Claims (9)
1. กระบวนการสำหรับตรวจสอบส่วนประกอบออพติคอลแบบโปร่งใสโดยวิธีการสร้างภาพ และตามด้วยการวิเคราะห์ภาพ ที่ซึ่งกระบวนการจะตรวจจับรอยตำหนิในสิ่งที่ทำให้เกิดภาพซึ่งกระบวนการจะประกอบด้วยการสร้างภาพของส่วนประกอบ โดยวิธีการส่องสว่างฟิลด์มืดซึ่งสามารปรับเข้ากับส่วนประกอบด้วยการสรัางภาพของส่วนประกอบ โดยวิธีการส่องสว่างฟิลด์มืดซึ่งสามารถปรับเข้ากับส่วนประกอบ ผลที่ได้คือภาพของส่วนประกอบแบบ คอนแทรสต์สูงสองมิติถูกสร้างขึ้น และที่จุดหนึ่งของเวลาจะทำการบันทึกภาพของส่วนประกอบทั้งหมดจากส่วนประกอบที่ส่องสว่าง และตรวจหาเนื้อที่ของภาพที่มีรอยตำหนิที่มองเห็นได้และเปรียบเทียบพื้นที่ของภาพที่มีรอยตำหนิกับค่าขีดเริ่มเปลี่ยนค่าหนึ่งหลายค่า1.Process for the inspection of transparent optical components by visualization method. And followed by image analysis Where the process detects defects in the visualizer, the process consists of visualization of the components By means of illumination of a dark field, which can be adjusted to complement the visualization of components By means of a dark field illumination, which can be adjusted to the component. The result is a picture of a model component. A two-dimensional high contrast was created. And at some point of time, images of all components from illuminated components are recorded. It detects the area of the image with visible defects and compares the area of the image with the defects with one of several threshold values.
2. กระบวนการตามข้อถือสิทธิข้อ 1 ที่ซึ่งภาพของส่วนประกอบจะถูกบันทึกโดยใช้ต้วตรวจรู้ภาพแบบ CCD2. Process according to claim 1, where the images of components are recorded using a CCD image detector.
3. กระบวนการตามข้อถือสิทธิข้อ 1 หรือข้อ 2 ที่ซึ่งเนื้อที่ของภาพที่มีรอยตำหนิที่ตรวจจับจะถูกแบ่งออกเป็นฟิกเซลล์และฟิกเซลส์ดังกล่าวจะถูกนับ และจำนวนของฟิกเซลล์ที่ทราบจะถูกเปรียบเทียบกับจำนวนของฟิกเซลล์ที่กำหนดไว้ล่วงหน้า3. Process according to claim 1 or item 2, where the area of the detected defect image is divided into fig cells and such fig cells are counted. And the number of known fig cells is compared with the number of known fig cells.
4. กระบวนการตามข้อถือสิทธิข้อ 1 ถึงข้อ 3ข้อใดข้อหนึ่งที่ซึ่ง การตรวจยจับรอยยตำหนิถูกดำเนการในสแตจการผลิตสเตจของการผลิตส่วนประกอบดังกล่าว4. Process in accordance with any Clause 1 to Clause 3, where Stain detection is performed in the production stage of the said component.
5. กระบวนการตามข้อถือสิทธิข้อ 1 ถึงข้อ 3 ข้อใดข้อหนึ่งที่ซึ่ง การตรวจรอยตำหนิถูกดำเนินการในการผลิตส่วนประกอบออพติดคอลสำหรับตา5. Process for any of Clause 1 to Clause 3 where Stain testing is performed in the manufacture of optical components for the eye.
6. กระบวนการตามข้อถือสิทธิข้อ 1 ถึงข้อ 5 ข้อใดข้อหนึ่งที่ซึ่ง ค่าขีดเปลี่ยนที่แตกต่างถูกกำนหนดเป็นมาตราฐานด้านคุณภาพสำหรับโซนต่างๆ กันของส่วนประกอบที่จะตรวจสอบ6. Process for any of Clause 1 to Clause 5 where: Different tick values are set as the quality standard for different zones. Together of the components to be checked
7. กระบวนการตามข้อถืข้อ 1 ถึงข้อ 5 ข้อใดขั้อหึ่งที่ซี่งค่ารีดเริ่มเปลี่ยนที่แตกต่างกัน ถูกกำหนดเป็นมาตราฐานดัานคุณภาพสำหรับออพคิคลอโยนเลนติคิวล่าโซนและเส้นรูปของเลนส์7. Process according to item 1 to item 5, which one is the iron at which the ironing fee starts to change differently? It is defined as the quality standard for optics, lenticula, zone and contour of the lens.
8. เครื่องสำหรับตรวจสอบส่วนประกอบออพติคอลที่ประกอบด้วยอุปกรณ์สร้างภาพเชิงออพติคอล ซึ่งมีส่วนส่องสว่างสำหรับส่องสว่างส่วนประกอบ และอุปกรณ์ประมวลผลภาพ (2) ซึ่งม่ส่วนบันทึกภาพ (3)ที่ซึ่งส่วนส่องสว่าง(1)จะอยู่ในรูปของส่วนส่องสว่างฟิลด์มืดที่มีแหล่งกำเนิดแสง(120)และออพติกที่ส่องสว่างฟิลด์มืด (118,128) ซึ่งมีการปรับทางเรขาคณิตเพื่อช่วยในการปรับส่วนประกอบ เพื่อภาพที่มีคอนแทรสต์สูงของส่วนประกอบจะถูกสร้างขึ้น และที่ซึ่งส่วนบันทึกภาพ(3)จะมีตัวตรวจรู้ภาพ(4)ซึ่งที่จุดหนึ่งของเวลาจะบันทึกภาพของส่วนประกอบทั้งหมดเพื่อตรวจหาเนื้อที่ของภาพที่ตรวจจับรอยตำหนิแล้วในภาพที่มีคอนแทรสต์สูงและเปรียบเทียบเนื้อที่ของรอยตำหนิกับค่าขีดเริ่มเปลี่ยนค่าหนึ่งหรือหลายค่า8. A machine for inspection of optical components consisting of an optical imaging device. Which has a illuminator for illuminating components And image processing equipment (2), which does not save the image (3) where the illumination part (1) takes the form of a dark field illumination segment with a light source (120) and an optics that illuminates a dark field (118,128), which is geometrically adjusted to aid in Component adjustment So a high-contrast image of the component will be created. And where the recorder (3) has an image detector (4), which at one point of time records the image of all components to detect the area of the flaw-detected image in the contrast image. High and compare the area of the defect with one or more threshold values.
9. เครื่องตามข้อถือสิทธิข้อ 8 ที่ซึ่งตัวตรวจรู้ภาพ(4)จะอยู่ในรูปแบบ CCD 19. Machine according to claim 8, where the image detector (4) will be in CCD 1 format.
0. เครื่องตามข้อถือสิทธิข้อ 8 หรือ 9 ที่ซึ่งส่วนอ่าน(7)สำหรับอ่านเนื้อที่รอยตำหนิของภาพโดยฟิกเซลล์ ถูกเชื่อมต่อกับตัวตรวจรู้ภาพ(4) 1 1.เครื่องตามข้อถือสิทธิข้อ 8 ถึงข้อ 10 ข้อใดข้อหนึ่งที่ซึ่ง อุปกรณ์ประมวลผลภาพ(2)มีตัวเปรียบเทียบ(24,25,26)ซึ่งถูกเชื่อมต่อกับส่วนตรวจหาเนื้อที่ (20,21,23)และเชื่อมต่อกับส่วนเก็บค่าขีดเริ่มเปลี่ยน(27,28,29) 10. The machine according to Clause 8 or 9, where reading (7) for reading the defect area of the image by fig cell. Is connected to the image detector (4) 1 1. One of the devices according to Clause 8 to Clause 10, where Image processing devices (2) have a comparator (24,25,26), which are connected to the space detector. (20,21,23) and connected to the threshold storage (27,28,29) 1
2. เครื่องตามข้อถือสิทธิข้อ 8 ถึงข้อ 11 ข้อใดข้อหนึ่งที่ซึ่ง ค่าขีดเริ่มเปลี่ยน จะเป็นขนาดของเนื้อที่ที่กำหนดไว้ล่วงหน้า 12. The device according to Clause 8 to Clause 11, any one of which Change threshold Will be the size of the preset space 1
3. เครื่องตามข้อถือสิทธิข้อ 8 ถึงข้อ 12 ข้อใดข้อหนึ่งที่ซึ่ง (a) ตัวรีเฟลกเตอร์อันที่หนึ่ง (110) ถูกจัดไว้ใต้ชิ้นส่วนรองรับ (148)ที่มีระนาบรองรับสำหรับส่วนประกอบที่จะถูกตรวจสอบ (b) ตัวเฟลกเตอร์อันที่หนึ่ง (110)มีผิวหน้าตอนปลาย(112)ที่ค่อนข้างขนานกับระนาบรองรับของชิ้นส่วนรองรับ(148)ซึ่งผิวหน้าตอนปลายจะก่อรูปแบล็คกราวด์สำหรับส่วนประกอบ (c) ตัวรีเฟลอกเตอร์อันที่หนึ่ง (110)ยังมีรีเฟลอกเตอร์อันที่หนึ่งที่นูนออกเป็นรูปกรวย(118) อยู่ห่างออกจากผิวหน้าตอนปลาย(112)ดังกล่าว โดยที่แกนรวยจะตรงกันกับแกนของระบบ(114)ซึ่งยื่นเป็นมุมฉากกับผิวหน้าตอนปลาย(112) (d) แหล่งกำเนิดแสง(120)ถูกจัดไว้บนแกนของระบบ(114)และ (e) ตัวรีเฟลกเตอร์อันที่สอง(130)ที่มีรีเฟลกเตอร์ที่เว้าเข้าเป็นรูปวงแหวน(128)ถูกจัดไว้ร่วมแกนเดียวกันกับแกนของระบบ(114) 13. Either of Claims 8 to 12, where (a) the first reflector (110) is placed under the supporting parts. (148) with a support plane for the component to be examined (b) the first flexor (110) has the end face (112) somewhat parallel to the support plane of the support (148), where the end surface forms the black ground for the component (c) the first reflector. (110) There is also a convex first reflector (118) away from the tip (112). Where the rich axis corresponds to the system axis (114), which extends at an angle to the end surface (112) (d), the light source (120) is arranged on the system axis (114) and (e) the ellipse. A second flexor (130) with an annular recessed reflector (128) is aligned with the system axis (114) 1.
4. เครื่องตามข้อถือสิทธิข้อ 13 ที่ซึ่ง รีเฟลกเตอร์ที่เว้าเข้าเป็นรูปแหวน(128)เป็นรูปทรงกระบอก 14. The machine according to claim 13, where the recessed reflector (128) is a cylinder 1.
5. เครื่องตามข้อถือสิทธิข้อ 13 หรือข้อ 14 ที่ซึ่งแหล่งกำเนิดแสง(120)ถูกรวมเข้ากับรีเฟลกเตอร์อันที่หนึ่ง(118)ในชุดประกอบย่อย(170)ที่ซึ่งสามารถเคลื่อนที่ได้ตามแกนของระบบ(114)เมื่อเทียบกับตัวรีเฟลกเตอร์อันที่สอง(130)และกับชิ้นส่วนรองรับ(148) 15. Apparatus according to claim 13 or 14, where the light source (120) is integrated with the first reflector (118) in the subassembly (170), where it can move along the axis of the system. (114) In comparison with the second reflector (130) and with the support part (148) 1.
6. เครื่องตามข้อถือสิทธิข้อ 13 ถึงข้อ 15 ข้อใดข้อหนึ่งที่ซึ่ง แหล่งกำเนิดแสงดังกล่าวเป็นแสงแบบรีเฟลกเตอร์-ริงชนิด PCT 16. Any device according to Clause 13 to Clause 15, where The light source is a type of reflector-ring PCT 1.
7. เครื่องตามข้อถือสิทธิข้อ 16 ที่ซึ่ง คุณลักษณะการแผ่รังสีของแสงแบบรีเฟลกเตอร์-ริงชนิด PCTดังกล่าวสามารถปรับใช้กับทางเรขาคณิตของส่วนประกอบ 17. Apparatus according to claim 16, where the radiation characteristic of a reflector-ring type Such PCTs can be applied to the geometry of component 1.
8. เครื่องตามข้อถือสิทธิข้อ 13 ถึงข้อ 17 ข้อใดข้อหนึ่งแผ่น(146)ที่ถูกจัดไว้บนด้านทั้งสองด้วยชั้นป้องกันการสะท้อนถูกจัดไว้เป็นชิ้นส่วนรองรับ(148)สำหรับส่วนประกอบ 18. One of Claims 13 to 17, plates (146) arranged on both sides with an anti-reflective layer are classified as supporting parts (148) for component 1.
9. เครื่องตามข้อถือสิทธิข้อ 13 ถึงข้อ 15 ข้อใดข้อหนึ่งรีเฟลกเตอร์อันที่หนึ่ง(118)และอันที่สอง(120)ดังกล่าวเป็นสเปกคิวล่า 29. The device according to Clause 13 to Article 15, one of the first (118) and second (120) reflector is a spectral 2.
0. เครื่องตามข้อถือสิทธิข้อ 13 ถึงข้อ 15 ข้อใดข้อหนึ่งที่ซึ่ง ผิวหน้าของรีเฟลกเตอร์อันที่หนึ่ง(118)และอันที่สอง(120)เป็นการสะท้อนแบบกระจายบางส่วน0. Any device in accordance with Clause 13 to Clause 15, where The surface of the first reflector (118) and the second (120) are partial diffuse reflection.