SU1060955A1 - Frequency modulation ellipsometry method - Google Patents

Frequency modulation ellipsometry method Download PDF

Info

Publication number
SU1060955A1
SU1060955A1 SU823438772A SU3438772A SU1060955A1 SU 1060955 A1 SU1060955 A1 SU 1060955A1 SU 823438772 A SU823438772 A SU 823438772A SU 3438772 A SU3438772 A SU 3438772A SU 1060955 A1 SU1060955 A1 SU 1060955A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
frequency
polarization
radiation
directed
beams
Prior art date
Application number
SU823438772A
Other languages
Russian (ru)
Inventor
Владимир Афанасьевич Конев
Николай Николаевич Пунько
Николай Васильевич Любецкий
Сергей Александрович Тиханович
Original Assignee
Институт Прикладной Физики Ан Бсср
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Институт Прикладной Физики Ан Бсср filed Critical Институт Прикладной Физики Ан Бсср
Priority to SU823438772A priority Critical patent/SU1060955A1/en
Application granted granted Critical
Publication of SU1060955A1 publication Critical patent/SU1060955A1/en

Links

Landscapes

  • Length-Measuring Devices Using Wave Or Particle Radiation (AREA)

Abstract

СПОСОБ ЧАСТОТНО-МОДУЛЯЦИОННОЙ ЭЛЛИПСОМЕТРИИ, при осуществлении которого направл ют электромагнитное излучение с заданным состо нием пол ризации на исследуемый образец, провзaи 4oдeйcтвoвaвшee с исследуемым образцом излучение раздел ют на два пучка ортогональными плоскост ми пол ризаций и регистрируют изменение состо ни  пол ризации провзаимодействовавшего с исследуемым образцом излучени  по сравнению с направл емым на него, отличающийс  тем, что, с целью повышени  точности измерений, направл емое на исепедуемый образец электромагнитное излучение модулируют по частоте, в одном из пучков поворачивают плоскость йол ризации на 90 и смешивают его в балансном смесителе со вторым пучком, вьщел ют низкочастотную составл ющую рездо1ьтирующего сигнала и измер ют ее параметры, по которым суд т об из-sg менении в состо нии пол ри3 ации.METHOD frequency-modulation ellipsometry, the implementation of which is directed to the electromagnetic radiation of a predetermined state of polarization in the test sample, provzai 4odeyctvovavshee with the sample radiation is separated into two beams of orthogonal planes polarizations and record the change of the polarization state has interacted with the sample radiation as compared to directed to it, characterized in that, in order to increase the accuracy of measurements, directed to the test sample The romagnetic radiation is modulated in frequency, in one of the beams, the jolization plane is rotated by 90 and mixed in a balanced mixer with the second beam, the low-frequency component of the amplifying signal is measured, and its parameters are measured by which nii poli roatsii.

Description

3535

о х :д :л Изобретение относитс  к измерительной текнике и может быть использовано в электронной и радиотехничес кой промышленност х дл  неразрушающе го исследовани  строени  и определе .ни  параметров различных отражающих систем, преимущественно в сверхвысокочастотном диапазоне. Известен способ эллипсометрии,основанный на разделении отраженной от гисследуемого объекта электромагнитной волны на две ортогональные составл ющие , направлении их по двум каналам, вторичном делении каждой из ортогональных составл ющих на две волны равной интенсивности и раздель ном измерении пол ризационных углов в калодом измерительном канале. Отношение амплитуд ортогональных составл ющих измер етс  путем их детектиро вани  и подачи сигналов с детекторов на измеритель отношени  двух напр жений , афазовый сдвиг между ними - путем одновременной подачи ортогональных составл ющих волны на детектор,«выравнивани  их амплитуд вращением пол ризующей проволочной решетки и измерени  сдвига Меходу ними уголковым фазовращателем, вклю|ченный1 в одно из плеч второго измерительного канала jjL . Недостатком данного способа  вл етс  низка  точность измерений разности фаз ортогональных составл ющих , так как измерение производитс  непосредственно на сверхвысокой частоте . Наиболее близким к предлагаемому  вл етс  способ частотно-модул ционной эллипсометрии, при осуществлении которого направл ют, электромагнитное излучение с заданным состо ни ем пол ризации .на исследуемой образе провзаимодействовавшее с исследуемым образцом излучение раздел ют на два пучка с ортогонсшьными плоскост ми лол ризации и регистрируют изменение состо ни  пол ризации провзаимодействовавшего с исследуемым образцом . излучени  по сравнению с направл еглым на него 2 , Однакоизвестный.способ характеризуетс  низкой точностью измерений. Цель изобретени . - повышение точности Измерений. Поставленна  цель достигаетс  тем, что согласно способу частотномодул ционной эллипсометрии, при осу ществлении которого направл ют электромагнитное излучение с заданным состо нием пол ризации на исследуемы образец, Ьровзаимодействовавшее с ис следуемыгу образцом излучение раздел  ют на два пучка .ортогональными плоскост ми пол ризации и регистрируют изменение состо ни  пол ризации провзакмодействовавшего с исследуемым образцом излучени  по сравнению с направл емым на него, направл емое . на исследуемый образец элёктрЬмаг15итное излучение модулируют по частоте, в одном из пучков поворачивают плоскость пол ризации на 90 и смешивают его в балансном смесителе со вторым пучком, выдел ют низкочастотную составл ющую результирующего сигнала и измер ют ее параметры, по которым суд т об изменении в состо нии пол ри3 ации. На чертеже приведена функциональ-на  .схема устройства дл  осуществлени  способа. Способ осуществл етс  следующим образом. Пучок электромагнитных волн, пол ризованных определенным образом, например линейно, модулируют по частоте по периодическому закону с низкой посто нной частотой f« и посто н ной девиацией частоты относитель- но средней частоты ig и направл ют под углом tf на исследуемый объект. Отраженную или прошедаиую волну раздел ют на две ортогональные составл ющие с помощью пол ризующей проволочной решетки, направл ют их на два канала, поворачивают плоскость пол ризации одной из волн на 90, подают их на два входа балансного смесител , выдел ют на выходе балансного смесител  сигнал разностной частоты и измер ют амплитуду и фазу низкочастотной составл ющей результирующего сигнала, по которым суд т об изменении в состо нии пол ризации, происшедшем в результате взаимодействи  электромагнитной волы с исследуеьшм объектом. Так как пол ризационные углы, которые необходимо измерить и которые  вл ютс  количественной мерой изменений состо ни  пол ризации, происшедших в результате взаимодействи  электромагнитной волны с исследуе1 .1ым объектом, завис т от частоты падающего излучени , то модул ци  падающего излучени  по частоте по периодическому закону с низкой посто нной частотой Р приводит к относительной амплитудной и фазовой модул ции одной ортогональной составл ющей относительно другой. Фазова  модул ци  приводит к относи тельному сдвигу частоты одной из ортогональных составл ющих, в результате на выходе балансного смесител  образуетс  сигнал разностной частоты (биени ), который выдел етс  детектором и параметры которого несут информацию о пол ризационных углах. Принципиальна  особенность предложенного метода заключаетс  в том, что выделенный низкочастотный сигнал, азностной частоты несет информацию . только об изменени х состо ни  пол й ризации, происшедших в результате взаимодействи  с исследуемым объектом , Так как параметры эллипса пол ризации падающей волны не завис т от частоты, следовательно периодическа  модул ци  по частота не приводит к непрерывному изменению фазы одной составл ющей относительно другой, а значит отсутствует фазовый сдвиг меж ду ними и следовательно сигнал разно 1тей частоты на выходе балансного сме сител . Предлагаемое устройство, реализующее данный способ, содержит СВЧ свип-генератор 1 с блоком питани  2, три волноводно-лучевых перехода .квазиоптическую линию переда 1И 4 на основе полого диэлектрического луче:вода/ в изгибе которого установлен исследуемый образец 5, делитель луча 6 на две ортогональные составл ющие , волноводный тракт, содержащий . скрутку 7 на 90° и балансный смеситель 8, детектор 9 и измерительный блок 10. Устройство работает следующим образом . s Сигнал от СВЧ свип-генератора 1, модулированный по частоте по периодическому закону с низкой частотой . РИД и ПОСТОЯННОЙ максимальной девиацией U t относительно средней частоты i(j через волноводно-лучевой переход 3 по полому диэлектрическом лучеводу 4 поступает на исследуемый образец 5 под углом Ц| , причем пада юща  волна линейно пол ризована под углом 45 к плоскости падени . Отраженна  от образца 5 волна, пол ризованна  в общем случае эллиптически , по диэлектрическому волноводу падает на делитель 6 луча, выполнен ный на основе одномерной плоскости металлической сетки, котора  уста- Г новлена под углом 45° к оси луча и направл ет взаимно ортогональные со тавл ющие волны в два канала. Ортог нальные составл ющие через волновод но-лучевые переходы 3 по полым пр м угольным металлическим волноводам попадают на два входа балансного смесител  8, причем плоскость пол ризации одной из составл ющих с домощью волноводной скрутки 7 поворачиваетс  на 90°,.таким образом сигналы , поступающие на вход балансно|ГО смесител , идентифицируютс . ДеiTexTop 9, установленный на выходе балансного смесител , выдел ет низкочастотную составл ющую сигнала, равную промежуточной частоте. Низко частотный сигнал с детектора поступает на вход измерительного блока 10, который регистрирует параметры разностного сигнала промежуточной частоты , по которым суд т об изменении в состо нии полдризации,при отражении свч-волны от исследуемого образца. Измерени  по предлагаемому способу провод тс  на установке, изображенкой на чертеже. В процессе измерений определ ютс  с1мплитуда и фаза первых шести гармоник продетектированного сигнала. Основным преимуществом предлагаемого способа по сравнению с известным  вл етс  расширение функциональных возможностей за счет исключени  операции изготовлени  образцов специальной формы. Это дает возможность измер ть диэлектрическую проницаемость эрозионностойких пленочных покрытий плиток теплозащитных материалов . Осуществить такой контроль базовым способом нельз , так как невозможно изготовить, образцы цилиндрической формы диаметром 49, 95 мм из..материала пленочного покрыти . Преимуществом ..предлагаемого способа  вл етс  также возможность одновременного определени  диэлектрической проницаемости и толщины эрозионностойкого защитного покрыти . Все это дает возможность использовать предлагаемый способ дл  неразрушающего контрол  эрозионностойких пленочных покрытий непосредственно на стадии производства теплозащитных шшток. Экономический эффект при использовании предлагаемого способа дл  неразрушающего контрол  неравноплотности эрозионностойкого покрыти  теплозащитных плиток составит 77,5 тыс. руб. в год. Эффект ростигаетр  за счет повышени  процента выхода годных изделий с 98 до 98,5%путем вы влени  заготовок , неравноплотность и толщина эрозионностойких покрытий которых выход т за допустимые технологические пределы, и исключени  их из дальней- . шего технологического цикла. Кроме того, производительность труда повышаетс  в 5 раз за счет того , что при измерении диэлектрической проницаемости эрозионностойкого покрыти  отпадает, необходимость в изготовлении специальных образцов из материала эрозионностойкого покрыти , используемых дл  измерени  диэлектрической проницаемости по базовому способу.. .about x: d: l The invention relates to a measuring tech- nique and can be used in the electronic and radio engineering industries for non-destructive examination of the structure and determination of the parameters of various reflecting systems, mainly in the superhigh-frequency range. The known method of ellipsometry is based on dividing an electromagnetic wave reflected from a studied object into two orthogonal components, directing them along two channels, secondary dividing each of the orthogonal components into two waves of equal intensity and separating the polarization angles in the calodom measuring channel. The ratio of the amplitudes of the orthogonal components is measured by detecting them and feeding the signals from the detectors to the meter of the ratio of two voltages, the aphasic shift between them by simultaneously feeding the orthogonal components of the wave to the detector, "leveling their amplitudes by rotating polarizing wire grating and measuring They are intercepted by an angular phase shifter, inserted1 into one of the arms of the second measuring channel jjL. The disadvantage of this method is the low accuracy of measurements of the phase difference of the orthogonal components, since the measurement is performed directly at an ultra-high frequency. The closest to the present invention is a method of frequency-modulation ellipsometry, which, when implemented, directs electromagnetic radiation with a given state of polarization. On the sample under study, the radiation interacting with the sample under investigation is divided into two beams with orthogonal polarization planes and recorded a change in the polarization state of the one that interacted with the sample under study. radiation compared with the direction of his 2, However, the well-known. method is characterized by low measurement accuracy. The purpose of the invention. - improving the accuracy of measurements. The goal is achieved by the method of frequency modulation ellipsometry, which, when implemented, directs electromagnetic radiation with a given state of polarization to the sample under study, chooses the radiation that interacts with the sample to be divided into two beams, orthogonal to the polarization planes. state of polarization of the radiation applied to the sample under study compared with that directed to it, directed. for the sample under study, the electromylagic radiation is modulated in frequency, in one of the beams the polarization plane is rotated by 90 and mixed in a balanced mixer with the second beam, the low-frequency component of the resulting signal is measured and its parameters are measured by which the change in state is measured nii poli roatsii. The drawing shows a functional diagram of a device for carrying out the method. The method is carried out as follows. A beam of electromagnetic waves that are polarized in a certain way, for example, linearly, is modulated in frequency according to a periodic law with a low constant frequency f "and a constant frequency deviation relative to the average frequency ig and directed at an angle tf to the object under study. The reflected or transmitted wave is divided into two orthogonal components using a polarizing wire grid, directing them into two channels, turning the plane of polarization of one of the waves through 90, feeding them to the two inputs of the balanced mixer, separating the signal at the output of the balanced mixer difference frequency and measure the amplitude and phase of the low-frequency component of the resulting signal, which are judged on the change in the polarization state resulting from the interaction of the electromagnetic wave with the probe object th. Since the polarization angles that need to be measured and which are a quantitative measure of the changes in the polarization state that occurred as a result of the interaction of an electromagnetic wave with the object under study, depend on the frequency of the incident radiation, the modulation of the incident radiation according to a periodic law at a low constant frequency, P leads to a relative amplitude and phase modulation of one orthogonal component relative to the other. Phase modulation results in a relative frequency shift of one of the orthogonal components. As a result, a differential frequency signal (beat) is produced at the output of the balanced mixer, which is detected by the detector and the parameters of which carry information about the polarization angles. The principal feature of the proposed method lies in the fact that the selected low-frequency signal, the emissive frequency carries information. only about changes in the polarization state that occurred as a result of interaction with the object under study. Since the parameters of the polarization ellipse of the incident wave do not depend on the frequency, hence the periodic frequency modulation does not lead to a continuous change in the phase of one component relative to the other, therefore, there is no phase shift between them and, therefore, a signal of different frequency at the output of the balanced mixer. The proposed device implementing this method contains a microwave sweep generator 1 with a power supply unit 2, three waveguide-beam transitions. A quasi-optical front line 1 & 4 based on a hollow dielectric beam: the water / in the bend of which the test sample 5 is installed, the beam divider 6 into two orthogonal components, a waveguide path containing. twist 7 by 90 ° and the balanced mixer 8, the detector 9 and the measuring unit 10. The device operates as follows. s Signal from microwave sweep-generator 1, modulated in frequency according to a periodic law with a low frequency. The RID and the CONSTANT maximum deviation U t with respect to the average frequency i (j through the waveguide-beam transition 3 through the hollow dielectric light guide 4 enters the sample under study 5 at an angle C, the incident wave is linearly polarized at an angle of 45 to the plane of incidence. Reflected from sample 5, a wave generally polarized elliptically along a dielectric waveguide falls on a beam divider 6, made on the basis of a one-dimensional plane of a metal grid that is mounted at an angle of 45 ° to the beam axis and directs mutually ortho The main component waves in two channels. Orthogonal components through waveguide-beam transitions 3 along hollow straight carbon metal waveguides fall on two inputs of a balanced mixer 8, and the polarization plane of one of the components is rotated by 90 °, so the signals to the input of the balanced | GO mixer are identified. DeiTexTop 9, installed at the output of the balanced mixer, separates the low-frequency component of the signal equal to the intermediate frequency. The low-frequency signal from the detector is fed to the input of the measuring unit 10, which records the parameters of the intermediate-frequency difference signal, according to which a change in the polridization state is judged, upon reflection of the microwave wave from the sample under study. Measurements of the proposed method are carried out on the installation depicted in the drawing. During the measurement, the c1 amplitude and phase of the first six harmonics of the detected signal are determined. The main advantage of the proposed method in comparison with the known method is the expansion of functionality due to the exclusion of the operation of making samples of a special form. This makes it possible to measure the dielectric constant of erosion-resistant film coatings of tiles of heat-shielding materials. It is impossible to carry out such a control using the basic method, since it is impossible to manufacture cylindrical specimens with a diameter of 49, 95 mm from the film coating material. The advantage of the proposed method is also the possibility of simultaneously determining the dielectric constant and thickness of the erosion-resistant protective coating. All this makes it possible to use the proposed method for non-destructive testing of erosion-resistant film coatings directly at the production stage of heat-shielding rods. The economic effect of using the proposed method for non-destructive testing of the unevenness of the erosion-resistant coating of heat-shielding tiles will be 77.5 thousand rubles. in year. The effect increases due to an increase in the yield of usable products from 98 to 98.5% by detecting billets, the unevenness and thickness of erosion-resistant coatings of which are outside the allowable technological limits, and excluding them from further. technological cycle. In addition, labor productivity is increased 5 times due to the fact that when measuring the dielectric constant of an erosion resistant coating there is no need to make special samples of the material of an erosion resistant coating used to measure the dielectric constant according to the basic method ...

Claims (1)

СПОСОБ ЧАСТОТНО-МОДУЛЯЦИОННОЙ ЭЛЛИПСОМЕТРИИ, при осуществлении которого направляют электромагнитное излучение с заданным состоянием поляризации на исследуемый образец, провзаимодействовавшее с исследуемым образцом излучение разделяют на два пучка ортогональными плоскостями поляризаций й регистрируют изменение состояния поляризации провзаимодействовавшего с исследуемым образцом излучения по сравнению с направляемым на него, отличающийся тем, что, с целью повышения точности измерений, направляемое на исследуемый образец электромагнитное излучение модулируют по частоте, в одном из пучков поворачивают плоскость Поляризации на 90° и смешивают его в балансном смесителе ’со вторым пучком, выделяют низкочастотную составляющую результирующего сигнала и измеряют ее параметры, по которым судят об изменении в состоянии поляриз ации.METHOD OF FREQUENCY-MODULATION ELLIPSOMETRY, during which electromagnetic radiation with a given state of polarization is directed to the test sample, the radiation interacting with the test sample is divided into two beams by orthogonal planes of polarization, and the change in the polarization state of the interacting radiation is compared with the test the fact that, in order to improve the accuracy of measurements, the electric agnitnoe radiation modulated in frequency, one of the beams in the plane of polarization is rotated by 90 ° and mixed into balanced mixer 'to the second beam, emit low-frequency component of the resulting signal is measured and its parameters by which to judge a change in polarized state ation. ,«SU ,„1060955, SU, 1060955
SU823438772A 1982-05-14 1982-05-14 Frequency modulation ellipsometry method SU1060955A1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU823438772A SU1060955A1 (en) 1982-05-14 1982-05-14 Frequency modulation ellipsometry method

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU823438772A SU1060955A1 (en) 1982-05-14 1982-05-14 Frequency modulation ellipsometry method

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1060955A1 true SU1060955A1 (en) 1983-12-15

Family

ID=21011985

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU823438772A SU1060955A1 (en) 1982-05-14 1982-05-14 Frequency modulation ellipsometry method

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1060955A1 (en)

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
1. Изв. вузов СССР. Радиоэлектроника, 1976, т. XIX, 2, с. 78-. 82. 2. Авторское свидетельство СССР 415614, кл. G 01 R 27/26, 1972. . *

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US3562642A (en) Apparatus and method for measuring properties of materials by sensing signals responsive to both amplitude and phase changes in transmitted or reflected microwave energy
US3025463A (en) Apparatus for measurement of complex reflection coefficient
US4044354A (en) Distance measurement using microwaves
US3490037A (en) Microwave measurement of material thickness
US4503708A (en) Reflection acoustic microscope for precision differential phase imaging
US3200698A (en) Measurement of distance by means of modulated polarized light
Hanson et al. ATF two‐frequency correlation reflectometer
Moreau et al. Ultrafast frequency sweep heterodyne reflectometer on the Tore Supra tokamak
Sanchez et al. Swept frequency reflectometer for correlation studies in the TJ‐I tokamak
SU1060955A1 (en) Frequency modulation ellipsometry method
WO1994017373A1 (en) Procedure for determining material flow rate
US3446557A (en) Measurement of circular dichroism
CN110389135A (en) A kind of reflectance test integrated micro probe
US3025517A (en) Simultaneous lobe comparison for radar direction finding
CN111637833A (en) Angle measuring system and method based on electromagnetic induction transparent effect of rydberg atoms
SU1518728A1 (en) Method of determining parameters of polarization ellipse
Lindberg et al. Optimum design of a microwave interferometer for plasma density measurements
SU1657952A1 (en) Ellipsometric method for measuring distances or flatness
SU415614A1 (en)
CN114114220B (en) Method and device for judging terahertz wave beam quality based on ray tracing
SU1506387A1 (en) Device for measuring the thickness of dielectric coatings of metals
SU1109613A1 (en) Uhf flow detectors
SU1758530A1 (en) Method of measuring dielectric penetration of materials
Sollom et al. A centimetre-wave parallel-plate spectrometer
SU1753379A1 (en) Method of measuring dielectric covering thickness of metals and device for realization