TH17432A - เครื่องที่ใช้ในการเลือกสัญญาณนาฬิกาทดสอบอัตโนมัติ - Google Patents
เครื่องที่ใช้ในการเลือกสัญญาณนาฬิกาทดสอบอัตโนมัติInfo
- Publication number
- TH17432A TH17432A TH9301001969A TH9301001969A TH17432A TH 17432 A TH17432 A TH 17432A TH 9301001969 A TH9301001969 A TH 9301001969A TH 9301001969 A TH9301001969 A TH 9301001969A TH 17432 A TH17432 A TH 17432A
- Authority
- TH
- Thailand
- Prior art keywords
- during
- signal
- input
- test
- mode
- Prior art date
Links
Abstract
วงจรรวม (IC) จะรวมทั้งวงจรสำหรับการกำเนิดสัญญาณนาฬิกาในระหว่างทั้งการปฏิบัติการในโมดปกติและโมคทดสอบ ในระหว่างโ มดทอสอบนี้สัญญาณนาฬิกาเข้าจะถูกหน่วงเวลาผ่านตัวแก้ไขค่า การเฉ ในโมดทดสอบสัญญาณนาฬิกาทดสอบเข้าจะข้ามผ่านตัวแก้ไข การเฉผ่านทางตัวเลือกแหล่งสัญญาณนาฬิกา ตัวเลือกแหล่ง สัญญาณนาฬิกานี้จะถูกควบคุมโดยอัตโนมัติโดยตัวตรวจจับโมด ซึ่งตอบสนองต่อสัญญาณนาฬิกาเข้าเพื่อกำหนดโมดของการปฏิบัติ การของ IC นี้
Claims (4)
1. ในวงจรที่มีการปฏิบัติการโมคปกติและโมคทดสอบ เครื่องที่ประกอบด้วย จุดต่อทางเข้าสัญญาณที่หนึ่งและที่สองจะถูกต่อกับการรับ สัญญาณเข้าที่หนึ่งและที่สองตามลำดับที่มีคุณลักษณะแอมปลิ จูดที่เวลาเปลี่ยนแปลงไปที่หนึ่งและที่สองตามลำดับใน ระหว่างโมดปกติดังกล่าว ญาณที่หนึ่งดังกล่าวจะแสดงความ สัมพันธ์ที่กำหนดไว้เมื่อเทียบกับสัญญาณที่สองดังกล่าวใน ระหว่างโมดปกติดังกล่าว และคุณลักษณะแอมปลิจูดดังกล่าวของ การเปลี่ยนสัญญาณเข้าที่หนึ่งดังกล่าวในระหวางโมดทดสอบดัง กล่าวเพื่อเป็นเหตุให้มีการเปลี่ยนแปลงในความสัมพันธ์ที่ กำหนดไว้ดังกล่าว วิถีทางสำหรับการตรวจจับการเปลี่ยนแปลงดังกล่าวในความ สัมพันธ์ที่กำหนดไว้ดังกล่าว และสำหรับการกำเนิดสัญญาณควบ คุมที่ชี้แสดงว่าวงจรดังกล่าวอยู่ในโมดทอสอบดังกล่าว เมื่อ ความสัมพันธ์ที่กำหนดไว้ดังกล่าวไม่คงอยู่ และ วิถีทางที่ตอบสนองต่อสัญญาณควบคุมดังกล่าวสำหรับการต่อ สัญญาณหนึ่งดังกล่าวทางเส้นทางสัญญาณที่หนึ่งในระหว่างโมด ปกติดังกล่าวและผ่านเส้นทางสัญญาณที่แสดงในระหว่างโมดทดสอบ ดังกล่าว
2. เครื่องตามข้อ 1 ที่ซึ่งสัญญาณเข้าที่หนึ่งและที่สองดัง กล่าวเป็นสัญญาณนาฬิกาดิจิตอลในระหว่างการปฏิบัติการในโมด ปกติดังกล่าว
3. เครื่องตามข้อที่ 2 ที่ซึ่งสัญญาณเข้าที่หนึ่งและที่สอง ดังกล่าวเป็นสัญญาณนาฬิกาดิจิตอลที่เวลาเปลี่ยนแปลงไปใน ระหว่างการปฏิบัติการในโมดทดสอบดังกล่าว ความสัมพันธ์ที่กำหนดไว้ดังกล่าวเป็นความสัมพันธ์ของเฟสระ หว่างสัญญาณเข้าทื่หนึ่งและที่สองดังกล่าวในระหว่างโมคปกติ การเปลี่ยนแปลงในคุณลักษณะของแอมปลิจูดดังกล่าวของสัญญาณ เข้าที่หนึ่งดังกล่าวในระหวางโมดทดสอบจะเป็นเหตุให้มีการ เปลี่ยนแปลงในความสัมพันธ์ของเฟสดังกล่าว และวิถีทางการ ตรวจจับดังกล่าวจะประกอบด้วยวิถีทางสำหรับการตรวจจับการ เปลี่ยนแปลงในความสัมพันธ์ของเฟสดังกล่าว
4. เครื่องตามข้อ 2 ที่ซึ่งสัญญาณเข้าที่สองดังกล่าวเป็น ระดับอ้างอิงที่เกือบจะคงที่ในระหว่างโมคทดสอบดังกล่าว และ วิถีทางการตรวจจับดังกล่าวจะกำเนิดสัญญาณควบคุมดังกล่าว เมื่อชี้แสดงโมคปกติดังกล่าวเฉพาะเมื่อสัญญาณเข้าที่หนึ่ง ดังกล่าวมีคุณลักษณะแอมปลิจูดที่เวลาเปลี่ยนแปลงไปดังกล่าว (ข้อถือสิทธิ 4 ข้อ, 2 หน้า, 3 รูป)
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| TH17432A true TH17432A (th) | 1996-01-11 |
Family
ID=
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| KR940012799A (ko) | 자동 테스트 클록 선택 장치 | |
| DE69634824D1 (de) | Integrierte schaltungstestanordnung mit paralleler ansteuerung | |
| RU96107251A (ru) | Встроенное испытательное оборудование передатчика поля | |
| EP0369530A3 (en) | Temperature sensing circuit | |
| DE69214190D1 (de) | Integrierte Halbleiterschaltung mit Funktion zum Testen der Fehlererkennungs- und -korrekturschaltung nach der Verpackung ins Gehäuse | |
| US5563893A (en) | Integrated level detector | |
| US5077538A (en) | Fm demodulator with carrier shift compensation | |
| GB2262017A (en) | Interference detection technique | |
| KR900002553A (ko) | 위상 검출회로 | |
| KR900003723A (ko) | 마이크로프로세서 및 직접회로 장치 | |
| DE69522663D1 (de) | Bypass-regelung für abtastprüfung mit selbsttätiger rückstellung | |
| US6313656B1 (en) | Method of testing leakage current at a contact-making point in an integrated circuit by determining a potential at the contact-making point | |
| CA2252989A1 (en) | Microcomputer and its access speed control method | |
| KR890004494A (ko) | 자동 주파수 제어시스템 | |
| KR890001272A (ko) | 신호 판별회로 | |
| KR960018935A (ko) | 자동레벨선택기능을 가지는 신호수신장치 | |
| US20030057936A1 (en) | Narrow band frequency detection circuit | |
| US4398288A (en) | Loop type data highway system for data transmission | |
| US4177633A (en) | Time correcting means for a digital electronic watch | |
| KR860006872A (ko) | 톤 검출기 | |
| DE60105168D1 (de) | Automatische Abtastprüfung von komplexen integrierten Schaltungen | |
| KR930702763A (ko) | 반도체 기억장치 | |
| KR920001207A (ko) | 소위상차를 측정하는 방법 및 그 방법을 실행하기 위한 회로 | |
| JPS6455747A (en) | Optical disk tracking device | |
| JPS5765048A (en) | Measuring system of signal-to-noise ratio |