SU935756A1

SU935756A1 - Device for determination of flaw size

Info

Publication number: SU935756A1
Application number: SU802995311A
Authority: SU
Inventors: Владимир Григорьевич Бобков
Original assignee: Предприятие П/Я Г-4725
Priority date: 1980-10-23
Filing date: 1980-10-23
Publication date: 1982-06-15

Description

(5) УСТРОЙСТВО дл ОПРЕДЕЛЕНИЯ РАЗМЕРОВ(5) DEVICE FOR DETERMINING SIZES

ДЕФЕКТАDEFECT

. Изобретение относитс к неразрушакхдим методам контрол качества материалов и изделий и может использоватьс дл определени преимуществен но размеров дефекта в направлении просвечивани при радиографическом контроле. Известны устройства дл определени размеров дефекта в материале или изделии, содержащие источник излучени , дефектометр и рентгеновскую пле ку 1 . Недостаток таких устройств - низка точность определени размеров ма лых дефектов. Наиболее близким по технической сущности к предлагаемому вл етс ус ройство дл определени размера дефекта , содержащее источник ионизирую щего излучени , дефектометр, регистратор теневого изображени контролируемого объекта и дефектометра, выполненный в виде набора рентгеновски пленок одинаковой чувствительности. узлы обработки пленок и анализа полученных изображений f 2 J. Недостатком известного устройства вл етс значительное врем определени размера дефекта в направлении просвечивани , которое осуществл етс при многократном просвечивании объекта и эталона на разные рентгеновские пленки с последовательно уменьшающимис экспозици ми до исчезновени изображени на радиографической пленке , либо дефекта, либо канавки дефектометра , по величине которой суд т о размере дефекта. Цель изобретени - сокращение времени измерени . Эта цель достигаетс тем, что в устройстве, содержащем источник ионизирующего излучени , дефектометр, регистратор теневого изображени контролируемого объекта и дефектометра, выполненный в виде набора рентгеновских пленок одинаковой чувствительности , узлы обработки пленок и анализа. The invention relates to non-destructive methods of quality control of materials and products and can be used to predominantly determine the size of the defect in the direction of translucency during radiographic control. Devices for determining the size of a defect in a material or product are known, comprising a radiation source, a defectometer and an X-ray stick 1. The disadvantage of such devices is the low accuracy of determining the size of small defects. The closest in technical essence to the present invention is a device for determining the size of a defect, containing a source of ionizing radiation, a defectometer, a shadow image recorder of the object being monitored and a defectometer made in the form of a set of X-ray films of equal sensitivity. film processing units and analysis of the obtained images of f 2 J. A disadvantage of the known device is the considerable time for determining the size of a defect in the direction of translucence, which takes place with repeated scanning of an object and a reference to different X-ray films with consistently decreasing exposures until the image disappears on the radiographic film, either a defect or a groove in a flaw meter, the largest of which determines the size of the defect. The purpose of the invention is to reduce the measurement time. This goal is achieved by the fact that, in a device containing an ionizing radiation source, a defectometer, a shadow image recorder of a test object and a defectometer, made in the form of a set of X-ray films of the same sensitivity, film processing and analysis units

полученных изображений, рентгеновские пленки расположены по ходу потока излучени друг за другом и между пленками установлены ослабители потока излучени .of the obtained images, x-ray films are located along the radiation flux next to each other and radiation flux attenuators are installed between the films.

Устройство работает следующим образом .The device works as follows.

Радйографирование объекта и дефектометра производ т за одну экспозицию на несколько пленоК одинаковой чувствительности , предварительно проложив между ними ослабители потока ионизирующего излучени . Количество пленок, как правило,, не превышает штук. Толщина и материал ослабителей . подбираетс таким образом, чтобы интенсивность излучени при прохождении их уменьшалась наполовину. Например, при радиографировании излучением с энергией 80 кэВ примен ютс свинцовые фольги толщиной 0,0 мм. Экспонированные пленки должны об зательно подвергатьс одновременной обработке. Размер дефекта определ етс по рентгенограмме , на которой коэффициент контрастности изображени либо канавок дефектометра, либо дефекта равен нулю.Radiography of an object and a flaw meter is carried out in one exposure on several films of the same sensitivity, having previously laid between them attenuators of the ionizing radiation flux. The number of films, as a rule, does not exceed the pieces. The thickness and material of attenuators. it is selected in such a way that the radiation intensity during their passage decreases by half. For example, lead foils with a thickness of 0.0 mm are used in radiography with 80 keV radiation. Exposed films must necessarily be subjected to simultaneous processing. The size of the defect is determined by an x-ray image, in which the image contrast ratio of either the flaw gauge grooves or the defect is zero.

Таким образом, если на выбранной рентгенограмме сохранилось только изображение канавок дефектометра, можно заключить, что размер дефекта в направлении излучени меньше глубины-канавки дефектометра и наоборот.Thus, if only the image of the flaw meter grooves is preserved on the selected radiograph, it can be concluded that the size of the defect in the radiation direction is less than the depth groove of the flaw meter and vice versa.

В частном случае, при равенстве размеров дефекта и канавок дефектометра , исчезают оба изображени .In the particular case, with equal sizes of the defect and grooves of the defectometer, both images disappear.

Предлагаемое устройство позвол ет ускорить пооцесс измерени размеров дефекта за счет однократного экспонировани объекта и дефектометра на разные пленки, получающие разные дозы облучени .The proposed device allows speeding up the process of measuring the size of the defect by exposing the object and the defectometer once to different films that receive different doses of radiation.

Claims

1.Room Ncev S.V. Radiation flaw detection. M., Atomizdat, 197,.

with. 260

2. USSR author's certificate №, cl. G 01 N 23/0, 1973 (prototype).