TH9672B - กระบวนการและเครื่องสำหรับตรวจสอบส่วนประกอบออฟติคอลโดยเฉพาะส่วนประกอบออฟติคอลสำหรับตาและอุปกรณ์สำหรับส่องสว่างสิ่งที่ทดสอบแบบโปร่งใส - Google Patents
กระบวนการและเครื่องสำหรับตรวจสอบส่วนประกอบออฟติคอลโดยเฉพาะส่วนประกอบออฟติคอลสำหรับตาและอุปกรณ์สำหรับส่องสว่างสิ่งที่ทดสอบแบบโปร่งใสInfo
- Publication number
- TH9672B TH9672B TH9101001886A TH9101001886A TH9672B TH 9672 B TH9672 B TH 9672B TH 9101001886 A TH9101001886 A TH 9101001886A TH 9101001886 A TH9101001886 A TH 9101001886A TH 9672 B TH9672 B TH 9672B
- Authority
- TH
- Thailand
- Prior art keywords
- clause
- image
- reflector
- components
- component
- Prior art date
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract 12
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 title claims abstract 8
- 238000007689 inspection Methods 0.000 title claims abstract 5
- 230000007547 defect Effects 0.000 claims abstract 7
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 claims abstract 3
- 238000010191 image analysis Methods 0.000 claims abstract 2
- 238000005286 illumination Methods 0.000 claims 4
- XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N Iron Chemical compound [Fe] XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 2
- 238000012800 visualization Methods 0.000 claims 2
- 101100273797 Caenorhabditis elegans pct-1 gene Proteins 0.000 claims 1
- 201000010273 Porphyria Cutanea Tarda Diseases 0.000 claims 1
- 230000003667 anti-reflective effect Effects 0.000 claims 1
- 230000000295 complement effect Effects 0.000 claims 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims 1
- 229910052742 iron Inorganic materials 0.000 claims 1
- 238000010409 ironing Methods 0.000 claims 1
- 238000012634 optical imaging Methods 0.000 claims 1
- NUSQOFAKCBLANB-UHFFFAOYSA-N phthalocyanine tetrasulfonic acid Chemical compound C12=CC(S(=O)(=O)O)=CC=C2C(N=C2NC(C3=CC=C(C=C32)S(O)(=O)=O)=N2)=NC1=NC([C]1C=CC(=CC1=1)S(O)(=O)=O)=NC=1N=C1[C]3C=CC(S(O)(=O)=O)=CC3=C2N1 NUSQOFAKCBLANB-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims 1
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 claims 1
- 238000007794 visualization technique Methods 0.000 claims 1
- 230000010354 integration Effects 0.000 abstract 1
Abstract
กระบวนการและเครื่องสำหรับตรวจสอบ โดยเฉพาะควบคุมคุณภาพของส่วนประกอบออพติคอล ที่ซึ่ง ภาพของส่วนประกอบที่เฉพาะที่จะ ตรวจสอบถูกสร้างขึ้นและรอบตำหนิในสิ่งที่ถูกทำให้เป็นภาพถูกตรวจจับโดยการวิเคราะห์ภาพ รวมทั้งการรวมกันของกระบวนการตรวจสอบเข้ากับการผลิตส่วนประกอบดังกล่าว ส่วนประกอบออพติคอลอาจเป็นส่วนประกอบออพติคอลสำหรับตา ดังเช่นเลนส์แว่นตา คอนแทคเลนส์ อินทราออคิงล่าเลนส์และสิ่งที่คล้ายกัน
Claims (9)
1. กระบวนการสำหรับตรวจสอบส่วนประกอบออพติคอลแบบโปร่งใสโดยวิธีการสร้างภาพ และตามด้วยการวิเคราะห์ภาพ ที่ซึ่งกระบวนการจะตรวจจับรอยตำหนิในสิ่งที่ทำให้เกิดภาพซึ่งกระบวนการจะประกอบด้วยการสร้างภาพของส่วนประกอบ โดยวิธีการส่องสว่างฟิลด์มืดซึ่งสามารปรับเข้ากับส่วนประกอบด้วยการสรัางภาพของส่วนประกอบ โดยวิธีการส่องสว่างฟิลด์มืดซึ่งสามารถปรับเข้ากับส่วนประกอบ ผลที่ได้คือภาพของส่วนประกอบแบบ คอนแทรสต์สูงสองมิติถูกสร้างขึ้น และที่จุดหนึ่งของเวลาจะทำการบันทึกภาพของส่วนประกอบทั้งหมดจากส่วนประกอบที่ส่องสว่าง และตรวจหาเนื้อที่ของภาพที่มีรอยตำหนิที่มองเห็นได้และเปรียบเทียบพื้นที่ของภาพที่มีรอยตำหนิกับค่าขีดเริ่มเปลี่ยนค่าหนึ่งหลายค่า
2. กระบวนการตามข้อถือสิทธิข้อ 1 ที่ซึ่งภาพของส่วนประกอบจะถูกบันทึกโดยใช้ต้วตรวจรู้ภาพแบบ CCD
3. กระบวนการตามข้อถือสิทธิข้อ 1 หรือข้อ 2 ที่ซึ่งเนื้อที่ของภาพที่มีรอยตำหนิที่ตรวจจับจะถูกแบ่งออกเป็นฟิกเซลล์และฟิกเซลส์ดังกล่าวจะถูกนับ และจำนวนของฟิกเซลล์ที่ทราบจะถูกเปรียบเทียบกับจำนวนของฟิกเซลล์ที่กำหนดไว้ล่วงหน้า
4. กระบวนการตามข้อถือสิทธิข้อ 1 ถึงข้อ 3ข้อใดข้อหนึ่งที่ซึ่ง การตรวจยจับรอยยตำหนิถูกดำเนการในสแตจการผลิตสเตจของการผลิตส่วนประกอบดังกล่าว
5. กระบวนการตามข้อถือสิทธิข้อ 1 ถึงข้อ 3 ข้อใดข้อหนึ่งที่ซึ่ง การตรวจรอยตำหนิถูกดำเนินการในการผลิตส่วนประกอบออพติดคอลสำหรับตา
6. กระบวนการตามข้อถือสิทธิข้อ 1 ถึงข้อ 5 ข้อใดข้อหนึ่งที่ซึ่ง ค่าขีดเปลี่ยนที่แตกต่างถูกกำนหนดเป็นมาตราฐานด้านคุณภาพสำหรับโซนต่างๆ กันของส่วนประกอบที่จะตรวจสอบ
7. กระบวนการตามข้อถืข้อ 1 ถึงข้อ 5 ข้อใดขั้อหึ่งที่ซี่งค่ารีดเริ่มเปลี่ยนที่แตกต่างกัน ถูกกำหนดเป็นมาตราฐานดัานคุณภาพสำหรับออพคิคลอโยนเลนติคิวล่าโซนและเส้นรูปของเลนส์
8. เครื่องสำหรับตรวจสอบส่วนประกอบออพติคอลที่ประกอบด้วยอุปกรณ์สร้างภาพเชิงออพติคอล ซึ่งมีส่วนส่องสว่างสำหรับส่องสว่างส่วนประกอบ และอุปกรณ์ประมวลผลภาพ (2) ซึ่งม่ส่วนบันทึกภาพ (3)ที่ซึ่งส่วนส่องสว่าง(1)จะอยู่ในรูปของส่วนส่องสว่างฟิลด์มืดที่มีแหล่งกำเนิดแสง(120)และออพติกที่ส่องสว่างฟิลด์มืด (118,128) ซึ่งมีการปรับทางเรขาคณิตเพื่อช่วยในการปรับส่วนประกอบ เพื่อภาพที่มีคอนแทรสต์สูงของส่วนประกอบจะถูกสร้างขึ้น และที่ซึ่งส่วนบันทึกภาพ(3)จะมีตัวตรวจรู้ภาพ(4)ซึ่งที่จุดหนึ่งของเวลาจะบันทึกภาพของส่วนประกอบทั้งหมดเพื่อตรวจหาเนื้อที่ของภาพที่ตรวจจับรอยตำหนิแล้วในภาพที่มีคอนแทรสต์สูงและเปรียบเทียบเนื้อที่ของรอยตำหนิกับค่าขีดเริ่มเปลี่ยนค่าหนึ่งหรือหลายค่า
9. เครื่องตามข้อถือสิทธิข้อ 8 ที่ซึ่งตัวตรวจรู้ภาพ(4)จะอยู่ในรูปแบบ CCD 1
0. เครื่องตามข้อถือสิทธิข้อ 8 หรือ 9 ที่ซึ่งส่วนอ่าน(7)สำหรับอ่านเนื้อที่รอยตำหนิของภาพโดยฟิกเซลล์ ถูกเชื่อมต่อกับตัวตรวจรู้ภาพ(4) 1 1.เครื่องตามข้อถือสิทธิข้อ 8 ถึงข้อ 10 ข้อใดข้อหนึ่งที่ซึ่ง อุปกรณ์ประมวลผลภาพ(2)มีตัวเปรียบเทียบ(24,25,26)ซึ่งถูกเชื่อมต่อกับส่วนตรวจหาเนื้อที่ (20,21,23)และเชื่อมต่อกับส่วนเก็บค่าขีดเริ่มเปลี่ยน(27,28,29) 1
2. เครื่องตามข้อถือสิทธิข้อ 8 ถึงข้อ 11 ข้อใดข้อหนึ่งที่ซึ่ง ค่าขีดเริ่มเปลี่ยน จะเป็นขนาดของเนื้อที่ที่กำหนดไว้ล่วงหน้า 1
3. เครื่องตามข้อถือสิทธิข้อ 8 ถึงข้อ 12 ข้อใดข้อหนึ่งที่ซึ่ง (a) ตัวรีเฟลกเตอร์อันที่หนึ่ง (110) ถูกจัดไว้ใต้ชิ้นส่วนรองรับ (148)ที่มีระนาบรองรับสำหรับส่วนประกอบที่จะถูกตรวจสอบ (b) ตัวเฟลกเตอร์อันที่หนึ่ง (110)มีผิวหน้าตอนปลาย(112)ที่ค่อนข้างขนานกับระนาบรองรับของชิ้นส่วนรองรับ(148)ซึ่งผิวหน้าตอนปลายจะก่อรูปแบล็คกราวด์สำหรับส่วนประกอบ (c) ตัวรีเฟลอกเตอร์อันที่หนึ่ง (110)ยังมีรีเฟลอกเตอร์อันที่หนึ่งที่นูนออกเป็นรูปกรวย(118) อยู่ห่างออกจากผิวหน้าตอนปลาย(112)ดังกล่าว โดยที่แกนรวยจะตรงกันกับแกนของระบบ(114)ซึ่งยื่นเป็นมุมฉากกับผิวหน้าตอนปลาย(112) (d) แหล่งกำเนิดแสง(120)ถูกจัดไว้บนแกนของระบบ(114)และ (e) ตัวรีเฟลกเตอร์อันที่สอง(130)ที่มีรีเฟลกเตอร์ที่เว้าเข้าเป็นรูปวงแหวน(128)ถูกจัดไว้ร่วมแกนเดียวกันกับแกนของระบบ(114) 1
4. เครื่องตามข้อถือสิทธิข้อ 13 ที่ซึ่ง รีเฟลกเตอร์ที่เว้าเข้าเป็นรูปแหวน(128)เป็นรูปทรงกระบอก 1
5. เครื่องตามข้อถือสิทธิข้อ 13 หรือข้อ 14 ที่ซึ่งแหล่งกำเนิดแสง(120)ถูกรวมเข้ากับรีเฟลกเตอร์อันที่หนึ่ง(118)ในชุดประกอบย่อย(170)ที่ซึ่งสามารถเคลื่อนที่ได้ตามแกนของระบบ(114)เมื่อเทียบกับตัวรีเฟลกเตอร์อันที่สอง(130)และกับชิ้นส่วนรองรับ(148) 1
6. เครื่องตามข้อถือสิทธิข้อ 13 ถึงข้อ 15 ข้อใดข้อหนึ่งที่ซึ่ง แหล่งกำเนิดแสงดังกล่าวเป็นแสงแบบรีเฟลกเตอร์-ริงชนิด PCT 1
7. เครื่องตามข้อถือสิทธิข้อ 16 ที่ซึ่ง คุณลักษณะการแผ่รังสีของแสงแบบรีเฟลกเตอร์-ริงชนิด PCTดังกล่าวสามารถปรับใช้กับทางเรขาคณิตของส่วนประกอบ 1
8. เครื่องตามข้อถือสิทธิข้อ 13 ถึงข้อ 17 ข้อใดข้อหนึ่งแผ่น(146)ที่ถูกจัดไว้บนด้านทั้งสองด้วยชั้นป้องกันการสะท้อนถูกจัดไว้เป็นชิ้นส่วนรองรับ(148)สำหรับส่วนประกอบ 1
9. เครื่องตามข้อถือสิทธิข้อ 13 ถึงข้อ 15 ข้อใดข้อหนึ่งรีเฟลกเตอร์อันที่หนึ่ง(118)และอันที่สอง(120)ดังกล่าวเป็นสเปกคิวล่า 2
0. เครื่องตามข้อถือสิทธิข้อ 13 ถึงข้อ 15 ข้อใดข้อหนึ่งที่ซึ่ง ผิวหน้าของรีเฟลกเตอร์อันที่หนึ่ง(118)และอันที่สอง(120)เป็นการสะท้อนแบบกระจายบางส่วน
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| TH13578A TH13578A (th) | 1993-12-15 |
| TH9672B true TH9672B (th) | 2000-06-15 |
Family
ID=
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| KR920012892A (ko) | 광학부품 특히 눈을 위한 광학부품의 검사방법 및 장치와 청정하고 투명한 검사 물체의 조명장치 | |
| US6011620A (en) | Method and apparatus for the automatic inspection of optically transmissive planar objects | |
| US6201600B1 (en) | Method and apparatus for the automatic inspection of optically transmissive objects having a lens portion | |
| JP4121576B2 (ja) | 光学断面を用いたレンズパラメーター測定方法および測定装置 | |
| TW370609B (en) | Automatic lens inspection system | |
| US6091834A (en) | Method of illuminating a digital representation of an image | |
| CN213933620U (zh) | 偏振光源和表面缺陷检测装置 | |
| US9568436B2 (en) | System and method for decoration inspection on transparent media | |
| KR20150099956A (ko) | 렌즈 검사 장치 | |
| CN103376265A (zh) | 物品缺陷检测系统与方法 | |
| CN115825078B (zh) | 一种树脂镜片缺陷检测装置及方法 | |
| WO2022008909A1 (en) | Method and apparatus for inspecting the surface of a transparent object | |
| FI80959C (fi) | Foerfarande och anordning foer inspektion av spegelreflexionsytor. | |
| TH9672B (th) | กระบวนการและเครื่องสำหรับตรวจสอบส่วนประกอบออฟติคอลโดยเฉพาะส่วนประกอบออฟติคอลสำหรับตาและอุปกรณ์สำหรับส่องสว่างสิ่งที่ทดสอบแบบโปร่งใส | |
| CN115656192B (zh) | 一种滤镜瑕疵检测方法及装置 | |
| CN217424292U (zh) | 一种尺寸检测装置及尺寸检测系统 | |
| TH13578A (th) | กระบวนการและเครื่องสำหรับตรวจสอบส่วนประกอบออฟติคอลโดยเฉพาะส่วนประกอบออฟติคอลสำหรับตาและอุปกรณ์สำหรับส่องสว่างสิ่งที่ทดสอบแบบโปร่งใส | |
| CN211014053U (zh) | 高精度自动化物体表面瑕疵影像撷取装置 | |
| JP2003050180A (ja) | 欠陥検査方法および欠陥検査装置 | |
| JPH04178545A (ja) | 透明帯状体の検査方法及び装置 | |
| CN205484122U (zh) | 一种检测透明物体缺陷的系统 | |
| JP2008185368A (ja) | 光学式形状測定方法及び装置 | |
| JPH095247A (ja) | 刻印分離方法および光学部材検査装置 | |
| CN213544424U (zh) | 一种检查设备 | |
| JP3435260B2 (ja) | 光学部材検査装置 |