TW201118387A - Capacitance measurement circuit and method therefor - Google Patents
Capacitance measurement circuit and method therefor Download PDFInfo
- Publication number
- TW201118387A TW201118387A TW098139380A TW98139380A TW201118387A TW 201118387 A TW201118387 A TW 201118387A TW 098139380 A TW098139380 A TW 098139380A TW 98139380 A TW98139380 A TW 98139380A TW 201118387 A TW201118387 A TW 201118387A
- Authority
- TW
- Taiwan
- Prior art keywords
- input
- operational amplifier
- reference voltage
- voltage
- capacitor
- Prior art date
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K17/00—Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking
- H03K17/94—Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking characterised by the way in which the control signals are generated
- H03K17/96—Touch switches
- H03K17/962—Capacitive touch switches
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K2217/00—Indexing scheme related to electronic switching or gating, i.e. not by contact-making or -breaking covered by H03K17/00
- H03K2217/94—Indexing scheme related to electronic switching or gating, i.e. not by contact-making or -breaking covered by H03K17/00 characterised by the way in which the control signal is generated
- H03K2217/96—Touch switches
- H03K2217/9607—Capacitive touch switches
- H03K2217/96071—Capacitive touch switches characterised by the detection principle
- H03K2217/960725—Charge-transfer
Landscapes
- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
Description
201118387 TW5552PA ‘ ‘ 六、發明說明: 【發明所屬之技術領域】 本發明是有關於一種電容值測量電路與其方法,且特 別有關於一種利用轉換單元而不需額外耦合電容之電容 值測量電路與其方法。 【先前技術】 傳統上,多半以機械式開關來實現使用者控制介面。 但,傳統機械式裝置容易壞損。目前,已發展出觸控式開 關。觸控式開關例如是電容式開關等。 為了提升使用上的便利性,目前已研發出的觸控面板 (touch panel)或顯示觸控面板(同時具有顯示與觸控的功 能)可接受使用者的輸入、點選等操作。觸控面板或顯示觸 控面板可應用於各樣電子裝置當中,例如行動電話中。如 此,可讓使用者直接在觸控面板或顯示觸控面板上點選畫 面來進行操作,藉此提供更為便捷且人性化的操作模式。 觸控面板或顯示觸控面板有數種,電容式觸控面板,電容 式顯示觸控面板係屬其中。 當使用者操作電容式觸控面板、電容式顯示觸控面 板、或電容式開關時,其内部的待測電容的電容值會隨使 用者操作而發生變化。故而,如果能偵測待測電容的電容 值與其變化,即可偵測(感覺)使用者的操作。然而,如何 設計出可有效地偵測待測電容之電容值與其變化之電容 值測量電路,以提升電容式觸控面板、電容式顯示觸控面 板、或電容式開關之性能乃為業界不斷致力的方向之一。 然而,現有電容值測量電路除轉換單元外,更需要耦 201118387 • i 合電容(coupling capacitor),導致電路面積不易縮小且電 路成本不易縮減。 【發明内容】 本發明之一例有關於一種電容值測量電路與其方 法,其不需要耦合電容,縮小電路面積及降低電路成本。 本發明之一範例提出一種電容值測量電路,包括:一 參考電容,具有一第一端與一第二端,該第一端選擇性連 接至一第一參考電壓或一第二參考電壓;一待測電容,具 有一第一端與一第二端,該第一端選擇性連接至該第一參 • 考電壓或該第二參考電壓;一操作放大器,具有一第一輸 入端、一第二輸入端與一輸出端,該第一輸入端連接至該 參考電容之該第二端與該待測電容之該第二端,該第二輸 入端連接至一第三參考電壓;一逼近單元,具有一輸入端 與一輸出端,該輸入端連接至該操作放大器之該輸出端; 以及一轉換單元,具有一輸入端與一輸出端,該輸入端連 接至該逼近單元之該輸出端,且該輸出端直接連接至該操 作放大器之該第一輸入端。該參考電容與該待測電容分別 耦合一第一電荷量與一第二電荷量至該操作放大器之該 第一輸入端,該第一電荷量與該第二電荷量於該操作放大 器之該第一輸入端形成一輸入電壓,該轉換單元直接耦合 一第三電荷量至該操作放大器之該第一輸入端或者該轉 換單元對該操作放大器之該第一輸入端充放電,直到該輸 入電壓趨近於該第三參考電壓。 本發明之另一範例提出一種電容值測量方法,包括: 初始化一操作放大器;選擇性切換一參考電容至一第一參 201118387
TW5552PA 考电[或—第二參考電壓’以耦合-第-電ί… 第—輸人端’其中該操作放 =壓選擇性切換-待測電=第 操作放大心Γί ,以耦合―第二電荷量至該 I 弟;比較該操作敌大器之Π 輸入端之一輸入電壓與該第三參考電壓;° Μ 么士果,用i車痒七』 ,乂及根據該比較 :=、·ΓΓ :直接麵合—第三電荷量至該操作 〜二 &或者以充放電該操作放大写之該 弟輸入端’直到該輸入電壓趨近於該第三苴 中,一連續逼近結果反應該待測電容之該電容值。i ,、 例 為讓本發明之上述内容能更明顯易懂,下文特舉實施 並配合所附圖式’作詳細說明如下: 【實施方式】 請參考第1圖,其顯示根據本發明第—實施例之電容 值測量電路之電路示意圖。如第!圖所示,根據本發明第 一實施例之電容值測量電路100包括:參考電容cR,待 測電容CS’操似大器11G,連續逼近暫存器(Successive Approximation Register,SAR)120,數位類比轉換器 (DAC)130,開關S1、開關S2與開關Sc。此外,'^代 表此電容值測量電路100之寄生電容。暫存器140是選擇 性元件,其可暫存由SAR 120所輸出的數位信號,亦可 輸入參數至SAR 120。 參考電容CR連接於開關S1與操作放大器11〇之反 相輸入端之間。參考電容CR之電容值為已知°。待測電六 CS連接於開關S2與操作放大器11〇之反相輸入端之間, 201118387 • * 1 待測電容CS之電容值為未知,且其電容值可能隨著使用 者之操作(比如按壓)而變化。在本發明其他實施例中,參 考電容CR與待測電容CS則可連接至操作放大器110之 非反相輸入端。 操作放大器110之反相輸入端連接至參考電容CR與 待測電容CS ;其非反相輸入端連接至參考電壓VREF3 ; 其輸出端則連接至SAR 120。SAR 120接收操作放大器 110之類比輸出電壓,並據以輸出數位信號給DAC 130。 DAC 130接收SAR 120所輸出之數位信號,並據以耦合 ® 電荷量至操作放大器110之反相輸入端。 開關S1之一端連接至參考電容CR,其另一端則選 擇性連接至參考電壓VREF1與VREF2之一。原則上,參 考電壓VREF1與VREF2之電壓值不同。開關S2之一端 連接至待測電容CS,其另一端則選擇性連接至參考電壓 VREF1與VREF2之一。開關SC之一端連接至操作放大 器110之反相輸入端,其另一端則連接至操作放大器110 之輸出端(但於本發明其他實施例中,開關SC之另一端則 連接至參考電壓VREF3)。參考電壓VREF1比如可為操作 電壓;參考電壓VREF2比如可為接地電壓。為求設計方 便,參考電壓VREF3比如可為操作電壓或接地電壓,但 本實施例並不受限於此。 現說明本實施例之電容值測量電路100之操作原 理。首先,於初始狀態下,開關S1連接至參考電壓 VREF2 ;開關S2貝q連接至參考電壓VREF1 ;開關SC連 接至第三參考電壓VREF3或操作放大器110之輸出端, 201118387 TW5552PA u · 對該操作放大器之反相輸入端充電或放電至參考電壓 VREF3,此時的操作放大器可視為單增益放大器,其兩個 輸入端電壓與輸出端電壓原則上彼此相等。在底下,VX 皆可同時代表節點與節點電壓。此操作可稱為對該操作放 大器之初始化。詳細地說,對比較器之反相輸入端電壓及 非反相輸入端電壓進行初始化,使兩端電壓相等。當然, 本實施例與其他實施例並不受限於此。此外,本發明的底 下實施例與其他實施例亦進行初始化操作,使得操作放大 器的兩輸入端電壓相等。 接著,於開始測量時,開關S1由參考電壓VREF2 切換至參考電壓VREF1 ;開關S2則由參考電壓VREF1 切換至參考電壓VREF2 ;而開關SC則斷路。由於開關 S1由參考電壓VREF2切換至參考電壓VREF1,透過參 考電容CR之耦合效應,參考電容CR會耦合電荷量QR 至節點VX,其中,電荷量QR如下式(1)所示: QR=(VREF1-VREF2)*CR (1) 相似地,開關S2由參考電壓VREF1切換至參考電 壓VREF2,透過待測電容CS之耦合效應,待測電容CS 會耦合電荷量QS至節點VX,其中,電荷量QS如下式(2) 所示: QS=(VREF2-VREF1)*CS (2) 如果待測電袁CS與參考電容CR之電容值不同,則 VX不等於VREF3。當成電壓比較器的操作放大器110會 比較節點電壓VX與VREF3,並將其電壓差值傳送給SAR 120。根據操作放大器110之類比輸出電壓,SAR 120會 201118387 1 1 逼近/調整其數位輸出信號,並將調整後之數位輸出信號送 至DAC 130。之後,DAC 130會根據SAR 120之數位輸 出信號而直接耦合電荷量QC至操作放大器110之反相輸 入端;或是DAC 130對節點電壓VX進行充放電。特別是, 當參考電容CR的電容值大於待測電容CS時且 VREF1>VREF2,貝VX>VREF3 ;反之亦然。 經由SAR 120的連續逼近,最後將使得節點電壓VX 接近於VREF3。如此,SAR 120之輸出數位信號會反應 待測電容CS與參考電容CR間之差值,以推出得知待測 鲁電容CS之電容值。 更甚者,於本發明其他實施例中,開關S1與S2之 操作方式可改為,於初始狀態下,開關S1連接至參考電 廢VREF1,而開關S2連接至參考電壓VREF2。而於開 始測量時,開關S1由參考電壓VREF1切換至參考電壓 VREF2,而開關S2由參考電壓VREF2切換至參考電壓 VREF1。也就是說,於初始狀態下,開關S1與開關S2 I 連接至不同電壓;於開始測量時,開關S1與開關S2連接 至不同電壓。於開始量測時,切換S1及S2至不同電壓, 以利用此切換來輕合電荷量至節點VX。 DAC 130有多種實施方式。底下將分別介紹之。 第2圖顯示根據本發明第二實施例之電容值測量電 路100A之電路示意圖。如第2圖所示,DAC 130A包括 多個電容C1〜CN與多個開關B1〜BN。該些電容C1〜CN 之電容值分別為2NC、...2C、C,其中N為正整數。而該 些開關B1〜BN分別由控制信號b1〜bN所控制,以使該些 201118387 TW5552PA , e t. 電容C1〜CN連接至參考電壓VREF1或參考電壓VREF2。 DAC 130A比如為二位元陣列電荷重分配式 (binary-array charge-redistribution)DAC。由第 2 圖可以 推出DAC 130A直接耦合至操作放大器之電荷量qc如下 式(3): QC=VREF*(b1*2NC+b2*2N1C+...+bN*C) (3) 其中’當bi=1(i=l〜n)b夺,代表開關由參考電壓VREF2 切換至參考電廢VREF1 ;當bi=-1時’代表開關由參考電 壓VREF1切換至參考電壓VREF2 ;當bi = 〇時,代表開 關之切換狀態不變。於連續逼近後,節點電壓νχ會接近 於0。此時的控制信號bN〜b 1 (由SAR 120所輸出)即可反 應待測電容CS與參考電容CR間之差值,以推出得知待 測電容CS之電容值。 第3圖顯示根據本發明第三實施例之電容值測量電 路100B之電路示意圖。如第3圖所示,DAC 130B包括 多個電阻R1〜RN與多個開關B1〜BN。該些電阻R1〜rn 之電容值分別為2R、4R...2NR,其中N為正整數 。而該 些開關B1〜BN分別由控制信號b 1〜bN所控制,以使該些 電阻R1〜RN連接至參考電壓VREF1或參考電壓 VREF2。此外’於第三實施例中’參考電壓vref3可為 參考電壓VREF1與VREF2之平均值 (VREF3=0.5*(VREF1+VREF2)。 DAC 130B比如為二位元權重電阻式(bjnary weighted resistor)DAC。 亦即,DAC 130B對節點電壓νχ充放電,而使得節 201118387
* TW5552PA 點電壓VX趨近於VREF3。特別是在VREF1>VREF2,當 VX<VREF3(也就是CR<CS)時,DAC 130B對節點電壓 VX充電,使之接近VREF3 ;反之,當VX>VREF3(也就 是CR>CS)時,DAC 130B對節點電壓VX放電,使之至 接近V R E F 3。 於連續逼近後,節點電壓VX會接近於VREF3。此 時的控制信號bN〜b1 (由SAR 120所輸出)即可反應待測電 容CS與參考電容CR間之差值,以推出得知待測電容CS 之電容值。 ® 第4圖顯示根據本發明第四實施例之電容值測量電 路100C之電路示意圖。如第4圖所示,DAC 130C包括 多個定電流對與多個開關B1〜BN。該些定電流對包括:吸 收電流卜丨/2…I/2N·1的定電流源1_1 ' 2__1、…N_1與送 出電流卜丨/2…丨/2n_1的定電流源1_2、2_2、…N_2,其 中N為正整數。該些開關B1〜BN分別由控制信號b1〜bN 所控制’以使節點VX連接至參考電壓VREF1或參考電 φ壓VREF2或淨接。當開關將節點VX連接至定電流源 1_1、2_1、…N一1時,節點νχ會被放電;反之,當開關 將節點VX連接至定電流源、2_2、 N_2時,節點 VX會被充電。 DAC 130C比如為二位元電流式(bjnary current)DAC。由第4圖可以推出DAC 130C耦合至操作 放大裔110之電荷量QC如下式(5): QC=At*(b1*l + b2*(|/2)+...+bN*(,/2N-1)} (4) 其中’ 代表單位時間。當bi = 1時,代表開關連錢 201118387 TW5552PA , . 至電流源1_2、2_2、·.· N_2 ;當bi=-1時,代表開關切換 至電流源1_1、2_1、…N_1 ;當bi=0時,代表開關為浮 接。 亦即,DAC 130C藉由對節點電壓VX之充放電操作 而使得節點電壓VX趨近於VREF3。特別是在 VREF1>VREF2,當 VX<VREF3(也就是 CR<CS)時,DAC 130C對節點電壓VX充電,使之充電至接近VREF3 ;反 之,當VX>VREF3(也就是CR>CS)時,DAC 130C對節 點電壓VX放電,使之放電至接近VREF3。 連續逼近後’節點電壓VX接近於VREF3。控制信 號bN〜b1 (由SAR 120所輸出)反應待測電容與參考電 容CR間之差值,以推出得知待測電容cs之電容值。 综上所述,本發明上述實施例之優點至少在於,由於 不需要額外的耦合電容,故能縮小電路面積及降低電路成 本。 综上所述,雖然本發明已以實施例揭露如上,缺其並 非用以限定本發明。本發明所屬技術領域中具有通常㈣ 者,在不脫離本發明之精神和範圍内,當可作各種之更動 與潤飾。因此,本發明之保護範圍當視^之申請 = 圍所界定者為準。 【圖式簡單說明】 第1圖顯示根據本發明貫施例之電容值測量電路之 電路示意圖。 第2〜4圖分別顯示根據本發明第二至第四實施例之 電容值測量電路之電路示意圖。 201118387 * 1 【主要元件符號說明】 100、100A、100B、100C :電容值測量電路 CR :參考電容 CS :待測電容 CP :寄生電容 S1、S2、SC :開關 110 :操作放大器 120 :連續逼近暫存器 130 :數位類比轉換器 140 :暫存器 C1〜CN :電容 B1〜BN :開關
Claims (1)
- 201118387 TW5552PA * · 七、申請專利範圍: 1. 一種電容值測量電路,包括: 一參考電容,具有一第一端與一第二端,該第一端選 擇性連接至一第一參考電壓或一第二參考電壓; 一待測電容,具有一第一端與一第二端,該第一端選 擇性連接至該第一參考電壓或該第二參考電壓; 一操作放大器,具有一第一輸入端、一第二輸入端與 一輸出端,該第一輸入端連接至該參考電容之該第二端與 該待測電容之該第二端,該第二輸入端連接至一第三參考 電壓; 一逼近單元,具有一輸入端與一輸出端,該輸入端連 接至該操作放大器之該輸出端;以及 一轉換單元,具有一輸入端與一輸出端,該輸入端連 接至該逼近單元之該輸出端,且該輸出端直接連接至該操 作放大器之該第一輸入端; 其中,該參考電容與該待測電容分別耦合一第一電荷 量與一第二電荷量至該操作放大器之該第一輸入端,該第 一電荷量與該第二電荷量於該操作放大器之該第一輸入 端形成一輸入電壓,該轉換單元直接耦合一第三電荷量至 該操作放大器之該第一輸入端或該轉換單元對該操作放 大器之該第一輸入端充放電,直到該操作放大器之該第一 輸入端之該輸入電壓趨近於該第三參考電壓。 2. 如申請專利範圍第1項所述之電容值測量電路, 其中, 如果該待測電容與該參考電容之電容值不同,該操作 14 201118387 * ·ΐνν»:)2ΡΑ· 放大器之該第一輸入端之該輸入電壓不同於該第三參考 值,該操作放大器傳送一輸出電壓給該逼近單元; 根據該操作放大器之該輸出電壓,該逼近單元輸出一 數位輸出信號至該轉換單元; 該轉換單元根據該逼近單元之該數位輸出信號而耦 合該第三電荷量至該操作放大器之該第一輸入端,或者, 該轉換單元根據該逼近單元之該數位輸出信號而充放電 該操作放大器之該第一輸入端之該輸入電壓;以及 該逼近單元進行一連續逼近操作直到該輸入電壓趨 ® 近於該第三參考電壓,該逼近單元之該數位輸出信號反應 該待測電容與該參考電容間之一電容差值,以得知該待測 電容之電容值。 3. 如申請專利範圍第1項所述之電容值測量電路, 更包括: 一第一開關,具有一第一端與一第二端,該第一端連 接至該參考電容之該第一端,該第二端則選擇性連接至該 I 第一參考電壓或該第二參考電壓; 一第二開關,具有一第一端與一第二端,該第一端連 接至該待測電容之該第一端,該第二端則選擇性連接至該 第一參考電壓或該第二參考電壓;以及 一第三開關,具有一第一端與一第二端,該第一端連 接至該操作放大器之該第一輸入端,該第二端則選擇性連 接至該第三參考電壓或該操作放大器之該輸出端。 4. 如申請專利範圍第3項所述之電容值測量電路, 其中,於一初始狀態下, 15 201118387 TW5552PA - · 該第一開關連接至該第二參考電壓; 該第二開關連接至該第一參考電壓; 該第三開關連接該操作放大器之該第一輸入端至該 第三參考電壓或該操作放大器之該輸出端。 5. 如申請專利範圍第4項所述之電容值測量電路, 其中,於開始測量時: 該第一開關由該第二參考電壓切換至該第一參考電 壓,以耦合該第一電荷量至該操作放大器之該第一輸入 端; 該第二開關由該第一參考電壓切換至該第二參考電 壓,以耦合該第二電荷量至該操作放大器之該第一輸入 端;以及 該第三開關斷路。 6. —種電容值測量方法,包括: 初始化一操作放大器; 選擇性切換一參考電容至一第一參考電壓或一第二 參考電壓,以耦合一第一電荷量至該操作放大器之一第一 輸入端,其中該操作放大器之一第二輸入端連接至一第三 參考電壓; 選擇性切換一待測電容至該第一參考電壓或該第二 參考電壓,以耦合一第二電荷量至該操作放大器之該第一 輸入端; 比較該操作放大器之該第一輸入端之一輸入電壓與 該第三參考電壓;以及 根據該比較結果,用連續逼近方式以直接耦合一第三 16 201118387 電荷量至該操作放大哭 作放大^之料-^ 電該操 參考電壓,1中直到該輸入電壓趨近於該第三 六 /、,—連續逼近結果反應該待測電容之該電 其中 7.如申請專利範圍第6項所述之電容值測量方法, ^ 乂果該待測電容與該參考電容之電容值不同,則奸 $之料-輸人端之該輸人電壓不呆 考值,該操作放大器比較並傳送一輸出電壓;參 號;根據該操作放大器之該輸出電壓’輸出一數位輸出信 根據該數位輸出信號_合該第三 放大器之該第一輪人#妷+ 里至》亥知作 輸入端;以ί 或充放電該操作放大器之該第- 參考電進Γ:近 =直到該輪,趨近於該第= 間”電容差值,以得參考電容 於一二申;;專利範圍第6項所述之電容值測量方法, ^初始狀您下,該方法更包括: 云 連接該參考電容至該第二參考 至該第一參考電壓;以及 連接遠相電容 連接騎作放大II之該第_輸人 壓或該操作放大器之一輸出端。 °亥弟二參考電 9.如申請專利範圍第6項所述之 日 其中,於開始測量時,該方法更包括電讀測1方法, η 201118387 TW5552FA . - 切換該參考電容至該第一參考電壓,以耦合該第一電 荷量至該操作放大器之該第一輸入端; 切換該待測電容至該第二參考電壓,以耦合該第二電 荷量至該操作放大器之該第一輸入端;以及 斷路該操作放大器之該第一輸入端於該第三參考電 壓或該操作放大器之該輸出端。18
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
TW098139380A TW201118387A (en) | 2009-11-19 | 2009-11-19 | Capacitance measurement circuit and method therefor |
US12/947,089 US20110115503A1 (en) | 2009-11-19 | 2010-11-16 | Capacitance Measurement Circuit and Method Therefor |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
TW098139380A TW201118387A (en) | 2009-11-19 | 2009-11-19 | Capacitance measurement circuit and method therefor |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
TW201118387A true TW201118387A (en) | 2011-06-01 |
Family
ID=44010850
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
TW098139380A TW201118387A (en) | 2009-11-19 | 2009-11-19 | Capacitance measurement circuit and method therefor |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US20110115503A1 (zh) |
TW (1) | TW201118387A (zh) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN104199581A (zh) * | 2014-08-29 | 2014-12-10 | 上海思立微电子科技有限公司 | 一种基于大ctp、小ctp的电容检测电路和电容检测装置 |
TWI467924B (zh) * | 2011-06-24 | 2015-01-01 | Mediatek Inc | 連續近似暫存器類比對數位轉換器及其轉換方法 |
TWI739722B (zh) * | 2021-04-08 | 2021-09-11 | 瑞昱半導體股份有限公司 | 類比數位轉換器及其操作方法 |
Families Citing this family (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US9176597B2 (en) * | 2012-07-02 | 2015-11-03 | Stmicroelectronics Asia Pacific Pte Ltd | Directional capacitive proximity sensor with bootstrapping |
US9236861B2 (en) | 2012-07-02 | 2016-01-12 | Stmicroelectronics Asia Pacific Pte Ltd | Capacitive proximity sensor with enabled touch detection |
US9164629B2 (en) | 2012-08-06 | 2015-10-20 | Stmicroelectronics Asia Pacific Pte Ltd | Touch screen panel with slide feature |
JP5792399B2 (ja) * | 2012-11-30 | 2015-10-14 | シャープ株式会社 | タッチパネルコントローラ、並びにこれを用いた電子機器 |
US9454272B2 (en) | 2014-05-22 | 2016-09-27 | Stmicroelectronics Asia Pacific Pte Ltd | Touch screen for stylus emitting wireless signals |
CN104316087B (zh) * | 2014-09-30 | 2017-01-18 | 广东合微集成电路技术有限公司 | 一种电容式传感器的测量电路 |
US11525749B2 (en) * | 2018-05-22 | 2022-12-13 | Apple Inc. | Telescopic analog front-end for pressure sensors |
US10284238B1 (en) * | 2018-06-11 | 2019-05-07 | Texas Instruments Incorporated | DC coupled radio frequency modulator |
US11293961B2 (en) * | 2019-03-13 | 2022-04-05 | Aisin Corporation | Capacitance detection device |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4860232A (en) * | 1987-04-22 | 1989-08-22 | Massachusetts Institute Of Technology | Digital technique for precise measurement of variable capacitance |
TWI361280B (en) * | 2008-07-18 | 2012-04-01 | Raydium Semiconductor Corp | Evaluation circuit for capacitance and method thereof |
US7830159B1 (en) * | 2008-10-10 | 2010-11-09 | National Semiconductor Corporation | Capacitor mismatch measurement method for switched capacitor circuits |
TWI391678B (zh) * | 2009-09-30 | 2013-04-01 | Raydium Semiconductor Corp | 電容值測量電路與其方法 |
-
2009
- 2009-11-19 TW TW098139380A patent/TW201118387A/zh unknown
-
2010
- 2010-11-16 US US12/947,089 patent/US20110115503A1/en not_active Abandoned
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
TWI467924B (zh) * | 2011-06-24 | 2015-01-01 | Mediatek Inc | 連續近似暫存器類比對數位轉換器及其轉換方法 |
CN104199581A (zh) * | 2014-08-29 | 2014-12-10 | 上海思立微电子科技有限公司 | 一种基于大ctp、小ctp的电容检测电路和电容检测装置 |
CN104199581B (zh) * | 2014-08-29 | 2017-03-08 | 上海思立微电子科技有限公司 | 一种基于大ctp、小ctp的电容检测电路和电容检测装置 |
TWI739722B (zh) * | 2021-04-08 | 2021-09-11 | 瑞昱半導體股份有限公司 | 類比數位轉換器及其操作方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20110115503A1 (en) | 2011-05-19 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
TW201118387A (en) | Capacitance measurement circuit and method therefor | |
US9091714B2 (en) | Capacitance measurement circuit and method therefor | |
US10641805B2 (en) | Capacitance detection method and capacitance detection apparatus using the same | |
US10788380B2 (en) | Apparatus for detecting capacitance, electronic device and apparatus for detecting force | |
JP5191769B2 (ja) | 容量検出装置及び方法 | |
CN111164558B (zh) | 电容检测电路、触控芯片及电子设备 | |
TW201102668A (en) | Capacitance measurement circuit and method | |
CN109496273B (zh) | 电容检测电路、触摸检测装置和终端设备 | |
CN111600590B (zh) | 电容检测电路和触控芯片 | |
US8344928B2 (en) | Method and apparatus for capacitance sensing | |
US20110068810A1 (en) | Sensing method and driving circuit of capacitive touch screen | |
US20110102061A1 (en) | Touch panel sensing circuit | |
US10324573B2 (en) | Sensing devices for sensing electrical characteristics | |
CN102043096A (zh) | 电容值测量电路与电容值测量方法 | |
CN201541243U (zh) | 一种终端的音量调节装置 | |
TW201131455A (en) | Capacitive touch panel and sensing apparatus thereof | |
WO2006095768A1 (ja) | 容量電圧変換回路、それを用いた入力装置、電子機器、ならびに容量電圧変換方法 | |
CN112313611B (zh) | 一种电容检测电路、电容检测方法、触控芯片以及电子设备 | |
KR20180002039A (ko) | 반도체 장치, 위치 검출 장치 및 반도체 장치의 제어 방법 | |
CN101957698B (zh) | 电容式触控板的对象定位检测器及方法 | |
TWI631347B (zh) | 電容值的量測方法 | |
US8274305B2 (en) | Linear voltage generating device for testing performance of power supplies | |
CN114336997A (zh) | 用于无线电力发射系统外部物体检测感测电路 | |
KR101266812B1 (ko) | 터치 패널의 전하량 감지장치 및 터치 패널의 전하량 감지방법 | |
JP2001027655A (ja) | 容量型センサの信号処理回路 |