SU1725073A1 - Surface roughness determining method - Google Patents

Surface roughness determining method Download PDF

Info

Publication number
SU1725073A1
SU1725073A1 SU894763310A SU4763310A SU1725073A1 SU 1725073 A1 SU1725073 A1 SU 1725073A1 SU 894763310 A SU894763310 A SU 894763310A SU 4763310 A SU4763310 A SU 4763310A SU 1725073 A1 SU1725073 A1 SU 1725073A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
roughness
value
resonant frequency
surface roughness
sample
Prior art date
Application number
SU894763310A
Other languages
Russian (ru)
Inventor
Виктор Николаевич Егоров
Валерий Васильевич Костромин
Алексей Борисович Трушля
Original Assignee
Особое конструкторское бюро кабельной промышленности
Научно-производственное объединение "Эталон"
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Особое конструкторское бюро кабельной промышленности, Научно-производственное объединение "Эталон" filed Critical Особое конструкторское бюро кабельной промышленности
Priority to SU894763310A priority Critical patent/SU1725073A1/en
Application granted granted Critical
Publication of SU1725073A1 publication Critical patent/SU1725073A1/en

Links

Landscapes

  • Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)

Abstract

Изобретение относитс  к измеритель-, ной технике и может быть использовано дл  контрол  шероховатости плоских металлических поверхностей. Цель изобретени  - повышение точности и производительности при экспрессном контроле шероховатости металлической поверхности. Падающую электромагнитную волну направл ют на поверхность исследуемого образца, отраженную волну преобразуют в электрический сигнал и по его величине суд т о чистоте поверхности образца, на которой размещают открытый диэлектрический резонатор, а величину шероховатости определ ют по изменению его собственной резонансной частоты . 2 ил.The invention relates to a measuring technique and can be used to control the roughness of flat metal surfaces. The purpose of the invention is to improve the accuracy and performance with the express control of the roughness of the metal surface. The incident electromagnetic wave is directed to the surface of the sample under study, the reflected wave is converted into an electrical signal and its value is judged on the cleanliness of the sample surface on which the open dielectric resonator is placed, and the roughness value is determined by the change in its own resonant frequency. 2 Il.

Description

Изобретение относитс  к измерительной технике и может быть использовано дл  контрол  шероховатости плоских металлических поверхностей.The invention relates to a measurement technique and can be used to control the roughness of flat metal surfaces.

Известен способ контрол  шероховатости поверхности, заключающийс  в облучениипараллельнымпучком электромагнитного излучени  оптического диапазона контролируемой поверхности, и анализе зеркального и диффузного отражени  света от контролируемой поверхности с последующей регистрацией фотоприемником и обработкой их сигналов в отсчетном устройстве.A known method for controlling the surface roughness consists in irradiating a parallel beam of electromagnetic radiation in the optical range of a monitored surface, and analyzing the specular and diffuse reflection of light from the monitored surface, followed by recording by a photodetector and processing their signals in a reading device.

Известен также способ контрол  чистоты поверхности, заключающийс  в наблюдении дифракционной картины отражени  лазерного луча от исследуемой поверхности .There is also known a method for monitoring surface cleanliness, which consists in observing a diffraction pattern of the reflection of a laser beam from a surface under study.

Недостатком известных способов контрол  чистоты поверхности  вл етс  необходимость анализа пространственногоA disadvantage of the known methods for controlling surface cleanliness is the need to analyze the spatial

распределени  интенсивности рассе нного (отраженного) излучени , что усложн ет обработку измерительного сигнала и ограничивает точность измерени .intensity distribution of the scattered (reflected) radiation, which complicates the processing of the measuring signal and limits the measurement accuracy.

Цель изобретени  - повышение точности и производительности при экспрессном контроле шероховатости металлической поверхности .The purpose of the invention is to improve the accuracy and performance with the express control of the roughness of the metal surface.

Использование данного способа определени  шероховатости металлической поверхности по сравнению с известным позвол ет повысить точность при сохранении производительности измерений.Using this method for determining the roughness of a metal surface as compared to the known one can improve the accuracy while maintaining the measurement performance.

Поставленна  цель достигаетс  тем, что согласно способу определени  шероховатости поверхности, заключающемус  в том. что падающую электромагнитную волну направл ют на поверхность исследуемого образца , отраженную волну преобразуют в электрический сигнал и по его значению суд т о чистоте поверхности образца, на которой размещают открытый диэлектрическийThe goal is achieved by the fact that according to the method of determining the surface roughness, which consists in that. that the incident electromagnetic wave is directed to the surface of the sample under study, the reflected wave is converted into an electrical signal and by its value it is judged that the surface of the sample is clean, on which the open dielectric is placed

ро Сpo c

ч ю ел о h ate about

0000

резонатор, а значение шероховатости определ ют по изменению его собственной резонансной частоты.the resonator and the roughness value are determined from the change in its own resonant frequency.

Помещение диэлектрического резонатора на провод щую металлическую повер- 5 хность приводит к резкому изменению значени  резонансной частоты. Это св зано с тем, что диэлектрический резонатор  вл етс  открытой резонансной системой и его электромагнитное поле сильно подвержено 10 внешним воздействи м. Максимальной резонансной частотой резонатор обладает вне контакта с провод щей поверхностью и минимальной - когда он находитс  на идеально гладкой металлической поверхности. 15 Значение резонансной частоты резонатора на шероховатой поверхности находитс  между указанными минимальным и максимальным значени ми и существенно зависит от величины шероховатости. 20 Относительна  погрешность измерени  резонансной частоты составл ет ( - ) . где Q - добротность резонатора на меаллической поверхности. Значение Q обычно равно (2-20)-103. Таким образом. 25 относительна  погрешность измерени  резонансной частоты не превосходит (5-50) 10 . Относительное изменение резонансной чатоты в зависимости от шероховатости достигает 10 на один класс чистоты обработки поверхности.Placing the dielectric resonator on a conductive metal surface causes a sharp change in the value of the resonant frequency. This is due to the fact that the dielectric resonator is an open resonant system and its electromagnetic field is strongly exposed to 10 external influences. The resonator has a maximum resonant frequency out of contact with a conductive surface and a minimal one when it is on a perfectly smooth metal surface. The value of the resonant frequency of the resonator on a rough surface lies between the indicated minimum and maximum values and substantially depends on the magnitude of the roughness. 20 The relative measurement error of the resonant frequency is (-). where Q is the Q of the resonator on the metal surface. The Q value is usually (2-20) -103. In this way. 25 the relative measurement error of the resonant frequency does not exceed (5-50) 10. The relative change in the resonance viscosity, depending on the roughness, reaches 10 per class of surface finish.

Сопоставительный анализ предлагаемого решени  с известным показывает, что определение шероховатости металлической поверхности осуществл ют путем размеще- 35 ни  на ней открытого диэлектрического реонатора , а значение шероховатостиA comparative analysis of the proposed solution with the known one shows that the determination of the roughness of the metal surface is carried out by placing 35 an open dielectric resonator on it, and the value of the roughness

30thirty

5 0 5 0 5 5 0 5 0 5

5 five

00

определ ют по изменению его собственной резонансной частоты.determined by the change in its own resonant frequency.

Процедура измерени  резонансной частоты легко автоматизируетс  включением диэлектрического резонатора в цепь стабилизации частоты СВЧ-генератора и измерением частоты генератора электронно-счетным частотомером.The procedure for measuring the resonant frequency is easily automated by the inclusion of a dielectric resonator in the frequency stabilization circuit of the microwave generator and measurement of the generator frequency by an electron-counting frequency meter.

На фиг. 1 показано взаимное расположение элементов, реализующее способ; на фиг. 2 - пример зависимости резонансной частоты от шероховатости поверхности технического алюмини .FIG. 1 shows the mutual arrangement of elements that implements the method; in fig. 2 is an example of the dependence of the resonant frequency on the surface roughness of technical aluminum.

Открытый диэлектрический резонатор 1 в виде диска, выполненный, например, из лейкосапфира, расположен на контролируемой поверхности 2 и прижат к ней. Возбуж- дение резонатора 1 осуществл етс  посредством диэлектрического волновода 3.An open dielectric resonator 1 in the form of a disk, made, for example, of sapphire, is located on the test surface 2 and is pressed against it. The excitation of the resonator 1 is carried out by means of the dielectric waveguide 3.

Claims (1)

Формула изобретени  Способ определени  шероховатости поверхности , заключающийс  в том, что падающую электромагнитную волну направл ют на поверхность исследуемого образца, отраженную волну преобразуют в электрический сигнал и по его величине суд т о шероховатости поверхности образца, о т- л ичающийс  тем, что, с целью повышени  точности и производительности при экспрессном контроле шероховатости металлической поверхности, на ней размещают открытый диэлектрический резонатор , а величину шероховатости определ ют по изменению его собственной резонансной частоты.Claims The method of determining the surface roughness is that the incident electromagnetic wave is directed to the surface of the sample under study, the reflected wave is converted into an electrical signal and its value determines the surface roughness of the sample, so that improve the accuracy and performance of express control of the roughness of a metal surface; an open dielectric resonator is placed on it, and the roughness value is determined by changing it from stvennoj resonant frequency. Фиг,. FIG. 4 l У Ч 5 6 7 8 3 « к/dtt .4 l At H 5 6 7 8 3 "k / dtt. ифахОШОС/Пи ifhaus / pi Фиг. LFIG. L
SU894763310A 1989-11-29 1989-11-29 Surface roughness determining method SU1725073A1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU894763310A SU1725073A1 (en) 1989-11-29 1989-11-29 Surface roughness determining method

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU894763310A SU1725073A1 (en) 1989-11-29 1989-11-29 Surface roughness determining method

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1725073A1 true SU1725073A1 (en) 1992-04-07

Family

ID=21481679

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU894763310A SU1725073A1 (en) 1989-11-29 1989-11-29 Surface roughness determining method

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1725073A1 (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2001073472A3 (en) * 2000-03-31 2002-10-10 Lufft Mess Und Regeltechnik Gm Device for measuring layer thicknesses

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Авторское свидетельство СССР №1379618, кл. G 01 В 11/30, 1986. Авторское свидетельство СССР № 1379617, кл. G 01 В 11/30, 1986. *

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2001073472A3 (en) * 2000-03-31 2002-10-10 Lufft Mess Und Regeltechnik Gm Device for measuring layer thicknesses

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7218803B1 (en) Microsphere probe for optical surface microscopy and method of using the same
US4893932A (en) Surface analysis system and method
AU565769B2 (en) Electrophoretic light scattering apparatus and process
CN1291284A (en) Improved method and apparatus for film-thickness measurements
DE59410197D1 (en) Optical method and device for analyzing substances on sensor surfaces
EP0622624A1 (en) A method for observing film thickness and/or refractive index
CN107764776B (en) Multi-wavelength adjustable surface plasma resonance imaging device and application thereof
US5081414A (en) Method for measuring lifetime of semiconductor material and apparatus therefor
US4658148A (en) Inspection method for magnetic head utilizing the Kerr effect
SU1725073A1 (en) Surface roughness determining method
US5092676A (en) Method and system for evaluating gloss and brightness character of coated paint film
US6952261B2 (en) System for performing ellipsometry using an auxiliary pump beam to reduce effective measurement spot size
JPH02181458A (en) Manufacture of body section composed of semi-insulating material
US4586816A (en) Optical fibre spot size determination apparatus
Knuuttila et al. Recent advances in laser-interferometric investigations of SAW devices
US5141320A (en) Method and system for evaluating gloss and brightness character of coated paint film
De Bernardi et al. Optimum conditions for waveguide loss measurements by scattered radiation detection at visible and near-IR wavelengths
RU2156437C2 (en) Gear determining surface roughness
SU1483380A1 (en) Method of measuring object velocity
SU1702178A1 (en) Device for measuring roughness of polished surface
SU1700358A1 (en) Method and device for determining article surface roughness parameters
RU2625641C1 (en) Device for measuring distribution of field of infrared surface electromagnetic wave on their track
SU1651095A1 (en) Method of determination of surface shape
SU1645811A1 (en) Method of determining steepness of irregularities of rough surfaces
SU1657946A1 (en) Method for control of process of ion treatment