SU945761A1 - Способ контрол дефектов материалов и изделий - Google Patents

Description

(5) СПОСОБ КОНТРОЛЯ ДЕФЕКТОВ МАТЕРИАЛОВ И ИЗДЕЛИЙ

1

Изобретение относитс  к неразрушающему контролю структуры твердых тел при помощи мессбауэровского излучени  и может быть, в частности, использовано дл  вы влени  и анализа дефектов произвольной природы в материалах и издеги х электронной техники .

Известен способ контрол  дефектов материалов и изделий, включающий просвечивание объекта потоком рентгеновского излучени  и электронов и регистрацию прошедшего через объектив излучени  3

Недоц атком такого способа  вл етс  низка  чувствительность к вы влению микроскопических дефектов.

Наиболее близким по технической сущности к изобретению  вл етс  способ ко.нтрол  дефектов материалов и изделий, включающий облучение контролируемого объекта мессбауэровским излучением, регистрацию когерентно рассе нного материалом объекта излучени , энергетическую селекцию регистрируемого излучени  и его последующий анализ 2.

Недостатком известного способа  вл етс  отсутствие возможности контрол  материалов, не содержащих гаммарезонансные  дра, и низка  точность измерений.

Цель изобретени  - обеспечение возможности контрол  материалов, не содержащих гамма-резонансных  дер, и повышение точности измерений.

Эта цель достигаетс  тем, что в способе контрол  дефектов материалов и изделий, включающем облучение контролируемого объекта мессбауэровским излучением, регистрацию когерентно рассе нного материалом объекта излу; чени , энергетическую селекцию регистрируемого излучени  и его последующий анализ, контролируемый объект подвергают одновременному воздействию статической и вибрационной нагрузок , а регистрацию излучени  про39 вод т под разными углами с направлением приложени  статической нагрузки к контролируемому объекту, На чертеже схематично представлен один из возможных вариантов блок-схе мы устройства, реализующего предлагаемый способ. Устройство содержит источник 1 мессбауэровского излучени , установленные по ходу рассе нного излучени  резонансный поглотитель 2, при вод и мый в движение вибратором 3, детектор k и блок 5 обраб отки информации . Кроме того, устройство содержиt источник 6 вибрационной нагрузки , источник 7 статической нагрузки и поворотное устройство 8. Йа чертеже показан также контролируемый объект 9Осуществл етс  способ следующим образом. При исследовании дефектов контролируемого объекта 9 включают источни 7 статической нагрузки, источник 6 вибрационной нагрузки, представл ющий собой источник ультразвука, и источник 1 мессбауэровского излучени , который в каждом конкретном случае выбираетс  из семейства мессбауэровских изотопов. . В результате включени  источника статической нагрузки, сжимающей конт . ролируемый материал, на дефекте происходит концентраци  механических на пр жений, что резко мен ет преломл ю щие свойства материала в этом месте дл  .мессбауэровского излучени . Вклю чение же источника 6 вибрационной на грузки в этих услови х (при определенных частотах) при водит к по влени дополнительных спектральных составл  щих колебаний решетки, обусловленных наличием и типом дефектов. Пучок мессбауэровского излучени  из источника 1 попадает на вращаемый контролируемый объект 9Часть мессбауэровского излучени , испытав при определенной ориентации объекта 9 резонансное когерентное ра се ние а атомах основной решетки и дефектах, попадает в резонансный поглотитель 2, представл ющий собой материал, содержащий мессбауэровские  дра с энергией резонансного поглощени , равной энергии излучени  месс бауэровских  дер источника 1. Дл  исследовани  всех точек спект ра рассе нного мессбауэровского излучени  резонансный поглотитель 2 приводитс  в движение вибратором 3 частота вибрации которого позвол ет осуществить полное разрешение, спектра . Прошедшее через резонансный поглотитель 2 мессбауэровское излучение попадает в детектор k. Взаимодействие мессбауэровского излучени  с материалом сцинтилл тора детектора k приводит в итоге к по влению на его выходе электрических импульсов, поступающих в блок 5 обработки информации. Создание вибрационной нагрузки на контролируемый объект приводит к по влению колебательного спектра дефектов и атомов матрицы. Создание статической нагрузки приводит к концентрации механичес ких напр жений на дефекте в определённом направлении. Это резко мен ет колебательные спектры дефектов и матрицы и приводит к по влению дополнительных спектральных составл ющих по сравнению с бездефектным образцом. . Анализ характеристик спектральных составл ющих в .совокупности с закономерным изменением параметров дефектов при помощи внешнего воздействи  и определение допплеровского смещени  частоты, обусловленного движением дефектов , позвол ет определить концентрацию дефектов, их колебательные характеристики , асимметрию св зей дефекта в решетке и относительное содержание каждого типа дефектов в образце. При контроле изделий предлагаемым способом открываетс  возможность вы влени  скрытых дефектов технологии и конструкции без разрушени  образца. Строгое соответствие резонансных частот дефектам определенного типа позвол ет осуществить их раздельное изучение. Положение дополнительных спектральных составл ющих зависит от угла между направлением приложени  статической нагрузки и регистрации излучени , поэтому регистрацию излучени  провод т дл  разных углов между этими направлени ми, что обеспечивает оптимальную чувствительность способа. Предлагаемый способ позвол ет анализировать дефекты произвольной природы в материалах, не содержащих мессбауэровских изотопов. Способ позвол ет также анализировать структуру бездефектных образцов произвольной

Claims (2)

1. Формула изобретения

   Способ контроля дефектов материалов и изделий, включающий облучение контролируемого объекта мессбауэровс ким излучением, регистрацию когерент но рассеянного материалом излучения, энергетическую регистрируемого излучения следующий анализ щ и й с я объекта селекцию и его поч а ю с целью , о т л и тем, что,

   1 .

   кл. G
2. 2.

   лучей

   1969. с.

   обес-

   Корректср М. Коста