TH70257A - แผ่นวงจรพิมพ์รวมและหน้าสัมผัสทดสอบสำหรับการทดสอบสารกึ่งตัวนำความเร็วสูง - Google Patents
แผ่นวงจรพิมพ์รวมและหน้าสัมผัสทดสอบสำหรับการทดสอบสารกึ่งตัวนำความเร็วสูงInfo
- Publication number
- TH70257A TH70257A TH401003212A TH0401003212A TH70257A TH 70257 A TH70257 A TH 70257A TH 401003212 A TH401003212 A TH 401003212A TH 0401003212 A TH0401003212 A TH 0401003212A TH 70257 A TH70257 A TH 70257A
- Authority
- TH
- Thailand
- Prior art keywords
- flexible
- specified
- circuit board
- printed circuit
- test
- Prior art date
Links
Abstract
DC60 (21/10/47) แผ่นวงจรพิมพ์รวมและหน้าสัมผัสทดสอบสำหรับการทดสอบสารกึ่งตัวนำความเร็วสูง ที่มีโครงจัดแนวที่มีเบ้ารองรับและยึดวงจรรวมที่จะทดสอบให้อยู่กับที่ แผ่นวงจรพิมพ์จะประกอบ ด้วย ส่วนที่เป็นอิลาสโทเมอร์ที่ไม่เป็นตัวนำที่อยู่ตลอดผิวของแผ่นวงจรพิมพ์ และโครงสร้างของ สายส่งไมโครเวฟที่สมดุลทางไฟฟ้าที่มีนิ้วอ่อนตัว เพื่อส่งสัญญาณทดสอบจากวงจรรวมผ่าน แผ่นวงจรพิมพ์ ชิ้นส่วนต่อลงดินรูป-U จะยื่นออกไปรอบๆ โครงสร้างสายส่งไมโครเวฟ แผ่นวงจรพิมพ์รวมและหน้าสัมผัสทดสอบสำหรับการทดสอบสารกึ่งตัวนำความเร็วสูง ที่มีโครงจัดแนวที่มีเบ้ารองรับและยึดวงจรรวมที่จะทดสอบให้อยู่กับที่ แผ่นวงจรพิมพ์จะประกอบ ด้วย ส่วนที่เป็นอิลาสโทเมอร์ที่ไม่เป็นตัวนำที่อยู่ตลอดผิวของแผ่นวงจรพิมพ์ และโครงสร้างของ สายส่งไมโครเวฟที่สมดุลทางไฟฟ้าที่มีนิ้วอ่อนตัว เพื่อส่งสัญญาณทดสอบจากวงจรรวมผ่าน แผ่นวงจรพิมพ์ ชิ้นส่วนต่อลงดินรูป-U จะยื่นออกไปรอบๆ โครงสร้างสายส่งไมโครเวฟ
Claims (19)
1. ระบบเชื่อมประสานทดสอบวงจรรวม ที่ซึ่งประกอบด้วย: - โครงจัดแนวที่มีเบ้ารองรับและยึดวงจรรวมที่จะทดสอบให้อยู่กับที่; - แผ่นวงจรพิมพ์ที่มีส่วนของอิลาสโทเมอร์ที่ไม่เป็นตัวนำอยู่ตลอดผิวของแผ่น วงจรพิมพ์, และ - โครงสร้างของสายส่งไมโครเวฟที่ได้สมดุลทางไฟฟ้าที่มีวิถีทางส่งสัญญาณทดสอบ จากวงจรรวมและไปตามตัวแผ่นวงจรพิมพ์ไปยังอุปกรณ์อิเล็คทรอนิกส์ทดสอบด้านนอก
2. ระบบเชื่อมประสานทดสอบ ตามที่ระบุไว้ในข้อถือสิทธิ ข้อ 1 ที่ซึ่งประกอบต่อไปด้วย หน้าสัมผัสต่อลงดินรูปตัว-U ที่อยู่ถัดจากโครงสร้างของสายส่ง
3. ระบบเชื่อมประสานทดสอบ ตามที่ระบุไว้ในข้อถือสิทธิข้อ 1 ที่ซึ่งวิถีทางสัญญาณ ทดสอบ จะประกอบด้วย นิ้วอ่อนตัวที่มีส่วนสัมผัสยกตัวลอยขึ้นที่ถูกยึดและสัมผัสกับวงจรรวมผ่าน การกดตัวลงมาของส่วนที่เป็นอิลาสโทเมอร์ที่ไม่เป็นตัวนำบนแผ่นวงจรพิมพ์
4. ระบบเชื่อมประสานทดสอบ ตามที่ระบุไว้ในข้อถือสิทธิข้อ 3 ที่ซึ่งนิ้วอ่อนตัวจะใช้ใน การทดสอบค่าอิมพีแดนซ์ภายใต้การควบคุม
5. ระบบเชื่อมประสานทดสอบ ตามที่ระบุไว้ในข้อถือสิทธิข้อ 3 ที่ซึ่งประกอบด้วย นิ้วอ่อนตัวสองนิ้วที่ใช้ในการทดสอบสัญญาณแตกต่างกันที่ได้สมดุล
6. ระบบเชื่อมประสานทดสอบ ตามที่ระบุไว้ในข้อถือสิทธิข้อ 3 ที่ซึ่งนิ้วอ่อนตัวจะเป็น สายเชื่อมต่อแบบเคลวิน
7. ระบบเชื่อมประสานทดสอบ ตามที่ระบุไว้ในข้อถือสิทธิข้อ 3 ที่ซึ่งนิ้วอ่อนตัวจะถูกยึด กับแผ่นวงจรพิมพ์ด้วยคานกดที่ไม่เป็นตัวนำที่ถูกจัดวางไว้ที่ระหว่างตัวโครงและนิ้วอ่อนตัว
8. ระบบเชื่อมต่อประสานทดสอบ ตามที่ระบุไว้ในข้อถือสิทธิ ข้อ 1 ที่ซึ่งประกอบด้วย สายส่งไมโครเวฟที่สมดุลทางไฟฟ้าจำนวนหนึ่งอยู่รอบๆ เบ้าของตัวโครง
9. หน้าสัมผัสสำหรับทดสอบตัวบรรจุสารกึ่งตัวนำ ที่ซึ่งประกอบด้วย : - โครงที่มีเบ้ารองรับตัวบรรจุสารกึ่งตัวนำ; - ชิ้นส่วนตัวนำอ่อนตัวตัวหนึ่ง เป็นอย่างน้อยที่สุด ที่มีพื้นที่สัมผัสใช้สัมผัสกับแผ่นวงจร พิมพ์ และมีรูปทรงเรขาคณิตของมัน ที่ประกอบขึ้นเป็นสายส่งไมโครเวฟสมดุลทางไฟฟ้า; - ชิ้นส่วนต่อลงดินอ่อนตัวอยู่ถัดจากชิ้นส่วนตัวนำอ่อนตัว; และ - แผ่นวงจรพิมพ์ที่มีส่วนของอิลาสโทเมอร์ เพื่อส่งแรงกดไปฝังชิ้นส่วนตัวนำอ่อนตัว และชิ้นส่วนต่อลงดินอ่อนตัว
10. หน้าสัมผัส ตามที่ระบุไว้ในข้อถือสิทธิ ข้อ 9 ที่ซึ่งชิ้นส่วนต่อลงดินอ่อนตัวจะเป็นรูป-U
11. หน้าสัมผัส ตามที่ระบุไว้ในข้อถือสิทธิ ข้อ 9 ที่ซึ่งพื้นที่สัมผัสบนชิ้นส่วนตัวนำอ่อนตัว จะประกอบด้วย ส่วนที่ยกตัวลอยขึ้นเพื่อสัมผัสกับปุ่มทดสอบที่อยู่บนตัวบรรจุสารกึ่งตัวนำ
12. หน้าสัมผัส ตามที่ระบุไว้ในข้อถือสิทธิ ข้อ 9 ที่ซึ่งประกอบด้วย ชิ้นส่วนตัวนำอ่อนตัว สำหรับทดสอบค่าอิมพีแดนซ์ภายใต้การควบคุม
13. หน้าสัมผัส ตามที่ระบุไว้ในข้อถือสิทธิ ข้อ 9 ที่ซึ่งประกอบด้วยนิ้วอ่อนตัวสองนิ้ว สำหรับทดสอบสัญญาณแตกต่างกันที่สมดุล
14. หน้าสัมผัส ตามที่ระบุไว้ในข้อถือสิทธิ ข้อ 9 ที่ซึ่งนิ้วตัวนำอ่อนตัวจะเป็นสายเชื่อมต่อ แบบเคลวิน
15. หน้าสัมผัส ตามที่ระบุไว้ในข้อถือสิทธิ ข้อ 9 ที่ซึ่งชิ้นส่วนตัวนำอ่อนตัวจะถูดยึดเข้ากับ แผ่นวงจรพิมพ์ด้วยคานกดที่ไม่เป็นตัวนำที่ถูกจัดวางไว้ที่ระหว่างตัวโครงและนิ้วอ่อนตัว
16. หน้าสัมผัส ตามที่ระบุไว้ในข้อถือสิทธิ ข้อ 9 ที่ซึ่งประกอบด้วย สายส่งไมโครเวฟ ที่สมดุลทางไฟฟ้าอยู่รอบๆ เบ้าของตัวโครง
17. ระบบเชื่อมประสานทดสอบวงจรรวม ที่ซึ่งประกอบด้วย แผ่นตัวนำเต้าเสียบหรือ ขาเสียบที่เป็นตัวจัดแนวตัวบรรจุสารกึ่งตัวนำกับชิ้นส่วนตัวนำอ่อนตัวที่รวมเข้าไปในแผ่นวงจรพิมพ์ อัดซ้อน และที่มีรูปทรงเรขาคณิตในลักษณะที่ว่า ชิ้นส่วนตัวนำอ่อนตัวจะประกอบด้วยขึ้นเป็น โครงสร้างสายส่งไมโครเวฟที่สมดุลทางไฟฟ้าจากขอบรอบๆ ของแผ่นวงจรพิมพ์ไปยังปุ่มทดสอบ ที่อยู่บนวงจรรวม
18. ระบบเชื่อมประสานทดสอบวงจรรวม ตามที่ระบุไว้ในข้อถือสิทธิ ข้อ 17 ที่ซึ่งประกอบต่อไปด้วย ชิ้นส่วนต่อลงดินอยู่ถัดจากชิ้นส่วนตัวนำอ่อนตัว
19. ระบบเชื่อมประสานทดสอบวงจรรวม ตามที่ระบุไว้ในข้อถือสิทธิ ข้อ 17 ที่ซึ่งชิ้นส่วน ตัวนำอ่อนตัวจะยื่นออกไปเหนือส่วนที่ยุบตัวลงตื้นๆ ในแผ่นวงจรพิมพ์ที่ถูกเติมด้วยอิลาสโทเมอร์ ที่ไม่เป็นตัวนำที่ทำหน้าที่เป็นกลไกส่งแรงกดและตัวกลางไดอิเล็กตริกสำหรับโครงสร้างสายส่ง ไมโครเวฟที่สมดุลทางไฟฟ้า
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| TH70257A true TH70257A (th) | 2005-08-24 |
Family
ID=
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US5309324A (en) | Device for interconnecting integrated circuit packages to circuit boards | |
| KR100749431B1 (ko) | 고속 반도체 테스팅용 집적 인쇄회로기판 및 테스트 접촉기 | |
| US6232669B1 (en) | Contact structure having silicon finger contactors and total stack-up structure using same | |
| TWI388853B (zh) | 品種交換單元以及其製造方法及所應用的測試裝置 | |
| JP2017103223A (ja) | リジッド−フレックス回路コネクタ | |
| CN101551406A (zh) | 探针卡 | |
| CN102027380B (zh) | 具有高频内插器的测试系统 | |
| KR102904814B1 (ko) | 쌍축 케이블 스플리터 | |
| JP2734412B2 (ja) | 半導体装置のソケット | |
| MY162914A (en) | Wiring board for testing loaded printed circuit board | |
| US10062993B1 (en) | Flexible cable for pluggable modules | |
| CN100505437C (zh) | 接触器及利用接触器的测试方法 | |
| EP2363720B1 (en) | Method of manufacture of an integrated circuit package | |
| US20150204906A1 (en) | Testing jig | |
| US8951049B2 (en) | Electrical connector assembly with an adaptor for electrical connecting the electrical connector and the PCB | |
| TWI855898B (zh) | 內置組件的橡膠插座 | |
| TWI598596B (zh) | 積體電路之測試探針卡 | |
| WO2018118927A1 (en) | Rf connection apparatus for printed circuit boards with antenna contact pads | |
| KR20140037322A (ko) | 테스트 소켓 및 그 제조 방법 | |
| CN117477302A (zh) | 插座 | |
| KR20240059374A (ko) | 컨택트 단자 및 컨택트 단자를 포함하는 소켓 | |
| US7358752B1 (en) | Signal launch for high speed differential signals | |
| JPH07260878A (ja) | テストステーション | |
| KR200374262Y1 (ko) | 반도체시험용 소켓보드 조립체 | |
| JP7647700B2 (ja) | 検査用コネクタ |