TW201001726A - Techniques for enhancing efficiency of photovoltaic devices using high-aspect-ratio nanostructures - Google Patents
Techniques for enhancing efficiency of photovoltaic devices using high-aspect-ratio nanostructures Download PDFInfo
- Publication number
- TW201001726A TW201001726A TW098105967A TW98105967A TW201001726A TW 201001726 A TW201001726 A TW 201001726A TW 098105967 A TW098105967 A TW 098105967A TW 98105967 A TW98105967 A TW 98105967A TW 201001726 A TW201001726 A TW 201001726A
- Authority
- TW
- Taiwan
- Prior art keywords
- photoactive layer
- aspect ratio
- high aspect
- photoactive
- layer
- Prior art date
Links
- 239000002086 nanomaterial Substances 0.000 title claims abstract description 63
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 17
- 230000002708 enhancing effect Effects 0.000 title abstract description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 claims abstract description 5
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims abstract description 4
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 26
- 239000002019 doping agent Substances 0.000 claims description 23
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims description 21
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 21
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 21
- 239000010931 gold Substances 0.000 claims description 11
- 239000013078 crystal Substances 0.000 claims description 8
- 239000003054 catalyst Substances 0.000 claims description 7
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 claims description 7
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 claims description 7
- 239000011368 organic material Substances 0.000 claims description 7
- 150000004770 chalcogenides Chemical class 0.000 claims description 5
- 238000000151 deposition Methods 0.000 claims description 4
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 claims description 4
- 238000001704 evaporation Methods 0.000 claims description 3
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 240000007594 Oryza sativa Species 0.000 claims description 2
- 235000007164 Oryza sativa Nutrition 0.000 claims description 2
- 239000003989 dielectric material Substances 0.000 claims description 2
- 235000012149 noodles Nutrition 0.000 claims description 2
- 235000009566 rice Nutrition 0.000 claims description 2
- JBRZTFJDHDCESZ-UHFFFAOYSA-N AsGa Chemical compound [As]#[Ga] JBRZTFJDHDCESZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- 229910001218 Gallium arsenide Inorganic materials 0.000 claims 1
- KJTLSVCANCCWHF-UHFFFAOYSA-N Ruthenium Chemical compound [Ru] KJTLSVCANCCWHF-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- ALKZAGKDWUSJED-UHFFFAOYSA-N dinuclear copper ion Chemical compound [Cu].[Cu] ALKZAGKDWUSJED-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- 239000007788 liquid Substances 0.000 claims 1
- 229910052762 osmium Inorganic materials 0.000 claims 1
- SYQBFIAQOQZEGI-UHFFFAOYSA-N osmium atom Chemical compound [Os] SYQBFIAQOQZEGI-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- 229910052707 ruthenium Inorganic materials 0.000 claims 1
- 239000002070 nanowire Substances 0.000 description 74
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 18
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 13
- KTSFMFGEAAANTF-UHFFFAOYSA-N [Cu].[Se].[Se].[In] Chemical compound [Cu].[Se].[Se].[In] KTSFMFGEAAANTF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- 239000013068 control sample Substances 0.000 description 7
- 230000031700 light absorption Effects 0.000 description 7
- XLOMVQKBTHCTTD-UHFFFAOYSA-N Zinc monoxide Chemical compound [Zn]=O XLOMVQKBTHCTTD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 6
- 238000001878 scanning electron micrograph Methods 0.000 description 6
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 6
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 5
- 239000002800 charge carrier Substances 0.000 description 5
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 5
- WUPHOULIZUERAE-UHFFFAOYSA-N 3-(oxolan-2-yl)propanoic acid Chemical compound OC(=O)CCC1CCCO1 WUPHOULIZUERAE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 229910052980 cadmium sulfide Inorganic materials 0.000 description 4
- 229910052732 germanium Inorganic materials 0.000 description 4
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 4
- 239000002243 precursor Substances 0.000 description 4
- WGTYBPLFGIVFAS-UHFFFAOYSA-M tetramethylammonium hydroxide Chemical compound [OH-].C[N+](C)(C)C WGTYBPLFGIVFAS-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 4
- 239000002073 nanorod Substances 0.000 description 3
- ZOXJGFHDIHLPTG-UHFFFAOYSA-N Boron Chemical compound [B] ZOXJGFHDIHLPTG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- JCXGWMGPZLAOME-UHFFFAOYSA-N bismuth atom Chemical compound [Bi] JCXGWMGPZLAOME-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052796 boron Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000000969 carrier Substances 0.000 description 2
- 229910000420 cerium oxide Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910052798 chalcogen Inorganic materials 0.000 description 2
- 150000001787 chalcogens Chemical class 0.000 description 2
- DIOQZVSQGTUSAI-UHFFFAOYSA-N decane Chemical compound CCCCCCCCCC DIOQZVSQGTUSAI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 2
- 239000000945 filler Substances 0.000 description 2
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 2
- 239000002609 medium Substances 0.000 description 2
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 2
- 238000001451 molecular beam epitaxy Methods 0.000 description 2
- 239000002114 nanocomposite Substances 0.000 description 2
- 239000002159 nanocrystal Substances 0.000 description 2
- 230000006911 nucleation Effects 0.000 description 2
- 238000010899 nucleation Methods 0.000 description 2
- BMMGVYCKOGBVEV-UHFFFAOYSA-N oxo(oxoceriooxy)cerium Chemical compound [Ce]=O.O=[Ce]=O BMMGVYCKOGBVEV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 2
- 238000000527 sonication Methods 0.000 description 2
- 239000011787 zinc oxide Substances 0.000 description 2
- UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N Hydrogen Chemical compound [H][H] UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N Phosphorus Chemical compound [P] OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 101100450085 Silene latifolia SlH4 gene Proteins 0.000 description 1
- 229910000577 Silicon-germanium Inorganic materials 0.000 description 1
- NINIDFKCEFEMDL-UHFFFAOYSA-N Sulfur Chemical compound [S] NINIDFKCEFEMDL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- HDEGYBJYTLJXQX-UHFFFAOYSA-N [O-2].[In+3].[La+3].[O-2].[O-2] Chemical compound [O-2].[In+3].[La+3].[O-2].[O-2] HDEGYBJYTLJXQX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000006096 absorbing agent Substances 0.000 description 1
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 1
- 239000011149 active material Substances 0.000 description 1
- 229910021417 amorphous silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000012298 atmosphere Substances 0.000 description 1
- 229910052797 bismuth Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910000416 bismuth oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000006227 byproduct Substances 0.000 description 1
- 230000000739 chaotic effect Effects 0.000 description 1
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 1
- 239000011258 core-shell material Substances 0.000 description 1
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 1
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 1
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 230000005611 electricity Effects 0.000 description 1
- 230000005672 electromagnetic field Effects 0.000 description 1
- 238000000609 electron-beam lithography Methods 0.000 description 1
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 1
- 230000008020 evaporation Effects 0.000 description 1
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 1
- GNPVGFCGXDBREM-UHFFFAOYSA-N germanium atom Chemical compound [Ge] GNPVGFCGXDBREM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 1
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 description 1
- -1 i.e. Substances 0.000 description 1
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 239000002071 nanotube Substances 0.000 description 1
- 230000005693 optoelectronics Effects 0.000 description 1
- 125000002524 organometallic group Chemical group 0.000 description 1
- 230000003647 oxidation Effects 0.000 description 1
- 238000007254 oxidation reaction Methods 0.000 description 1
- 238000000059 patterning Methods 0.000 description 1
- 229910052698 phosphorus Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011574 phosphorus Substances 0.000 description 1
- 229910021420 polycrystalline silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 210000001747 pupil Anatomy 0.000 description 1
- 230000006798 recombination Effects 0.000 description 1
- 238000005215 recombination Methods 0.000 description 1
- 239000002689 soil Substances 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 1
- 238000006467 substitution reaction Methods 0.000 description 1
- 229910052717 sulfur Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011593 sulfur Substances 0.000 description 1
- 238000002207 thermal evaporation Methods 0.000 description 1
- 239000006163 transport media Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L31/00—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L31/04—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof adapted as photovoltaic [PV] conversion devices
- H01L31/06—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof adapted as photovoltaic [PV] conversion devices characterised by potential barriers
- H01L31/07—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof adapted as photovoltaic [PV] conversion devices characterised by potential barriers the potential barriers being only of the Schottky type
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L31/00—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L31/02—Details
- H01L31/0224—Electrodes
- H01L31/022408—Electrodes for devices characterised by at least one potential jump barrier or surface barrier
- H01L31/022425—Electrodes for devices characterised by at least one potential jump barrier or surface barrier for solar cells
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L31/00—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L31/02—Details
- H01L31/0232—Optical elements or arrangements associated with the device
- H01L31/02327—Optical elements or arrangements associated with the device the optical elements being integrated or being directly associated to the device, e.g. back reflectors
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L31/00—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L31/0248—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by their semiconductor bodies
- H01L31/0256—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by their semiconductor bodies characterised by the material
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L31/00—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L31/0248—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by their semiconductor bodies
- H01L31/0352—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by their semiconductor bodies characterised by their shape or by the shapes, relative sizes or disposition of the semiconductor regions
- H01L31/035272—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by their semiconductor bodies characterised by their shape or by the shapes, relative sizes or disposition of the semiconductor regions characterised by at least one potential jump barrier or surface barrier
- H01L31/03529—Shape of the potential jump barrier or surface barrier
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L31/00—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L31/18—Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment of these devices or of parts thereof
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E10/00—Energy generation through renewable energy sources
- Y02E10/50—Photovoltaic [PV] energy
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Sustainable Development (AREA)
- Sustainable Energy (AREA)
- Photovoltaic Devices (AREA)
Description
201001726 六、發明說明: 【發明所屬之技術領域】 本發明有關在太陽電池中使用奈米科技’尤其有關使 用奈米結構以增強太陽電池裝置的光吸收及效率。 【先前技術】 太陽電池裝置,諸如光電池’是一種重要的能源’截 至目前為止並未充分用於普遍的能量產生。光電池藉由將 來自光源的光子轉換成電力(如’藉由釋放電子-電洞對)以 " 產生電能。但習用的光電池通常提供僅約百分之25的光電 轉換效率。對於大多數的應用而言,如此低的轉換效率使 得人們不願意選擇習用的光電池。 已嘗試利用奈米科技,在裝置的活性層中加入奈米 線、奈米結晶等,以增加太陽電池裝置的能量轉換效率。 請見,例如,Yang等人申請的美國專利申請案第 2005/0009224號,標題「奈米線陣列及奈米線太陽能電池 D 及其形成方法(Nanowire Array and Nanowire Solar Cells and Methods for Forming the Same)」(其中在光電裝置中結 合電荷傳輸介質一起使用奈米線氧化物);Scher等人申請 的美國專利申請案第2005/0214967號,標題「奈米結構及 基於奈米複合材料的組成物及太陽電池裝置(Nanostructure and Nanocomposite Based Compositions and Photovoltaic
Devices)」(其中在沿著電極平面水平定向的太陽電池裝置 中使用奈米結構,諸如内核-外殼奈米結晶);及Kayes等 人巧「平面及徑向p-n接面奈米棒太陽能電池之裝置物理 201001726 學原理的比較(Comparison of the Device Physics Principles of Planar and Radial p-n Junction Nanorod Solar Cells)」,97 J. APPL. PHYS. 114302 (2005年)(其中說明徑向p-n接面奈 米棒太陽能電池)。 但是,要讓太陽電池變成可以實行且實用的能源,仍 然需要提升效率。 【發明内容】 本發明提供太陽電池裝置及增強其光電轉換效率的方 法。在本發明之一方面,提供一種太陽電池裝置。太陽電 池裝置包含:具有光活性層及非光活性層的光電池,非光 活性層鄰接光活性層以在光活性層及非光活性層之間形 ^質接面;及在光活性層之一或多個表面上的複數個^ 橫比奈米結構。該複數個高縱橫比奈米結構被組態你 入射光的散射介質。該複數個高縱橫比奈米結構亦 乍 態成在入射光中建立光學共振效應。該光活性層 : ^型摻雜物或—p型摻雜物其中之—者,及該非光^ 層可摻雜有該η型摻雜物或該p型摻雜物之另—者勒 在該光活性層及該非光活性層之間形成一 p-n接面。 在本發明的另一方面,提供一種製造太陽電池骏 性下步驟。提供一光活性層。在該光活 “之間Ϊ活性層’以在該光活性層及該非光活 ,二ν成一異質接面。在該光活性層的一或多個夺 形成複數個高縱橫比奈—米結構。該複數個高縱橫比^米 5 201001726 結構被組態成用作入射光的散射介質。 參考以下詳細說明及圖式,將能夠更徹底地瞭解本發 明、以及本發明的其他特色及優點。 【實施方式】 圖1A-D為圖解製造包含光電池具有與其相關聯之高 縱^比奈米結構(即,奈米線)之太陽電池裝置之示範性方 、 法的橫戴面圖。根據如以下詳細說明的本方法,高縱橫比 〇 奈米結構用以增強本發明之太陽電池裝置的光吸收及藉此 增加其光電轉換效率。 曰 如圖1A所示,提供第一光活性層1〇2。本文用語「光 活性層」是指包含能夠吸收光能量及利用此能量產生電荷 載子(電子-電洞對)之材料的任何裝置層。光活性層ι〇2可 以包含半導體材料(諸如矽(si)、鍺(Ge)、ΙΠ_ν族^素化合 物及有機材料其中的一或多個)及/或含硫族晶體結槿= 活性材料(諸如銅銦硒化鎵(CIGS)材料),及具= 20微米㈣及約!,_ μιη之間。根據一示:ς施 例,光活性層102包含摻雜有η型或Ρ型換雜;:: Si(^ ^ #0% Si ^^θ0^(ρ〇1γ-8ΐ))ΒΒθ1] 〇 ^ =但不限於磷(P)。合適的p型摻雜物包括硼 接著, 二光活性層 201001726 光活性層104可以包含半導體材料(諸如Si、Ge、III-V族 元素化合物及有機材料中的一或多個)、含硫族晶體結構之 光活性材料(諸如CIGS材料)、硫化鎘(CdS)及/或氧化鋅 (ZnO)。根據一示範性具體實施例,光活性層1〇4包含Si (非 晶Si或poly-Si)且利用化學汽相沈積(CVD)方法形成(即, 生長)於光活性層102之上,厚度在約20埃(A)(即,2 X 1〇—3 μηι)及約150μηι之間。 一般而言,本文所提出的每一太陽電池裝置組態包含 形成於鄰接層之間、因材料類型差異(如,Sch〇ttky接面, 見以下說明)及/或摻雜類型差異(如,p_n接面)所造成的異 質接面。例如,可形成光活性層1〇4具有與光活性層1〇2 相反的極性,以形成p_n接面。即,如果光活性層1〇2包 含η型半導體,則光活性層1G4可由P型半導體形成,以 在光活性層102及104之間形成p_n接面。相反地,如果 光活性層102包含p型半導體’則光活性廣刚可由η型 半導體形成’以在光活性層102及1〇4之間形成”接面。 僅為舉例說明’在利用諸如膦(ΡΗ3)(η型摻雜物前驅物)或 :贼⑻Η6)(ρ型摻雜物前驅物)之摻雜物前驅物對光活性 i 生長期間’可引入η型或Ρ型摻雜物。或 ,,可使用摻雜物來源的高溫擴散1 η型或ρ型播雜物 it先活性層1〇4。如此,形成具有卜η接面(即,在光活 ^層Η)2及光活性層104之間)的光電池,用以分開在每一 光活性層102及光活性層〗〇4中的土, & M 1U4㈣先生電荷載子(電子-電 洞對)。 201001726 圖1A所示的光電池組態只是示範性,及可根據本教 示採用任何其他合適的光電池組態。即,可以採用其中接 面配置可將所產生的電子-電洞對分開以提供有用電流的 任何光電池組態。例如,光電池可以包含薄膜半導體光電 池。示範性薄膜半導體光電池如圖2所示(說明如下)。光 電池亦可包含Schottky接面。示範性Schottky接面式光電 池如圖3所示(說明如下)。光電池可另外包含由結合光活 性層及非光活性層所形成的p-n接面。具有光活性層及非 光活性層的示範性光電池如圖4所示(說明如下)。 接著,在光電池的一或多個表面上形成諸如奈米線、 微柱及/或奈米管的高縱橫比奈米結構。本文用語「高縱橫 比奈米結構」一般是指具有直徑在約5奈米(nm)及約200 nm之間及長度在約0.1 μιη及約100 μιη之間(如,在約3 μιη 及約30 μηι之間)的任何棒狀結構。 高縱橫比奈米結構增強光電池的光吸收,及藉此增加 太陽電池裝置的光電轉換效率。即,可採用具有上述尺寸 的高縱橫比奈米結構且其在鄰接奈米結構之間的間隔在約 100 nm及約3 μιη之間。在約100 nm及約3 μηι之間的此 間隔與可見入射光波長(通常在約0.4 μιη及約1 μιη之間) 相當或為其數倍。如此,高縱橫比奈米結構可用作入射光 的良好散射介質。入射光因此變得局限在光電池具有高縱 橫比奈米結構的這些表面上,藉此增強光電池的光吸收。 _ 高縱橫比奈米結構亦可藉由用作入射光的「天線 8 201001726 (antennae)」而增強光吸收。即,高縱橫比奈米結構可建立 入射光的光學共振效應,以在入射光及高縱橫比奈米結構 的電磁場之間提供更有效的耦合。因此,高縱橫比奈米結 構主要形成於光電池的光吸收表面上。
圖1B-C圖解在光電池的頂部光吸收表面(即,光活性 層104)上形成Si奈米線。根據本發明教示,可使用適合在 上述任何光電池組態上形成高縱橫比奈米結構的這些方法 以及任何其他方法,諸如蝕刻。關於微柱及其形成方法的 ( ' 說明,請見例如Guha等人的「氮化鎵之選擇性區域有機金 屬分子束磊晶及發光微柱在矽/二氧化矽上的生長 (Selective area metalorganic molecular-beam epitaxy of GaN and the growth of luminescent microcolumns on Si/Si〇2)” 」
Appl. Phys. Lett· 75, 463 (2007年)’其内容在此以引用方式 併入。 如圖1B所示,將觸媒層106沈積於光活性層1〇4與光 〇 活性層102相對的側面之上。根據一示範性具體實施例, 觸媒層106包含金(Au)且藉由蒸發(evap〇rati〇n)沈積在 光活性層104之上達約30人的厚度。在沈積觸媒層後,接 著將光電池置入CVD系統,及如圖1 c所示,利用如汽液 固(VLS)-CVD方法’生長Si奈米線。關於奈米線形成的詳 細說明’請見,例如,美國申請案序號U/494,195,標題 在太1¼電池中使用奈米科技的方法(Techniques for Use of Nanotechnology in Photovoltaics)」,2006 年 7 月 27 曰 申請,其内容在此以引甩方式併入。儘管說明si奈米線的 201001726 形成,但應明白,鬲縱橫比奈米結構可包含 之散射體及/或吸收體的材料,諸如半導 ^用作光
Ge或石夕-鍺(SiGe))、介電材料及金屬其中的〜=(多如個。&、 視情況’可在奈米線生長期間引入n型 劑,因而形成η型及/或Ρ型摻雜奈米線。合適f參雜 括但不限於:B2H6及ph3。僅為舉例說明,广摻雜劑包 暴露於矽烷_及b2h6、硼:果將光電池 r 造成p型Si奈米線生長。同樣地,如果將;’將 及PH3、磷-摻雜(P·摻雜)的環 ,j露於SlH4 生長。 兄中,將造成η型Si奈米線 此外,可在 也能吐 a双夕個奈米線周圍形成外殼層。採用此 的it収純佳是具有與奈米線不同的極性及/或不同 ==度。例如’結合下文圖5的說明’詳細說明外 如圖1C所示,複數個奈米線順,在此統稱為「奈米 琛叢(forest)」,係形成於光活性層104的頂面。圖lc:所示 之奈米線108的組態代表非隨機布局圖案,其中奈米線彼 此平均間隔及在特定方向(在此例中,垂直 ㈣齊。或者’亦可採用隨機布局圖案= 彼此間隔不同及從光活性層1〇4的表面以各種不同角 度大出。 可如利用電子束微影,藉由圖案化觸媒層(見圖1B)以 201001726 在VLS-CVD生長之前形成島陣列,獲得非隨機布局圖案 (亦稱為「整齊配置」)。在VLS_CVD生長之前,以攝氏約 500度(°C)的溫度使觸媒層退火,可獲得隨機布局圖案。 由於冋縱彳頁比奈米結構的存在,光活性層1 〇2及1 〇4 吸收的入射光里比不含局縱橫比奈米結構的類似裝置增 加。例如,請見圖9(說明如下)。此增強效率允許在目前的 光電池中使用更薄的光活性層。減少光活性層的厚度可以 提高較短波長光的吸收。 如圖1D所示,透明電極11〇係形成於奈米線叢之上, 即,覆蓋奈米線叢。根據一示範性具體實施例,透明電極 110包含氧化銦鍚(ITO)及利用濺鍍沈積方法而沈積在奈米 線叢之上。透明電極110當作光電池的電接觸。但亦可採 用其他的電接觸組態。僅為舉例說明,取代利用在整個奈 米線叢之上的電極,可在光活性層上形成一或多個較小電 極’以由奈米線叢所圍繞。例如,此組態如圖6所示(說明 如下)。
圖2為圖解示範性太陽電池裝置200的圖式,其包含 薄膜半導體光電池202及與其相關聯的高縱橫比奈米結 構’即,奈米線204。即,薄膜半導體光電池202包含: 任意基板206、鄰接基板206的第一光活性層208及鄰接 光活性層208與基板206相對之側的第二光活性層。 根據一示範性具體實施例,基板206包含玻璃、金屬及/或 塑膠基板,光活性層208包含半導體材料(諸如Si、Ge、III-V 11 201001726 族元素化合物及有機材料中的一或多個)及/或具有硫族晶 體結構的光活性材料(諸如CIGS材料)’及光活性層210包 含半導體材料(諸如Si、Ge、III-V族元素化合物、有機材 料中的一或多個)、具有硫族晶體結構的光活性材料(諸如 CIGS材料)、CdS及/或ZnO。每一光活性層208及210可 具有厚度在約1 nm及約100 nm之間。奈米線204集體在 光活性層210之上形成奈米線叢。 圖3為圖解示範性太陽電池裝置300的圖式,其包含 ( Schottky接面式光電池302及與其相關聯的高縱橫比奈米 結構’即’奈米線304。即’光電池302包含光活性層306 及鄰接光活性層306的金屬層308(即,金屬層308在光活 性層306的至少一部分之上),以在光活性層3〇6及金屬層 308之間形成Schottky接面。奈米線3〇4集體在光活性層 306之上形成奈米線叢。金屬層3〇8可沈積在光活性層3〇6 之上以覆蓋一些奈米線。光活性層3〇6可以包含半導體材 料(諸如Si、Ge、III-V族元素化合物及有機材料中的一或 U 多個)及/或含硫族晶體結構之光活性材料(諸如CIGS材 料)。根據一示範性具體實施例,光活性層3〇6包含η型半 導體(如’換雜有η型摻雜物的Si),及金屬I 3〇8包含錄 (Ni)、纪㈣及Au巾的—或多個且利用蒸發方法沈積在光 活I·生層306之上,厚度在約1〇 nm及約i5〇 之間。 在操作期間,奈米線304協助擷取及吸收入射光(箭頭 310)及產生電荷載子(電子_電洞對),即,電子312及電洞 —314 ’可分別將電子及電洞傳送至電引線(―卜―) 12 201001726 316及318。另外注意,如果圍繞這些奈米線的金屬層薄到 足以傳送光’金屬層下的奈米線亦可用以擷取及吸收入射 光。 圖4為圖解示範性太陽電池裝置4〇〇的圖式,其包含 光電池402及與其相關聯的高縱橫比奈米結構,即,奈米 線404。光電池4〇2由結合光活性層及非光活性層所形/成。 =,存在鄰接非光活性層408的光活性層406。根據一示 範性具體實施例,光活性層406具有與非光活性層4〇8相 反的極性。即,如果光活性層4〇6摻雜有n型摻雜物,則 非光活性層408摻雜有p型摻雜物。同樣地,如果光活性 層406摻雜有P型摻雜物,則非光活性層408摻雜有n型 摻雜物。因此,在光活性層406及非光活性層408之間形 成p-n接面。奈米線4〇4在光活性層4〇6之上集體形成奈 米線叢並用以散射入射光。入射光由奈米線4〇4及光活性 層406二者吸收。因此,產生電子_電洞對及電荷載子被傳 送至p-n接面。 或者,非光活性層408可以包含金屬層,以此方式與 光活性層406形成Schottky接面。另外請見圖5(說明如下)。 圖5為圖解示範性太陽電池裝置5〇〇的圖式,其包含 光電池502及與其相關聯的局縱橫比奈米結構,即,奈米 線505。即’太陽電池裝置500包含基板504、鄰接基板 504的金屬層506及鄰接金屬層506與基板504相對之一 側的光活性層508。$據一示範性具體實施例,基板504 13 201001726 争 包含玻璃、金屬及/或塑膠基板。金屬層506與光活性層508 形成Schottky接面。 光活性層508,如,半導體的保形層,在奈米線生長 製程期間形成及可具有厚度在約1 nm及約100 nm之間。 以此方式,奈米線505與光活性層508 —起為連續。外殼 層510出現在奈米線505/光活性層508之上。外殼層510 較佳是具有與奈米線505不同的極性及/或不同的摻雜濃 度。例如,ρ型摻雜外殼層可結合η型摻雜奈米線一起使 C 用,反之亦然。根據此組態,外殼層在其周圍形成的高縱 橫比奈米結構稱為「奈米結構内核(core)」。 外殼層可用類似於高縱橫比奈米結構的方式形成。 即,在形成奈米結構内核後,即生長圍繞每一内核包圍的 保形層。此保形「外殼」層以添加與内核不同極性及/或濃 度的摻雜物來生長。以此方式,建立與内核不同的外殼層。 如下文結合圖7的描述所說明,採用本文所述奈米結構内 y 核/外殼組態比僅僅使用高縱橫比奈米結構可進一步增強 光電池的光吸收。 透明電極512出現在奈米線/外殼層之上。根據一示範 性具體實施例,透明電極512包含IT0及/或摻雜的ZnO。 填料(filler material)514可出現在透明電極及奈米線/外殼 層之間的空間。 在太陽電池裝置500的操作期間,奈米$/外殼層用以 14 201001726 ♦ 政射入射光。入射光可由奈米線/外殼層及光活性層5〇8二 者吸收。因此,產生電子-電洞對及電荷載子被傳送至 Schottky 接面。 圖6為圖解示範性太陽電池裝置6〇〇的圖式,其包含 光電池602及與其相關聯的高縱橫比奈米結構,即,奈米 線604。即,光電池6〇2包含第一光活性層6〇6及鄰接光 活性層6G6的第二光活性層_。根據—示範性具體實施 例,光活性層606包含半導體材料(諸如&、&、m_v族 ::化合物及有機材料中的-或多個)及/或具有硫族晶體 、、、口構的光活性材料(諸如CIGS# 中的或夕個)、具有硫族晶體結構的光活性材料(諸如 CIGS材料)、CdS及/或Zn〇。奈米線6〇4集體在光活性層 608之上形成奈米線叢。電極61()出現在光活性層繼上, 以為奈米線叢所圍繞。即,與例如結合上文圖⑴之描述 所說明的電極110相比,電極610僅覆蓋一些奈米線,使 得其餘奈米線叢輯電極61G。根據—項具體實施例,電 極610包含ITO且為透明。多個電極61〇可出現在光活性 層608上及為奈米線叢所圍繞。 圖7為圖解具有高縱橫比奈米結構(即,奈米線,具有 η-摻雜内核及p-摻雜外殼)之Sch〇ttky接面式光電池之增強 效能的曲線圖700。,曲線圖7〇〇針對具有^摻雜^米 線的Schottky接面式光電池(標示為「n_NW」)、具有:摻 雜内核及p-摻雜外殼之奈米線的Sch〇uky接面式光電池(標 15 201001726 不為nNW+p-外设」)及不含奈米線的細价財接面式光 電池(標示為「控制組(無娜)」),圖解接觸直徑d(測量單 短路光料Ise (測量單位微安培_。照度l ',、、母"“ 80 毫瓦特(mW/cm2)(即,約 〇.8suns)。如此’ 在曲線圖700中呈現的資料清楚證明光電流因奈米線的存 在2強’尤其因具有n_摻雜内核及P-摻雜外殼之奈米線 的存在而增強。 範例 1 本方法另外藉由參考以下非限制範例來說明: 一古Schottky接面式奈米線光電池:利用Au的熱蒸發,以 三宅米(mm)f的Au層塗布n摻雜&基板。接著將晶圓 置入CVD至,及在氫(仏)氣流每分鐘2〇〇標準立方公分 (seem)下加熱至55〇 %。因此,Au在&基板的表面上形 成小島’以在當作摻雜前驅物(g卩,紐在奈料生長期間 將轉變^摻雜物)之5〇 sccm之%的存在下,將5〇 Mm 的SlH4氣流引入CVD室時,使Si奈米線優先成核。然後, 利用VLS-CVD生長奈米線。在奈米線生長後,利用基於 蛾的勒刻劑類型TFA(製造公司:Transene Company, Danvers,ΜΑ),移除任何剩餘的Au。接著利用緩衝氧化物 蝕j(BOE^移除原生二氧化矽(Si〇2)層(生長製程中通常因 暴,在大氣下的自然氧化而形成的無用副產品)。接著,利 :=發來沈積130nm厚的Ni層,在奈米線覆蓋的基板上, 製造直徑d在約50 μηι及約400 μπι之間的圓形接觸。所得 -結構的掃描電子顯微照相(SEM)影像如圖8所示。 16 201001726 圖8為具有與其相關聯之高縱橫比奈米結構(即,奈米 線802)的Schottky接面式光電池的SEM影像8〇〇。如從影 像800所見,奈米線8〇2出現在基板8〇4的表面上並為恥 接觸806(可見於影像的右半邊)所覆蓋。 亦使用控制樣本(即,Sch〇ttky接面式光電池”其連同 奈米線樣本置入CVD冑,但控制樣本並沒有Au成核層。 因此,/又有奈米線生長在控制樣本上。以完全相同的方式 、將沌接觸沈積在控制樣本上。控制樣本的影像如圖9所示。 圖9為Schottky接面式光電池的SEM影像900。 Schottky接面式光電池包含在…摻雜&基板9〇4之上的 N】接觸902。如從影像9〇〇所見,由於沒有Au成核層, 因此沒有奈米線在此控制樣本中生長。 針對…合上文圖8及9之描述所分別說明的兩種 Schottky接面式光電池,即,一個有奈米線及一個沒有奈 J米線’測量其太陽電池效能,然後對於具有與其相關聯之 奈米線的光電池,觀察到光電流的明顯增強。所觀察到的 光電流結合了因電極下電子-電洞產生所測量的電流,以及 因在Ni接觸周圍及在擷取橫截面(即,可有效收集光生載 子的區域)内之區域中的電子-電洞產生所測量的電流。此 擷取橫截面的尺寸通常約為少數載子的擴散長度(即,少數 載子在因重組而損失前的平均長度)。 圖10為圖解若干―不同Schottky接面式光電池組態之接 201001726 觸直徑d (測量單位μιη)對照短路光電流Isc (測量單位μΑ) 的曲線圖1000。即,如曲線圖1000所示,比較以下例子 中的Isc,所有例子均為圖8之Schottky接面式光電池的變 體。在第一例子中,在圖8之具有與其相關聯之奈米線的 Schottky接面式光電池(說明如上)中測量Isc (標示為「已生 長」)。在第二例子中,使用音波處理從光電池移除一些奈 米線(標示為「在音波處理之後」),及再次測量奈米線之 一部分現已移除的Schottky接面式光電池。注意Isc的明 顯下降,其證明奈米線對光電流的助益。在第三例子中, 利用氫氧化四甲銨(TMAH)在85 °C下向下蝕刻η-摻雜Si 基板5分鐘,以從光電池移除所有剩餘的奈米線(標示為「在 濕姓刻之後」)。再次測量現在已經受餘刻的Schottky接面 式光電池,且結果顯示Isc降得更低。Ιιη為每平方公尺30 瓦(W/m2)(即,約1 sun的1/30)。如此,曲線圖1000中呈 現的資料清楚證明光電流因奈米線的存在而增強。 圖11為圖解針對兩個不同Schottky接面式光電池組態 (^ 在Iin約30 W/m2下之施加於光電池的電壓Vp(測量單位伏 特(V))對照光電池電流Ip (測量單位μΑ)的曲線圖1100。 即,圖11針對圖8具有與其相關聯之奈米線的Schottky 接面式光電池樣本(標示為「NW」)及圖9之不含奈米線的 Schottky接面式光電池控制樣本(標示為「控制」)(二者說 明如上),顯示光電流的比較。同樣地,在兩個樣本之間觀 察到光電流的極大差別。 儘管本文已說明本發明的解說性具體f施例,但應明 18 201001726 白,本發明並不限於這些精確的具體實施例,且應明白, 只要不脫離本發明之範疇,熟習本技術者可進行各種其他 變更及修改。 【圖式簡單說明】 圖1A-D根據本發明之一具體實施例,為圖解製造包 含光電池之太陽電池裝置之示範性方法的橫截面圖,其具 有與其相關聯的高縱橫比奈米結構; P 圖2根據本發明之一具體實施例,為圖解包含薄膜半 導體光電池及與其相關聯之高縱橫比奈米結構之示範性太 陽電池裝置的圖式; 圖3根據本發明之一具體實施例,為圖解具有Schottky 接面式光電池及與其相關聯之高縱橫比奈米結構之示範性 太陽電池裝置的圖式; 〇 圖4根據本發明之一具體實施例,為圖解包含由結合 光活性層及非光活性層形成之光電池及與其相關聯之高縱 橫比奈米結構之示範性太陽電池裝置的圖式; 圖5根據本發明之一具體實施例,為圖解包含光電池 及與其相關聯之内核/外殼高縱橫比奈米結構之示範性太 陽電池裝置的圖式; 圖6根據本發明之一具體實施例,為圖解包含光電池 19 201001726 具有透明電極為奈米線叢所圍繞之示範性太陽電池裝置的 圖式; 圖7根據本發明之一具體實施例,為圖解具有高縱橫 比奈米結構(具有η型摻雜内核及p型摻雜外殼層)之 Schottky接面式光電池之增強效能的曲線圖; 圖8根據本發明之一具體實施例,為具有與其相關聯 之高縱橫比奈米結構之Schottky接面式光電池的掃描電子 C ' 顯微照相(SEM)影像; 圖9根據本發明之一具體實施例,為不含高縱橫比奈 米結構之Schottky接面式光電池的SEM影像; 圖10根據本發明之一具體實施例,為圖解若干不同 Schottky接面式光電池組態之接觸直徑對照短路光電流的 曲線圖;及
U 圖11根據本發明之一具體實施例,為圖解含有及不含 高縱橫比奈米結構之Schottky接面式光電池之施加於光電 池之電壓對照光電池電流的曲線圖。 【主要元件符號說明】 102、208、606 第一光活性層 104、210、608 第二光活性層 106 觸媒層 20 201001726 108、204、304、404、505、604、802 奈米線 110 ' 512 200、300、400、500、600 202 206、504、804 302 306、406、508、608 308 ' 506 312 314 316、318 402、502、602 408 510 514 610 806 、 902 904 η-摻雜Si基板 透明電極 太陽電池裝置 薄膜半導體光電池 基板 Schottky接面式光電池 光活性層 金屬層 電子 電洞 電引線 光電池 非光活性層 外殼層 填料 電極 Ni接觸 21
Claims (1)
- 201001726 七、申請專利範圍: 1. 一種太陽電池裝置,包含: 一光電池,具有一光活性層及一非光活性層,該非光 活性層鄰接該光活性層以在該光活性層及該非光活性層之 間形成一異質接面;及 複數個高縱橫比奈米結構,在該光活性層的一或多個 表面上,被組態成用作入射光的一散射介質。 2. 如請求項1之裝置,其中該複數個高縱橫比奈米結構另 f 外被組態成在該入射光中建立一光學共振效應。 3. 如請求項1之裝置,其中該光活性層摻雜有一 η型摻雜 物或一 ρ型摻雜物其中之一者,及該非光活性層摻雜有該 η型摻雜物或該ρ型摻雜物之另一者,致使在該光活性層 及該非光活性層之間形成一 ρ-η接面。 4. 如請求項1之裝置,其中該光活性層包含矽、鍺、一 III-V () 族元素化合物及一有機材料其中的一或多個。 5. 如請求項1之裝置,其中該光活性層包含具有一硫族晶 體結構的一光活性材料。 6. 如請求項5之裝置,其中該光活性層包含一銅铜ί西化鎵 材料。 7. 如請求項1之裝置,其中該非光活性f包含至少一金屬 22 201001726 及出現在該光活性層之至少一部分之上。 8.如凊求項1之裝置’其中該非光活性層包含至少一金屬 致使Schottky接面形成在該光活性層及該非光活性層之 二f項8之裝置其中包含至少-金屬的該非光活性 層覆盘該複數個高縱橫比奈米結構的至少一些。 =裝置’其中包含至少—金屬的該非光活性 I、有約ίο奈米及約150奈米之間之厚度。 H.如睛求項§之農置,盆由 -或多個。 置-中5亥金屬包含錄、把及金其中的 約 高縱橫比奈米結構具有 = = ==縱—構具有約 間ΐ:高縱橫比奈米結構具有約 15.如請求項1之梦 含奈米線、微柱⑪米管橫比奈米結構包 23 201001726 w 16. 如請求項1之裝置,其中該複數個高縱橫比奈米結構包 含一奈米線叢(forest)。 17. 如請求項1之裝置,其中每一高縱橫比奈米結構包含一 半導體材料、一介電材料及一金屬其中的一或多個。 18. 如請求項17之裝置,其中該半導體材料包含矽、鍺及 矽-鍺其中的一或多個。 C 19.如請求項1之裝置,其中該複數個高縱橫比奈米結構在 鄰接奈米結構之間具有約100奈米及約3微米之間之一間 隔。 20. 如請求項1之裝置,另外包含一透明電極在該複數個高 縱橫比奈米結構的至少一部分之上。 21. —種製造一太陽電池裝置的方法,包含以下步驟: 提供一光活性層; 在該光活性層之上形成一非光活性層,以在該光活性 層及該非光活性層之間形成一異質接面;及 在該光活性層的一或多個表面上形成複數個高縱橫比 奈米結構,其被組態成用作入射光的一散射介質。 22. 如請求項21之方法,其中該非光活性層包含至少一金 屬,該方法另外包含以下步驟: 利用一蒸發方法,沈積該非光活性層於該光活性層之 24 201001726 w 上。 23. 如請求項21之方法,其中形成複數個高縱橫比奈米結 構的該步驟另外包含以下步驟: 沈積一觸媒層在該光活性層之上;及 利用一汽液固-化學汽相沈積方法,在該光活性層的該 一或多個表面上生長該複數個高縱橫比奈米結構。 24. 如請求項21之方法,另外包含以下步驟: X 1 形成一外殼層於該複數個高縱橫比奈米結構之上。 25
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US12/039,953 US8551558B2 (en) | 2008-02-29 | 2008-02-29 | Techniques for enhancing efficiency of photovoltaic devices using high-aspect-ratio nanostructures |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
TW201001726A true TW201001726A (en) | 2010-01-01 |
Family
ID=41012249
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
TW098105967A TW201001726A (en) | 2008-02-29 | 2009-02-25 | Techniques for enhancing efficiency of photovoltaic devices using high-aspect-ratio nanostructures |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US8551558B2 (zh) |
TW (1) | TW201001726A (zh) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN103299434A (zh) * | 2010-11-18 | 2013-09-11 | 罗伯特·博世(东南亚)私人有限公司 | 光伏设备以及制造光伏设备的方法 |
US9397245B2 (en) | 2010-06-18 | 2016-07-19 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Photoelectric conversion device and manufacturing method thereof |
Families Citing this family (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2009137241A2 (en) | 2008-04-14 | 2009-11-12 | Bandgap Engineering, Inc. | Process for fabricating nanowire arrays |
JP2012507872A (ja) * | 2008-10-30 | 2012-03-29 | フェイ プーン、ハク | ハイブリッド透明導電性電極 |
DE102009007908A1 (de) * | 2009-02-06 | 2010-08-12 | Zylum Beteiligungsgesellschaft Mbh & Co. Patente Ii Kg | Verfahren zur Herstellung eines Dünnschicht-Photovoltaik-Systems und Dünnschicht-Photovoltaik-System |
US20110162701A1 (en) * | 2010-01-03 | 2011-07-07 | Claudio Truzzi | Photovoltaic Cells |
US20110192462A1 (en) * | 2010-01-03 | 2011-08-11 | Alchimer, S.A. | Solar cells |
GB201020843D0 (en) * | 2010-12-09 | 2011-01-19 | Univ Nottingham | Solar cells based on InGaN |
WO2013043730A2 (en) * | 2011-09-19 | 2013-03-28 | Bandgap Engineering, Inc. | Electrical contacts to nanostructured areas |
US20130112236A1 (en) * | 2011-11-04 | 2013-05-09 | C/O Q1 Nanosystems (Dba Bloo Solar) | Photovoltaic microstructure and photovoltaic device implementing same |
US20130112243A1 (en) * | 2011-11-04 | 2013-05-09 | C/O Q1 Nanosystems (Dba Bloo Solar) | Photovoltaic microstructure and photovoltaic device implementing same |
WO2013137708A1 (en) * | 2012-03-13 | 2013-09-19 | Mimos, Berhad | Wide acceptance angle solar cell device |
US9400968B2 (en) * | 2013-08-14 | 2016-07-26 | Ricoh Company, Ltd. | Three-dimensional indexing protocol |
JP6918631B2 (ja) * | 2017-08-18 | 2021-08-11 | 浜松ホトニクス株式会社 | 光検出素子 |
FI3769343T3 (fi) * | 2018-03-22 | 2023-09-01 | Iee Sa | Valoilmaisin |
Family Cites Families (20)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4163677A (en) * | 1978-04-28 | 1979-08-07 | Rca Corporation | Schottky barrier amorphous silicon solar cell with thin doped region adjacent metal Schottky barrier |
US5228926A (en) * | 1990-09-20 | 1993-07-20 | United Solar Systems Corporation | Photovoltaic device with increased light absorption and method for its manufacture |
WO2002080280A1 (en) * | 2001-03-30 | 2002-10-10 | The Regents Of The University Of California | Methods of fabricating nanostructures and nanowires and devices fabricated therefrom |
US7109517B2 (en) | 2001-11-16 | 2006-09-19 | Zaidi Saleem H | Method of making an enhanced optical absorption and radiation tolerance in thin-film solar cells and photodetectors |
TW200425530A (en) | 2002-09-05 | 2004-11-16 | Nanosys Inc | Nanostructure and nanocomposite based compositions and photovoltaic devices |
US7265037B2 (en) | 2003-06-20 | 2007-09-04 | The Regents Of The University Of California | Nanowire array and nanowire solar cells and methods for forming the same |
JP2005123445A (ja) * | 2003-10-17 | 2005-05-12 | Canon Inc | 光起電力素子および光起電力素子の製造方法 |
US8048477B2 (en) | 2004-02-19 | 2011-11-01 | Nanosolar, Inc. | Chalcogenide solar cells |
US8309843B2 (en) | 2004-08-19 | 2012-11-13 | Banpil Photonics, Inc. | Photovoltaic cells based on nanoscale structures |
CN100578817C (zh) | 2005-03-01 | 2010-01-06 | 佐治亚科技研究公司 | 三维多结光生伏打器件及其方法 |
US20070012353A1 (en) * | 2005-03-16 | 2007-01-18 | Vhf Technologies Sa | Electric energy generating modules with a two-dimensional profile and method of fabricating the same |
US20060207647A1 (en) | 2005-03-16 | 2006-09-21 | General Electric Company | High efficiency inorganic nanorod-enhanced photovoltaic devices |
JP2007324324A (ja) | 2006-05-31 | 2007-12-13 | Sumitomo Electric Ind Ltd | 太陽電池 |
WO2008057629A2 (en) * | 2006-06-05 | 2008-05-15 | The Board Of Trustees Of The University Of Illinois | Photovoltaic and photosensing devices based on arrays of aligned nanostructures |
US20090266415A1 (en) | 2006-06-27 | 2009-10-29 | Liquidia Technologies , Inc. | Nanostructures and materials for photovoltaic devices |
JP2008028118A (ja) | 2006-07-20 | 2008-02-07 | Honda Motor Co Ltd | 多接合型太陽電池の製造方法 |
US7998788B2 (en) | 2006-07-27 | 2011-08-16 | International Business Machines Corporation | Techniques for use of nanotechnology in photovoltaics |
EP1892769A2 (en) | 2006-08-25 | 2008-02-27 | General Electric Company | Single conformal junction nanowire photovoltaic devices |
US7977568B2 (en) | 2007-01-11 | 2011-07-12 | General Electric Company | Multilayered film-nanowire composite, bifacial, and tandem solar cells |
AU2011268135B2 (en) * | 2010-06-18 | 2014-06-12 | Glo Ab | Nanowire LED structure and method for manufacturing the same |
-
2008
- 2008-02-29 US US12/039,953 patent/US8551558B2/en active Active
-
2009
- 2009-02-25 TW TW098105967A patent/TW201001726A/zh unknown
-
2013
- 2013-09-06 US US14/020,253 patent/US9105787B2/en not_active Expired - Fee Related
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US9397245B2 (en) | 2010-06-18 | 2016-07-19 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Photoelectric conversion device and manufacturing method thereof |
CN103299434A (zh) * | 2010-11-18 | 2013-09-11 | 罗伯特·博世(东南亚)私人有限公司 | 光伏设备以及制造光伏设备的方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20090217972A1 (en) | 2009-09-03 |
US20140007931A1 (en) | 2014-01-09 |
US9105787B2 (en) | 2015-08-11 |
US8551558B2 (en) | 2013-10-08 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
TW201001726A (en) | Techniques for enhancing efficiency of photovoltaic devices using high-aspect-ratio nanostructures | |
TWI430465B (zh) | 利用高縱橫比之奈米結構以增強效率的太陽電池裝置 | |
JP5379811B2 (ja) | 高アスペクト比ナノ構造体を用いた光起電デバイス及びその作成方法 | |
CN101132028B (zh) | 单个共形结纳米线光伏器件 | |
KR101547711B1 (ko) | 나노와이어-기반 태양 전지 구조 | |
JP2007142386A (ja) | 導電性ナノワイヤーアレイ電極を備えた光起電力構造体 | |
KR20080044183A (ko) | 비정질-결정성 탠덤형 나노구조 태양전지 | |
US20150053261A1 (en) | Solar cell | |
JP2010532574A (ja) | 分散型コアックス光起電装置 | |
US20140014169A1 (en) | Nanostring mats, multi-junction devices, and methods for making same | |
Zhang et al. | n-ZnO/p-Si 3D heterojunction solar cells in Si holey arrays | |
JP2014527277A (ja) | ナノワイヤまたはマイクロワイヤをベースにし、改良された光学特性を有する機械的に安定なデバイスおよびその製造方法 | |
KR101136882B1 (ko) | 질화물 반도체 기반의 태양전지 및 그 제조방법 | |
KR101039208B1 (ko) | 반도체 막대를 구비하는 태양 전지, 이의 제조방법, 및 태양 전지 - 열전 소자 통합 모듈 | |
JP2013115417A (ja) | 光電変換素子及びその製造方法 | |
Goodnick et al. | Solar cells | |
JP5437486B2 (ja) | 光電変換素子 | |
JP2013115418A (ja) | 光蓄電装置 | |
KR20110107934A (ko) | 탄소나노튜브/ZnO 투명태양전지 및 그 제조방법 | |
JP2013106025A (ja) | 光電変換素子 | |
Cao et al. | Nanocrystalline Silicon-Based Multilayers and Solar Cells | |
KR20160050632A (ko) | 터널링 금속금속산화물금속 핫전자 에너지 소자 | |
Kim et al. | High performance core-shell nanowire array devices prepared by atomic layer deposition | |
Wilson | Nanowire solar cells made efficient | |
JP2010267831A (ja) | 半導体装置 |