SU907556A1 - Device for testing electric parameters of digital units - Google Patents
Device for testing electric parameters of digital units Download PDFInfo
- Publication number
- SU907556A1 SU907556A1 SU802961653A SU2961653A SU907556A1 SU 907556 A1 SU907556 A1 SU 907556A1 SU 802961653 A SU802961653 A SU 802961653A SU 2961653 A SU2961653 A SU 2961653A SU 907556 A1 SU907556 A1 SU 907556A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- input
- output
- inputs
- unit
- register
- Prior art date
Links
Landscapes
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Description
1one
Изобретение относитс к вычислительной и контрольно-измерительной технике и может быть использовано при разработке автоматизированных систем контрол цифровых узлов различной радиоэлектронной аппаратуры.The invention relates to computing and instrumentation technology and can be used in the development of automated systems for controlling digital nodes of various electronic equipment.
Известна система контрол цифровых узлов АТ5 -960, содержаща управл ющую вычислительную машину, соединенную с устройством ввода-вывода и через устройство управлени с устройством функциональной проверки, подключенным к объекту контрол , а также коммутаторы, блоки измерителей, источники питани и блоки управлени , причем устройство функциональной проверки содержит блоки согласовани , состо щие из регистра установок , компараторов и ключей.A control system for digital nodes AT5-960 is known, comprising a control computer connected to an input / output device and through a control device to a functional test device connected to the control object, as well as switches, meter blocks, power sources and control blocks, the device The functional check contains matching blocks consisting of a register of installations, comparators, and keys.
Однако эта система характеризуетс повышенной сложностью и обладает ограниченным быстродействием ij .However, this system is characterized by increased complexity and has limited speed ij.
Наиболее близкой по технической сущности к изобретению вл етс сист« 1а дл контрол электрических параметровThe closest to the technical essence of the invention is a system "1a for controlling electrical parameters
цифровых узлов, содержаща вычислитель, блок ввода-вывода, блок сопр жени , блоки согласовани , блок управлени , цифроаналоговые преобразователи, блоки пам ти , элементы И, компараторы, регистры установок и коммутаторы 2 J .digital nodes comprising a calculator, an input / output unit, a interface unit, matching units, a control unit, digital-to-analog converters, memory blocks, AND elements, comparators, setting registers and switches 2 J.
Недостатком известной системы вл ютс ограниченные функциональные возможности , обусловленные тем, что в этой системе дл организации диагности10 ки неисправностей цифровых узлов (поиск отказавших элементов узлов с заданной глубиной поиска) необходимо составл ть проверочные тесты, диагностирующие неисправность , которые требуют дополни15 тельного объема пам ти на несколько пор дков большего, чем объем пам ти, необходимых дл хранени проверочных тестов, обнаруживающих неисправность на выходах цифровых узлов, что делает A disadvantage of the known system is the limited functionality due to the fact that in this system, in order to organize diagnostics of digital node faults (search for faulty elements of nodes with a given search depth), it is necessary to compile verification tests that diagnose a malfunction that require additional memory space. several orders of magnitude more than the amount of memory needed to store verification tests that detect a malfunction at the outputs of digital nodes, which makes
20 диагностику неисправностей невозможной.. Кроме того, известна система не позвол ет задавать на входы многоуровневых цифровых узлов стимулирующие сигналы (либо сигналы реакций), которые имеют вид непрерывных ступенчатых функций сложной формы с временем переключени программируемых уровней, не превышающим 10-2О не, так как выходом системы вл етс выход цифро-ана- лового преобразовател , при программировании которого нарушаетс непрерывность формируемых им сигналов и который имеет ограниченное быстродействие. Цель Изобретени - расширение функгциональных возможностей устройства. Поставленна цель достигаетс тем, что в устройство дл контрол электрических параметров цифровых узлов, содержащее блоки согласовани по числу контролируемьзх параметров, блок програм мируемых источников питани , выход которого соединен с первыми входами блоков согласовани , блок управлени , соединенный первым входом и выходом соответствешю с выходом и входом блока сопр жени , а вторым и третьим выходами соответственно с управл ющими входами блока программируемых источников питани и блока, измерителей, информационный выход которого подключен ко второму входу блока управлени , вычислитель и- блок ввода-вывода, соединенные входами и выходами с соответствующими выходами и входами блоками сопр жени второй вход каждого блока согласовани соединен с четвертым выходом блока управлени , первые выходы и третьи входы блоков согласовани соединены с соответ ствующими выходами и входами устройст ва, причем каждый блок согласовани содержит регистр уставок, подключенный первым и вторым входами соответственно к первым входам коммутатора и компара тора, второй вход которого подключен к первому Шзтходу коммутатора, второй и третий входы которого соединены соответственно с первым и третьим входами блока согласовани , а второй выход - с первым выходом блока согласовани , пер вый вход регистра установок соединен с первым входом блока согласовани , второй вход которого соединен со вторым входом регистра уставок, с первыми входами первых элементов И и третьим входом компаратора, выход которого соединен со вторым выходом блока согласовани , третий выход регистра уставок соединен со вторыми входами первых элементов И, выходы которых соединены со. входами блока пам ти, выход первого цифро-аналового преобразовател соединен с четвертым входом компаратора. введены блок диагностики и блок анализа , а в каждый блок согласовани введены аналоговый ключ, второй цифро-аналоговый преобразователь, счетный триггер , второй элемент И и элемент ИЛИ, причем четвертый блока управлени соединен с первыми входами блока ана- . лиза и блока диагностики, первый, второй выходы и второй вход которого соединены соответственно с четвертыми, п тыми и третьими выходами блоков согласовани , вход прерываний вычислител соединен с выходом блока анализа, второй вход которого соединен с третьим выходом б -ока диагностики, четвертые и вторые выходы блоков согласовани соединены соответственно с входом блока измерителей и с третьим входом блока управлени , а а каждом блоке согласовани четвертый вход соединен с третьими инверсными входами первых элементов И и с первым входом второго элемента И, второй вход которого соединен с п тым входом блока согласовани , а выход - с первым входом элемента ИЛИ, выход блока пам ти соединен со вторым входом элемента ИЛИ, выход которого соединен с управл ющим входом аналогового ключа, четвертый выход регистра уставок со&- дин ей со входом пфвого цифро-аналогового преобразовател , выход которого соединен с первым информационным входом аналогового ключа, п тый выход регистра уставок соединен со входом второго цифро-аналогового преобразовател , вьтод которого соединен с п тым входом компаратора и со вторым информааиошшм вход см аналогового ключа, соешш аиого выходом с четвертым вхоаом комк татора , первый и третий аыходы которого соединены соответственно с третьим и четвертым выходами блока согпвсс аем , а также тем, что блок диагностики содержит регистры адресов вхсщов и выходов , дешифратор канала, триггер и мультиплексор , причем входы регистров адресов входов и выходов соединены с первым входом блока диагностики и входом триггера состо ни , выход которого соединен со вторьшг входом блока диагностики , выход регистра адреса ЕЖОДОВ соединен со входом дешифратора канала, выход которого соединен с перилм выходом блсжа диагностики, выход регистра адреса, выходов соединен с первым управл ющим входом Мультиплексора, второй информационный вход которого соединен со BTOfSjiM йходом блока диагностики , а выход -.с третьим выходом блока диагностики, и тем, что блок анализа содержит элемент сравнени , регистр сигнатуры неисправного контакта, регист диагностических сигнатур и сигчатурный анализатор, первый вход которого сое- динен со вторым входом блока анализа, первый выход - с первыми входами регистра сигнатуры неисправного контакта и регистра диагностических сигнатур, выходы которых соединены соответствен но с первым и вторым входами элемента сравнени , выход которого соединен с выходом блока анализа, первый вход которого соединен со вторыми входами сигнатурного анализатора, регистра сигнатуры неисправного контакта и регистра диагностических сигнатур. На фиг. 1 приведена блок-схема устройства дл контрол электрических пара метров цифровых узлов; на фиг. 2 - временна диаграмма работы устройства в режиме формировани стимулирующих сиг налов (либо сигналов реакции контролируемого объекта) в виде ступенчатых функций сложной формы с временем переключени программируемых уровней, не превышающим 10-2О не; на фиг, 3 - логическа схема цифрового узла. Устройство содержит вычислитель 1, блок-2 сопр жени , блок 3 ввода-вывода блок 4 управлени , блок 5 измерителей, блок 6 программируемых источников питани , блок 7 диагностики, блок 8 анализа и блоки 9 согласовани , регистр 1О уставок, первые элементы И 11, ком- паратор 12, коммутатор 13, первый 14 и второй 15 цифро-аналоговые преобразо ватели, аналоговый ключ 16, объект 17 контрол , регистр 18 адреса входов, регистр 19 адреса выходов, триггер 20, второй элемент И 21, элемент ИЛИ 22, счетный триггер 23, блок 24 пам ти, дешифратор 25 канала, мультиплексор 26 сигнатурный анализатор 27, регистр 28 сигнатуры неисправного контакта, регист 29диагностических сигнатур, элемент 30сравнени . Логическа схема цифрового узла (фиг. 3) содержит, например, элементы 31-41 и имеющего восемь входов XI... Х8 и два выхода У1, У2. На выходе элемента 35 данной схемы имеетс не исправность типа конституэнта , а выходы элементов 37 и 39 закорочены в точке А, образу искусственную схему монтажное ИЛИ. Устройство.работает следующим образом . Работа устройства осуществл етс в двух режимах. В первом режиме осуществл етс проверка объекта 17 контрол на правильность функционировани по методу Годен/ Негоден, при этом примен ютс проверочные тесты, обнаруживающие неисправность на выходных контактах объекта контрол . Во втором режиме осуществл етс автоматический поиск множеств трасс неисправностей от неисправных выходных контактов объекта контрол к входным контактам, при этом используетс программа проверки, в которой примен ютс те же тестовые наборы, что и В программе проверки первого этапа. При этом обнаруживают неисправности типа замыкание логически с цепей с корпусом (конституэнта О), обрыв логических цепей или замыкание с щиной питани (конституэнта 1) и замыкание логических цепей между собой. В первом режиме по команде оператора осуществл етс автоматический поиск программы проверки объекта 17 контрол , подключенного к устройству. Программа проверки выбранного объекта 17 контрол , хран ща с на внещнем носителе, вводитс в вычислитель 1 через блок 3 ввода-вывода и блок 2 сопр жени . После этого по команде оператора вьнислитель 1 (в соответствии с введенной в него программой контрол ) осуществл ет программирование блока 5 измерителей, при этом вычислитель 1 выдает команды управлени , которые через блок 2 сопр жени и блок 4 управлени поступают в блок 5 -измерителей, входы которого (в соответствии с командами управлени ) подключаютс к выходам соответствующих коммутаторов 13, выбранных программно вычислителем 1 из множества блоков 9 согласовани . С помощью вычислител 1 осуществл етс перебор и последовательное подключение входов и выходов объекта 1 контрол к измерителю входных токов в блоке 5, коммутаци входных, выходных и питающих цепей при контроле токов потреблени . Вычислитель 1 организует с помощью блока 5 измерителей цикл измерени токов потреблени и сравнегше их с заранее заданной величиной. При несовпадении измер емой и заданной величины тока блок 5 измерителей вырабатывает сигнал Негоден, который поступает через блок 4 управлени в вычислитель 1, а из него на блок 3 вывода и далее на регистрацию. Если все измер емые токи в норме, то разрещаетс далънеШиее прохождение команд программы. Далее вычислитель 1 осуществл ет программирование блоков 9 согласовани и блока 6. Программирование блоков 9 согласовани осуществл етс следующим образом: вычислитель 1 через блок 2 сопр жени и блок 4 управ лени по ии(|юрмашюнной магистрали вы дает коды управлени , которые фиксиру- ет регистр 10 уставок, определ состо ние элементов блоков 9 согласовани а именно, комму1атора 13, компаратора 12, двух цифро-аналоговых преобразователей 14 и 15, которые преобразуют коды, поступающие с регистра 10 уставок в аналоговые уровни. Дл двухуровневых цифровых узлов программирование преобразователей 14 и 15 вычислитель осуществл ет один раз перед началом проверки объекта 17 контрол , при этом аналоговые уровни преобразователей 14 и 15 устанавливаютс равзлз1ми соответственно уровн м логической 1 и О дл данного объекта 17 контрол и не иа.лён ютс до конца проверки. Дл многоуровневых цифровых узлов, стимулирую щие сигналы (либо сигналы реакций) которых должны быть заданы в виде непрерывных ступенчатых функций сложной формы (фиг. 2), нрохраммирование преоб разователей 14 и 15 во врем проверки объекта контрол происходит несколько раз в зависимости от формы требуемой ступенчатой функции. В зависимости от управл ющих сигналов, поступающих с ре гистра 10 уставок, коммутатор 13 подключает к объекту 17 контрол либо сигнальный вход компаратора 12, либо 1 выход аналогового ключа 16. Соответствен- но данный блок согласовани в дальнейщем (до перепрограммировани ) осущест- вп ет либо контроль сигнала, либо его генерирование. После этого вычислитель 1 через блок 2 сопр жени и блок 4 управлени и через элементы И 11 соответствующих блоков 9 согласовани , выбираемых из их Кшожества дл данной проверки, осуществл ет последовательную запись информации, соответствующей испытательной программе контрол , в бпок 24 пам ти всех выбранных блоков 9 согласовани . Блок 24 пам ти представл ет собой, например, ОЗУ с произвольной выборкой. Вследствие того, что выход блока 24 пам ти соединен со входом счетного триггера 23, информаци в чейки блока 24 пам ти записываетс в впде знакоперемеп, т.е. в чейки пам ти с адресами, соответствующими номерам тестовых наборов, на которых догок™ S8 но произойти изменение состо ни , записываютс единицы, остальные чейки наход тс в нулевом состо нии. Дл двухуровневых цифровых узлов 17 изменение состо ни это переход из состо ни в О или О в I, а дл многоуровневых узлов со ступенчатой формой входных (выходных) сигналов это переход на новый уровень (фиг. 2). Программирование и нод1слючение источников блока 6 к соответствующим контактам объекта 17 контрол происходит в следующем пор дке . Вычислитель 1 выдает команды управлени , которые через блок 2 сопр жени и б-ок 4 отправлени поступают на информационный вход блока 6, где в соответствии с этими командами осуществл етс подключение входов коммутаторов 13,соответствующих блоков 9 согласовани к щинам питани блока б, потенциал на которых также программируетс по командам от вычислител 1. После этого на первые входы регистров Ю уставок выбранных блоков 9 согласовани поступает от вычислител 1 команда, котора формирует на первых выходах регистра Ю уставок потенциалы, поступаю- ище на первые входы коммутаторов 13 и разрещающие подачу питани на входы объекта 17 контрол . Проверка объекта 17 контрол осуществл етс путем циклического формировани стимулирующих воздействий и оценки его реакций. В течение каждого цикла контрол вычислитель 1 через блок 2 сопр жени , блек 4 управлени и элементы И 11 полает параллельно на все блоки 24 пам ти выбранных блоков 9 согласовани управл ющие команды (адреса), в результате чего коды знакоперемен , записанные в определенном поле блока 24 пам ти, поступают на вход счетного триггера 23. Счетный триггер 23 преобразует последовательность знакоперемен в реальный тестовый сигнал, который через схему ИЛИ 22 поступает на управл ющий вход аналового ключа 16 (фиг. 2). В зависимости от входного сигнала (логического О или логичеог кой 1) на управл ющем входе аналогового ключа 16 он пропускает на выход или аналоговый уровень от преобразовател 14,или аналоговый уровень от преобразовател 15. Эти уровни с выхода аналогового ключа 16 через коммутатор 13 поступают на входы объекта 17 контрол . Фронты уровней сигналов, поступающих на входы объ екта 17 кситр.л , . .11)едсл к)тс бькпро действием аналогоиого ключа 16 и при использовании дл его изготовлени сотфемешюй элементной базы имеют величину пор дка 10-20 не. Ранее запрограммнрованные блоки 9 согласовани , ocyuieствл ют контроль реакций. Уровни с пре образователей 14 и 15-сравниваютс посредством компараторов 12 с сигналом реакции, поступающим через комму- татор 13 с объекта 17 контрол . Резул тат сравнени поступает с выходов компараторов 12 выбранных блоков 9 согласовани на вход блока 4 управлени . При наличии хот бы в одном из выбранных блоков согласовани несовпадени требуемой реакции с реальным вы ходным сигналом блок 4 управлени останавливает программу проверки, определ ет номера неисправных контактов и вы дает данные о них через блок 2 сопр же ни в вьиислитель 1, который по мере необходимости выдает эти данные на блок 3 вывода дл регистрации. Если на следующем цикле проверки необходимо перейти на новый уровень по входу или выходу объекта 17 контрол дл цифровы узлов со ступенчатой формой входных (выходных) сигналов, fb вычислитель 1 перепрограммирует информационнъгй преобразователь , который и данный момент отключен от входов объекта 17 контрол или который не использовалс в предыду щем цикле дл задани требуемой реакции (фиг. 2). После этого вычислитель организует следующий цикл проверки. Ан логично осуществл ютс последующие W циклов контрол . В результате проверки объекта 17 контрол в первом режиме определ ютс номера неисправных контактов как на каждом тестовом наборе, так и на всем множестве N( тестовых наборов. Информаци о номерах неисправных выходных контактов записываетс в определенную зону оперативной пам ти вычислител 1 и в дальнейшем используетс (как исходнъю данные) в программе проверки второ режима. В этой же зоне оперативной пам ти вычислител 1 находитс инс}юрмаци о группах входных контактов, имеющих логическую св зь с выходными контактами , котора заноситс в эту област блоком 3 с внешнего носител в момент ввода программ проверки данного объект 17 контрол . Множество входных ко тактов, имеющих логическую св зь с 1 ым выходным контактом, зависит от деГ )Г рева логического графа объекта контрол , а М1 ожество М грутш определ етс количеством выходных контактов ОК. Таким образом, в результате проверки объекта контрол в первом режиме определ етс подмножестЕо Р групп из полного множества М групп. Подмножество Р определ етс количеством неисправны выходных контактов. Во втором режиме, если есть хот бы один неисправный контакт (результат проверки объекта контрол на первом этапе Негоден ), по команде от вычислител 1 запускаетс программа поиска трасс неиспр)авностей. Вычислитель 1 выдает адрес 1 -го неисправного контакта из подмножества Р, который поступает по информационной магистрали в блок 7 диагностик11 на вход регистра 19 адреса выходов , с выхода которого код адреса поступает на управл ющий вход мультиплексора 26, который подключает выбранный 1 -ый въкодной контакт объекта контрол ко входу сигнатурного анализатора. Далее вычислитапь 1 запускает программу проверки первого режима без остановки после каждого тестового набора дл анализа результатов контрол . На вход объекта 17 котрол аналогично псрво {у режиму поступают пходиые тесто 1Ь е наборы, которые генерируют иа выход1Ш1х контактах объекта 17 контрол конечную последовательность с гналоп (ответных. реакш й), которые сигнатурный анализатор 27 преобразует в код сигнатур. После выдачи всех тестовых поборов иа вход объекта 17 контрол вычислитель 1 выдает команду па регистр 28, при этом в него с выхода сигнатурного анализатора 27 записываетс значение кода сигнатуры дл выбранного i -го неисправного выходного контакта объекта 17 контрол . Значение кода сигнатуры дл -го контакта может быть любым и зависит от типа и места неисправности внутри объ екта 17 контрол . После этого вычислитель выдает код адреса первого О -го входного контакта из множества , который поступает по информационной магистрали в блок 7 диагностики на вход регистра 18 адреса входов, с выхода которого код адреса поступает на вход дешифратора канала 25, который формирует па своем выходе сигнал, поступаю1Щ1Й иа вход .;леме1ггов И 11 и И 21 Э -го блока 9 согласовани , при этом запрещаетс прохождение команд управлени от вычислител 1 па вход блока 24 пам ти и разрешаетс прохождение20 troubleshooting is impossible. . In addition, the known system does not allow stimulating signals (or reaction signals) to be set at the inputs of multi-level digital nodes, which have the form of continuous step functions of complex shape with programmable levels switching time not exceeding 10-2 °, since the output of the system is a digital-to-analog converter, the programming of which breaks the continuity of the signals it generates and which has a limited speed. The purpose of the Invention is to expand the functional capabilities of the device. The goal is achieved by the fact that the device for monitoring the electrical parameters of digital nodes, containing matching blocks by the number of controllable parameters, a block of programmable power sources, the output of which is connected to the first inputs of matching blocks, a control block connected by the first input and output to the output and the input of the interface unit, and the second and third outputs, respectively, with the control inputs of the programmable power supply unit and the unit, the meters, the information output is connected to the second input of the control unit, the calculator and the I / O unit connected by inputs and outputs with the corresponding outputs and inputs by the interface blocks, the second input of each matching unit is connected to the fourth output of the control unit, the first outputs and the third inputs of the matching unit are connected to device outputs and inputs, each matching unit contains a setting register connected by the first and second inputs respectively to the first inputs of the switch and comparator, the second input which is connected to the first switchboard input, the second and third inputs of which are connected respectively to the first and third inputs of the matching unit, and the second output to the first output of the matching unit, the first input of the settings register is connected to the first input of the matching unit, the second input of which is connected to the second input of the register of settings, with the first inputs of the first elements I and the third input of the comparator, the output of which is connected to the second output of the matching unit, the third output of the register of settings is connected to the second inputs of O elements and whose outputs are connected with. the inputs of the memory block, the output of the first digital-analog converter is connected to the fourth input of the comparator. a diagnostics unit and an analysis unit are entered, and an analog key, a second D / A converter, a counting trigger, a second AND element and an OR element are entered into each matching unit, with the fourth control unit connected to the first inputs of the ana block. the first and second outputs and the second input of which are connected respectively to the fourth, fifth and third outputs of the matching blocks, the interrupt input of the calculator is connected to the output of the analysis unit, the second input of which is connected to the third output of the diagnostic diagnostics b, the fourth and second the outputs of the matching blocks are connected respectively to the input of the meter unit and to the third input of the control unit, and each matching block has a fourth input connected to the third inverse inputs of the first And elements and the first input The second element, And, the second input of which is connected to the fifth input of the matching unit, and the output to the first input of the OR element, the output of the memory block is connected to the second input of the OR element, the output of which is connected to the control input of the analog switch, the fourth output of the register of settings with & - one with the input of a digital-to-analog digital converter, the output of which is connected to the first information input of an analog switch, the fifth output of the register of settings is connected to the input of the second digital-analog converter, whose output is connected the fifth input of the comparator and the second information input, see the analog key, connecting the output to the fourth input of the combator, the first and third outputs of which are connected respectively to the third and fourth outputs of the diagnostic unit, and also containing the diagnostics block containing the address registers of the inputs and outputs, a channel decoder, a trigger and a multiplexer, wherein the inputs of the addresses of the inputs and outputs are connected to the first input of the diagnostic unit and the state trigger input, the output of which is connected to the second input of the diagnostic unit sticks, the output of the register of the address of the YEARS is connected to the input of the channel decoder, the output of which is connected to the peril output of the diagnostics, the output of the address register, the outputs is connected to the first control input of the Multiplexer, the second information input is connected to the diagnostic unit input, and the output is. with the third output of the diagnostics block, and the fact that the analysis block contains a comparison element, the signature register of the faulty contact, a register of diagnostic signatures and a pole analyzer, the first input of which is connected to the second input of the analysis block, the first output to the first inputs of the signature signature of the faulty contact and the register of diagnostic signatures, the outputs of which are connected respectively to the first and second inputs of the comparison element, the output of which is connected to the output of the analysis unit, the first input of which is connected to the second the inputs of the signature analyzer, the register of the signature of the faulty contact and the register of diagnostic signatures. FIG. 1 shows a block diagram of a device for monitoring electrical parameters of digital nodes; in fig. 2 shows the time diagram of the device operation in the mode of generating stimulating signals (or the reaction signals of the monitored object) in the form of stepped functions of complex shape with a switching time of programmable levels not exceeding 10-2 O; Fig. 3 is a logic diagram of a digital node. The device contains calculator 1, interface block 2, input / output block 3 control block 4, meter block 5, programmable power supply block 6, diagnostics block 7, analysis block 8 and matching blocks 9, setting register 1O, first AND 11 elements , comparator 12, switch 13, first 14 and second 15 digital-to-analog converters, analog key 16, control object 17, register of input addresses 18, register of output addresses 19, trigger 20, second AND 21 element, OR 22 element counter trigger 23, memory block 24, channel decoder 25, multiplexer 26 signature nalizator 27, a register 28, a faulty contact of the signature, registers of 29diagnosticheskih signatures 30sravneni element. The logic circuit of a digital node (FIG. 3) contains, for example, elements 31-41 and having eight inputs XI. . . X8 and two outputs U1, U2. At the output of element 35 of this scheme, there is not a serviceability of the type of constituent, but the outputs of elements 37 and 39 are shorted at point A, forming an artificial mounting circuit OR. Device. works as follows. The device operates in two modes. In the first mode, a check of the object 17 of the control for the correctness of operation by the Goden / Invalid method is performed, with the use of verification tests detecting a malfunction on the output contacts of the object of control. In the second mode, an automatic search for a set of fault paths from the faulty output contacts of the test object to the input contacts is performed, using a verification program that uses the same test kits as in the first stage verification program. In this case, faults of the type of closure are logically detected from the circuits with the case (constituent O), the break of logical circuits or the closure with the power supply (constituent 1) and the closure of the logical circuits between them. In the first mode, at the command of the operator, the program is automatically searched for the test of the control object 17 connected to the device. A program for checking the selected control object 17 stored on an external medium is inputted into the calculator 1 through the input-output unit 3 and the interface unit 2. After that, at the operator's command, the collector 1 (in accordance with the control program entered into it) performs programming of the meter block 5, and the calculator 1 issues control commands, which through the interface block 2 and the control block 4 enter the meter block 5, the inputs which (in accordance with the control commands) are connected to the outputs of the respective switches 13 selected by the software calculator 1 from the plurality of matching blocks 9. Using calculator 1, the inputs and outputs of the object 1 of the control to the meter of input currents in block 5 are searched and the input, output and supply circuits are switched while controlling the consumption currents. The calculator 1 organizes with the help of block 5 meters a cycle of measuring consumption currents and comparing them with a predetermined value. If the measured and specified current values do not match, the meter unit 5 generates a signal that is not suitable, which goes through the control unit 4 to the calculator 1, and from there to the output unit 3 and then to the registration. If all measured currents are normal, then the further passing of the program commands is permitted. Further, the calculator 1 performs programming of the matching block 9 and block 6. The programming of matching blocks 9 is carried out as follows: calculator 1 via interface block 2 and control unit 4 for input (| yurmashunny trunk you give control codes that fixes register 10 of settings, determining the state of elements of matching block 9, namely switch 13, comparator 12, two digital-to-analog converters 14 and 15, which convert codes from register 10 of settings into analog levels. For two-level digital nodes, the transducers 14 and 15 are programmed by the calculator once before testing the control object 17, and the analog levels of the transducers 14 and 15 are set at equal levels of logical 1 and 0 for the given control object 17 and none. flax until the end of the check. For multi-level digital nodes, the stimulating signals (or reaction signals) of which must be specified in the form of continuous step functions of a complex shape (Fig. 2), the conversion of converters 14 and 15 during the inspection of the test object takes place several times depending on the shape of the required step function. Depending on the control signals from the setting register 10, the switch 13 connects to the control object 17 either the signal input of the comparator 12 or 1 output of the analog switch 16. Accordingly, this matching unit further (before reprogramming) performs either signal control or its generation. After that, the calculator 1, via the interface unit 2 and the control unit 4, and through the elements AND 11 of the corresponding matching units 9 selected from their X-file for this check, sequentially records information corresponding to the testing control program in the memory 24 of all the selected blocks 9 agreement. The memory unit 24 is, for example, random access RAM. Due to the fact that the output of memory block 24 is connected to the input of counting flip-flop 23, the information in the cells of memory block 24 is recorded in the forward-looking signal, t. e. units are written into the memory cells with addresses corresponding to the test case numbers on which the dogus S8 but the state changes, the remaining cells are in the zero state. For two-level digital nodes 17, a change in state is a transition from state to O or O to I, and for multilevel nodes with a stepped form of input (output) signals, this is a transition to a new level (Fig. 2). Programming and node1 of the sources of block 6 to the corresponding contacts of the control object 17 occurs in the following order. The calculator 1 issues control commands, which, through the interface 2 and b-ca 4, arrive at the information input of block 6, where, in accordance with these commands, the inputs of the switches 13 corresponding to the matching blocks 9 are connected to the power supply of block b, the potential on which are also programmed by commands from computer 1. After that, the first inputs of the registers Yu of the settings of the selected matching blocks 9 are received from the calculator 1 command, which generates potentials at the first outputs of the register Yu of the settings, arriving at the first inputs of the switches 13 and enabling the power supply to the inputs of the object 17 of the control. The verification of the control object 17 is carried out by cyclically generating stimulating effects and evaluating its reactions. During each control cycle, the calculator 1 through the interface block 2, the blackened 4 controls and the AND 11 elements, flies in parallel to all the blocks of 24 memories of the selected matching block 9 control commands (addresses), resulting in alternating codes recorded in a specific field of the block 24 memories are fed to the input of the counting trigger 23. The counting trigger 23 converts the sequence of alternating signs into a real test signal, which through the OR circuit 22 arrives at the control input of the analog switch 16 (Fig. 2). Depending on the input signal (logical O or logical 1) at the control input of the analog switch 16, it passes to the output either the analog level from the converter 14, or the analog level from the converter 15. These levels from the output of the analog key 16 through the switch 13 are fed to the inputs of the object 17 of the control. The fronts of the signal levels arriving at the inputs of the 17 ksitr object. l. . 11) The unit is made by the action of the analog key 16 and, when used for its manufacture, the cell components have a value in the order of 10 to 20 n. The previously programmed matching blocks 9, ocyuus, control the reactions. Levels from converters 14 and 15 are compared by means of comparators 12 with a reaction signal received via switch 13 from control object 17. The comparison result comes from the outputs of the comparators 12 of the selected matching unit 9 to the input of the control unit 4. If there is at least one of the selected matching units for the discrepancy between the required reaction and the actual output signal, the control unit 4 stops the checking program, determines the numbers of the faulty contacts and you give information about them through the unit 2 in conjunction with the terminal 1, which outputs this data to output block 3 for registration. If on the next verification cycle it is necessary to move to a new level on the input or output of the control object 17 for digital nodes with a stepped form of input (output) signals, fb calculator 1 will reprogram the information converter, which is currently disconnected from the inputs of the control object 17 or not used in the previous cycle to set the desired reaction (Fig. 2). After that, the calculator organizes the next test cycle. Subsequent W control cycles are analogously performed. As a result of testing the control object 17 in the first mode, the numbers of the faulty contacts are determined both on each test set and on the entire set N (test sets). Information about the numbers of faulty output contacts is recorded in a certain area of the RAM of calculator 1 and is then used (as source data) in the second mode check program. In the same zone of the operating memory of the calculator 1, there is an insight about the groups of input contacts that have a logical connection with the output contacts, which is entered into this area by the block 3 from the external media at the moment of entering the test programs of this object 17 of the control. The set of input clocks that have a logical connection with the 1st output contact depends on the de-graph of the control object, and M1 M me nce is determined by the number of output contacts OK. Thus, as a result of checking the object of control in the first mode, a submultiplication of groups from the full set of M groups is determined. A subset of P is determined by the number of defective output pins. In the second mode, if there is at least one faulty contact (the result of checking the control object at the first stage is inefficient), the program for finding fault traces is started by a command from calculator 1. The calculator 1 outputs the address of the 1st defective contact from the subset P, which enters the information line in block 7 diagnostics 11 to the input of the register 19 of the output address, the output of which addresses the address code to the control input of the multiplexer 26, which connects the selected 1st vocoded contact control object to the signature analyzer input. Next, compute step 1 starts the first mode test program without stopping after each test set to analyze the control results. To the input of the object 17, the controller is similar to the psrvo {y mode and the same dough sets arrive, which generate the output of the 1X1x contacts of the object 17 of the control, the final sequence from the gnalop (response). reacted), which signature analyzer 27 converts into signature code. After issuing all the test requisitions and the input of the control object 17, the calculator 1 issues a command to the register 28, and the signature code value for the selected i -th faulty output contact of the control object 17 is written to it from the output of the signature analyzer 27. The value of the signature code for the contact can be any and depends on the type and location of the fault within the object 17 of the control. After that, the calculator issues the address code of the first O-th input contact from the set, which enters the diagnostics unit 7 to the input of the input address register 18, from which the address code goes to the input of the channel decoder 25, which forms its output signal I enter 1 input. ; Lemmery 11 and I 21 of the 9th negotiation unit 9, in this case, the passage of control commands from the calculator 1 is prohibited to the input of the memory block 24 and the passage
на управл ющий вход аналогового ключа 16 уровней сигналов с Шагхода блока 7 диагностики от триггера 20, который в данный момент находитс в любом СОСТО51НИИ. Далее вытюлнтепь 1 снова запускает программу проверки первого релдама. В этом случае бурут генерироватьс по всем входам, кроме выбранного J -го, те же входные последоватапьности , что и в предыдущем случае. При этом, если на трассе от входного D-ro до выходного 1 -го контакта нет неис правностей, то в сигнатурном анализаторе 27 будет зафиксирован код сигнатуры отличный от предыдущего, так как на -ом входном контакте присутствует посто нный уровень сигнала, вместо ранее подаваемой на него последовательности сигналов, а если на этой трассе имеетс одна зшн несколько логических неисправностей типа конституэнта О или конституэнта I, то в сигнатурном анализаторе 27 будет зафиксирован код сигнатуры, рйвный предыдущем , так как отключение З-го схода объекта 17 в случае отсутстви сход гцихс разветвлений п дереве логического графа множества Q не приведет к изменению выходной последовательности на выходе - -го неисправного контакта. После этого вычисл тель 1 выдает команду на регистр 29, при этом в него с выхода сигнатурного анализатора 27 заноситс значение кода диагност1-гческой сигнатуры Э -го входного контакта. сигнатура -го неисиравного контакта н диагкостическа сигнатура -( го входного 1сонтакта равны, то срабатывает элемент 30 сравнени и с его выхода на вычислитель 1 поступает сигнал прерывани , который сиг-наота1зиру ет вычислиташо 1 о наличии неисправности на провер емой трассе. После перебора всех входных контактов множества Q дл выходного -f -го неисправного контакта вычислитель 1 заносит в регистр 28 адрес следуюиГёго неисправного контакта, дл которого провод тс те же операции, что и дл i го неисправного контакта, с целью вы влени трасс неисправностей и т.д., пока не .будут обработаны все под шюжества Р выходных неисправных контактов , noaiie этого вычислитель 1 запус кает программу, определ ющую отсутстви замыканий между собой логических цепей внутри объекта 17 контрол . При этом определ етс отсутствие замыкаю й межд трассами как внутри самих групп , теа и между трассами различных групп Q. всего подмножества Р.to the control input of the analog key are 16 levels of signals from the Step of the diagnostic unit 7 from the trigger 20, which is currently in any STATCHEN. Next, vytyulntep 1 again starts the program to test the first rendama. In this case, the burut is generated on all inputs, except for the selected J-th, the same input sequence as in the previous case. At the same time, if there are no faults on the route from the input D-ro to the output 1st contact, then the signature code different from the previous one will be fixed in the signature analyzer 27, because the constant signal level is present on the -th input contact there are sequences of signals on it, and if on this route there is one several logical faults of the type of constituent O or constituent I, then the signature code, which is previous, will be fixed in signature analyzer 27, because ekta 17 in the absence of branches converging gtsihs n logical tree graph set Q does not lead to a change in the output sequence at the output - -th faulty contact. After this, computational 1 issues a command to register 29, and the value of the diagnostic code of the 1 st input contact is entered into it from the output of signature analyzer 27. signature of i-th irregular contact and diagnostics signature - (input 1 contact is equal, then comparison element 30 is triggered, and from its output the calculator 1 receives an interrupt signal, which indicates a fault on the tested path. After searching all input contacts of the set Q for the output -f of the faulty contact, the calculator 1 enters in the register 28 the address of the next and faulty contact, for which the same operations are carried out as for the i faulty contact, in order to detect ss of faults, etc. until all faulty P output faulty contacts are processed, noaiie this calculator 1 starts a program that determines the absence of short circuits between the logical circuits inside the control object 17. This determines the absence of the short circuit tracks both inside the groups themselves, thea and between the tracks of different groups Q. of the whole subset of R.
Алгоритм работы устройства в этом случае будет следующим.The algorithm of the device in this case will be as follows.
По команде от вычислител 1 (аналогично описанному выше) выбираетс iый выходной контакт, который через мультиплексор 26 подключаетс ко входу сигнатурного анализатора 27, а потом выбираетс один из входных контакюв который принадлежит объединению множеств входных контактов Q всех подмножеств Р, т.е. йгКПо команде отOn command from calculator 1 (as described above), the i-th output contact is selected, which is connected via multiplexer 26 to the input of the signature analyzer 27, and then one of the input contacts that belongs to the union of the sets of input contacts Q of all subsets of P is selected. ygKPo command from
-Р-R
Claims (2)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU802961653A SU907556A1 (en) | 1980-07-17 | 1980-07-17 | Device for testing electric parameters of digital units |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU802961653A SU907556A1 (en) | 1980-07-17 | 1980-07-17 | Device for testing electric parameters of digital units |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU907556A1 true SU907556A1 (en) | 1982-02-23 |
Family
ID=20910271
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU802961653A SU907556A1 (en) | 1980-07-17 | 1980-07-17 | Device for testing electric parameters of digital units |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU907556A1 (en) |
-
1980
- 1980-07-17 SU SU802961653A patent/SU907556A1/en active
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US4012625A (en) | Non-logic printed wiring board test system | |
US4807161A (en) | Automatic test equipment | |
US4441074A (en) | Apparatus for signature and/or direct analysis of digital signals used in testing digital electronic circuits | |
CN106556793A (en) | Chip test system and method for testing | |
RU2324967C1 (en) | Soft hardware stand for diagnostics of digital and microprocessor units | |
RU2331098C1 (en) | Parameter control device | |
SU907556A1 (en) | Device for testing electric parameters of digital units | |
GB2195029A (en) | Testing electrical circuits | |
RU2430406C2 (en) | Automated system for diagnosing digital devices | |
RU2365966C2 (en) | Automatic test system | |
RU2106679C1 (en) | Device which tests characteristics | |
RU158297U1 (en) | AUTOMATED DEVICE FOR FUNCTIONAL MONITORING AND MONITORING OF PARAMETERS OF ELECTRIC CIRCUITS OF COMPLEX TECHNICAL PRODUCTS | |
RU2097827C1 (en) | Automatic system for diagnostics of digital devices | |
GB2195028A (en) | Testing electrical circuits | |
SU911541A2 (en) | System for testing electric parameters of digital units | |
SU1233156A2 (en) | Device for checking digital units | |
RU2789850C1 (en) | Method for studying electroic control systems of complex technical objects and a test bench for studying electroic control systems of complex technical objects | |
SU562783A1 (en) | Device for control and diagnostics of digital circuits | |
SU1260974A1 (en) | Device for checking electric parameters of digital units | |
SU1432528A2 (en) | Apparatus for monitoring the functioning of logical modules | |
SU911531A1 (en) | System for testing and diagnosis of digital units | |
SU1166120A1 (en) | Device for checking digital units | |
SU734722A1 (en) | Electric wiring testing device | |
JPS61262856A (en) | Testing circuit | |
SU947789A1 (en) | Device for checking memory ic functioning |