TW200828227A - Debugging system and method of display device - Google Patents

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    • GPHYSICS
    • G09EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
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Description

200828227 九、發明說明: 【發明所屬之技術領域】 本發明係關於-種顯示器調試系統及其調試方 其係關於-錢晶顯示器之職线及應用 調試方法。 a示、、死之 【先前技術】 液晶顯示器因具有低輻射性、體積輕薄短小及 等特點,已廣泛應用於手機、個人數位助理、筆^- 個人電腦及電視等領域。並中笔知、 ,、甲在液日日顯不器之韌體 (Flrmware)設計過程中,調試係其中最為重要的環節之一。 構-閱’其係—種先前技術顯示器調試系統之結 =:2 =器調試系統1包括-主機1〇、-主機顯 哭二、紅—t / 14及一目標顯示器16,該目標顯示 ^ 一圖像縮放晶片(Scaling IC),該主機1〇裝載一 與該圖像㈣w對應之賴操作純。該 由 轉接設備14與該目椤顯千哭μ 4地 风υ猎由这 飞目铩顯不器16連接,該主機顯示器12 =主機1G連接以顯示該主機1()之測試操作系統界面及 t Ί輸入數據。該主機1〇#由該轉接設備14讀取該 目^ 不1 ^之圖像縮放晶片内寄存器資料’並於主機顯 12上料數據,利用該測試操作线測試並調 正該目標顯示器16之資料數據,並再藉由該轉接設備14 將該調試完叙輯寫人該目標顯示H 16之圖像縮放晶 片,如此完成一次目標顯示器16之調試工作。 π然而’上述顯示器調試系統工每次只能根據目標顯示 益12預先確定之調試内容’於需要調試之地方編寫相應之 200828227 、調試程序,調試完成後將相關數據藉由燒錄裝置燒錄至該 目標顯示器12,再運行該目標顯示器12以判斷該目標顯 -示器12之工作狀態,如需再次調試,則需要重新編寫程序 並進打燒錄、調試。如此導致測試者無法隨時更改該轉接 二備14所讀取之目標顯示$ 16《資料數據,且每調試需 花費很多時間重新編譯燒錄,使顯示器之勒體設計過程二 種圖像縮放晶片對應 ^ — ,一 苌碉試輛作系統,若目 :顯示器16之晶片種類或生產廄家更換,主機1〇之測試 = : = :換成相應之配套系統’如此亦使顯示器: 【發明内容】 有鐘於此,有必要提供一種使顯示器調試過程省時方 更且可通用於多種晶片之顯示n調試系統。 、 還^必要提供一種上述顯示器調試系統之調試方法。 器,3=調試系統,其包括—主機及-目標顯示 層,:單元、一驅動程式層及-應用程式 用"”視頻圖形陣列接口。其中,該應 王式層匕括若干晶片類型資料及一 β心 :與該目標顯示器藉由其視頻圖形陣==:,該主 -用程式層藉由輸入輸出控制通道 =訊’該 該驅動程式層控制並驅動該顯卡單;層通訊’ :項寫’該圖像縮放晶片資料經由 二界放晶片進 該目標顯示器,經修改及喟气德二_戶界面顯示於 改及調錢,调試結果直接顯示於該 200828227 目標顯示器。 Λ 種上述顯不器調試系統之調試方法,其包括以下步 驟、乂驟·開始,連接該主機與目標顯示器;步驟二: :載驅動程式,該應用程式層加载該驅動程式層之驅動程 ς,步驟三··判斷顯卡單元是否支持,該驅動程式層判斷 u顯元是否與其驅動程式相匹配;步驟四:判斷目標 t器疋否支持’該驅動程式層判斷該目標顯示器是否盘 元相匹配;步驟五:選擇/裝载晶片資料,該應用 丕:二衣載破調試之晶片資料;步驟六:判斷晶片類型是 =持’該驅動程式層判斷該圖像縮放晶片之類型是否盘 程:層所裝載之晶片類型相符合;步驟七:修改對 二,=’對需要調試之資料數據進行修改及調試,直 至昜社翻-广 果;步驟八:結束,調試 至取佳顯不狀態之後,調試結束。 顯示==技術’該顯示器調試系統採用主機與目標 、H顯卡早π之視頻目料顺口與目桿 :==巧列接口通訊,對目標顯示器之圖像; 用戶界面首貝料進行讀寫’並藉由應用程式層之圖形 用戶界面直接於目標_千哭 _ M7C/ 形用戶界面對圖像縮放曰逆”、口圖 試,直至調試結果滿意;曰:,:片資料數據進行修改及調 過程簡單、省時,方便調 關不裔調試系統之調試 包含有多種晶片類型資料該應用程式層 於該應用程式層之圖形用戶調:者可根據晶― 口心用戶界面内選擇相符合之晶片類 200828227 :缩程ί層根據晶片類型控制該顯卡單元讀取該圖 -用於多:曰ί晶片·數據,故使該顯示器調試系統可通 ' 曰曰片之測試,從而無需因為所測試之晶片類型不 要更換測試系統,節省顯示器之㈣設計過程時間 〇〇該調試方法採用上述顯示器調試系統,調試過程簡 單,重複操作方便,並且可選擇晶片類型,通用於多種晶 片之巧°式,從而無需因為所測試之晶片類型不同而需要更 »換測試系統’節省顯示器之勤體設計過程時間及步二。 【實施方式】 請參閱圖2,其係本發明顯示器調試系統較佳實施方 式之結構示意圖。該顯示器調試系統2包括一主機22及一 目標顯示器26,該主機22包括一顯卡單元22〇、一驅動程 式層225及一應用程式層226,該顯卡單元220包括一視 頻圖形陣列(Video Graphics Array,VGA)接口 221。該目標 顯示器26係一液晶顯示器,其包括一圖像縮放晶片26"〇 醍及一視頻圖形陣列接口 261。該主機22之視頻圖形陣列接 口 221與該目;f示顯不器26之視頻圖形陣列接口 261連接, 以實現該主機22與該目標顯示器26之通訊。該應用程式 層226猎由輸入輸出控制通道與該驅動程式層225通訊, 該驅動私式層225控制並驅動該顯卡單元220以及:ii他若 干硬體裝置。 該驅動私式層225可為一利用視窗驅動模式(windows
Driver Model,WDM)技術建立之具有4GB容量大小之資 料庫’該驅動程式層225包括若干驅動程式,該若干驅動 11 200828227 程式對應若干硬體裝置。該應用程式層226包括若干晶片 類型資料及一圖形用戶界面,該圖形用戶界面包括讀、寫 。以及提示等界面,該圖形用戶界面直接顯示於該目標顯示 26之顯示屏上,測試者利用該主機22所配備之相關輸 入設備,如鍵盤與滑鼠,於該圖形用戶界面環境下選擇與 該目標顯不器26之圖像縮放晶片260符合之晶片類型,調 用該圖像縮放晶片260之資料數據,輸入及修改晶片資料 數據等等。 ' _ 、該驅動程式層225判斷該顯卡單元22〇是否與驅動程 式相匹配,以及該目標顯示器26是否與該顯卡單元22〇 相匹配,若二者均匹配,測試者可於該圖形用戶界面下選 擇與該圖像縮放晶片260相符合之晶片類型,此時該應甩 私式層226通知該驅動程式層225,該驅動程式層225控 制該顯卡單元22〇之視頻圖形陣列接口 221並經由該目標 顯示器26之視頻圖形陣列接口 261對該圖像縮放晶片26〇 内寄存器資料進行讀取。該晶片資料數據經由該驅動程式 層225至該應用程式層226,經編譯、整理之後顯示於該 應用程式層226之圖形用戶界面。測試者對相關資料數據 進仃修改及調試,經修改調試後之資料數據再經由驅動程 式層225,顯卡220,視頻圖形陣列接口 221、261寫入該 圖像縮放晶片260,該過程結束後直接於該目標顯示器% 上顯示調試結果。若發現調試結果不佳,再返回圖形用戶 界面進行修改及調試,直至調試結果滿意為止。 該顯示器調試系統2採用主機22與目標顯示器%連 接,利用其顯卡單元220之視頻圖形陣列接口 221與目標 12 200828227 、顯示器26之視頻圖形陣列接π 261通訊,對目標顯示器 26,圖像縮放晶片⑽内寄存器資料進行讀寫,並藉由應 用程式層226之圖形用戶界面直接於目標顯示器%之顯示 屏顯示輸人資料數據’以及調試結果,調試者若不滿意調 式、、α果可奴蚪返回圖形用戶界面對圖像縮放晶片26〇之 晶片資料數據進行修改及調試,直至調試結果滿意為止。 故該顯不器調試系統2之調試過程簡單、省時,方
者調試。 W 上另外’該應用程式層226包含有多種晶片類型資料, =試者可根據晶片類型之不同於該應用程式層—之圖形 摅:界面内選擇相符合之晶片類型’該驅動程式層⑵根 ^曰曰片類型控制該顯卡單元細讀取該.圖像縮放晶片26〇 曰曰曰片貧料數據’故使該顯示器調試系統2可通用於 曰曰片之測試’從而無需因為所測試之晶片類型不同而需要 奐測試系統’節省顯示器之㈣設計過程時間及步驟。 =參閱圖3’其係上述顯示器調試系統2之調試方法 々丨L王圖。該調試方法包括以下步驟: 步驟S1 ··開始; 連接該主機22與該目標顯示器26,並開啟該 建仃該顯示器調試系統2。 步驟S2 ··加載驅動程式; 制裝動後’該應用程式層226藉由輸入輸出控 裁驅動程Ϊ式層225通訊,從該驅動程式層225加 步驟S3 ··判斷顯卡單元是否支持; 13 200828227 該驅動程式層225對該顯卡嚴- 一 、該主機22之頻+ 兀220進行檢測,判斷 •行下一步若I 之格式是否與之匹配,若是,= 仃卜步,右否,結束調試。 疋進 步驟S4 .判斷目標顯示器是否支持; 該驅動程式層225藉由 、’ 列接口 261對該 1丁 .4不盗26之視頻圖形陣 器26是否盘^卡^顯不二進行檢測,判斷該目標顯示 疋ύ ”通顯卡早兀22〇匹 否,結束調試。 右疋,進仃下一步;若 步驟S5 :選擇/裝載晶片資料; 初始狀態時’該應用程式層226裝載上—次所 m 1顯示於圖形用戶界面;需要選擇時,調試者選 擇被測試晶片符合之晶片資料顯示於該應用6 之圖形用戶界面。 曰^6 步驟S6 :判斷晶片類型是否支持; 該驅動程式層225藉由該目標顯示器26之視頻圖形陣 列接口 261對該目標顯示器26之圖像縮放晶片26〇進行檢 測’並判斷該圖像縮放晶片26G之類型是否與該應用程式 層226所衣载之晶片類型相符合,若是,進行下一步;若 否,返回上一步,此時該應用程式層226之圖形用戶界面 顯不提不界面,調試者可根據提示界面選擇與該圖像縮放 晶片260符合之晶片類型。 步驟S7 :修改對應晶片資料; 該應用程式層226藉由該顯卡單元22〇之視頻圖形陣 列接口 221 ’再經由該目標顯示器26之視頻圖形陣列接口 261讀取該圖像縮放晶片260之晶片資料,於該圖形用戶 200828227 ,面,、肩示調试者對需要調試之資料數據進行修改及調 试’經修改調試後之資料數據再經由驅動程式層225,顯 卡220視頻圖形陣列接口 221、261寫入該圖像縮放晶片 260 \該過程結束後直接於該目標顯示器26上顯示調試結 果,右發現調試結果不佳,再返回圖形用戶界面進行修改 及調試,直至調試結果滿意為止。 步驟S8 :結束。 調試至最佳顯示狀態之後,調試結束。 該顯不器調試系統2之調試過程簡單,重複操作: 並且可選擇晶片類型,通用於多種晶片之測試,從6 ί需因為所測試之晶片類型不同而需要更換測試系統, 省顯不器之韌體設計過程時間及步驟。 β綜上所述,本發明確已符合發明專利之要件,爰依: ,出申請專利。惟’以上所述者僅係本發明之較佳實施 :’本發明之範圍並不以上述實施方式為限,舉凡熟習 藝之人士援依本發日狀精神所作之等效修飾或變化 白應涵蓋於以下申請專利範圍内。 【圖式簡單說明】 圖1係-種先前技術顯示器調試系統之結構示意圖。 圖2係本發明顯示||調試系統較佳實施方式之結音 圖。 ^ 圖3係圖2+顯__系統之調試方法流程圖 【主要元件符號說明】 顯示器調試系統 2 目標顯示器 26 主機 顯卡單元 22 220 225 200828227 視頻圖形陣列接口 221、261 驅動程式層 260 ’應用程式層 226 圖像縮放晶片
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Claims (1)

  1. 200828227 十、申清專利範圍 /7=7:調試系統,其包括一主機及一目標顯示器, b ’匕括一顯卡單元、一驅動程式層及一應用 ΐ::顯:單元包括一視頻圖形陣列接口,該目標顯; TO ^ w像縮放晶片及一視頻圖形陣列接口,复 該應用程式層包括若干晶片類型資料及-圖形用戶衣 :該主機與該目標顯*器藉由其視㈣料列接口遠 職用程式層藉由輸人輸出控制通道與該驅動 圖像縮放晶片谁;^_ 子該 带用玲κ 圖像縮放晶片資料經由該圖 7用戶界面顯示於該目輕顧 試結果直接顯示於該目:;;:〜及調試後,調 2 '該如目 ^專干利^第1項所述之_調_,其中, ㈢铩顯不器係一液晶顯示器。 3如申睛專利範圍第1馆 該驅動.…Γ 顯示器調試系統,其中, ,式層係一利用視窗驅動模式 庫,其包括若干驅動程式。 <貝科 4、 如申請專利範圍第3項所述之顯示哭 mm% η ·\ β, μ ^Β .,肩不m ,周忒糸統,其中, ㈣私式層料該顯卡單元 配’以及該目標顯示器是否金該二動私式相匹 5、 如申往直刹U顯卡早兀相匹配。 談θ开二V/弟1項所述之顯示器調試系統,其中’ 該圖像縮放晶片之類^類型用於提供選擇’以符合 6、 -種如申請相_第^ 試方法,其包括以下步驟:.員^調试糸統之調 17 200828227 步驟一:開始,連接該主機與目標顯示器; 步驟二:加載驅動程式,該應用程式層加載該 -層之驅動程式; 步驟三:判斷顯卡單元是否支持,該驅動程式層判斷該 顯卡單兀是否與其驅動程式相匹配; / =判”標顯示器是否支持:該驅動程式層判斷 該目私顯不咨疋否與該顯卡單元相匹配; 步驟五·選擇/裝載晶片f料,該應用 之晶片資料; 衣戰破调试 步驟六:判斷晶片類型是否支持,該驅動程式層判斷該 圖像縮放晶片之類型是否與該應用程式層所 : 片類型相符合; 歡之日日 步驟七:修改對應晶片資料,對需要調試之資料數墟、隹 步驟八:㈣二 '顯不器上查看調試結果; 7、如申铁專;汾鬥::试至最佳顯示狀態之後’調試結束。 法,:中,兮:6項所述之顯示器調試系統之調試方 八,〜目標顯示器係一液晶顯示器。 、如申請專利範圍第6項 法,1 ^之〆員不时調忒糸統之調試方 2其中’該驅動程式層係一利用視 立之資料庫,其包括若干驅_式。 、式技術建 項所述之顯示器調試系統之調試方 載上-次所調二^丄::始狀態時’該應用程式層裝 不支持時,= 貧料;若於步驟六判斷晶片類型 、、“應用程式層之圖形用戶界面頻干接一 面’以選擇與被測試晶片符合之W資料/外不界 18 200828227 10、如申請專利範 方法,苴Φ 从弟6項所述之顯示哭調H 方法,、中,於步驟七中,若發現調系統之調試 回圖形用戶界面進行修改及調試,直至% μ不k 再返 I铜甙結果滿意為 止0
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Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN108280001A (zh) * 2017-12-29 2018-07-13 深圳市艾特智能科技有限公司 参数调试方法、系统、控制终端、测试终端及终端设备
CN112435635B (zh) * 2020-11-05 2022-03-08 联宝(合肥)电子科技有限公司 一种亮度调节方法、设备和计算机存储介质

Family Cites Families (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7039912B1 (en) * 1998-05-12 2006-05-02 Apple Computer, Inc. Integrated computer testing and task management systems
TW495060U (en) * 1998-07-24 2002-07-11 Inventec Corp Brightness test device of liquid crystal display panel
KR100588009B1 (ko) * 1999-08-19 2006-06-09 엘지.필립스 엘시디 주식회사 디지털 모니터의 영상 조절방법 및 장치
JP4190114B2 (ja) * 1999-11-10 2008-12-03 株式会社ルネサステクノロジ マイクロコンピュータ
TW554625B (en) * 2000-12-08 2003-09-21 Silicon Graphics Inc Compact flat panel color calibration system
WO2006084357A1 (en) * 2005-02-10 2006-08-17 Tira Wireless Inc. Outputting debug messages for applications intended for mobile devices
CN101194233B (zh) * 2005-04-18 2010-05-19 捷讯研究有限公司 测试无线组件应用程序的系统和方法
US20060252462A1 (en) * 2005-05-05 2006-11-09 Govind Balakrishnan Accessing dedicated functions in personal devices
US7861225B2 (en) * 2005-05-31 2010-12-28 Qualcomm Incorporated System and method to combine debugging messages from diverse applications or operating systems executed within a mobile device
US7813831B2 (en) * 2005-06-09 2010-10-12 Whirlpool Corporation Software architecture system and method for operating an appliance in multiple operating modes
US20070168971A1 (en) * 2005-11-22 2007-07-19 Epiphany, Inc. Multi-tiered model-based application testing
KR101019209B1 (ko) * 2007-04-25 2011-03-04 이화여자대학교 산학협력단 임베디드 소프트웨어의 인터페이스 자동 추출 장치 및 그방법
US9417895B2 (en) * 2007-10-19 2016-08-16 Kubisys Inc. Concurrent execution of a first instance and a cloned instance of an application
US8584100B2 (en) * 2009-12-10 2013-11-12 Sap Ag Bridging code changes and testing

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