SU928376A1 - Device for simulating bipolar transistor - Google Patents

Device for simulating bipolar transistor Download PDF

Info

Publication number
SU928376A1
SU928376A1 SU802900875A SU2900875A SU928376A1 SU 928376 A1 SU928376 A1 SU 928376A1 SU 802900875 A SU802900875 A SU 802900875A SU 2900875 A SU2900875 A SU 2900875A SU 928376 A1 SU928376 A1 SU 928376A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
transistor
collector
input
current
base
Prior art date
Application number
SU802900875A
Other languages
Russian (ru)
Inventor
Марат Садыкович Валитов
Борис Алексеевич Волков
Игорь Абрамович Зельцер
Ирина Ивановна Пестрякова
Original Assignee
Московский Институт Радиотехники,Электроники И Автоматики
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Московский Институт Радиотехники,Электроники И Автоматики filed Critical Московский Институт Радиотехники,Электроники И Автоматики
Priority to SU802900875A priority Critical patent/SU928376A1/en
Application granted granted Critical
Publication of SU928376A1 publication Critical patent/SU928376A1/en

Links

Landscapes

  • Amplifiers (AREA)

Description

(54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ МОПЕЛИРОВАНИЯ БИПОЛЯРНОГО ТРАНЗИСТОРА(54) DEVICE FOR MOBILE OF BIPOLAR TRANSISTOR

Изобретение относитс  к радиоэлектронике , а именно к исследовани м и измерени м параметров транзисторов, и может быть использовано дл  анализа поведени  радиоэлектронных устройств в услови х воздействи  различного рода облучени  ; нейтронного, j -излучени , d,излучени , протонного.The invention relates to radio electronics, namely to the research and measurement of parameters of transistors, and can be used to analyze the behavior of radio electronic devices under the conditions of exposure to various types of irradiation; neutron, j-radiation, d, radiation, proton.

Известно устройство дл  моделировани  полупроводникового элемента, содержащее операционные усилители, переменный резистор и транзистор. Данное устройство позвол ет моделировать изменение коэффициента передачи по току транзистора til .A device for simulating a semiconductor element is known, which contains operational amplifiers, a variable resistor and a transistor. This device allows you to simulate a change in the current transfer ratio of the transistor til.

Недостатки этого устройства заключаютс  в том, что точность моделировани  определ етс  точностью совпадени  парноподобных транзисторов. Кроме того, невозможно одновременно изменить входное сопротивление и коэффициент передачи по току, что не позвол ет моделировать поведение транзистора в услови х нейтронного облучени .The disadvantages of this device are that the accuracy of the simulation is determined by the coincidence accuracy of the pair-like transistors. In addition, it is impossible to simultaneously change the input resistance and current transfer coefficient, which does not allow to simulate the behavior of the transistor under neutron irradiation conditions.

Наиболее близкой по технической сущности к предлагаемому  вл етс  модель , бипол рного транзистора, содержаща  транзистор и операционный усилитель, в эмиттерную цепь транзистора, который соединен через резистор с инвертируют шим входом операционного усилител , введен эталонный резистор, св занный с неинвертирующим входом операционного усилител , выход которого соединен с The closest in technical essence to the present invention is a model of a bipolar transistor containing a transistor and an operational amplifier, into the emitter circuit of the transistor, which is connected through a resistor to the inverter's inverted input, is connected to a non-inverting input of the operational amplifier, output which is connected to

10 усилителем мощности, св занным с базовой цепью входного транзистора 2 .10 by a power amplifier connected to the base circuit of the input transistor 2.

Недостатком данного устройства  вл етс  сложность схемы и наличие внещних источников питани .The disadvantage of this device is the complexity of the circuit and the presence of external power sources.

1515

Цель изобретени  - упрощение.The purpose of the invention is simplification.

Поставленна  цель достигаетс  тем, что в устройство дл  моделировани  би-. пол рного транз1й;тора, содержащее первый транзистор и переменный резистор This goal is achieved by the fact that in the device for modeling bi-. polar transistor; torus containing the first transistor and a variable resistor

Claims (2)

20 введен второй тр&нзистор, при этом выводы переменного резистора подключены к базам обоих транзисторов соответственно , эмиттеры транзисторов объединены 39 и  вл ютс  эмиттерным входом устройства , база первого транзистора соединен с коллектором второго транзистора и  в л етс  базовым входом устройства, а коллектор первого транзистора  вл етс  коллекторным входом устройства. На чертеже представлена схема устройства дл  моделировани  бипол рного транзистора. Устройство состоит из первого транзистора 1, в базовую цепь которого вкл чен переменный резистор 2, одновременно включенный в базовую цепь второго транзистора 3, эмиттеры транзис. 1 и 3 объединены и  вл ютс  эмиттерным одом устройства (Э), база транзистора 1 соединена с коллектором транзистора 3 и  вл етс  базовым входом устройства (Б), коллектор транзистора 1  вл етс  коллекторным входом устройства (К). Устройство работает следующим образом . Дл  быстрого исследовани  поведени  радиоэлектронных устройств в специальных услови х достаточно измен ть усилительные свойства транзистора от номинальных значений до минимальных, что соответствует различным дозам облучени . Входной ток устройства 36f  вл етс  суммой трех токов Оц, (bif, Промежуток коллектор-эмиттер транзистора 3 предсагавл ет собой генератор тока, величина которого saiBHCHTb от 3 , а следовательно, от величины сопротивлени  резистора 2. Таким образом, при подаче на базовый вход тока , велзиина коллекторного тока Jj транзистора 1 будет также зависеть от величины сопротивлени  резистора 2. Отношение J|/ к Э есть коэффишент усилени по току В устройства. При сопротивлени 6 резистора 2, стрем щемс  к со токи 31 и Зц стрем тс  к нулю, следовательно, 3(j ,и Б устройства равен значению коэффициента усилени  по току транзистора 1. При/уменьшении сопротивлени  резистора 2 ток базы транзистора 1 по сравнению с входным током устройства уменьшаетс , следовательно, уменьшаетс  и 3ц , что со стороны внешних зажимов устройства эквивалентно уменьшению Б. Преимуществом предлагаемого устройства 1гол етс  отсутствие внешних дополнительных источников питани , простота изготовлени  и эксплуатации. Дл  создани  модели могут быть использованы серийные, транзисторы. Формула изобр е н и   Устройство дл  моделировани  бипол рного транзистора, содержащее первый транзистор, и переменный резистор, о т лишающеес  тем, что, с целью упрощени , в него введен второй транзистор , при этом выводы переменного резистора подключены к базам обоих транзисторов соответственно, эмиттеры транзисторов объединены и 5юл ютс  эмиттерным . входом устройства, база первого транзистора соединена с коллектором второго транзистора и  вл етс  базовым входом устройства, а коллектор первого транзистора  вл етс  коллекторным входом устройства. Источники информации, прин тые во внимание при экспертизе 1.Авторские свидетельство СССР № 631944, кл. Q06Q 7/62, 1977. 20 a second tr & resistor is inserted, the terminals of the variable resistor are connected to the bases of both transistors, respectively, the emitters of the transistors are combined 39 and are the emitter input of the device, the base of the first transistor is connected to the collector of the second transistor and the collector of the first transistor is the collector input of the device. The drawing shows a diagram of a device for simulating a bipolar transistor. The device consists of a first transistor 1, in the base circuit of which a variable resistor 2 is included, which is simultaneously connected to the base circuit of the second transistor 3, transis emitters. 1 and 3 are combined and are the emitter jack of the device (E), the base of transistor 1 is connected to the collector of transistor 3 and is the base input of the device (B), the collector of transistor 1 is the collector input of the device (K). The device works as follows. To quickly study the behavior of electronic devices under special conditions, it is sufficient to change the amplifying properties of the transistor from nominal to minimum values, which corresponds to different doses of radiation. The input current of device 36f is the sum of three Ots currents, (bif, the Gap collector-emitter of transistor 3 represents a current generator, the value of which is saiBHCHTb from 3, and therefore, from the resistance value of resistor 2. Thus, when current is applied to the base input The magnitude of the collector current Jj of transistor 1 will also depend on the magnitude of the resistance of resistor 2. The ratio J | / k E is the device's current-gain factor B. At resistance 6 of resistor 2, the current 31 and 3r tends to zero, hence , 3 (j, and B are equal to the current gain of transistor 1. When / resistor 2 decreases, the base current of transistor 1 compared to the input current of the device decreases, and therefore decreases, 3 c, which is equivalent to the reduction of B from the external terminals of the device. external additional power sources, ease of manufacture and operation. Serial transistors can be used to create the model. The formula is shown in Fig. 2. A device for simulating a bipolar transistor containing a first transistor and a variable resistor, is deprived of the fact that, for the sake of simplicity, a second transistor is inserted in it, while the terminals of the variable resistor are connected to the bases of both transistors, respectively, emitters The transistors are connected and are emitter emitters. the input of the device, the base of the first transistor is connected to the collector of the second transistor and is the basic input of the device, and the collector of the first transistor is the collector input of the device. Sources of information taken into account during the examination 1. USSR author's certificate No. 631944, cl. Q06Q 7/62, 1977. 2.Авторское свидетельство СССР по,за вке № 2822923/27, кл, Н О1 U 29/7О, 1979,2. USSR author's certificate in accordance with application number 2822923/27, cl, H O1 U 29 / 7O, 1979,
SU802900875A 1980-03-28 1980-03-28 Device for simulating bipolar transistor SU928376A1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU802900875A SU928376A1 (en) 1980-03-28 1980-03-28 Device for simulating bipolar transistor

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU802900875A SU928376A1 (en) 1980-03-28 1980-03-28 Device for simulating bipolar transistor

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU928376A1 true SU928376A1 (en) 1982-05-15

Family

ID=20885742

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU802900875A SU928376A1 (en) 1980-03-28 1980-03-28 Device for simulating bipolar transistor

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU928376A1 (en)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4835726A (en) * 1986-06-26 1989-05-30 University Of Toronto Innovations Foundation Apparatus for analog simulation of a circuit
RU196597U1 (en) * 2019-12-13 2020-03-06 Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Северо-Восточный федеральный университет имени М.К.Аммосова" Laboratory setup for dynamic measurement of input and output characteristics of a semiconductor transistor

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4835726A (en) * 1986-06-26 1989-05-30 University Of Toronto Innovations Foundation Apparatus for analog simulation of a circuit
RU196597U1 (en) * 2019-12-13 2020-03-06 Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Северо-Восточный федеральный университет имени М.К.Аммосова" Laboratory setup for dynamic measurement of input and output characteristics of a semiconductor transistor

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPS5514725A (en) Error amplifier circuit
SU928376A1 (en) Device for simulating bipolar transistor
JPS5820482B2 (en) amplifier
JPS5728410A (en) Voltage controlled type variable gain circuit
US3506847A (en) Logarithmic converter
JPS6164724U (en)
SU881898A2 (en) Device for simulating semiconductor element
Otala et al. Transient intermodulation distortion in commercial audio amplifiers
JPS5731213A (en) Electric power amplifier
US4859966A (en) Current amplifier circuit and a current amplifying type differential current converter circuit
SU928377A1 (en) Transistor model
JP3305864B2 (en) Signal conversion circuit
SU732917A1 (en) Apparatus for modelling semiconductor device
JPS56144641A (en) Muting device of car-mounted radio
US3471786A (en) Time scaled analog model test circuit for an active element and method of making such
SU641579A1 (en) Resistance relay
JPS5445183A (en) Speed signal former
SU985933A1 (en) Differential amplifier
CA1229886A (en) Method of low noise current amplification
SU1553989A1 (en) Exponential converter
SU842954A1 (en) Sampling current shaper for storage unit
JPS5628510A (en) Current miller circuit
RU1803961C (en) Large resistance simulator
SU419914A1 (en) DEVICE FOR SOLVING THE BOUNDARY PROBLEMS OF THEORY AND FIELD
SU1555709A1 (en) Record amplifier