TR201809038T4 - Çeşi̇tli̇ yükleme testleri̇ni̇ yapmaya yöneli̇k numune tablali test ci̇hazi - Google Patents

Abstract

Buluş, özellikle bir numunenin (23) sıkıştırılması için bir numune yuvası düzeneği (21) ile spektroskopik malzeme testi için bir tutucu araca (22) atanmış kavrama aracına yönelik en azından numune yuvası düzeneğinden (21) çıkan iki pegi (24) olan bir numunenin (23) alınmasına yönelik bir numune tutucuyla (20) ilgilidir. Buluş ayrıca bir yuva tertibatı (30), bir numune tutucu tabla (10), bir numune besleme sistemi (50), bir sıkıştırma düzeneği (60) ve bir test cihazıyla (70) ilgilidir.

Description

TARIFNAME ÇESITLI YÜKLEME TESTLERINI YAPMAYA YÖNELIK NUMUNE TABLALI TEST CIHAZl Bulus, özellikle Spektroskopik malzeme testleri için bir numunenin alinmasina yönelik numune tutuculu bir test cihaziyla ilgilidir.

Spektroskopik malzeme testi çesitli malzemelerin test edilmesi için dinamik, mekanik Spektroskopik (DMTS, DMTA, DMA) yöntemdir. Bu baglamda numune ön yükleme veya statik zorlama olmadan 0,0001 Hz ila 1000 Hz test frekansinda sinüzoidal mekanik uyarilar için tasarlanmistir. Impuls ve numune tepkisi arasindaki süreden ürünün kalitesine yönelik önemli ipuçlari veren numune malzemesinin visko elastik özellikleri okunabilir. Numuneler çekme, basinç uygulama, bükme ve kesme zorlamalarina tabi tutulabilir.

DMTS yöntemi hem arastirma ve gelistirme alaninda hem de kalite kontrolü alaninda uygulanmaktadir. Böylece DMTS araciligiyla elastomerler, polimerler, kompozit malzemeler, metaller, camlar, seramik malzemeler, biyomateryaller, gida maddeler, yapistiricilar, plastik malzemeler ve sivilar gibi çesitli malzemelerin dinamik özellikleri tespit edilebilir.

Testin yapilmasi için numune malzemesi bir test cihazina iletilmelidir. Numune malzemesinin test cihazina iletilmesi numune besleme sisteminin yardimiyla yapilir. Bilinen numune besleme sisteminde numunelerin alinmasi için bir numune tablasi ve kavrama sistemi vardir.

Kavrama sistemi, numune tablasindan bir numune alir ve bunu test cihazina yerlestiren sikistirma düzenegine iletir. Sikistirma düzenegine numuneyi test etmek için alan bir numune tutucu tutturulmustur. Testin türüne yani çekme, bükme, kesme veya basinç uygulama testine göre uygun numune tutucu gereklidir. Ölçümden sonra numune malzemesi tekrar test cihazindan çikarilir.

Bu baglamda simdiye kadar ayni numune türünün yani çekme, basinç uygulama, bükme veya kesme numunelerinin art arda test sistemine koyulmasi, ölçülmesi ve sonra tekrar çikarilmasi dezavantajlidir. Buna göre baska bir tür numunenin test edilmesi için numune tablasi degistirilmelidir. Ayrica numune tutucu bir ölçümde kirlenmisse bunun temizlenmesi veya degistirilmesi gerekebilir.

CN 201 215 537 Y sayili patent dokümani özel isima yüklenmelerine de tabi tutulabilecek metal çekme deneyleri için numune tutucuyu göstermektedir. Numune tutucuda, numunenin tutulmasi için bir numune yuvasi düzenegi vardir. Ayrica numune tutucuda numune yuvasi düzeneginden olusan iki peg bulunduran bir tutucu araç vardir. CN 201 188 077 Y sayili patent dokümani torsiyon test makinesi için bir numune tutucuyu açiklamaktadir. Numune tutucuda döner aks tarafindan bakildiginda yanda duran iki çikinti vardir. EP 0 750 171 A2 sayili patent dokümaninda birçok tarama aracinin muhafaza edilmesi veya hazirlanmasina yönelik bir tabla açiklanmaktadir. Tarama araçlari örnegin ölçümlerin ölçülmesine yönelik bir dokümani degistirilebilir tarama araci veya koordinat ölçüm cihazinin ölçüm sensörünü almak için en az bir yeri olan tablayla ilgilidir.

JP 856 35043 U sayili patent dokümani çekme testine yönelik numune tutucu için bir tablayi açiklamaktadir; burada kavrama kolu en öndeki numune tutucuyu tabladan alabilir. US yükleme türleri bakimindan deneyebilecek numune test cihazini tarif etmektedir.

Mevcut bulusun amaci, yukarida belirtilen türdeki cihazlarin test cihazina art arda çesitli sekil ve yükleme türündeki (çekme, basinç, bükme ve kesme) numunelerin otomatik olarak koyulmasi, ölçülmesi ve tekrar disari çikarilmasina yönelik iyilestirilmesidir.

Bu amacin yerine getirilmesi için bulus geregi Istem 1 uyarinca bir test cihazi önerilmektedir.

Bulus, numunenin alinmasina yönelik bir numune tutucu, bir numune tutucu tablasi ve test cihazinda numune tutucunun beslenmesine yönelik numune besleme sistemi kapsayan bir test cihaziyla ilgilidir. Her numune tutucuda çesitli sekil ve yükleme türlerinde numunenin tutulmasina yönelik bir numune yuvasi tertibati vardir; burada numune yuvasi cihazindan çikan iki peg olan numune yuvasi cihazinda bir tutucu araç vardir. Numune tutucu tablasinda bir tasiyici stant ve tasiyici standa yerlestirilmis olan numune tutucunun tutucu aracinin alinmasi için çok sayida yuva tertibatlari vardir. Numune besleme sisteminde tutucu araçtaki numune tutucuyu kavrayan ve test cihazina yerlestirilmis sikistirma düzenegine ileten bir kavrama araci vardir. Yuva tertibatlari, numune tutucuyu istenen sirada test cihazina iletilebilecek sekilde tasiyici standa yerlestirilmektedir. Numune tutucular çesitlidir ve numunenin çesitli yükleme türlerinin yapilmasina yönelik olusturulmaktadir.

Bir numunenin alinmasina yönelik numune tutucuda bir tutucu araca atanmis, bir kavrama araci için numune yuvasi düzeneginden çikan iki peg bulunan numunenin tutulmasi için bir numune yuvasi düzenegi vardir. Numune tutucuda kavrama sisteminin pensesiyle kavrayabilen ve böylece tutulan numuneyi toplam düzenek olarak bir test cihazina iletebilen ve tekrar çikarilabilen numune yuvasi düzeneginden çikan iki peg vardir. Buna göre çesitli sekil ve yükleme türünden (çekme, basinç, bükme ve kesme) numuneleri test cihazina iletmek ve buradan geri çikarmak mümkündür. Böylece çesitli sekil ve yükleme türünden numuneler istenen sirada test cihazina koyulabilir. Her ölçümden sonra numune tutucunun içine tutturulmus numunelerle beraber çikarildigi ve yeni numune tutucuya itinali bir sekilde numune yerlestirildigi için özellikle vulkanize edilen lastigin yesil yapiskan maddelerinin ölçümünde kirlenme tehlikesi azaltilir.

Avantajli bir düzenlemede, peglerin uç kisimlari neredeyse koni seklindedir. Koni seklindeki uç kisimlar, numune tutucunun test cihazinin sikistirma düzeneginde tutulmasi içindir.

Avantaji sekilde pegler numune yuvasi düzeneklerinin karsi tarafindan dikey sarkar. Böylece numunelerin tasima sirasinda numune tutucunun öz agirligiyla mekanik olarak yüklenmemesi saglanir.

Ayrica, numune tutucunun alinmasina yönelik yuva tertibati, yuva tertibatindaki girintiyle numune tutucunun tutucu aracinin alinmasina yönelik öngörülmüs olabilir. Yuva tertibatina numune tutucular çesitli sekil ve yükleme türündeki numunelerle alinabilir.

Avantajli sekilde, yuva tertibatinda bir ilk yuva açisi ve bir ikinci yuva açisi vardir; burada her yuva açisi takriben ilk ve ikinci bacakla L seklinde enine kesiti olacak sekildedir.

Her durumda, yuva açisinin ilk bacagina avantajli sekilde birer girinti açilmistir. Buna göre numune yuvasi tertibatindan çikan her iki peg yuva tertibati tarafindan alinir.

Avantajli bir düzenlemede, girintilerin etrafi bir ilk çukur tarafindan çevrelenir. Avantajli sekilde, ilk yuva açisinda ilk çukura yerlestirilen ikinci bir çukur vardir. Bu sirada bir numune yuvasi düzeneginin sekilsel sabitlemeli alinmasina yönelik ilk çukur avantajli sekilde takriben dikdörtgen ve ikinci çukur takriben yuvarlak sekilde olusturulmaktadir. Çukurlarda numune yuvasi düzenegi bulunur, böylece numune, numune tutucunun öz agirligiyla mekanik yüklenmez ve sürünecek kadar egilmez. Bu sayede, ince film numuneleri ayni zamanda elyaflar, lastik seritler, sert plastik maddeler, kompozit malzemeler ve hatta metaller de bir numune tutucuda tutulabilir ve yuva tertibatina yerlestirilebilir. Bunun disinda çukurlarla numune tutucularin yuva tertibatinin içinde güvenle alinmasi saglanir.

Numune tutucu tabla çesitli sekil ve biçimdeki numunelerin numune tutucu tablasinda toplam düzenek olarak tutularak numune tutucuya yerlestirilebilmesiyle karakterize edilmektedir; burada toplam düzenek test cihazina iletilmektedir. Buna göre çesitli sekil ve biçimdeki numuneler istenen sirada test cihazina koyulabilir.

Avantajli bir düzenlemede, kavrama sisteminde numune tutucunun tutucu aracini kavrayan birbiriyle mesafeli iki pense vardir.

Bulusun bir baska avantajli düzenlemesinde, kavrama sistemi boyuna ekseninde etrafinda döndürülebilir.

Ayrica, sikistirma düzenegi, numune tutucunun alinmasina yönelik test cihazinda spektroskopik malzeme testi için tutucu araca yerlestirilebilir.

Bulus, çizimlerde sematik olarak gösterilen uygulama örnekleriyle asagida daha ayrintili açiklanacaktir. Sekiller: Sekil 1, bulus konusu çesitli geometri ve yükleme türleri için bulus konusu numune tutuculara yerlestirilen bir numune tutucu tablasinin yandan görünümünü; Sekil 2, tutturulmus basinç numunesiyle bulus konusu numune tutucunun sematik görünümünü; Sekil 3, tutturulmus çekme numunesiyle ikinci uygulama örnegine göre bulus konusu numune tutucunun sematik görünümünü; Sekil 4, tutturulmus kesme numunesiyle üçüncü uygulama örnegine göre bulus konusu numune tutucunun sematik görünümünü; Sekil 5, tutturulmus bükme numunesiyle dördüncü uygulama örnegine göre bulus konusu numune tutucunun sematik görünümünü; Sekil 6, bulus konusu yuva tertibatinin ilk bacaginin perspektif görünümünü; Sekil 7, bulus konusu yuva tertibatinin ikinci bacaginin perspektif görünümünü; Sekil 8, bulus konusu numune besleme sisteminin ve bir test cihazina yerlestirilen bulus konusu sikistirma düzeneginin sematik yandan görünümünü göstermektedir.

Sekil 1, çesitli numune tutucularin (20) çok sayida alinmasina yönelik numune tutucu tablasini (10) göstermektedir. Numune tutucular (20) spektroskopik malzeme testine yönelik bir numunenin (23) alinmasi içindir.

Numune tutucu tablada (10) bir tasiyici standi (11) ve numune tutucunun (20) sekilsel sabitlemeli alinmasina yönelik tasiyici standa (11) yerlestirilmis birçok yuva tertibati (30) vardir. Yuva tertibatlari (30) tasiyici standa (11) sabitlenmektedir. Numune tutucu tablaya (10) üç farkli numune tutucu (20) sabitlenmektedir; basinç testi için bir numune tutucu (20a), çekme testi için bir numune tutucu (20b) ve kesme testi için bir numune tutucu (20c). Ayrica, numune tutucu tablaya (10) bükme testi için Sekil 1 'de gösterilmeyen numune tutucu (20d) sabitlenebilir.

Sekil 2 ila 5 'te çesitli yükleme türleri için numune tutucular (20) ayrintili olarak gösterilmektedir.

Sekil 2, basinç testi için bir numune tutucuyu (20a) göstermektedir. Numune tutucuda (20a) bir numune yuvasi düzenegi (21a) ve bir tutucu araç (22) vardir. Numune yuvasi düzenegine (21a) basinç testi için bir numune (23) tutturulmustur; burada çesitli numune malzemeleri alinabilir. Numune yuvasi düzeneginde (21a) bunlar arasinda numunenin (23) tutturulabilecegi iki tutucu plaka (26) vardir. Tutucu plakalara (26) montaj için anahtar yüzey olarak kullanilan buna takili bogazlarla (48) bir geçis alani (27) baglanmaktadir. Geçis alanlarini (27) birer plaka (28) sinirlar; burada plakalarin (28) üst tarafina tutucu araç (22) baglanmaktadir. Tutucu araçta (22) plakalardan (28) dikey çikan pegler (24) vardir. Peglerin (24) uç kisimlari (25) koni biçimindedir. Basinç testi için numune (23) sabitlenmesi için her iki tutucu plakayla (26) yapistirilmaktadir.

Sekil 3, bir çekme testi için bir numune tutucu (20b) göstermektedir. Numune tutucuda (20b) bir numune yuvasi düzenegi (21b) ve tutucu araç (22) vardir. Numune yuvasi düzeneginde (21b) iki sikistirma kiskaci (29) vardir. Sikistirma kiskaçlarina (29) bir numune (23) Sekil 3 'te görüldügü üzere uçlarindan sikistirilir. Sikistirma kiskaçlarinin (29) üst tarafina tutucu araç (22) baglanmaktadir. Tutucu araçta (22), sikistirma kiskaçlarindan (29) dikey çikan pegler (24) vardir. Peglerin (24) uç kisimlari (25) koni biçimindedir.

Sekil 4 'te kesme testi için bir numune tutucu (200) gösterilmektedir. Numune tutucuda (200) bir numune yuvasi düzenegi (210) ve tutucu araç (22) vardir. Numune yuvasi düzenegine (210) bir numune (23) sikistirilmistir. Numune yuvasi düzeneginde (210) takriben U seklinde olusturulmus bir tutucu (46) vardir. Numune (23), tutucunun (46) bacaklarina Sekil 4' te görüldügü üzere uç tarafa sikistirilmaktadir. Ayrica numune yuvasi düzeneginde (21c) tutucunun (46) bacaklari arasina yerlestirilmis ve numuneyi (23) de sikistiran bir sikistirma kiskaci (47) vardir. Sikistirma kiskacina (47) bogazli (48) geçis alani (27) baglanmaktadir; burada geçis alanina (27) bir plaka (28) yerlestirilmektedir. Tutucunun (46) üst tarafina ve plakanin (28) üst tarafina tutucu araç (22) baglanmaktadir. Tutucu araçta (22) dikine sarkan uç kismi (25) koni biçiminde olan iki peg (24) vardir. Tutucudan (46) sarkan pegler (24) da bir bogaza (48) takilmaktadir. Bogazlar (48) montaj için anahtar yüzeyi olarak kullanilmaktadir.

Sekil 5, bükme testi için bir numune tutucu (20d) göstermektedir. Numune tutucuda (20d) bir numune yuvasi düzenegi (21d) ve tutucu araç (22) vardir. Numune yuvasi düzenegi (21d) bir numune (23) alir. Bunun için numune yuvasi düzeneginde (22d) takriben U biçimli mafsal sekilsel sabitlemeli müdahale için girintiler (53) yerlestirilmistir. Plançer (50) ve destek plakasi (51), iki plançer (50) ve destek plakasi (51) arasinda bir bosluk kalacak sekilde iki yay (52) üzerinden uç kisimlarindan birbirleriyle baglanmaktadir. Numune (23) plançer (50) ve destek plakasi (51) arasina numune (23), Sekil 5 'te gösterildigi üzere mafsalin (49) bacaklarinda ve destek plakasinda (51) duracak sekilde yerlestirilir. Plançere (50) içine takilmis bogazli (48) geçis alani (27) baglanmaktadir. Geçis alani (27) bir plaka (28) ile sinirlanir. Plaka (49) ve mafsala (49) tutucu araç (22) baglanmaktadir. Tutucu araç (22), dikine çikan uç kismi (25) koni biçiminde olan iki peg (24) kapsamaktadir. Montaj için anahtar yüzeyi olarak kullanilan tutucudan (46) çikan pegler (24) da bir bogaza (48) takilmaktadir.

Sekil 1, ayrica Sekil 6 ve 7 'den görüldügü üzere yuva tertibatinda (30) ilk yuva açisi (31) ve ikinci yuva açisi (32) vardir. Her iki yuva açisinin (32, 32) bir ilk bacagi (33) ve bir ikinci bacagi (34) vardir, böylece her iki yuva açisinin (31, 23) takriben L biçimli enine kesiti vardir.

Sekil 6 'da görüldügü üzere ilk yuva açisinin (31) ilk bacaga (33) bir girinti (35) yerlestirilmistir. Girinti (35), ilk bacagin (33) ön tarafindan (36) ikinci bacak (34) yönüne uzanmaktadir. Girintide (35) bir boyuna kisim (37) ve bir yuvarlak biçimli kisim (38) vardir. Ilk bacagin (33) dis tarafina (39) bir ilk çukur (40) açilmaktadir. Ilk çukur (40) dikdörtgen biçimli profile sahiptir. Ayrica ilk çukura (40) ve yuvarlak biçimli kisma (38) ikinci bir çukur (41) açilmaktadir. Ikinci çukur (41) yuvarlak biçimli olusturulmaktadir. Ikinci bacaga (34) ayrintilariyla gösterilmeyen sabitleme malzemesinin uygulanmasina yönelik bir delik (42) açilmaktadir. Delik (42) üzerinden ilk yuva açisi (31) tasiyici standa (11) sabitlenebilir.

Sekil 7 uyarinca ikinci yuva açisinda (32) bir ilk bacak (33) ve bir ikinci bacak (34) vardir.

Ikinci yuva açisinin (32) ilk bacagina (33) girinti (35) yerlestirilmektedir. Girintide (35) boyuna kisim (37) ve yuvarlak biçimli kisim (38) da vardir. Ayrica ilk bacagin (33) iç tarafina (43) ilk çukur (40) açilmaktadir. Ikinci yuva açisinin (20) ilk çukurunda (40) takriben dikdörtgen biçimli temel sekil vardir, burada ikinci bacak (34) yönünde çukur bir egime (44) geçer. Ikinci bacaga (34), ikinci yuva açisinin (32) tasiyici standa (11) sabitlenmesi için ayrintilariyla gösterilmeyen sabitleme malzemesinin uygulanmasina yönelik bir delik (42) açilmaktadir.

Sekil 1 'de görüldügü üzere her iki yuva açisi (31, 32), ikinci bacagin (34) ön yüzeyi (45) birbiriyle temas halinde olacak ve yuva tertibati (30) takriben U biçiminde enine kesit olusturacak sekilde yerlestirilmektedir.

Sekil 8 'de numune besleme sistemi (50) gösterilmektedir. Numune besleme sisteminde, çesitli numune türleri için Sekil 2 ila 5 uyarinca buna yerlestirilen numune tutuculu (20) numune tutucu tabla (10) ve bir kavrama sistemi (51) vardir. Kavrama sistemi (51), tutucu aracin (22) kavranmasina yönelik birbiriyle mesafeli penseyle (52) donatilmaktadir. Kavrama sistemi (51) boyuna eksen L 'de döndürülebilir. Kavrama sistemine (51) takilan penseler (52) mekanik, elektromekanik veya hidrolik olarak kontrol edilebilir.

Sekil 8, dinamik, mekanik spektroskopiye yönelik bir test cihazini (70) sematik olarak göstermektedir. Test cihazi (70) içine numune tutucunun (20) alinmasina yönelik bir sikistirma düzenegi (60) yerlestirilmektedir. Numune tutucunun (20) sikistirilmasi için sikistirma düzeneginde (60), numune tutucuyu (20) özellikle uç kisimlari (25) koni biçiminde olan tutucu araçlarinda (22) sikistiran döndürülebilen sikistirma araci (61) vardir. Sikistirma aracinin (61) çalisma sekli mekanik, elektronik veya hidrolik olabilir.

Asagida numune tutucunun (20) yuvasi, yuva tertibatinda (30) açiklanmaktadir. Yuva numune yuvasi düzenekleri (21) ve/veya plakalar (28) sekilsel sabitlemeli olarak ilk çukura (40) ve/veya ikinci çukura (41) geçene kadar ikinci bacak (34) yönünde girintiye (35) itilmelidir. Numune tutucuda (20a) plakalar (28) sekilsel sabitlemeli olarak ilk yuva açisinin (31) ikinci çukurunda ve ikinci yuva açisinin (32) ilk çukurundadir. Numune tutucunun (20b) numune yuvasi düzenegi (21b) sekilsel sabitlemeli olarak ilk çukura (40) geçer. Numune yuva açisinin (32) ilk çukurundadir (40). Numune tutucuda (20d) plaka (28) sekilsel sabitlemeli olarak ilk yuva açisinin (31) ikinci çukurundadir (41) ve mafsal (49) girintileriyle (53) sekilsel sabitlemeli olarak ikinci yuva açisinin (32) ilk bacagini (33) kavrar.

Asagida test cihazina yerlestirilmis sikistirma düzeneginin (60) bir numune tutucunun (20) beslemesi ve numune tutucunun (20) sikistirma düzeneginden (60) çikarilmasi ayrintili açiklanacaktir. Kavrama sistemi (51), penseler (52) özellikle pegler (24) tutucu araçlari (22) kavrayabilecek sekilde numune tutucunun (20) önüne konumlandirilmaktadir. Penseler (52) pegleri (24) kavradiktan sonra kavrama sistemi (51) numune tutucuyu (20), kavrama sistemi (51) resmedilen boyuna eksen L yönünde hareket edecek sekilde biraz yukari kaldirir.

Böylece numune yuvasi düzenegi (21) çukurlardan (40, 41) çikarilir. Akabinde kavrama sistemi (51) yumusakça numune tutucuyu (20) yatay yöne dogru yuva tertibatindan (30) uzaklastirir. Sonra numune tutucuyu (20), test cihazinda (70) yerlestirilen sikistirma düzenegine (60) ileten kavrama sistemi (51) takriben boyuna ekseni L etrafinda 270° döner.

Döndürme isleminden sonra kavrama sistemi (51) yatay yönde sikistirma düzenegine (60) hareket eder.

Sikistirma araçlari (61), numune tutucunun (20) sikistirma düzeneginde (60) sikistirilmasi için sikistirma araci (61) iletme sirasinda koni biçimindeki uç kisimlara (25) sarkacak ve sonra tekrar geri sarkacak sekilde döndürülebilir yataklanmalidir. Bunun sonucunda ölçüm numunede yapilir. Ölçüm sonlandirildiktan sonra, kavrama sistemi (51) numune tutucuyu (20) peglerinden (24) kavrar ve bunu sikistirma düzeneginden (60) çikarir. Son olarak, kavrama sistemi (51) numune tutucuyu (20) tekrar yuva tertibatina (30) baglar.

Bulusa uygun numune tutucu (20), çesitli sekil ve yükleme türlerinden (çekme, basinç uygulama, bükme, kesme) numunelerin otomatik olarak test cihazina (70) koyulmasini, ölçülmesini ve tekrar çikarilmasini mümkün kilmaktadir. Numune tutucunun (20) elle temizlenmesi veya numune tutucunun (20) degistirilmesi gerekmemektedir.11 Referans listesi Numune tutucu tabla Tasiyici stant Basinç testi için numune tutucu Basinç testi için numune yuvasi düzenegi Çekme testi için numune yuvasi düzenegi Kesme testi için numune yuvasi düzenegi Bükme testi için numune yuvasi düzenegi (22) Tutucu araç Koni biçimli uç kisim Tutucu plaka Geçis alani Sikistirma plakasi Sikistirma plakasi Bogazlar Plançer Destek plakasi Yuva tertibati Ilk yuva açisi Ikinci yuva açisi Ilk bacak Ikinci bacak Ön taraf Boyuna kisim Yuvarlak sekilli kisim Dis taraf Ilk çukur Ikinci çukur Iç taraf Ön yüzey Numune besleme sistemi Kavrama sistemi Sikistirma düzenegi Sikistirma araci Test cihazi Boyuna eksen

Claims (1)

1. ISTEMLER 1. Yuva tertibatlarinin (30), numune tutucunun (20) istenen sirada test cihazina (70) iletilebilmesi ve numune tutucunun (20) çesitli olmasi ve numunenin (23) farkli yüklenme türlerinin uygulanmasiyla olusturulmasi ile karakterize edilen bir numunenin (23) alinmasina yönelik numune tutucuyu (20), bir numune tutucu tablayi (10) ve numune tutucuyu (20) test cihazina (70) iletmek için bir numune besleme sistemini (50) kapsayan test cihazi (70); burada her numune tutucuda (20) çesitli sekil ve yükleme türlerinde numunenin tutulmasina yönelik bir numune yuvasi düzenegi (21) vardir; burada numune yuvasi düzeneginden (21) çikan iki peg (24) olan numune yuvasi düzeneginde (21) bir tutucu araç (22) bulunmaktadir, burada numune tutucu tablasinda (10) numune tutucunun (20) tutucu araci (22) almasina yönelik bir tasiyici stant (11) ve birçok tasiyici stantlara (11) yerlestirilen yuva tertibatlari (30) bulunmaktadir; burada numune besleme sisteminde (50) numune tutucuyu (20) tutucu araçta (22) kavrayan ve test cihazina (70) yerlestirerek sikistirma düzenegine (60) ileten bir kavrama araci (51) 2. Istem 1 'e göre test cihazi (70) olup, numune tutucunun (20) basinç testi için bir numune tutucu (20a), çekme testi için bir numune tutucu (20b), kesme testi için bir numune tutucu (20c) veya bükme testi için bir numune tutucu (20d) kapsamasi ile karakterize edilir. 3. Istem 1 veya 2 'ye göre test cihazi (70) olup, numune tutucunun (20) peglerinin (24) uç kisimlarinin (25) yaklasik olarak koni biçimli olmasi ile karakterize edilir. 4. Önceki istemlerden herhangi birine göre test cihazi (70) olup, numune tutucunun (20) peglerinin (24) numune yuvasi düzeneginin (21) karsi tarafindan dikey sarkmasi ile karakterize edilir. 5. Önceki istemlerden herhangi birine göre test cihazi (70) olup, yuva tertibatinda (30) ilk yuva açisi (31) ve ikinci yuva açisi (32) olmasi; burada her yuva açisinin (31, 32) ilk bacak (33) ve ikinci bacakla (34) takriben L biçiminde enine kesitli olmasi ile karakterize edilir. (35) açilmasi ile karakterize edilir. 7. Istem 6 'ya göre test cihazi (70) olup, girintilerin (35) ilk çukurla (40) çevrelenmesi ile karakterize edilir. 8. istem 7 'ye göre test cihazi (70) olup, ilk yuva açisinin (31) ilk çukura (40) açilmis ikinci çukur (41) bulundurmasi ile karakterize edilir. 9. Önceki istemlerden herhangi birine göre test cihazi (70) olup, numune besleme sisteminin (50) kavrama aracinda (51) numune tutucunun (20) tutucu aracini (22) kavrayan birbiriyle mesafeli penseleri (52) olmasi ile karakterize edilir. 10. Önceki istemlerden herhangi birine göre test cihazi (70) olup, numune besleme sisteminin (50) kavrama aracinin (51) boyuna ekseninde (L) döndürülebilir olmasi ile karakterize edilir.