SU977951A1

SU977951A1 - Method of checking article surface curvature

Info

Publication number: SU977951A1
Application number: SU813305991A
Authority: SU
Inventors: Владимир Афанасьевич Конев; Александр Александрович Касьяненко
Original assignee: Институт Прикладной Физики Ан Бсср
Priority date: 1981-06-19
Filing date: 1981-06-19
Publication date: 1982-11-30

Description

(54) СПОСХЭБ КОНТРОЛЯ КРИВИЗНЫ ПОВЕРХНОСТИ(54) SPOSHEB CONTROL SURFACE CURVATURE

ИЗДЕЛИЯPRODUCTS

1one

Изобретение относнтс к измеритель ной технике.The invention relates to a measuring technique.

Известен механический контактный способ контрол кривизны поверхности нздели , основанный на механическом измё рании параметров шарового сегйента сферических поверхностей дл известного диаметра кольцевой зоны. При этом вапнчнну кривизны (раднус) определ ют из геометрических соотношений 11 .A mechanical contact method for controlling the curvature of a nzdeli surface is known, based on a mechanical measurement of the parameters of a spherical surface of a spherical ball for a known diameter of the annular zone. In this case, the curvature vapnnach (radnus) is determined from the geometrical relations 11.

Однако данйый способ требует непосредственного контакта с контролируемой поверхностью. Это вед«ет к повреждению поверх1юстн издели и измерительного инструмента и значительному увеличению :,j погрешности измерени .However, this method requires direct contact with a controlled surface. This leads to damage to the surface of the product and the measuring tool and to a significant increase in:, j measurement error.

Наиболее близким к предлагаемому вл етс способ контрол кривизны поверх ностн издели , заключающийс в том, что обггучают контролируемую поверхность лучом электромагнитной СВЧ волны, щжнимают отраженное от контролируемой поверхности СВЧ излученне, по параметрам которого суд т о кривизне поверхности издели .The closest to the present invention is a method for controlling the curvature of the surface of an article, which consists in burning a controlled surface with an electromagnetic microwave wave, and then reflecting from the controlled surface microwave radiation, which determines the curvature of the surface of the product.

Способ основан на анализе пол5физадаонных характеристик отраженной от криволинейных поверхностей СВЧ волны.The method is based on the analysis of the half-fizadaon characteristics of the microwave wave reflected from curvilinear surfaces.

Абсолютное значение кривизны определ ют по градуировочным кривым, котоfttjie получают путем- тарировки по образцам с известной кривизной поверхнос-; та G2,The absolute value of the curvature is determined from the calibration curves, which are obtained by calibrating over samples with a known curvature of the surface; that g2,

Недостатком известного способа вл етс низка точность контрол кривизны поверхности, так как пол ризованные характеристики отраженного сигнала завис т такжЪ от состо ни контролируемой поверхности и физических свойств материала контролируемого издели .A disadvantage of the known method is the low accuracy of control of the curvature of the surface, since the polarized characteristics of the reflected signal also depend on the state of the surface being monitored and the physical properties of the material of the product being tested.

Цель изобретени - повышение точности контрол .The purpose of the invention is to improve the accuracy of control.

Поставленна цель достигаетс тем, что согласно способу контрол крин1звы поверхности издели , заключающемус в том, что облучают кoнтpoпиpye iyю поверхность лучом электромагнитной СВЧ волны , принимают отраженное от конгро ируемой поверхности СВЧ излучение, по параметрам которого суд т о кривизне поверхности издели , периодически модулируют ширину луча электромагнитной СВЧ волны, выдел ют переменную составл ющую отраженного от контролируемой поверхности СВЧ излучени на частоте модул ции ширины его пучка и по парараметрпм этой составл ющей суд т о кри визне поверхности издели . На чертеже представлена блок-схема устройства, по сн юша предлагаемый способ.The goal is achieved by the fact that according to the method of controlling the crin of the surface of the product, which consists in that they irradiate the contact surface with a beam of electromagnetic microwave, receive microwave radiation reflected from the congress surface, the parameters of which judge the curvature of the surface of the product, periodically modulate the beam width electromagnetic microwave waves, isolate the variable component of the microwave radiation reflected from the surface being monitored at the modulation frequency of its beam width and on the basis of this parameter The total surface of the product is judged. The drawing shows the block diagram of the device, according to the proposed method.

Устройство содержит генератор 1The device contains a generator 1

электромагнитных СВЧ волн, подключенный к антенне 2, соединенной с блоком 3 модул ции, приемную антенну 4, соединенную с детектором 5, подключенноj к селективному вольтметру 6, между антеннами 2 и 4 размешаетс контролируема поверхность издели 7.electromagnetic microwave waves connected to the antenna 2 connected to the modulation unit 3, the receiving antenna 4 connected to the detector 5 connected to the selective voltmeter 6, between the antennas 2 and 4 is placed the controlled surface of the product 7.

Способ осуществл етс следующим образом.The method is carried out as follows.

Электромагнитное СВЧ излучение от генератора 1 электромагнитных СВЧ вол подаетс к антенне 2, котора формирует луч электромагнитной СВЧ водны. Этот луч модулируетс по ширине с поМошью блока 3 модул ции и направл етс на контролируемую поверхность издели 7, Отраженноеэаешрс иагнитвое излучение от поверхносш издели 7 попадает в приемную антенну 4. Вследствие кривизны отражающей поверхности издели 7 и модул ции ширины луча электромагнитной СВЧ волны на детектор 5 поступает отраженное электромагнитное СВЧ излучение , переменна составл юща которого однозначно св зана с конт1юлир емой кри визной. Выделив ее с помощью селективного вольтметра 6, настроенного на частоту модул ции ширины луча, получим сигнал, пропорциональный кривизне контролируемой поверхности издели 7.Electromagnetic microwave radiation from an electromagnetic microwave generator 1 is supplied to antenna 2, which forms an electromagnetic microwave beam. This beam is modulated in width with the help of modulation unit 3 and directed to the controlled surface of product 7. The reflected radiation from the surface of product 7 enters the receiving antenna 4. Due to the curvature of the reflective surface of the product 7 and the modulation of the beam width of the electromagnetic microwave wave to the detector 5 The reflected electromagnetic microwave radiation is received, the variable component of which is uniquely associated with the controlled curvature. Selecting it using a selective voltmeter 6 tuned to the modulation frequency of the beam width, we obtain a signal proportional to the curvature of the test surface of the product 7.

Изобретение позвол ет повысить чувствительность и точность кснтро кривизны за счет уменьшени вли ни состо ни контролируемой поверхности и изменени физических свойств материала объекта контрол , упростить процесс измерени и повысить производительность контрол вследствие замены сложных и трудоемких операций определени азимута и эллиптичности более простой операцией определени одного из параметров, например амплитуды, низкочастотного синала . Кроме того, предлагаемый способ может быть осуществлен на серийно выпускаемом отечественном измерительном оборудовании. При этом возможно произт iводить контроль металлических и диэлектрических изделий.The invention improves the sensitivity and accuracy of the intrinsic curvature by reducing the influence of the state of the monitored surface and changing the physical properties of the material of the control object, simplifying the measurement process and increasing the control performance due to replacing complex and time-consuming operations of determining azimuth and ellipticity For example, amplitude, low frequency sinal. In addition, the proposed method can be carried out on mass-produced domestic measuring equipment. At the same time, it is possible to produce control of metal and dielectric products.

Claims

1. Krivov, L. M., Purev, D. T., Znamenska, M. A., Practice of the Optical Measuring Laboratory. M., Mechanical Engineering, 1974, p. 140-141.

2.Dubitsky L. G. Radiotechnical methods of control products, M., Mashgiz, 1963, p. 57 (prototype).