ส่วนที่เปิดเผยในการประดิษฐ์นี้ ได้แก่ ระบบทดสอบแบบวงจรพิมพ์และเมื่อกล่าว โดยเฉพาะแล้ว ได้แก่ ระบบทดสอบที่มีเครื่องตรวจที่กำหนดตำแหน่งแผงวงจรพิมพ์ ไว้เหนือตัว ทดสอบและหมุดของหัวตรวจทดสอบแบบหมุนได้รอบตัว ยื่นทะลุตัวนำทางแบบหมุดของหัวตรวจทด สอบหลายชั้น และที่มีเปิดเผยเช่นกัน ได้แก่ วิธีการของการทดสอบแผงวงจรพิมพ์ที่ใช้ระบบ ทดสอบนี้ The parts revealed in the invention are the printed circuit testing system and, in particular, a test system with a detector that positions the printed circuit board over the tester and the rotating test probe pins. Extending through the multilayer probe pin guide, and one that is also disclosed is a printed circuit board test method that uses this test system.
Claims (1)
1. ตัวทดสอบใช้ทำการทดสอบจุดเชื่อมต่อของแผงวงจรพิมพ์ โดยแผงวงจร พิมพ์ดังกล่าว มีจุดเทียบตำแหน่งจำนวนมาก ตัวทดสอบดังกล่าวประกอบด้วย a) ตัวจับ b) แผ่นหัวตรวจแบบหมุดที่มีหัวตรวจแบบหมุนหนึ่ง เพื่อการสัมผัสทาง ไฟฟ้าบนแผงวงจรพิมพ์ที่กำลังทดสอบ &nb1. The tester is used to test the junction of the printed circuit board by the said printed circuit board. There are many calibration points. The test consists of a) a holder b) a pin probe plate with a rotating probe. To touch the way Electricity on the printed circuit board being tested & nb
Arrangement for determining a quiescent current of an integrated monolithic digital circuit, integrated monolithic digital circuit with such an arrangement and test device with such an arrangement.