201106319 六、發明說明： 【發明所屬之技術領域】 本發明係有關於-種顯示裝置，且特別係有關於具有光感 測裝置來感測周遭光線的顯示裝置及包含此顯示裝置的電子 設備。 【先前技術】 一般顯示裝置，其可應用於車輛導航裝置及行動電話等行 動電子設備，已具有根據周遭光線的亮度來對應調整顯示輝度 的亮度調整功能。例如在日本專利2001-522058號中，其揭示 一顯示系統設有亮度控制器’其根據周遭光感測器所感測出之 周遭光線，來改變顯示器的亮度。藉由這種功能，在白天野外 等明亮的場所，可增加顯示器的亮度；在夜間或屋内等昏暗的 場所，可減少顯示器的亮度。 一般來說’為了感測周遭光線，顯示裝置設有光感測器， 以感測光線，並根據其所接收的受光量來輸出光電流 (Photocurrent)。光電流可經由電流-電壓轉換器或類比_數位轉 換器等信號轉換器，來轉換成電壓或數位脈衝信號，而輸入於 用以控制背光光源的控制器。此控制器可根據所輸入的信號來 調整背光光源的亮度。此種用於光感測的電路例如係揭示於曰 本專利2008-522159號。 然而，設置於顯示裝置上之傳統光感測機構會受到顯示面 板驅動之電性/電磁性的雜訊和電源線的漣波雜訊（Ripple noise) 等影響，而具有檢測精確度不佳的問題。 【發明内容】 201106319 • _因此本發明之一方面係在於提供一種顯示裝置及包含此 ._不裝置的電子設備’因而可消除或減少雜訊對於顯示裝置之 周遭光檢測結果的影響。 . 根據本發明之實施例，本發明之顯示裝置設有光感測裝 置’用以檢測周遭光線。光感測裝i包含光感调】部、參考電壓 產生部及比較部。光感測部係用以產生光感測電壓，用來表示 周遭光線的強度《參考電壓產生部係用以產生預設參考電壓。 比較。卩《又有第一輸入端和第二輸入端，並比較光感測電壓和預 春ex參考電壓’其中第—輸人端係用以輸人光感測電壓，第二輸 入端具有與第一輸入端相反的極性，用以輸入預設參考電壓。 藉由差動輸入結構，雜訊可相互抵消，因而可消除或減少 雜訊對於顯示裝置之周遭光檢測結果的影響。 在一實施例中，此參考電壓產生部與連接於比較部的第一 輸入端的電路具有相同的結構。 藉此，重疊於參考電壓Vref的雜訊成份係相同於重疊於光 感測電壓Vp的雜訊成份，因而可消除共模雜訊（c〇mm〇n_M〇de • Noise)。 較佳地’光感測部包括第一光電二極體，被周遭光線所激 發的光電流係由光電二極體流出，以產生光感測電壓。此時， 參考電壓產生部包括第二光電二極體’其實質相同於第一光電 - 二極體的特性和構造，第二光電二極體係設置於周遭光線無法 照射到的位置，前述預設參考電壓為第二光電二極體的兩端電 壓。 更較佳地，光感測裝置更包含補償單元，用以補償光感測 部由於周遭光線以外的因素所輸出的電流，補償單元包括第三 光電二極體，其實質相同於第一光電二極體的特性和構造，第 201106319 三光電二極體係設置於周遭光線無法照射到的位置，並同向地 串聯於第一光電二極體的陰極。當設有此補償單元時，參考電 壓產生部更包括第四光電二極體，其實質相同於第三光電二極 體的特性和構造，第四光電二極體係設置於周遭光線無法照射 到的位置，並同向地串聯於第二光電二極體的陰極β 在一實施例中，此光感測裝置更包含邏輯電路，其根據比 較部對光感測電壓與預設參考電壓所進行比較的結果，來輸出 脈衝信號’此脈衝信號的存在持續期間係對應於周遭光線的強 度。 較佳地’此比較部包含差動輸入比較器、第一開關及第二 開關。差動輸入比較器具有第一輸入端和第二輸入端，第一開 關係在一重置期間中連接差動輸入比較器的第一輸入端至預 設重置電壓’第二開關係在重置期間中連接差動輸入比較器的 第二輸入端至預設重置電壓。 在一實施例中，此顯示裝置設有影像顯示面板，其包括在 玻璃基板上排列成矩陣狀的複數個像素，光感測裝置係設置於 影像顯示面板的玻璃基板上。 藉由組合此上述的光感測裝置於顯示面板中，可減少設置 光感測裝置的製造作業負擔，以及避免費用的增加。 根據本發明之一實施例的顯示裝置為液晶顯示裝置或有 機發光一極體（Organic Light Emission Diode，OLED)顯示裝 置。 根據本發明之一實施例的顯示裝置係組裝使用於例如行 動電話、手錶、個人數位助理（PDA)、筆記型個人電腦（pc)、 車輛導航系統裝置、行動遊戲機 '或設置於戶外的大型顯示屏 幕等其他的電子設備中。 5 201106319 為了達成上述目的，根據本發明之一實施例，此光感測裝 置包含光感測部、參考電壓產生部及比較部。光感測部係用以 產生光感測電壓，來表示周遭光線的強度。參考電壓產生部係 用以產生預設參考電壓。比較部設有第一輸入端和第二輸入 端’並比較光感測電Μ和預設參考電M，其中第—輸入端係用 以供光感測電壓來輸人，第二輸人端具有與第—輸人端相反的 極性，用以供預設參考電壓來輸入。 因此，藉由本發明可消除或減少雜訊對於周遭光檢測結果 的影響。 【實施方式】 為讓本發明之上述和其他目的、特徵、優點與實施例能更 明顯易懂，本說明書將特舉出一系列實施例來加以說明。但值 得注意的是’此些實施例只係用以說明本發明之實施方式而 非用以限定本發明。 請參照圖卜其顯示依據本發明之一實施例之包含顯示裝 鲁置的電子設備。圖1的電子設倩1〇〇係表示為筆記型個人電 腦亦可為例如行動電話、手錶、個人數位助理（PDA)、筆記 尘個人電腦（PC)、車輛導航系統裝置、行動遊戲機、或設置於 • 戶外的大型顯示屏幕等其他的電子設備。 電子設備議設有顯示裳置10,顯示裝置H)可包括顯示 面板，以顯示影像。顯示裝置10具有感測周遭光線的功能， 例如可根據所感測之光線強度來改變顯示亮度。 請參照圖2’其顯示依據本發明之第一實施例之顯示裝置 的、。構不意圖。圖2的顯不跋置1〇a係例如為穿透式或半穿透 式之液晶顯示裝置’並包括控制部11〇、光感測裝置12〇、背光 201106319 光源130及液晶顯示（LCD)面板140。 控制部110可控制顯示裝置10的各元件’例如，根據光感 測裝置120所得到的感測周遭光線的感測結果，來控制背光光 源130，以調整顯示亮度。 光感測裝置120包括光感測部20、電流補償部22及信號 轉換部24。當光感測部2〇受到光線的照射時，則輸出光電流， 其大小係依據此光線的強度。電流補償部22係用以補償光感 測部20由於周遭光線以外的因素所輸出的電流，此電流例如 為暗電流或由背光光源130所照射的背光所激發的光電流，其 中’暗電流係由溫度等環境因素所引起，而無關於受光與否。 信號轉換部24係將光感測部20所輸出的光電流轉換成數位信 號或脈衝信號等控制部110可處理的信號形式。 背光光源130係設置於顯示面板140的背面，以照射光線 至顯示面板140的各像素，顯示面板140的液晶像素係排列成 矩陣狀。由背光光源130所照射的光線係被控制部11()所控制， 其根據光感測裝置120的信號轉換部24所輸出的數位信號或 脈衝信號來進行控制。 液晶分子係經由電壓來改變其配向，顯示面板14〇可利用 液晶分子的配向改變’而使得背光光源13〇的光線偏極化，以 顯示影像。可代替的是，此顯示裝置1〇亦可為包括有機發光 一極體（Organic Light Emission Diode，OLED)顯示面板的顯 示裝置’此OLED顯示模組配置有矩陣狀的〇LED像素，以取 代液晶顯示面板140。此時，由於〇LED為自發光元件，因而 不需背光光源130。再者，控制部no可改變OLED的驅動電 流，以調整顯示輝度。 光感測裝置120係在製造LCD面板或OLED面板時，例如 201106319 - 使用薄膜電晶體（TFT)技術，來形成於玻璃基板上的區域且為顯 . 不面板的影像非顯示區域上。因此，藉由組合此上述的光感測 装置120於顯示面板中，可減少設置光感測裝置12〇的製造作 業負擔，以及避免費用的增加。 請參照圖3，其顯示依據本發明之第一實施例之光感測裝 置的結構不意圖。亦如圖2所示，光感測裝置120包括光感測 部20、電流補償部22及信號轉換部24。 在本實施例中’光感測部2〇包括光電二極體 • (Ph〇t〇di〇de)3U。光電二極體311具有陰極和陽極，陰極係連 接於仏號轉換部24的輸入端，陽極連接於第一預設電位v丨（例 如接地電位GND)。 在本實施例中，電流補償部22包括光電二極體312。光電 一極體312具有實質相同於光檢測用之光電二極體311的特性 和構造。光電二極體312具有陰極和陽極，其陰極係連接於高 於第一預設電位的第二預設電位V2(例如電源電壓VDD=5 V)， 其陽極連接於光電二極體311的陰極。藉此，補償用的光電二 鲁極體312係同向地串聯於光檢測用的光電二極體311，光電二 極體311與光電二極體312的串聯係配置於第一預設電位vi .與第二預設電位V2之間。 如圖4所示’光電二極體311與光電二極體312係配置於 顯示裝置之顯示面板的玻璃基板上。 請參照圖4,其顯示依據本發明之第一實施例之顯示面板 的剖面示意圖。圖4的顯示面板140包括由上而下依序堆叠設 置的第一偏光板L1、第一玻璃基板L2、液晶層L3、第二破璃 基板L4及第二偏光板L5。顯示面板140可為穿透式或半穿透 式的LCD面板，其背面（亦即最下層）設有背光光源13〇。顯示 201106319 面板140更包括黑色矩陣層（B】ack Matrix) bm，其配置於第— 玻璃基板L2與液晶層L3的接觸面上。黑色矩陣層BM具有遮 斷光線的性質，且大多係以金屬製成。黑色矩陣層BM係在顯 示面板140實際顯示影像的主動（active)區域中形成格狀具有 預設顏色（例如R(紅）、G(綠）及B(藍））的彩色濾光片CF1、CF2 及CF3係形成於黑色矩陣層BM的格狀之間。液晶層L3具有 液晶顯示元件（未繪示）的矩陣配置，液晶顯示元件係依據施加 電壓，而將由背光光源130所發出的背光光線42偏極化。矩 陣狀配置的液晶顯示元件係分別對應於形成在黑色矩陣層bm 之格狀之間的彩色濾光片CF1、CF2及CF3。若施加電壓於特 定的液晶顯示元件，則此特定液晶顯示元件所對應之彩色濾光 片的顏色（亦即R、G或B的其中任一色）可顯示於顯示面板 140 »在其他實施例中，亦可使用具有白色〇LED之矩陣配置 的OLED層來代替液晶層L3 ’此白色OLED係藉由施加預設電 壓來發光的自發光型OLED，此時，可無需設置背光光源13〇。 再者’右使用具有RGB之各種顏色的LED時，亦可無需設置 彩色濾光片CF1、CF2及CF3。 在上述的顯示面板140中，光電二極體311與光電二極體 312係配置於第二玻璃基板L4與液晶層L3的接觸面上。光檢 測用的光電二極體311係受到通過第一偏光板Li及第一玻璃 基板L2入射之外界光線40的照射。光檢測用的光電二極體3 11 係被外界光線40所激發而輸出光電流。補償用的光電二極體 312係配置於第二玻璃基板L4上且為利用黑色矩陣層BM來遮 斷外界光線40的區域上，而不會被外界光線4〇所照射。由於 補償用的光電一極體312具有實質相同於光檢測用之光電二極 體311的特性和構造，因而可感測到光檢測用光電二極體311 201106319 •由於外界光線40以外的因素所輸出的電流，此電流例 &度等環境因素所引起而無關於受光與否的暗電流，戋者^ ' 背光光源130所照射的背光光線42所激發的光電流/ 纟於補償用的光電二極體312具有實f相同於光檢測用之 光電二極體311的特性和構造，在某些環境下兩者所輸出之暗 電流的大小係視為相同。例如，為了簡便說明，在考慮到未言^ 有背光光源130或背光光源130關閉時的情形時，由於補償用 的光電二極體312被黑色矩陣層BM遮斷外界光線4〇,因而不 • 會產生由光線照射所激發的光電流。因此，在這種情形下，補 该用光電二極體312所產生的電流可視為光檢測用光電二極體 311所產生的暗電流。 再者，若可無視於溫度等環境因素所造成的影響，當考慮 設置於顯示面板140上的背光光源130為開啟狀態時，由於補 償用的光電二極體312具有實質相同於光檢測用之光電二極體 311的特性和構造’光電二極體311及312分別因背光光源13〇 的背光光線42之照射而激發的光電流係視為相同的。因此， • 在這種情形下，補償用光電二極體312所產生的電流可視為光 電二極體311因背光光源130之背光光線42之照射而激發的光 電流。 . 請再參照圖3’補償用光電二極體312係同向地串聯於光 檢測用之光電二極體311的陰極側。例如，當光檢測用光電二 極體311中流通有因外界光線40之照射而激發的光電流ip， 以及因溫度等環境因素所引起的暗電流Id時，補償用光電二極 體3 12流通有相同於此暗電流Id的電流《因此，由信號轉換部 24的輸入端流至光電二極體311及312之間的節點的電流為 (Ip+Id)- Id= Ip，其相同於光檢測用光電二極體3 11因外界光線 201106319 4〇之照射而激發的光電流Ip。 信號轉換部24包括比較部30、邏輯電路32、容量cfs的 電容34及容量Cfm的電容36。比較部30係將光感測電壓Vp 與預設的參考電壓Vref進行比較，光感測電壓Vp係藉由光電 二極體311的電流流通，而產生於光電二極體311的陰極端。 邏輯電路32係根據比較部30對光感測電壓Vp與預設的參考 電壓Vref所進行比較的結果，來輸出脈衝信號v〇ut，此脈衝信 號Vout具有對應於周遭光線40之強弱的持續存在期間。此脈 衝信號Vout係提供至圖2所示的控制部110。 比較部30包括反向器（inverter)電路321及開關322。反向 器電路321的輸入端係連接於光電二極體311及312之間的節 點，當光檢測用之光電二極體311之陰極端所出現的光感測電 壓Vp係大於參考電壓Vref時，則反向器電路321輸出低電壓 (亦即Low)，當光感測電壓Vp係小於參考電壓Vref時，則反 向器電路321輸出高電壓（亦即High)。參考電壓Vref係相當於 反向器電路321的閾值電壓vth。例如，當反向器電路321的 上限電源電壓為第二預設電位V2(例如電源電壓VDD=5:V)，下 限電源電壓為第一預設電位V1 (例如接地電壓GND)時，閾值電 壓Vth約為第一預設電位v 1與第二預設電位V2的中間電位 (Vl+V2)/2=(GND+VDD)/2=(0+5)/2=2.5V。開關 322 係設置於反 向器電路321的輸入端與輸出端之間，其回應於重置信號Reset 來進行開關，此重置信號Reset係由控制部11〇來直接地提供， 或者由邏輯電路32來間接地提供。開關322在進行光感測裝 置120之初始化的重置期間中為關閉狀態，以直接地連接反向 器電路321的輸入端與輸出端。 邏輯電路32包括邏輯與（AND)電路331、正反（FUp_F1〇p) 201106319 電路说、邏輯或（0R)電路333及反向器電路334。比較部3〇 的反向器電路321的輸出信號Vc〇n^反轉重置信號-係輸 入至AND電路33卜當兩者皆為聊時，AND電路331的輸 出為H!gh，當至=者為L〇w時，AND電路331的輸出為— 此反轉重置信號“係由控制部11〇來直接地提供，或者由邏 輯電路32來間接地提供，且亦藉由第一電容34來連接於光電 二極體311及312之間的節點。正反電路332 型正反器， 其設定⑻端係連接於娜電路331的輸出端，重置（r)端係連 接於f置信號Reset。正反電路332的非反轉輸出㈣藉由第 二電容36來連接於光電二極體311及312之間的節點，反轉輸 出Q係連接於OR電路333之一侧的輸入端，〇R電路333之另 一側的輸入端係連接於AND電路331的輸出端。當正反電路 332的反轉輸“或娜電路331的輸出之至少一者為哪 時’ 〇R電路333的輸出為卿；當兩者的輸出皆為L〇w時， OR電路333的輸出為L〇w。〇R電路333的輸出端係連接於反 電路334的輸入端，反.向器電路Μ。係將〇R電路333的 輸出進行反轉’以輸出脈衝信號v〇ut，#具有對應於周遭光線 4〇之強弱的持續存在期間。 請參照圖5,以下對上述光感測裝置12〇的動作進行說明。 請再參照圖5,其顯示依據本發明之第一實施例之光感測 裝置之各元件之電壓及信號的時序圖。在圖5中顯示有各種信 號隨時間的變化，此些信號由上至下分別為由控制部Η 〇所提 供的重置信號Reset'在光感測裝置12〇的設定期間及測量期 間令提供至第—電容34的設定電壓Vset、在光感測裝置120 的測量期間中提供至第二電容36的測量電麼Vmeas、在光電二 極體311及312之間的節點所形成的光感測電壓Vp、由比較部 12 201106319 30所輸出的信號Vcom、以及邏輯電路32所輸出的信號（亦即 光感測裝置120所輸出之脈衝信號Vout)。 利用光感測裝置120所進行之周遭光線檢測動作的一周期 係由初始化光感測裝置120的重置期間、消除光感測政置12〇 電路之偏移（Offset)的設定期間、以及檢測周遭光線之強度的測 量期間所構成。在本實施例中，重置信號Reset之開始與結束 之間的期間係作為重置期間，此重置信號Reset之開始至下一 次開始的期間為光感測裝置12〇之周遭光線檢測動作的一周 期。在其他實施例中，重置期間亦可為重置信號Reset之結束 至開始的期間’此時，光感測裝置120之周遭光線檢測動作的 一周期為重置信號Reset之結束至下一次結束的期間。 請再參照圖5，在時間t0時，重置信號Reset係由Low切 換至High ’以開始重置期間。此時，比較部30的開關322被 關閉’而直接地連接反向器電路321的輸入端與輸出端。藉此， 在重置期間中光感測電壓Vp係等於由比較部30所輸出的信號 Vcom，進而等於反向器電路321的閾值電壓vth，亦即參考電 壓 Vref=2.5V。 在時間tl時’重置信號Reset係由High切換至L〇w，為 重置信號Reset之反轉信號的設定電壓Vset係經由第一電容34 k供至光電一極體3 11及3 12之間的節點’而開始設定期間。 例如’設定電壓Vset為電源電壓VDD=5V。在光電二極體311 及312之間的節點係形成VDDxCfs/(Cpd+cfm+cfs)的光感測電 壓Vp’ Cfs為第一電容34的電容量，Cfm為第二電容％的電 容量’ Cpd為在比較部30之輸入端的寄生電容。此時，光感測 電M Vp係大於參考電壓Vref，因此，比較部3〇的輸出信號 Vcom為Low。之後，隨著時間的經過，光感測電壓Vp係具有 13 201106319 △ V/Z\t=Ip/(Cpd+Cfm+Cfs)的傾向，而逐漸減少。 在時間t2時，若光感測電壓Vp達到參考電壓Vref時，比 較部30的輸出信號Vcom係切換為High。藉此，邏輯電路32 的正反電路332的非反轉輸出Q為High，測量電壓Vmeas係 經由第二電容36提供至光電二極體311及312之間的節點，而 開始測量期間。例如，測量電壓Vmeas，亦即正反電路332的 非反轉輸出Q為電源電壓VDD=5V。在光電二極體311及312 之間的節點係形成VDDxCfm/(Cpd+Cfm+Cfs)的光感測電壓 Vp，由於在此時間t2’的光感測電壓Vp係大於參考電壓Vref， 比較部30的輸出信號Vcom係由High切換至Low。正反電路 332的非反轉輸出Q係持續為High。由於正反電路332的反轉 輸出3及AND電路33 1的輸出皆為Low，因而OR電路333的 輸出為Low，邏輯電路32的輸出信號Vout係由Low切換至 High。 之後，隨著時間的經過，光感測電壓Vp係具有△、/△ t=Ip/(Cpd+Cfm+Cfs)的傾向，而逐漸減少。在時間t3時，若光 感測電壓Vp係達到參考電壓Vref時，比較部30的輸出信號 Vcom係切換為High，邏輯電路32的輸出信號Vout係切換為 Low。在重置信號Reset接著由Low到切換為High之間，光感 測電壓Vp係持續地減少。 光檢測用之光電二極體311在受到外界光線40的照射下所 產生之光電流Ip的大小係正比於外界光線40的強度。若外界 光線40愈強，則光檢測用之光電二極體311所流出的光電流 Ip愈大，且根據公式△V/At=Ip/(Cpd+Cfm+Cfs)，光感測電壓 Vp到達參考電壓Vref的時間會愈快。依據上述關係，若外界 光線40愈強，則邏輯電路32的輸出信號Vout為High的期間 201106319 PW愈短，且期間Pw與光電流Ip之間的關係可利用公式pw= VDDxCfm/Ip 來表示。 因此，脈衝信號Vout係由光感測裝置12〇提供至控制部 - 110，控制部110可由脈衝信號v〇ut的脈衝寬度pw得知外界 光線40的強度》 接著，考慮到發生任何光感測裝置120外部的雜訊的情 形，外部雜訊例如為顯示面板驅動之電性/電磁性的雜訊或電源 線的漣波雜訊等。 請參照圖6,其顯示依據本發明之第一實施例之外部雜m 籲 對於光感測裝置之影響的說明示意圖。為了簡便說明，.圖6的 外部雜訊50係表示為固定周期的矩形波。 當發生外部雜訊50時，雜訊成份係被重疊於提供至比較 部30之光感測電壓Vp，比較部3〇的輸入端係連接於光檢測用 光電二極體311的陰極端點、補償用光電二極體312端點以及 反向器電路321的輸入端，而為高阻抗（impedance)節點，因而 容易受到雜訊的影響。由於雜訊重疊於光感測電壓Vp，因而在 比較部30的輸出信號Vcom ’進而在邏輯電路32的輸出信號 籲 Vout上亦出現外部雜訊5〇的影響。 在測量期間中，當光感測電壓Vp到達參考電壓Vref時， 輸出信號Vout係由High切換至Low，此切換的時間點係依據 雜訊的影響而定，實際上為光感測電壓Vp到達參考電壓Vref 時的前後時間點。以圖6所示為例，輸出信號v〇ut係由mgh 切換至Low的時間點實際上係比光感測電壓Vp到達參考電壓 Vref的時間點t3還要晚。再者，原本輸出信號乂〇以在切換一 次至Low之後且到下一次測量期間之前是保持L〇w，如圖6所 不，但由於雜訊的影響，因而再次反覆地進行High/L〇w的切 15 201106319 換。 藉此’當發生顯示面板驅動之電性/電磁性的雜訊或電源線 的漣波雜訊等任何光感測裝置12〇外部的雜訊時，控制部11〇 可能無法得知外界光線4〇的正綠強度。 請參照圖7，其顯示依據本發明之第二實施例之顯示裝置 的結構示意圖。關於光感測裝置的結構，圖7所示的顯示裝置 l〇b係不同於圖2所示的顯示裝置1〇ae顯示裝置1〇b的光感測 裝置220包括光感測部2〇、電流補償部22、信號轉換部44及 0 參考電壓產生部26。當光感測部20受到光線的照射時，則輸 出光電流，其大小係依據此光線的強度。電流補償部22係用 以補償光感測部20由於周遭光線以外的因素所輸出的電流， 此電流例如為暗電流或由背光光源130所照射的背光而激發的 光電流’此暗電流係由溫度等環境因素所引起，而無關於受光 與否。信號轉換部44係將光感測部20所輸出的電流轉換成數 位信號或脈衝信號等控制部110可處理的信號形式。參考電壓 產生部26係用以產生參考電壓Vref ’其用於信號轉換部44的 g 信號轉換。 由於顯示裝置10b的光感測裝置220之外的元件結構係相 同於顯示裝置10a，因而在此省略說明。 請參照圖8，其顯示依據本發明之第二實施例之光感測裝 置的結構示意圖。關於信號轉換部44的比較部6〇的結構，圖 8的光感測裝置220係不同於圖3所示的光感測裝置12〇。比 較部60包括差動輸入比較器410、第一開關412及第二開關 414 ° 差動輸入比較器410具有反轉輸入端及非反轉輸入端，反 轉輸入端係連接於光電二極體311及312之間的節點，非反轉 201106319 輸入端係連接於參考電壓產生部26所產生的預設參考電壓 Vref。差動輸入比較器410係將在光電二極體311及31之間 之節點所形成的光感測電壓Vp與參考電壓Vref進行比較，當 / 光感測電壓Vp係大於參考電壓Vref時，則差動輸入比較器410 的輸出為Low ;當光感測電壓Vp係小於參考電壓vref時，則 差動輸入比較器410的輸出為High。 第一開關412係設置於重置電壓Vrs與差動輸入比較器 410的反轉輸入端之間’第二開關414係設置於重置電壓vRS 與差動輸入比較器410的非反轉輸入端之間。此開關412及414 φ 係回應於重置信號Reset來進行開關，此重置信號Reset係由 控制部110直接地提供，或者藉由邏輯電路32間接地提供。開 關412及414在進行光感測裝置220之初始化的重置期間中為 關閉狀態’以連接此差動輸入比較器410的反轉輸入端及非反 轉輸入端至重置電壓VRS。 參考電壓產生部26的結構係相同於連接在差動輸入比較 器410之反轉輸入端的電路’而包括實質相同於光檢測用光電 二極體311之特性和構造的第一光電二極體420、實質相同於 鲁 補償用的光電二極體312之特性和構造的第二光電二極體 422、以及分別相同於信號轉換部24之第一電容34與第二電 容36之特性和構造的第三電容424與第四電容426。第一光電 二極體420的陽極係連接於第一預設電位v 1，其連接於光檢測 用光電二極體311的陽極。第一光電二極體420的陰極係連接 於第二光電二極體422的陽極，第二光電二極體422的陰極係 連接於第二預設電位V2,其連接於補償用光電二極體312的陰 極。第三電容424與第四電容426係並聯於差動輸入比較器410 的非反轉輸入端與接地電位GND之間。 17 201106319 第一光電二極體420和第一光電一極體422係相同於圖4 所示的補償用光電二極體312，而配置於顯示面板14〇之第二 玻璃基板L4上且為利用黑色矩陣層BM來遮斷外界光線4〇的 區域上。因此，第一光電二極體420和第二光電二極體422並 不會被外界光線40所照射。參考電壓產生部26係依據第—光 電二極體420和第二光電二極體422的分壓，而產生相當於第 一預設電位VI與第二預設電位V2之中間電位（Vl+V2)/2=2>5V 的參考電壓Vref。 請參照圖9，其顯示依據本發明之第二實施例之光感測裝 置之差動輸入比較器410的電路結構示意圖。 差動輸入比較器410包括閘極連接於反轉輪入端的第一 NMOS電晶體MN1，以及閘極連接於非反轉輸入端的第二 NMOS電晶體MN2 ’第一 NMOS電晶體MN1和第二NM0S電 晶體MN2的源極係分別連接於電流源430。當輸入於反轉輸入 端的光感測電壓Vp係大於輸入至非反轉輸入端的參考電壓 Vref時，第一 NMOS電晶體MN1為開啟狀態。反之，當光感 測電壓Vp小於參考電壓Vref時，第二NMOS電晶體MN2為 開啟狀態。 第一 NMOS電晶體MN1的汲極係連接於第一 PMOS電晶 體MP1的汲極，第一 PMOS電晶體MP1的汲極係更連接於第 一 PMOS電晶體MP1的閘極，第一 PMOS電晶體MP1的閘極 係更連接於第二PMOS電晶體MP2的閘極。第一 PMOS電晶 體MP1和第二PMOS電晶體MP2的源極係分別連接於第二預 設電位V2(例如電源電壓VDD=5V)。第二PMOS電晶體MP2 的汲極係連接於第三NMOS電晶體MN3的汲極，第三NMOS 電晶體MN3的汲極係更連接於第三NMOS電晶體MN3的閘 201106319 極，第三NMOS電晶體MN3的閘極係更連接於第四NMOS電 晶體MN4的閘極。第三NMOS電晶體MN3與第四NMOS電 晶體MN4的源極係分別連接於第一預設電位Vl(例如接地電位 GND)。第四NMOS電晶體MN4的汲極係構成比較器410的輸 出端，因此，當第一 NMOS電晶體MN1開啟時，第一 PMOS 電晶體MP1、第二PMOS電晶體MP2、第三NMOS電晶體MN3 及第四NMOS電晶體MN4皆為開啟狀態，而由比較器410所 輸出的信號Vcom為Low。 第二NMOS電晶體MN2的汲極係連接於第三PMOS電晶 體MP3的的汲極，第三PMOS電晶體MP3的汲極係更連接於 第三PMOS電晶體MP3的閘極，第三PMOS電晶體MP3的閘 極係更連接於第四PMOS電晶體MP4的閘極，第三PMOS電 晶體MP3與第四PMOS電晶體MP4的源極係分別連接於第二 預設電位V2。第四PMOS電晶體MP4的汲極係連接於第四 NMOS電晶體MN4的汲極，而構成比較器410的輸出端。因 此，當第二NMOS電晶體MN2開啟時，第三PMOS電晶體MP3 與第四PMOS電晶體MP4皆為開啟狀態，而由比較器410所輸 出的信號Vcom為High。 藉此，當光感測電壓Vp大於參考電壓Vref時，差動輸入 比較器410的輸出為Low;當光感測電壓Vp小於參考電壓Vref 時，差動輸入比較器410的輸出為High。 請參照圖10 ’以下對圖8所示之光感測裝置220的動作進 行說明。 請再參照圖10,其顯示依據本發明之第二實施例之光感測 裝置之各元件之電壓及信號的時序圖。在圖10中顯示有各種 信號隨時間的變化，此些信號由上至下分別為由控制部11 〇所 201106319 提供的重置信號Reset、在光感測裝置220的設定期間及測量 期間中提供至第一電容34的設定電壓Vset、在光感測裝置220 的測量期間中提供至第二電容36的測量電壓Vmeas、在光電二 極體311及312之間的節點所形成的光感測電壓VP及輸入於 差動輸入比較器410之非反轉輸入端的參考電壓Vref、由比較 部30所輸出的信號Vcom、以及邏輯電路32所輸出的信號（亦 即光感測裝置220所輸出之脈衝信號Vout)» 請再參照圖1 〇，在時間t0時，重置信號Reset係由Low 切換至High，以開始重置期間。此時’比較部60的第一開關 412和第二開關414被關閉，而分別連接差動輸入比較器410 的反轉輸入端與非反轉輸入端至重置電壓VRS。重置電壓VRS 例如為比較器410的電源電壓’較佳為第一預設電位VI與第 二預設電位V2的中間電位（Vl+V2)/2 ’在本實施例中’ CGND+VDD)/2=(0+5)/2=2.5V。此時，比較部60所輸出的信號 Vcom係依據比較器410内電晶體所形成的分壓，約為第一預 設電位VI與第二預設電位V2的中間電位（V1+V2)/2=2.5V。 在時間tl時，重置信號Reset係由High切換至Low，為 重置信號Reset之反轉信號的設定電壓Vset係經由第一電容34 提供至光電二極體311及312之間的節點’而開始設定期間。 例如，設定電壓Vset為電源電壓VDD=5 V。在光電二極體311 及312之間的節點係形成VDDxCfs/(Cpd+Cfm+Cfs)的光感測電 壓Vp，Cfs為第一電容34的電容量，Cfm為第二電容36的電 容量，Cpd為在比較部60之輸入端的寄生電容。此時，光感測 電壓Vp係大於參考電壓Vref’因此，比較部60的輸出信號 Vcom為Low。之後，隨著時間的經過，光感測電壓Vp係具有 △ V/^t=Ip/(Cpd+Cfm+Cfs)的傾向，而逐漸減少。 201106319 在時間t2時，若光感測電壓Vp達到參考電壓Vref時，比 較部60的輸出信號Vcom係切換為High。藉此，邏輯電路32 的正反電路332的非反轉輸出Q為High，測量電壓Vmeas係 經由第二電容36提供至光電二極體311及312之間的節點，而 開始測量期間。例如，測量電壓Vmeas，亦即正反電路332的 非反轉輸出Q為電源電壓VDD=5V。在光電二極體311及312 之間的節點係形成VDDxCfm/(Cpd+Cfm+Cfs)的光感測電壓 Vp，由於在此時間t2’的光感測電壓Vp係大於參考電壓Vref ’ 比較部30的輸出信號Vcom係由High切換至Low。正反電路 332的非反轉輸出Q係持續為High。由於正反電路332的反轉 輸出G及AND電路331的輸出皆為Low，因而OR電路333的 輸出為Low，邏輯電路32的輸出信號Vout係由Low切換至 High 〇 之後，隨著時間的經過，光感測電壓Vp係具有△ V/Δ t=Ip/(Cpd+Cfm+Cfs)的傾向，而逐漸減少。在時間t3時，若光 感測電壓Vp係達到參考電壓Vref時，比較部60的輸出信號 Vcom係切換為High，邏輯電路32的輸出信號Vout係切換為 Low。在重置信號Reset接著由Low到切換為High之間，光感 測電壓Vp係持續地減少。 相同於圖5所示之根據第一實施例之光感測裝置120 ’在 外界光線40照射下光檢測用光電二極體311所產生的光電流 Ip的大小係正比於外界光線40的強度。因此，若外界光線40 愈強，則邏輯電路32的輸出信號Vout為High的期間PW愈短’ 且期間PW與光電流Ip之間的關係可利用公式PW= VDDX Cfm/Ip來表示。 因此，脈衝信號Vout係由光感測裝置220提供至控制部 21 201106319 11 〇，控制部110可由脈衝信號Vout的脈衝寬度PW來得知外 界光線40的強度。 接著’考慮到發生任何光感測裝置220外部的雜訊的情 形，外部雜訊例如為顯示面板驅動之電性/電磁性的雜訊或電源 線的漣波雜訊等。 請參照圖11，其顯示依據本發明之第二實施例之外部雜訊 對於光感測裝置之影響的說明示意圖。為了簡便說明，圖u 的外部雜訊50係表示為固定周期的矩形波。 ® ‘發生外部雜訊時，如圖中之實線所示，雜訊成份係 被重疊於比較部60之差動輸入比較器41〇之反轉輸入端所輸 入的光感測電壓VP，。同樣地，如圖中之點晝線（dot-dash line) 所不，雜訊成份亦被重疊於提供至比較部6〇之差動輸入比較 器410之非反轉輸入端所輸入的參考電壓Vref。然而，在比較 部60的輸出信號Vc〇m中，並不會發現此外部雜訊5〇的影響， 此係由於比較部60具有差動輸入結構，因而重疊於光感測電 壓Vp的雜訊成份可被重疊於參考電壓Vref的雜訊成份來相抵 • 消。由於參考電壓產生部％具有相同連接於差動輸入比較器 410之反轉輸入端之電路的結構，因而重叠於參考電壓心#的 雜訊成份係相同於重疊於光感測電壓Vp的雜訊成份。因此， 可消除共模雜訊（Common mode noise)。 因此，最終由光感測裝置220所輸出的脈衝信號
Vout並不 會出現外部雜訊50的影響。不論有無外部雜訊5〇,控制部11〇 皆可得知外界光線40的正確強度。藉由此差動輸入結構，雜 訊可被相互抵消，因而可消除或減少雜訊對於顯示裝置之周遭 光檢測結果的影響。 綜上所述，雖然本發明已用較佳實施例揭露如上，然其並 22 201106319 非用以限定本發明’本發明所屬技術領域中具有通常知識者， 在不脫離本發明之精神和範圍内，當可作各種之更動與满飾。 例如，在上述實施例中，光感測裝置所輸出之脈衝信號的 存在期間係正比於周遭光線的強度，此存在期間亦可反比於周 遭光線的強度。 再者，熟悉此技術領域者可清楚明暸，差動輸入比較器及 邏輯電路等結構並不限於上述揭露，而可使用各種形式的結 構。在上述實施例中’光感測電壓Vp係輸入至反轉輸入端， 參考電壓Vref係輸入至非反轉輸入端β然而，參考電壓vref _ 亦可輸入至反轉輸入端’光感測電壓Vp亦可輸入至非反轉輸 入端。 或者，光感測裝置可輸出用以表示預設光源所發光之強度 的信號’光感測裝置可不限於具有周遭檢測功能的顯示裝置， 而可組裝及使用於各種機器設備中。 【圖式簡單說明】 為讓本發明之上述和其他目的、特徵、優點與實施例能更 馨 明顯易懂，所附圖式之詳細說明如下： 圖1顯示依據本發明之一實施例之包含顯示裝置之電子設 備的示意圖。 圖2顯示依據本發明之第一實施例之顯示裝置的結構示意 圖。 圖3顯不依據本發明之第一實施例之光感測裝置的結構示 意圖。 圖4顯不依據本發明之第一實施例之顯示面板的剖面示意 圖。 ^ 23 201106319 圖5顯示依據本發明之第一實施例之光感測裝置之各元件 之電壓及信號的時序圖。 圖6顯示依據本發明之第一實施例之外部雜訊對於光感測 裝置之影響的說明示意圖。 圖7顯示依據本發明之第二實施例之顯示裝置的結構示意 圖。 圖8顯示依據本發明之第二實施例之光感測裝置的結構示 意圖。 • 圖9顯不依據本發明之第二實施例之光感測裝置之差動輸 入比較器的電路結構示意圖。 W 10顯示依據本發明之第二實施例之光感測裝置之各元 件之電壓及信號的時序圖。 圖11顯不依據本發明之第二實施例之外部雜訊對於光感 測裝置之影響的說明示意圖。 【主要元件符號說明】 100 :電子設備 120、220 :光感測裝置 140 :顯示面板 22 :電流補償部 26 :參考電壓產生部 311、312 :光電二極體 321、334 :反向器電路 331 : AND 電路 333 : OR電路 10、10a、10b :顯示裝置 110 :控制部 13〇 :背光光源 20、21 :光感測部 24、44 :信號轉換部 30、60 :比較部 32 :邏輯電路 322 :開關 332 :正反電路 34、36 :電容 24 201106319 40 :周遭光線 42 :背光光線 410 :差動輸入比較器 412 :第一開關 414:第二開關 420:第一光電二極體 422:第二光電二極體 424:第三電容 426 :第四電容 BM :黑色矩陣層 CF1、CF2、CF3 :彩色渡光片 L1 :第一偏光板 L3 :液晶層 L5 :第二偏光板
Id :暗電流 MN1 :第一 NMOS電晶體 MN3 :第三NMOS電晶體 MP1 :第一 PMOS電晶體 MP3 :第三PMOS電晶體 Reset :重置信號 VI :第一預設電位 Vcom、Vout :輸出信號 Vp :光感測電壓 VRS :重置電壓 50 :外部雜訊 L2 :第一玻璃基板 L4 :第二玻璃基板 鲁
Ip :光電流 MN2:第二NMOS電晶體 MN4:第四NMOS電晶體 MP2 :第二PMOS電晶體 MP4 :第四PMOS電晶體 :反轉重置信號 V2 :第二預設電位 · VDD :電源電壓.
Vref :參考電壓 Vmeas :測量電壓
Vset :設定電壓 25