JPS5825333Y2 - 引張り試験機における試験ピ−スの受入保持装置 - Google Patents

引張り試験機における試験ピ−スの受入保持装置

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Publication number
JPS5825333Y2
JPS5825333Y2 JP1979117440U JP11744079U JPS5825333Y2 JP S5825333 Y2 JPS5825333 Y2 JP S5825333Y2 JP 1979117440 U JP1979117440 U JP 1979117440U JP 11744079 U JP11744079 U JP 11744079U JP S5825333 Y2 JPS5825333 Y2 JP S5825333Y2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
test
holding
test unit
piece
tensile
Prior art date
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Expired
Application number
JP1979117440U
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English (en)
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JPS5635045U (ja
Inventor
次郎 原田
成俊 松見
Original Assignee
株式会社 上島製作所
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Filing date
Publication date
Application filed by 株式会社 上島製作所 filed Critical 株式会社 上島製作所
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Description

【考案の詳細な説明】 引張り試験機にネ゛いて試験ピースの両端に夫々保持部
材を結着して成るテストユニットの多数を一列に配列し
、順次その1個づつを引張り試験装置に送込み、テスト
ユニットのE下の保持部材を試験装置の上下の受部材に
保持させて引張り試験を行なうことは公知であるが、該
公知のものにネ・ける受部材と保持部材との結合は、受
部材としてエヤーチャック等を使用し、その締付けと解
放動作を繰返して行なうもので、従ってエヤーチャック
の作動源としてエヤーコンプレッサーを使用する等特別
の機構を必要とするばかりでなく、その着脱時の操作タ
イミングが要求され、その調整等が煩雑で、又構造も複
雑化して管理も不利となるを免れなかった。
本考案はこれを改良し、テストユニットを受入れる受部
材としてエヤーチャック等の締つけと解放手段を必要と
する機構を避け、単にテストユニットの保持部材に形成
した頭片を受部材に設けた保持孔内に挿入することによ
り支承保持させるようにし、その支承位置関係をばね板
によって行わせ、その構造釦よび操作を著しく簡略にし
たもので、試験ピースaの両端に夫々保持@bを結着し
て成るテストユニツ)Aの多数を一列に並列し、順次そ
の1個づつを引張シ試験装置Bに供給し、テストユニッ
トAの両端の保持部材すを上下の受部材1,2で保持し
て上下に引張り試験を行なうものにネ・いて、上下の受
部材1,2はテストユニットAの保持部材すに夫々形成
した頭片10eを一側から受入れて係合保持すると共に
他側から排出できるように前後を開放した保持孔5を設
け、両保持孔5,5の前面に夫々一対のばね板6,6の
各先端を略V字状に屈折してその遊離端6’、6’が互
に八字状となるように配置して設け、該遊離端6,6の
内端部が保持孔5内に挿入した頭片10eの挿入側に対
する反対面を支承させるようにして成る。
本考案の実施例を図面について説明する。
テストユニットAは試験ピースaの両端に夫々保持部材
すを結着して構成するもので、図示例にネ・ける保持部
材6は一対の咬持部材10a、10bをリンク10cで
連結して成り、更に一方の咬持部材10aには頚部10
dを介して頭片10eを一体に形成し、頚部10dには
透孔10fを設けた。
このように構成したテストユツト 並設準備するが、その一手段としては第6図で例示する
ようにその一定数をカセット枠11に一括収容してこれ
を一側からばね13を作用させた押送片12で押圧して
最先端のものから1個宛送出して使用し、その取扱操作
を便利にしたが、このようなカセット化に限らず固定し
た準備枠に一列状態で並列準備させる等任意の手段で引
張り試験装置Bに対し適正の位置に配設する。
尚・、前記のカセット装置において各テストユニットA
/Ii、その上下の頭片10eでカセット枠11の断面
口形の上下片11a、11bに挿着装填し、該上下片1
1a、11bの先端部−側面には頭片10eが抜出し得
るよう切欠による開口14を設けてテストユニットAを
1個宛取出すようにし、このカセット枠11を固定枠1
5に装着して最先端のテストユツトAを引張り試験装置
Bの試験片受入部に対向させるようにした。
引張り試験装置B側におけるテストユニットAの受入れ
保持機構は次のように構成される。
即ち引張り試験装置BにはテストユニットAを構成する
よう試験ピースaの両端に結着した上下の保持部材す、
bを保持する上下一対の受部材1゜2を設ける。
上部受部材1は定位置に不動に固設し、下部受部材2は
回転螺軸3の回転により上下動スるクロスヘッド4に取
付け、その下動によって両受部材1,2間に保持したテ
ストユニットAにおける試験ピース用の引張り試験が行
われる。
両受部材1,2は第4図で示すようにテストユツトAの
保持部材すの頭片10eを一側から受入れ、又他側から
排出し得るように両側を開放した保持孔5を設けると共
にその受入れ側の口縁両側に先端部を略V字状に屈折し
た一対のばね板6゜6を根部で各受部材の側面に結着し
、屈折した遊離片6’、6’&八字状に対向させ、その
内端部を保持孔5に向わせて、保持孔5内に挿入した頭
片10eの挿入側に対する反対面を支承させるようにし
た。
更に上下受部材1,2の対向する面には保持部材すの頚
部10dの通過し得る切溝7を形成した。
かくて配列準備したテストユニットA群の側方に例えば
第1図に示すようにギヤートモ−ター或いはエアーシリ
ンタ゛−機構等による往復作動用の原動機構16によっ
て間欠的に往復動を行わせる押送枠17を設け、該押送
枠17の往動にトいてその前端崩上下に配置突設した突
子18.18を最先端に位置するテストユニットAの頚
部10dの透孔10fに突入係合させ、特に押送枠17
を所定の衡程で前進させるときはテストユニットAの1
個は該押送枠17により配列中から取出され、その押送
によりテストユニットAの頭片10eは前記した上下の
受部材1,2に設けたばね板6,6の八字状に対向させ
た遊離片6’、6’を押開きつつ保持孔5内に進入した
とき押送枠17は復動に切換えられて後退するように設
定すれば、テストユニットAは試験装置Bの受部材1,
2間に確実に保持され、次でクロスヘッド4の下動によ
り引張り試験が行われるもので、かくて多数準備したテ
ストユニットAを一個宛供給することを繰返して連続的
に試験を行なうようにした。
引張り試験を行なったテストユニットAは試験ピースA
が、破断し又は破断しなかったものも試験終了後は再び
定位置に復帰させるようにして、次のテストユニットA
が受部材1,2間に供給されたとき、これに押されて試
験を終ったテストユニットAを保持孔5の他側から押出
し、これに対向して設けた開口20を経て排出樋19内
に放出されるようにした。
このように本考案によるテストユニットAの受入れ保持
装置は、上下の保持部材すの頭片10eを夫々受部材す
の前後に開通して設けた保持孔5に対し、その挿入側に
八字状に開いて設けたばね板6,6の遊離片6’、6’
を押開いて挿入し、挿入後は遊離片6’、6’の内端部
で頭片10eの背部を支承して保持位置を安定するので
、その挿入安定が簡便確実に行われ、その位置において
テストユニットAは受部材1,2により上下に引張り試
験を施され、その保持と引張り並に解放のため圧縮空気
によるエアーチャックのような結着作動機構を必要とせ
ず、更に次のテストユニットAの供給によって試験を終
って上下受部材1,2に残置するテストユニットを保持
孔5の他側から押出して自動的に排出し、連続試験操作
を著しく効率的とした効果を有する。
【図面の簡単な説明】
第1図は本装置の正面図、第2図は一部の詳細な正面図
、第3図は第2図の■−■線から見た側面図、第4図は
受部材の裁断平面図、第5図はテストユニットの側面図
、第6図はテストユニットのカセットを示す側面図、第
7図は第6図の■−■線断面図である。 1.2・・・・・・受部材、3・・・・・・回転螺軸、
4・・・・・・クロスヘッド、5・・・・・・保持孔、
6・・・・・・ばね板、A・・・・・・テストユニット
、B・・・・・・引張シ試験装置、a・・・試験ピース
、b・・・・・・保持部材。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 試験ピースaの両端に夫々保持部材すを結着して成るテ
    ストユニツ)Aの多数を一列に並列し、順次その1個づ
    つを引張り試験装置Bに供給し、テストユニツ)Aの両
    端の保持部材すを上下Q受部材1,2で保持して上下に
    引張り試験を行なうものにネ・いて、上下の受部材1,
    2はテストユニットAの保持部材すに夫々形成した頭片
    10eを一側から受入れて係合保持すると共に他側から
    排出できるように前後を開放した保持孔5を設け、両保
    持孔5,5の前面に夫々一対のばね板6,6の各先端飴
    賂V字状に屈折してその遊離端6’、6雀互に八字状に
    なるように配置して設け、該遊離端6′、εθ内端部が
    保持孔5内に挿入した頭片10eの挿入側に対する反対
    面を支承させるようにして成る引張9試験機にかける試
    験ピースの受入れ保持装置。
JP1979117440U 1979-08-28 1979-08-28 引張り試験機における試験ピ−スの受入保持装置 Expired JPS5825333Y2 (ja)

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JP1979117440U JPS5825333Y2 (ja) 1979-08-28 1979-08-28 引張り試験機における試験ピ−スの受入保持装置

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JPS5635045U JPS5635045U (ja) 1981-04-06
JPS5825333Y2 true JPS5825333Y2 (ja) 1983-05-31

Family

ID=29349653

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102010061742B4 (de) * 2010-11-22 2013-07-04 Gabo Qualimeter Testanlagen Gmbh Prüfeinrichtung mit einem Probenhalter sowie Probenhalter zur Aufnahme einer Probe

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS53138779A (en) * 1977-05-10 1978-12-04 Unitika Ltd Automatic tension testing machine

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