Claims (20)
1. กระบวนการสำหรับตรวจสอบส่วนประกอบออพติคอลแบบโปร่งใสโดยวิธีการสร้างภาพ และตามด้วยการวิเคราะห์ภาพ ที่ซึ่งกระบวนการจะตรวจจับรอยตำหนิในสิ่งที่ทำให้เกิดภาพซึ่งกระบวนการจะประกอบด้วยการสร้างภาพของส่วนประกอบ โดยวิธีการส่องสว่างฟิลด์มืดซึ่งสามารปรับเข้ากับส่วนประกอบด้วยการสรัางภาพของส่วนประกอบ โดยวิธีการส่องสว่างฟิลด์มืดซึ่งสามารถปรับเข้ากับส่วนประกอบ ผลที่ได้คือภาพของส่วนประกอบแบบ คอนแทรสต์สูงสองมิติถูกสร้างขึ้น และที่จุดหนึ่งของเวลาจะทำการบันทึกภาพของส่วนประกอบทั้งหมดจากส่วนประกอบที่ส่องสว่าง และตรวจหาเนื้อที่ของภาพที่มีรอยตำหนิที่มองเห็นได้และเปรียบเทียบพื้นที่ของภาพที่มีรอยตำหนิกับค่าขีดเริ่มเปลี่ยนค่าหนึ่งหลายค่า1. The process for inspecting transparent optical components using imaging and subsequent image analysis involves detecting defects in the image. This process includes imaging the component using a dark-field illumination method, which can be adjusted to the component. The result is a two-dimensional high-contrast image of the component. At a certain point in time, the entire image of the illuminated component is recorded, and areas of visible defects are identified and compared to several threshold values.
2. กระบวนการตามข้อถือสิทธิข้อ 1 ที่ซึ่งภาพของส่วนประกอบจะถูกบันทึกโดยใช้ต้วตรวจรู้ภาพแบบ CCD2. The process stipulated in Claim 1, where an image of the component is recorded using a CCD image sensor.
3. กระบวนการตามข้อถือสิทธิข้อ 1 หรือข้อ 2 ที่ซึ่งเนื้อที่ของภาพที่มีรอยตำหนิที่ตรวจจับจะถูกแบ่งออกเป็นฟิกเซลล์และฟิกเซลส์ดังกล่าวจะถูกนับ และจำนวนของฟิกเซลล์ที่ทราบจะถูกเปรียบเทียบกับจำนวนของฟิกเซลล์ที่กำหนดไว้ล่วงหน้า3. The process under claim 1 or 2 whereby the area of the image with the detected defect is divided into pixel cells, and such pixel cells are counted, and the number of known pixel cells is compared to a predetermined number of pixel cells.
4. กระบวนการตามข้อถือสิทธิข้อ 1 ถึงข้อ 3ข้อใดข้อหนึ่งที่ซึ่ง การตรวจยจับรอยยตำหนิถูกดำเนการในสแตจการผลิตสเตจของการผลิตส่วนประกอบดังกล่าว4. Any of the processes under Claims 1 through 3 in which defect detection is carried out at the production stage of the component in question.
5. กระบวนการตามข้อถือสิทธิข้อ 1 ถึงข้อ 3 ข้อใดข้อหนึ่งที่ซึ่ง การตรวจรอยตำหนิถูกดำเนินการในการผลิตส่วนประกอบออพติดคอลสำหรับตา5. Any of the processes under claims 1 through 3 in which defect inspection is performed in the manufacture of optical components for the eye.
6. กระบวนการตามข้อถือสิทธิข้อ 1 ถึงข้อ 5 ข้อใดข้อหนึ่งที่ซึ่ง ค่าขีดเปลี่ยนที่แตกต่างถูกกำนหนดเป็นมาตราฐานด้านคุณภาพสำหรับโซนต่างๆ กันของส่วนประกอบที่จะตรวจสอบ6. Any one of the processes under Claims 1 through 5 in which different tolerance values are established as quality standards for different zones of the component to be inspected.
7. กระบวนการตามข้อถืข้อ 1 ถึงข้อ 5 ข้อใดขั้อหึ่งที่ซี่งค่ารีดเริ่มเปลี่ยนที่แตกต่างกัน ถูกกำหนดเป็นมาตราฐานดัานคุณภาพสำหรับออพคิคลอโยนเลนติคิวล่าโซนและเส้นรูปของเลนส์7. Of the processes described in points 1 through 5, which exhibit a different starting point change, is defined as a quality standard for optical lenticuular zones and lens profiles?
8. เครื่องสำหรับตรวจสอบส่วนประกอบออพติคอลที่ประกอบด้วยอุปกรณ์สร้างภาพเชิงออพติคอล ซึ่งมีส่วนส่องสว่างสำหรับส่องสว่างส่วนประกอบ และอุปกรณ์ประมวลผลภาพ (2) ซึ่งม่ส่วนบันทึกภาพ (3)ที่ซึ่งส่วนส่องสว่าง(1)จะอยู่ในรูปของส่วนส่องสว่างฟิลด์มืดที่มีแหล่งกำเนิดแสง(120)และออพติกที่ส่องสว่างฟิลด์มืด (118,128) ซึ่งมีการปรับทางเรขาคณิตเพื่อช่วยในการปรับส่วนประกอบ เพื่อภาพที่มีคอนแทรสต์สูงของส่วนประกอบจะถูกสร้างขึ้น และที่ซึ่งส่วนบันทึกภาพ(3)จะมีตัวตรวจรู้ภาพ(4)ซึ่งที่จุดหนึ่งของเวลาจะบันทึกภาพของส่วนประกอบทั้งหมดเพื่อตรวจหาเนื้อที่ของภาพที่ตรวจจับรอยตำหนิแล้วในภาพที่มีคอนแทรสต์สูงและเปรียบเทียบเนื้อที่ของรอยตำหนิกับค่าขีดเริ่มเปลี่ยนค่าหนึ่งหรือหลายค่า8. An instrument for inspecting optical components consisting of an optical imaging device, which has an illuminating section to illuminate the component, and an image processing unit (2), which has an image recording unit (3), in which the illuminating section (1) is in the form of a dark-field illuminating section with a light source (120) and dark-field illuminating optics (118,128) which are geometrically adjusted to help adjust the component so that a high-contrast image of the component is created, and in which the image recording unit (3) has an image detector (4) which at one point in time records the entire component to detect areas of the detected defects in the high-contrast image and compares the areas of the defects to one or more threshold values.
9. เครื่องตามข้อถือสิทธิข้อ 8 ที่ซึ่งตัวตรวจรู้ภาพ(4)จะอยู่ในรูปแบบ CCD9. A device under claim 8 in which the image sensor (4) is in CCD format.
10. เครื่องตามข้อถือสิทธิข้อ 8 หรือ 9 ที่ซึ่งส่วนอ่าน(7)สำหรับอ่านเนื้อที่รอยตำหนิของภาพโดยฟิกเซลล์ ถูกเชื่อมต่อกับตัวตรวจรู้ภาพ(4)10. An instrument under claim 8 or 9 in which the reading part (7) for reading the defect area of the image by a fixed cell is connected to the image sensor (4).
11.เครื่องตามข้อถือสิทธิข้อ 8 ถึงข้อ 10 ข้อใดข้อหนึ่งที่ซึ่ง อุปกรณ์ประมวลผลภาพ(2)มีตัวเปรียบเทียบ(24,25,26)ซึ่งถูกเชื่อมต่อกับส่วนตรวจหาเนื้อที่ (20,21,23)และเชื่อมต่อกับส่วนเก็บค่าขีดเริ่มเปลี่ยน(27,28,29)11. Any device under claims 8 through 10 in which the image processing device (2) has comparators (24,25,26) which are connected to the area detection section (20,21,23) and connected to the threshold storage section (27,28,29).
12. เครื่องตามข้อถือสิทธิข้อ 8 ถึงข้อ 11 ข้อใดข้อหนึ่งที่ซึ่ง ค่าขีดเริ่มเปลี่ยน จะเป็นขนาดของเนื้อที่ที่กำหนดไว้ล่วงหน้า12. Any device under claims 8 through 11 where the threshold change is a predetermined area size.
13. เครื่องตามข้อถือสิทธิข้อ 8 ถึงข้อ 12 ข้อใดข้อหนึ่งที่ซึ่ง (a) ตัวรีเฟลกเตอร์อันที่หนึ่ง (110) ถูกจัดไว้ใต้ชิ้นส่วนรองรับ (148)ที่มีระนาบรองรับสำหรับส่วนประกอบที่จะถูกตรวจสอบ (b) ตัวเฟลกเตอร์อันที่หนึ่ง (110)มีผิวหน้าตอนปลาย(112)ที่ค่อนข้างขนานกับระนาบรองรับของชิ้นส่วนรองรับ(148)ซึ่งผิวหน้าตอนปลายจะก่อรูปแบล็คกราวด์สำหรับส่วนประกอบ (c) ตัวรีเฟลอกเตอร์อันที่หนึ่ง (110)ยังมีรีเฟลอกเตอร์อันที่หนึ่งที่นูนออกเป็นรูปกรวย(118) อยู่ห่างออกจากผิวหน้าตอนปลาย(112)ดังกล่าว โดยที่แกนรวยจะตรงกันกับแกนของระบบ(114)ซึ่งยื่นเป็นมุมฉากกับผิวหน้าตอนปลาย(112) (d) แหล่งกำเนิดแสง(120)ถูกจัดไว้บนแกนของระบบ(114)และ (e) ตัวรีเฟลกเตอร์อันที่สอง(130)ที่มีรีเฟลกเตอร์ที่เว้าเข้าเป็นรูปวงแหวน(128)ถูกจัดไว้ร่วมแกนเดียวกันกับแกนของระบบ(114)13. Any of the devices under claims 8 through 12 in which (a) the first reflector (110) is placed beneath the support (148) which has a support plane for the component to be examined; (b) the first reflector (110) has an end face (112) that is relatively parallel to the support plane of the support (148), which forms the background for the component; (c) the first reflector (110) also has a convex first reflector (118) placed a distance from the said end face (112), whose axis is congruent with the axis of the system (114), which is perpendicular to the end face (112); (d) the light source (120) is placed on the axis of the system (114); and (e) the second reflector (130) with an annular concave reflector (128) is placed on the same axis as the axis of the system (114).
14. เครื่องตามข้อถือสิทธิข้อ 13 ที่ซึ่ง รีเฟลกเตอร์ที่เว้าเข้าเป็นรูปแหวน(128)เป็นรูปทรงกระบอก14. The instrument under claim 13 in which the concave ring reflector (128) is cylindrical in shape.
15. เครื่องตามข้อถือสิทธิข้อ 13 หรือข้อ 14 ที่ซึ่งแหล่งกำเนิดแสง(120)ถูกรวมเข้ากับรีเฟลกเตอร์อันที่หนึ่ง(118)ในชุดประกอบย่อย(170)ที่ซึ่งสามารถเคลื่อนที่ได้ตามแกนของระบบ(114)เมื่อเทียบกับตัวรีเฟลกเตอร์อันที่สอง(130)และกับชิ้นส่วนรองรับ(148)15. A device according to claim 13 or 14 in which the light source (120) is integrated with the first reflector (118) in a subassembly (170) which is movable along the system axis (114) relative to the second reflector (130) and to the support element (148).
16. เครื่องตามข้อถือสิทธิข้อ 13 ถึงข้อ 15 ข้อใดข้อหนึ่งที่ซึ่ง แหล่งกำเนิดแสงดังกล่าวเป็นแสงแบบรีเฟลกเตอร์-ริงชนิด PCT16. Any device under claims 13 through 15 in which the light source is a PCT reflector-ring type.
17. เครื่องตามข้อถือสิทธิข้อ 16 ที่ซึ่ง คุณลักษณะการแผ่รังสีของแสงแบบรีเฟลกเตอร์-ริงชนิด PCTดังกล่าวสามารถปรับใช้กับทางเรขาคณิตของส่วนประกอบ17. An instrument pursuant to claim 16 in which the radiation characteristics of the PCT reflector-ring are adaptable to the geometry of the component.
18. เครื่องตามข้อถือสิทธิข้อ 13 ถึงข้อ 17 ข้อใดข้อหนึ่งแผ่น(146)ที่ถูกจัดไว้บนด้านทั้งสองด้วยชั้นป้องกันการสะท้อนถูกจัดไว้เป็นชิ้นส่วนรองรับ(148)สำหรับส่วนประกอบ18. In any of the claims under Articles 13 through 17, a plate (146) provided on both sides with an anti-reflective layer is provided as a support (148) for the component.
19. เครื่องตามข้อถือสิทธิข้อ 13 ถึงข้อ 15 ข้อใดข้อหนึ่งรีเฟลกเตอร์อันที่หนึ่ง(118)และอันที่สอง(120)ดังกล่าวเป็นสเปกคิวล่า19. Under any of the claims 13 through 15, the first (118) and second (120) reflectors are spectral.
20. เครื่องตามข้อถือสิทธิข้อ 13 ถึงข้อ 15 ข้อใดข้อหนึ่งที่ซึ่ง ผิวหน้าของรีเฟลกเตอร์อันที่หนึ่ง(118)และอันที่สอง(120)เป็นการสะท้อนแบบกระจายบางส่วน20. Any instrument under claims 13 through 15 in which the surfaces of the first (118) and second (120) reflectors are partially diffuse.