Claims (8)
1. ระบบออฟโตอีเล็กทรอนิกส์สำหรับการตรวจสอบการวางตัวที่สัมพันธ์กันของชิ้น ส่วนประกอบของชิ้นกลไกซึ่งประกอบด้วย - ฐาน (2) - ระบบอ้างอิง (40) ต่อกับฐาน (2) และดัดแปลงเพื่ออ้างถึงชิ้นกลไกในตำแหน่งที่กำหนด ไว้ล่วงหน้า ระบบอ้างอิงซึ่งประกอบด้วย ส่วนรองรับที่อยู่กับที่ (3) วึ่งกำหนดระนาบอ้างอิง (XY) และถูกดัดแปรเพื่อให้ทำงานร่วมกันกับผิวหน้าการวาง (34) ของชิ้นกลไก -อุปกรณ์การตรวจหาออฟโตอีเล็กทรอนิกส์ (A, B) และ - หน่วยการประมวลผล (c) ที่ดัดแปรสำหรับการรับ และการประมวลผลสัญญาณ ของอุปกรณ์การตรวจหาออฟโตอีเล็กทรอนิกส์ (A,B) ที่แสดงลักษณะในที่ซึ่ง ระบบอ้างอิง (40) ดังกล่าว ประกอบต่อไปด้วย อุปกรณ์ลอย (10) ซึ่งลอยในส่วนรองรับที่อยู่กับที่ (3) และถูกดัดแปรเพื่อให้ทำงานร่วมกับผิวหน้าการทำงาน (33) ของชิ้นส่วนประกอบการวางตัวสัมพันธ์กันของมันถูกตรวยสอย อุปกรณ์ลอย (10) ดังกล่าว ซึ่งประกอบด้วยชิ้นส่วนลอย (11) ซึ่งกำหนดระนาบที่ปรับได้ที่ดัดแปรเพื่อให้ทำงานร่วมกันกับ อุปกรณ์การตรวจหาออฟโตอีเล็กทรอนิกส์ (A, B)1.Optoelectronics system for detecting piece relative positioning It consists of - base (2) - reference system (40) attached to base (2) and modified to refer to the mechanism in a predetermined position. The stationary support (3) defines the reference plane (XY) and is modified to work together with the mounting surface (34) of the mechanism - an optoelectronic detection device. (A, B) and - modified processing unit (c) for receiving And signal processing Of optical detecting devices (A, B) characterized in which the aforementioned reference system (40) consists of a floating device (10), floating in a stationary support ( 3) and modified to work in conjunction with the working surface (33) of the relative alignment component, the aforementioned float device (10), consisting of a floating part (11), which defines the plane that Adjustable that modifies to work together with Optical Detection Equipment (A, B)
2. ระบบออฟโตอีเล็กทรอนิกส์ตามข้อถือสิทธิที่ 1 ในที่ซึ่ง อุปกรณ์การตรวจหา ออฟโตอีเล็กทรอนิกส์ (A, B) ถูกดัดแปรเพื่อให้เตรียมสัญญาณที่แสดงตำแหน่ง และ/หรือขนาด ของส่วนทั้งหลาย (17, 21) ของชิ้นส่วยลอย (11) ดังกล่าว และหน่วยการประมวลผล (C) ดังกล่าว ถูกดัดแปรเพื่อเตรียมสารสนเทศซึ่งเกี่ยวกับการวางตัวที่สัมฟันธ์ของชิ้นประกอบส่วนประกอบดังกล่าว ของชิ้นกลไกเพื่อจะตรวจสอบ2. Optoelectronics system according to claim 1, where the detection equipment Optoelectronics (A, B) are modified to provide signals showing the position and / or size of the segments (17, 21) of the said (11) floating substrate and the processing unit ( C) It has been modified to provide information on the relative positioning of the components. Of mechanical parts to be examined
3. ระบบออฟโตอีเล็กทรอนิกส์ตามข้อถือหนึ่งข้อใดข้อหนึ่งข้อถือสิทธิที่ 1 ถึง 2 ในที่ซึ่ง ชิ้นส่วนลอย (11) ดังกล่าวประกอบด้วย ส่วนการตรวยสอบ (21) ซึ่งมีผิวหน้าแบน (31) ซึ่งกำลังลาดในส่วนระนาบที่ตั้งได้ดังกล่าว3. Optoelectronics system, according to any one of the claims 1 to 2, in which the floating part (11) consists of Examination (21), which has a flat surface (31), which is sloping in such an area of the plane.
4. ระบบออฟโตอีเล็อกทรอนิกส์ตามข้อหนึ่งข้อใดของข้อถือสิทธิที่ 1 ถึง 3 ในที่ซึ่ง ชิ้นส่วนลอย (11) ดังกล่าว ประกอบด้วยผิวหน้าแบนตามยาวสองอัน (18, 19) ซึ่งเบนเข้ามาบรรจบ กันเพื่อที่จะก่อรูปขอบ (20) ที่ส่วนตามยาวตามกลางจริงๆ ของชิ้นส่วนลอย (11)4. The optoelectronic system according to any of the claims 1 to 3, where the floating part (11) consists of two longitudinal flat faces (18, 19), which Ben meets Together in order to form an edge (20) at the really longitudinal part. Of floating parts (11)
5. ระบบออฟโตอีเล็กทรอนิกส์ตามข้อหนึ่งข้อใดข้อถือสิทธิอันก่อน ในที่ซึ่ง อุปกรณ์ลอย (10) ประกอบด้วยชิ้นจมูกลอย (16) เป็นอันเดียวกับชิ้นส่วนลอย (11) ซึ่งกำหนด ผิวหน้าพัก (26) และถูกดัดแปรเพื่อให้ทำงานร่วมกับผิวหน้าการทำงาน (33) ดังกล่าวของ ชิ้นส่วนประกอบของชิ้นกลไก5. Optoelectronics, according to one of the preceding claims, where the float (10) consists of a floating nose piece (16), the same as the float (11), which defines the resting face. (26) and modified to work with the aforementioned (33) working surface of the components of the mechanism.
6. วิธีการสำหรับการตรวจสอบการวางตัวที่พันธ์กันของชิ้นส่วนประกอบของชิ้นกลไก ด้วยวิธีของระบบออฟ โตอีเล็กทรอนิกส์ (A, B) ซึ่งประกอบด้วยขั้นตอนของ - การอ้างอิงชิ้นส่วนประกอบที่หนึ่งของชิ้นกลไกกับระบบอ้างอิง (40) และ - การล็อคชิ้นกลไกเพื่อตรวจสอบที่ตำแหน่งการตรวจสอบ ที่แสดงลักษณะโดย - การนำอุปกรณ์ลอย (10) ซึ่งประกอบด้วยชิ้นส่วนลอย (11) สัมผัสกับชิ้นส่วนประกอบ ที่สองของชิ้น และ - การดำเนินการการตรวจสอบขนาด และตำแหน่งของส่วนทั้งหลาย (17, 21) ของ ชิ้นส่วนลอย (11) โดยวิธีของระบบออฟโตอีเล็กทรอนิกส์ (A, B)6. Methods for determining the interlacing of mechanical components. With the method of offline system Electronic components (A, B), which consist of the procedure of - reference of the first component of the mechanism to the reference system (40) and - locking of the mechanism for verification at the inspection position. Characterized by - bringing a floating device (10), which consists of a floating element (11), comes into contact with the components. The second of the pieces and - scale check operation. And the position of the parts (17, 21) of the floating parts (11) by the optoelectronic system (A, B) method.
7. วิธีการตามข้อถือสิทธิที่ 6 ในที่ซึ่ง ชิ้นนกลไก ชิ้นกลไกดังกล่าวเพื่อจะตรวจสอบเป็นชุดประกอบ กองส่วนหัว (HSA) ซึ่งประกอบด้วย E-block และแบริ่ง ชิ้นส่วนประกอบที่หนึ่งซึ่งตรงกับ E-block และชิ้นส่วนประกอบที่สองดังกล่าวตรงกับแบริ่ง7. Method according to claim 6, where the mechanism is to be examined is a head stack assembly (HSA) consisting of an E-block and a first component bearing corresponding to E. -block and the second component thereof match the bearing
8. วิธีการตามข้อหนึ่งข้อใดข้อถือสิทธิที่ 6 และ 7 ในที่ซึ่ง ขั้นตอนดังกล่าว ของ การดำเนินการการตรวจสอบขนาด และตำแหน่งของชิ้นส่วนประกอบ (31, 20) ของชิ้นส่วนลอย (11) ประกอบด้วยขั้นตอนของขนาดความหนาการตรวจสองของชิ้นส่วนลอย (11) ที่ส่วนตามขวาง8. Method according to any one of Claims 6 and 7, where such procedure of size check proceedings And the position of the components (31, 20) of the floating part (11) consists of a step of size, thickness, double check of the float (11) at the transverse section.