裝置之出光路徑上;以及 一電源供應系統,提供該光源裝置所需之電源。 21.—種照明裝置包含: 一光源裝置,係由申請專利範圍第1〜19項所述之發光元件 任選其一所組成; 一電源供應系統,係提供該光源裝置所需之電源;以及 ^ 一控制元件’係控制該電源輸入該光源裝置。15
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| TW098139665A TWI436499B (zh) | 2009-11-20 | 2009-11-20 | 發光元件及其製造方法 |
| US12/949,863 US8541789B2 (en) | 2009-11-20 | 2010-11-19 | Light-emitting device with patterned current diffusion layer |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| TW098139665A TWI436499B (zh) | 2009-11-20 | 2009-11-20 | 發光元件及其製造方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| TW201119084A true TW201119084A (en) | 2011-06-01 |
| TWI436499B TWI436499B (zh) | 2014-05-01 |
Family
ID=44061431
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| TW098139665A TWI436499B (zh) | 2009-11-20 | 2009-11-20 | 發光元件及其製造方法 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US8541789B2 (zh) |
| TW (1) | TWI436499B (zh) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| TWI452732B (zh) * | 2012-02-15 | 2014-09-11 | Formosa Epitaxy Inc | Light emitting diode wafers with reflective structures |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US9263255B2 (en) * | 2012-03-19 | 2016-02-16 | Seoul Viosys Co., Ltd. | Method for separating epitaxial layers from growth substrates, and semiconductor device using same |
| CN111525013A (zh) | 2019-02-01 | 2020-08-11 | 隆达电子股份有限公司 | 发光二极管及其制造方法 |
| US12414420B2 (en) * | 2022-02-25 | 2025-09-09 | Boe Technology Group Co., Ltd. | Light emitting device and light emitting apparatus |
Family Cites Families (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP3807638B2 (ja) * | 1997-01-29 | 2006-08-09 | シャープ株式会社 | 半導体発光素子及びその製造方法 |
| GB9912583D0 (en) * | 1999-05-28 | 1999-07-28 | Arima Optoelectronics Corp | A light emitting diode having a two well system with asymmetric tunneling |
| TW518771B (en) * | 2001-09-13 | 2003-01-21 | United Epitaxy Co Ltd | LED and the manufacturing method thereof |
| TW578318B (en) * | 2002-12-31 | 2004-03-01 | United Epitaxy Co Ltd | Light emitting diode and method of making the same |
| JP4393306B2 (ja) * | 2003-10-30 | 2010-01-06 | シャープ株式会社 | 半導体発光素子およびその製造方法並びに半導体装置 |
| KR100931509B1 (ko) | 2006-03-06 | 2009-12-11 | 엘지이노텍 주식회사 | 질화물 반도체 발광소자 및 그 제조방법 |
| TWI389351B (zh) | 2008-03-04 | 2013-03-11 | Epistar Corp | 高效率發光裝置及其製造方法 |
-
2009
- 2009-11-20 TW TW098139665A patent/TWI436499B/zh active
-
2010
- 2010-11-19 US US12/949,863 patent/US8541789B2/en active Active
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| TWI452732B (zh) * | 2012-02-15 | 2014-09-11 | Formosa Epitaxy Inc | Light emitting diode wafers with reflective structures |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US20110121287A1 (en) | 2011-05-26 |
| US8541789B2 (en) | 2013-09-24 |
| TWI436499B (zh) | 2014-05-01 |
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