TH146142A - วิธีการสำหรับการตกสะสมชั้นบนซับสเทรทกระจกโดยอาศัย pecvd แบบความดันต่ำ - Google Patents

วิธีการสำหรับการตกสะสมชั้นบนซับสเทรทกระจกโดยอาศัย pecvd แบบความดันต่ำ

Info

Publication number
TH146142A
TH146142A TH1301006653A TH1301006653A TH146142A TH 146142 A TH146142 A TH 146142A TH 1301006653 A TH1301006653 A TH 1301006653A TH 1301006653 A TH1301006653 A TH 1301006653A TH 146142 A TH146142 A TH 146142A
Authority
TH
Thailand
Prior art keywords
substrate
nitride
nitrides
metal
gas
Prior art date
Application number
TH1301006653A
Other languages
English (en)
Other versions
TH1301006653B (th
Inventor
มาฮิว
สติจน
ทิกซ์ฮอน
เอริค
สติวเวนเบิร์ก แวน
มาร์ติน
วีเอม
ฮูเกส
Original Assignee
นายจักรพรรดิ์ มงคลสิทธิ์
นางสาวปรับโยชน์ ศรีกิจจาภรณ์
นายรุทร นพคุณ
Filing date
Publication date
Application filed by นายจักรพรรดิ์ มงคลสิทธิ์, นางสาวปรับโยชน์ ศรีกิจจาภรณ์, นายรุทร นพคุณ filed Critical นายจักรพรรดิ์ มงคลสิทธิ์
Publication of TH1301006653B publication Critical patent/TH1301006653B/th
Publication of TH146142A publication Critical patent/TH146142A/th

Links

Abstract

DC60 (22/11/56) การประดิษฐ์นี้เกี่ยวข้องกับวิธีการสำหรับการผลิตฟิล์มออกไซด์ของโลหะหรือสารกึ่งตัวนำ, ไนไตรด์หรือออกซีไนไตรด์บนซับสเทรท โดยอาศัยวิธีการ PECVD ซึ่งรวมถึงขั้นตอนที่ครอบคลุม ถึง (i) การมีอุปกรณ์ PECVD ความดันต่ำซึ่งรวมถึงเเหล่งกำเนิดพลาสมาอย่างน้อยหนึ่งเเหล่งซึ่ง รวมถึงอิเล็กโทรดอย่างน้อยหนึ่งอิเล็กโทรดที่เชื่อมต่อกับตัวก่อกำเนิดชนิด AC, DC หรือ DC ที่ผ่านการดึงสำหรับการตกสะสมฟิล์มดังกล่าวบนซับสเทรท; เเละ (ii) การประยุกต์ให้กำลัง ไฟฟ้าไปยังเเหล่งกำเนิดพลาสมาเเละการประยุกต์พรีเคอร์เซอร์ชนิดเเก๊สของฟิล์มออกไซด์ที่ทำจาก ออกซีไนไตรด์หรือไนไตรด์ของโลหะหรือสารกึ่งตัวนำเเละเเก๊สพร้อมปฏิกิริยาที่ทำมาจากออกซิเจน, สารอนุพันธ์ออกซิเจน, หรือสารอนุพันธ์ไนโตรเจน ไปบนซับสเทรทนี้ การประดิษฐ์นี้ยังเกี่ยวข้อง กับฟิล์มออกซิไนไตรด์, ไนไตรด์หรือออกไซด์ของโลหะหรือสารกึ่งตัวนำที่ได้มาโดยวิธีการนี้ การประดิษฐ์นี้เกี่ยวข้องกับวิธีการสำหรับการผลิตฟิล์มออกไซด์ของโลหะหรือสารกึ่งตัวนำ ไนไตรด์หรือออกซีไนไตรด์บนซับสเทรท โดยอาศัยวิธีการ PECVD ซึ่งรวมถึงขั้นตอนที่ครอบคลุม ถึง(i)การมีอุปกรณ์ PECVD ความดันต่ำซึ่งรวมถึงเเหล่งกำเนิดพลาสมาอย่างน้อยหนึ่งเเหล่งซึ่ง รวมถึงอิเล็กโทรดอย่างน้อยหนึ่งอิเล็กโทรดที่เชื่อมต่อกับกำเนิดชนิด AC,DC หรือ DC ที่ผ่านการดึงสำหรับการตกสะสมฟิล์มดังกล่าวบนซับสเทรท เเละ(i)การประยุกต์ให้กำลัง ไฟฟ้าไปยังเเหล่งกำเนิดพลาสมาเเละการประยุกต์พรีเคอร์เซอร์เเก๊สออกไซด์ที่ทำจาก ออกซีไนโตรด์หรือไนโตรด์ของโลหะหรือสารกึ่งตัวนำเเละเเก๊สพร้อมปฏิกิริยาที่ทำมาจากออกซิเจน สารอนุพันธ์ออกซิเจน หรือสารอนุพันธุ์ไนโตรเจน ไปบนซับสเทรทนี้ การประดิษฐ์นี้ยังเกี่ยวข้อง กับฟิล์มออกซิไนไตรด์ ไนไตรด์หรือออกไซด์ของโลหะหรือสารกึ่งตัวนำที่ได้มาโดยวิธีการนี้

Claims (1)

  1. : DC60 (22/11/56) การประดิษฐ์นี้เกี่ยวข้องกับวิธีการสำหรับการผลิตฟิล์มออกไซด์ของโลหะหรือสารกึ่งตัวนำ, ไนไตรด์หรือออกซีไนไตรด์บนซับสเทรท โดยอาศัยวิธีการ PECVD ซึ่งรวมถึงขั้นตอนที่ครอบคลุม ถึง (i) การมีอุปกรณ์ PECVD ความดันต่ำซึ่งรวมถึงเเหล่งกำเนิดพลาสมาอย่างน้อยหนึ่งเเหล่งซึ่ง รวมถึงอิเล็กโทรดอย่างน้อยหนึ่งอิเล็กโทรดที่เชื่อมต่อกับตัวก่อกำเนิดชนิด AC, DC หรือ DC ที่ผ่านการดึงสำหรับการตกสะสมฟิล์มดังกล่าวบนซับสเทรท; เเละ (ii) การประยุกต์ให้กำลัง ไฟฟ้าไปยังเเหล่งกำเนิดพลาสมาเเละการประยุกต์พรีเคอร์เซอร์ชนิดเเก๊สของฟิล์มออกไซด์ที่ทำจาก ออกซีไนไตรด์หรือไนไตรด์ของโลหะหรือสารกึ่งตัวนำเเละเเก๊สพร้อมปฏิกิริยาที่ทำมาจากออกซิเจน, สารอนุพันธ์ออกซิเจน, หรือสารอนุพันธ์ไนโตรเจน ไปบนซับสเทรทนี้ การประดิษฐ์นี้ยังเกี่ยวข้อง กับฟิล์มออกซิไนไตรด์, ไนไตรด์หรือออกไซด์ของโลหะหรือสารกึ่งตัวนำที่ได้มาโดยวิธีการนี้ การประดิษฐ์นี้เกี่ยวข้องกับวิธีการสำหรับการผลิตฟิล์มออกไซด์ของโลหะหรือสารกึ่งตัวนำ ไนไตรด์หรือออกซีไนไตรด์บนซับสเทรท โดยอาศัยวิธีการ PECVD ซึ่งรวมถึงขั้นตอนที่ครอบคลุม ถึง(i)การมีอุปกรณ์ PECVD ความดันต่ำซึ่งรวมถึงเเหล่งกำเนิดพลาสมาอย่างน้อยหนึ่งเเหล่งซึ่ง รวมถึงอิเล็กโทรดอย่างน้อยหนึ่งอิเล็กโทรดที่เชื่อมต่อกับกำเนิดชนิด AC,DC หรือ DC ที่ผ่านการดึงสำหรับการตกสะสมฟิล์มดังกล่าวบนซับสเทรท เเละ(i)การประยุกต์ให้กำลัง ไฟฟ้าไปยังเเหล่งกำเนิดพลาสมาเเละการประยุกต์พรีเคอร์เซอร์เเก๊สออกไซด์ที่ทำจาก ออกซีไนโตรด์หรือไนโตรด์ของโลหะหรือสารกึ่งตัวนำเเละเเก๊สพร้อมปฏิกิริยาที่ทำมาจากออกซิเจน สารอนุพันธ์ออกซิเจน หรือสารอนุพันธุ์ไนโตรเจน ไปบนซับสเทรทนี้ การประดิษฐ์นี้ยังเกี่ยวข้อง กับฟิล์มออกซิไนไตรด์ ไนไตรด์หรือออกไซด์ของโลหะหรือสารกึ่งตัวนำที่ได้มาโดยวิธีการนี้ข้อถือสิทธิ์ (ข้อที่หนึ่ง) ซึ่งจะปรากฏบนหน้าประกาศโฆษณา : 1.กรรมวิธีสำหรับการผลิตฟิล์มของออกไซด์ ของไนไตรด์หรือของออกซีไนไตรด์ของโลหะ หรือสารกึ่งโลหะบนซับสเทรทโดยวิธีการ PECVD ซึ่งประกอบรวมด้วยขั้นตอนซึ่งประกอบด้วย a)การนำอุปกรณ์ PECVD ความดันต่ำซึ่งประกอบรวมด้วยเเหล่งกำเนิดพลาสมาเเบบลำเเสงคู่ ชนิดเชิงเส้นอย่างน้อยหนึ่งเเหล่ง ซึ่งเเหล่งกำเนิดประกอบรวมด้วยอิเล็กโทรดอย่างน้อยสอง อิเล็กโทรดซึ่งเชื่อมต่อกับตัวก่อกำเนิดกระเเส DC เเบบพัลส์หรือ AC แท็ก :
TH1301006653A 2012-05-24 วิธีการสำหรับการตกสะสมชั้นบนซับสเทรทกระจกโดยอาศัย pecvd แบบความดันต่ำ TH146142A (th)

Publications (2)

Publication Number Publication Date
TH1301006653B TH1301006653B (th) 2016-03-04
TH146142A true TH146142A (th) 2016-03-04

Family

ID=

Similar Documents

Publication Publication Date Title
MY170051A (en) Method for depositing layers on a glass substrate by means of low-pressure pecvd
GB201110117D0 (en) method and device for manufacturing a barrie layer on a flexible substrate
MY157325A (en) Atmospheric plasma coating for ophthalmic devices
WO2012103528A3 (en) Low-temperature fabrication of metal oxide thin films and nanomaterial-derived metal composite thin films
WO2010088267A3 (en) Method and apparatus for etching
WO2008073926A3 (en) Formation of epitaxial layers containing silicon
JP2015035607A5 (th)
WO2012030382A3 (en) Showerhead electrode
EA201100568A1 (ru) Способ получения карбида кремния высокой чистоты из углеводородов и оксида кремния с помощью прокаливания
WO2012118350A3 (ko) 그래핀의 n-도핑 방법
WO2010095901A3 (en) Method for forming thin film using radicals generated by plasma
JP2014007388A5 (ja) 半導体装置の作製方法
WO2011006018A3 (en) Apparatus and method for plasma processing
WO2010053866A3 (en) Reaction chamber
TW200625443A (en) Film formation apparatus and method for semiconductor process
SG143125A1 (en) Chromium-free etching solution for si-substrates and sige-substrates, method for revealing defects using the etching solution and process for treating si-substrates and sige-substrates using the etching solution
WO2010114386A8 (en) Thin films containing molybdenum oxide
JP2011238912A5 (ja) 半導体装置の作製方法
TW201130155A (en) Thin film and method of forming the same, and semiconductor light emitting device having the thin film
WO2009011224A1 (ja) 金属酸化物半導体の製造方法、それにより得られた薄膜トランジスタ
EA201291184A1 (ru) Способ получения осажденного слоя и осажденный слой на поверхности кремниевой подложки
WO2016191194A8 (en) Pentachlorodisilane
WO2009031423A1 (ja) 金属酸化物半導体薄膜の製造方法、これを用いた薄膜トランジスタ
MX2018006317A (es) Metodo y dispositivo para promover la adhesion de superficies metalicas.
MY162759A (en) Method for the supply of fluorine