Недостатком интepфepo eтpa вл етс то, что он не Может использоватьс по назначению в тех случа х, когда вторым зеркалом вл етс непрозрачный (или доступный только с одной стороны) объект, гак как интерферометр предназначен дл измерений только в проход щем свете. В частности, интерферометр может быть испогаь .зован при разработке спектральных приборов высокого разрешени , однако с его помощью, например, трудно обнаружит слабую спектральную линию на фоне интен сивно соседней лшгаи из-за низкого контраста получаемой в проход щем свете ин терференционной картины. При этом свето ;сила интерферометра мала из-за потерь, вносимых вторым пол ризатором, что также ограничивает применение, этого интерферометра , особенно дл управлени часто той в перестраиваемых лазерах. Кроме того, в интерферометре невозможна плавна регулировка контраста, асимметрии и ширины интерференционных полос, котора бы давала возможность ис пользовать один и тот же интерферометр, в зависимости от характера получаемой интерференционной картины (аппаратной функции)и цл спектральных измерений, и дл измерени величины анизотропии ис следуемых материалсй, и в качестве частотного дискриминатора и т.д. Цель изобретени - обеспечение воэможности спектральных и пол ризационных измерений в отраженном свете, а также обеспечение плавной регулировки контраста , асимметрии и ширины интерференционнЁлх полос. Поставленна цель достигаетс тем, что многолучевой интерферометр снабжен дополнительной анизотропной пластиной, установленной между пол ризатором и пер вым зеркалом. Кроме того, обе анизотропные плжтины выполнены в виде фазовых пластин, внос щих между собственны ми пол ризаци ми фазовые сдвиги f-i и . удовлетвор ющие соотношени м: : |si«vpjsiv,/9invfa/ i, где Ч - фазовый сдвиг дополнительной фазовой пластины} ш - фазовый сдвиг основной фазовой плас1т1ньц R - коэффициент отражени первого зеркала; оптические оси фазовЬос пластин ориентированы перпендикул рно оптической оси инте рфер ометр а. Причем фазовые пластины выполнены с возможностью поворота относительно оптической оси интерферометра , На фиг. I и 2 изображены варианты предлагаемого устройства; на фиг. 3 схема , по сн юща работу устройства. Интерферометр содержит последовательно расположенные пол ризатор I, дополнительную анизотропную пластину 2,первое зеркало 3, основную анизотропную пластину 4, второе зеркало 5. С целью уменьшени количества деталей зеркало 5 нанесено на анизотрогшую пластину 4 (фиг. I и 2), а зеркало 3 нанесено на анизотропную пластину 2 (фиг. I) или анизотропную пластину 4 (фиг. 2). В качестве анизотропных пластин 2 и 4 служат фазовые пластины, т.е. оптические элементы, анизотропно вли кшие на фазу световой волны, а именно: внос щие известную разность фаз между собственными пол ризаторами, которые вл ютс ортогональными (линейными или круговььми ) компонентами пол ризации светсеой волны. Анизотропные пластины 2 и 4 вь полиены в виде линейных фазовых пластин, например, из одноосного кристалла или типа ромба Френел , в которых свет, пол ризованный линейно и в взаимно перпендикул рных выделенных направлени х, распростран етс с различной скоростью, в результате чего между собственными пол ризаци ми возникает сдвиг по фазе. Анизотропные пластины 2 и 4 могут быть выполнены также в виде циркул ционных невзаимных элементе типа фарадеевского вращател плоскосги пол ризаций ( чейки Фараце ), в которых распростран етс с различной скоростью свет, пол ризсйанный по пршому и левому кругу, в результате чего межцу ортогональными круговыми пол ризаторами возникает сдвиг по фазе. Пластины 2 и 4 закреплены в оправах. 6 и 7, обеспечивающих вращенне пластин вокруг оптической оси 8 интерферометра (фиг. I и 2). Дл устранени паразитных огражений пшерхности фазовы:с пластин, свобопные ог отражающих покрытий зеркал, просвет лены . Параметры и f фазшьк пластин , характеризующие величину их анизотропии , выбраны согласно соотнощени м 7 -«/eiM%/ 4 и q fSlH4 2./5, где R - коэффшшент отражени пе{ вого зеркала 3, в котором Металлическа пленка с специальными диэлектрическими мвогослойниками может быть (с целью упрощени технологии изготовлени ) заменено на прссгой аиэлектрический многослойник . Зеркало 5 выполнено высокоот ражающим с коэффициентом огражени , предельно близким к единице. Интерферометр может быть снабжен приспособлением дл изменени его оптической длины (не показано). Пол ризатор I выполнен в виде пол$физационной приемы (типа призмы Глава). На фиг. 3 изображены (в плоскости, перпендикул рной к оптической оси 8 интерферометра ): направление колебаний электрического вектора волны от внеш него источника, прошедшей через пол ризатор I, направлени оптических осей 2. и О А анизотропных пластин 2 и 4 и компоненты Б,/и Е Е и Ь электрического вектора эллиптически пол ризованной отраженной волны, падающей на пол ризатор 1с стороны зеркал 3 и 5 с пластинами 2и 4. Оптические оси О и О (фиг. 3) пластин 2 и 4 ориентированы перпенгшку- л рно к оптической оси 8 интерферометра под соответствууюшими углами о и (сА + р) к вектору EJJ , лежащему в плос- коетп пропускани пол ризатора I. Интерферометр работает следующим .образом. Светова вол1а, прошедша через пол ризатор I и пластину 2, по отношению к пластине 4 представл ет собой сумму волн с ортогональными пол ризаци ми (по отношению к пластине 4 из одноосного кристалла, обладающего двойным лу чепреломлением, такими волнами вл ютс обыкновенна и необыкновенна волны) Эти волны, отража сь от системы зеркал 3и 5 с пластиной 4 между ними, испытывают многодщгчевую интерференцию, а затем, пройд в обратном направлении че рез пластину 2, интерферируют друг с другом. В результате измен етс пол ризаци света, и формируетс интерферев:ционна картина, характеристики которой завис т от параметров:5, S, R и . Пол ризатор 1, преобразу изменение .пол5физаиии в кзменение ггатенсивности, позвол ет интерференционз 1ую картину как дл компоненты Е электрического вектора, параллельной ппоскоо- ти пропускани пол ризатора I, так и дл перпендикул рной покомпоненты Е (причем одна интерференционна картина вл етс дополнительной по отношению к другой , так КПК потери света в системе ог сутствуют). 9 16 Таким образом, анизотропные плнсгиы 2 и 4 в сочетании с пол5физатором позвол ют, управл пол ризацией свеа , регулировать амплитуды и фазы отраенных /учей всех пор дков, включа уч нулевого пор дка, что расшир ет во&ожности управлени характеристиками нтерференционной картины. Формула изобретени 1.Многолучевой интерферометр) дл , спектральных и пол ризациотых измере1- НИИ, содержащий последовательно расположенные на одно(г оптической оси пол ризатор , первое зеркало, анизотропную пластину и второе зерка/1о отличающийс тем, что, с целью обеспечени возможности спектральных и пол ризационных измерений в отраженном свете, он снабжен дополнительной анизотропной пластиной , установленной между пол ризатором и первым зеркалом. 2.Интерферометр по п. I, отличающийс тем, что обе анизотропные пластины выполнены в виде фазовых пластин, Ш1ОСЯЩИХ межцу собственными пол ризаторами фазовые сдвиги Ч и f, , удоелетвор юшие соотношени м: 5/SlHH / lH .-HH-,. где j - фазовый сдвиг дополнительной фазовой пластинь;; «р фазовый основной фазовой пластинь$ ( - коэффициент отражени первого зеркала, оптические оси фазовых пластин ориентированы перпеноику вфно к оптической оси интерферометра. 3.Интерферометр по пп. I и 2, отличающийс тем, что, с целью обеспечени плавной регулировки ксвтрас- та, асимметрии и ширины интерференционных полос, фазовые пластины выполнены с возможностью поворота относительно оптической оси интерферометра. Источники информации, прин тые во внимание прн экспертизе 1.Автометри , 1975, вып. Э, с. 1О7.