Изобретение относитс к измерительной технике, а именно к тол-, щиномерам дл измерени толщины стенок полупрозрачных объектов. Известно устройство, содержащее источник излучени , оптическую и ска нирующую системы, фотоприемники и электронный тракт, реализующее процесс контрол по рассто нию между световыми метками fl . Однако недостаточна точность из мерени +0,1 мм и возможность только контрол отклонений толщины от номинала, а не измерение толщины в диапазоне величин , сильно сужает область использовани прибора. Наиболее близким к изобретению п технической сущности и достигаемому эффекту вл етс устройство дл кон рол толщины полупрозрачных объекто содержащее источник излучени и последовательно установленные по ходу луча объектив, диафрагму, приемник излучени и счетчик импуль сов 2 .. Недостатками известного устройст ва вл ютс сложность и низка точность измерени ,. так как необходимо визуально производить счет перемеща ющихс и деформирующихс интерференционных полос. Целью изобретени вл етс увеличение точности контрол . Поставленна цель достигаетс тем, что устройство дл контрол толщины полупрозрачных объектов, содержащее источник излучени и последовательно установленные по уходу лучей объектив диафрагму, приемник « излучени и счетчик импульсов, снабжено зеркгшом, установленным в переднем фокусе объектива с возможностью вращени вокруг его оптической оси и под острым углом к ней, вторым зеркалом, установленным между объективом и приемником излучени под острым углом к оптической оси объектива, а диафрагма выполнена с возможностью изменени площади сечени пучка. На чертеже приведена схема устройства дл контрол толщины полупрозрачных объектов. Устройство содержит источник 1 излучени , который установлен перед зеркалом 2 с приводом 3. Объектив 4 установлен на фокусном рассто нии от зеркала 2 перед диафрагмой 5 с приводом 6. Объект 1 устанавливаетс за диафрагмой 5 н зеркалом 8, за которьгм вThe invention relates to a measurement technique, namely to thickness and thickness gauges for measuring the thickness of walls of translucent objects. A device is known that contains a radiation source, an optical and scanning system, photodetectors, and an electronic path implementing the process of controlling the distance between the light marks fl. However, the accuracy of the measurement of +0.1 mm is insufficient, and the possibility of controlling the thickness deviations from the nominal value only, rather than measuring the thickness in the range of values, greatly narrows the range of use of the device. The closest to the invention of the technical essence and the achieved effect is a device for monitoring the thickness of a translucent object containing a radiation source and a lens, aperture, radiation receiver and pulse counter 2 installed successively along the beam. The disadvantages of the known device are complexity and low measurement accuracy,. since it is necessary to visually produce an account of moving and deforming interference fringes. The aim of the invention is to increase the accuracy of the control. The goal is achieved in that the device for controlling the thickness of translucent objects, containing a radiation source and a lens diaphragm arranged successively by the rays of the ray, the radiation receiver and the pulse counter, is equipped with a mirror mounted in the front focus of the lens with the possibility of rotation around its optical axis and under the sharp angle to it, a second mirror mounted between the lens and the radiation receiver at an acute angle to the optical axis of the lens, and the diaphragm is adapted to change beam section. The drawing shows a diagram of the device for controlling the thickness of translucent objects. The device contains a radiation source 1, which is installed in front of the mirror 2 with the actuator 3. Lens 4 is installed at a focal distance from the mirror 2 in front of the aperture 5 with the actuator 6. Object 1 is installed behind the aperture 5 n by the mirror 8, beyond