Claims (1)
Изобретение относитс к неразруша ющему контролю и может использоватьс дл измepeн толщины слоев много слойных изделий. Известен способ измерени толщины слоев многослойных крупногабаритных изделий, заключающийс в том, что пр изготовлении издели между его сло ми размещают линейные проводники так что они наход тс в одной плоскости, и располагают накладной индуктивный преобразователь на одной из поверхностей издели , по величине сигнала этого преобразовател суд т о. измер емых толщинах слоев L JНедостаток такого способа заключа етс в том, что на результат измерени вли ет поле обратного (о.бщегб) провода. Цель изобретени - повыщение до;стоверности контрол . Это достигаетс тем, что линейные проводники размещают также и на обеих поверхност х издели , из группы четырех линейных проводников образуют na-i ру электрических контуров, не имеющих общих ветвей, по ка здому из контуров пары пропускают синфазный переменный ток таким образом, что магнитные пол , созданные каждым конту ром в накладном преобразователе, направлены встречно, в одном из контуров пары измен ют амплитуду тока до момента, когда сигнал преобразовател равен нулю, и в этом положении измер ют и фиксируют отношение Р. токов первой пары контуров, образуют другую пару, контуров из той же группы четырех линейных проводников и аналогично измер ют и фиксируют отношение 2. токов второй пары контуров , по полученным отношени м опре- дел ют толщину слоев между линейными проводниками, которые использовались дл оиразовани первых двух пар контуров, затем последовательно используютс все линейные проводники группами по четыре проводника и опре дел ют толщину всех слоев издели . На фиг. 1-3 представлен трехслойный- объект с трем различными комбинаци ми контуров. Объект состоит из трех слоев 1, 2 и 3, толщины которых равны Т, Тл и Та соответственно. Между сло ми и на наружных поверхност х объекта расположены линейные проводники 4, 5, 6 и 7. На поверхности объекта контрол со сторюны проводника 7 наложен накладной индуктивный преобразователь 8. Указанные проводники могут образовать попарно три различных комбинации по два контура, не имеющие общих ветвей, показанные на фиг. 1,2 и 3. Дл создани токов в каждый из двух контуров включаютс источники 9-14 синусоидальной ЭДС. При этом ам плитуда ЭДС может измен тьс . Дл обеспечени возможности компенсации полей, создаваемых двум контурами, в объеме преобразовател с помощью источников ЭДС создают синфазные токи и их направлени выбирают так, как указано на.фигурах. Измерени толщины слоев трехслой ного объекта контрол по предлагаемому способу осуществл ютс следующим образом. Образуют пары контуро измен ют ЭДС одного из источников от нулевого значени до момента, ко да сигнаш преобразовател станет ра ным нулю, и в этом положении измер ют отношение токов. Затем образуют упругую комбинацию к туров и аналогичным образом измер ют отношение токов V- определ ют значени толщин слоев 2 и 3 с помощью выражений .; ъ-Щ МРз-и) , PjCUP) Р5(р 4|Г п .P, 2 p,,ei4p2.) Дл обеспечени возможности изме рени толщины каждого сло - слойного издели нумеруют последовательно проводники от наиболее удаленного преобразовател , .затем выбирают четыре провода 1-й, 2-й, 3-й, п-й, и описанным вьш1е способом определ ют значени толщий Q . Затем избирают четыре провода 3-й, 4-й, 5-й и п-й н, полага , что объект контрол содержит (п-2) сло , начина с 3-го, аналогичным образом определ ют значени толщин Тз -Ьз- 4 Т, b-t, Поступа аналогичным образом, определ ют последовательно значени ТОЛЩИН Т, Т Способ характеризуетс отсутствием вли ни обратного провода, что позвол ет расширить область его применени . Формула изобретени Способ измерени толщины слоев многослойных крупногабаритных изделий с числом слоев более двух, заключающийс в том, что при изготовлении издели между его сло ми размедают линейные проводники так, что они наход тс в одной плоскости, и располагают накладной индуктивиьй преобразователь на одной из поверхностей издели , отличающийс тем, что, с целью повышени достоверности контрол , линейные проводники размещают также и на обеих поверхност х издели , из группы четырех линейных проводников образуют пару электрических контуров, не имеющих общих ветвей, по каждому из контуров пары пропускают синфазный переменный ток таким образом, что магнитные пол , созданные каждым конту-ром в накладном преобразователе, направлены встречно, в одном из контуров пары измен ют амплитуду тока до момента,- когда сигнал преобразовател равен нулю, и в этом положении измер ют и фиксируют отношение Р токов первой пары контуров, образуют другую пару контуров из той же группы четырех линейных проводников и аналогично измер ют и фиксируют отношение Р. токов второй пары контуров, по полученным отношени м определ ют тол1щину слоев между линейньми проводни58 нами, которые использовались дл образовани первых двух пар контуров, затем последовательно используют все линейные проводники группами по четы ..r. 1;ивидмики группами по четыре проводника и определ ют толщину всех слоев издели . 9279 Источники информации, прин тые во внимание при экспертизе 1. Авторское свидетельство СССР s № 619783, кл. G 01 В 7/06. 1977 (поототип ).The invention relates to non-destructive testing and can be used to measure the thickness of layers of multi-layer products. A known method for measuring the thickness of layers of multi-layer large-sized products consists in placing linear conductors between its layers so that they are in the same plane and position an inductive transducer on one of the surfaces of the product, according to the magnitude of the signal from this transducer. t about. The measured thicknesses of the layers L J The disadvantage of this method is that the result of the measurement is influenced by the field of the return (O.) wire. The purpose of the invention is to increase the reliability of control. This is achieved by the fact that the linear conductors are also placed on both surfaces of the product, from the group of four linear conductors form na-i py electric circuits that do not have common branches, and to each of the circuits the pair pass an in-phase alternating current in such a way that magnetic fields , created by each contour in the surface transducer, are directed oppositely, in one of the contours of the pair, the current amplitude is changed until the signal when the transducer is zero, and the ratio of the current to the current is measured and fixed at this position. The second pair of circuits form another pair, the circuits from the same group of four linear conductors and similarly measure and record the ratio 2. of the currents of the second pair of circuits, using the obtained ratios determine the thickness of the layers between the linear conductors that were used to form the first two pairs of circuits, then all linear conductors are sequentially used in groups of four conductors and determine the thickness of all layers of the product. FIG. 1-3, a three-layer object is shown with three different combinations of contours. The object consists of three layers 1, 2 and 3, the thickness of which is equal to T, T and Ta, respectively. Linear conductors 4, 5, 6 and 7 are located between the layers and on the outer surfaces of the object. On the object surface of the control from the side of the conductor 7 superimposed inductive transducer 8 is superimposed. These conductors can form in pairs three different combinations of two contours that do not have common branches shown in FIG. 1.2 and 3. For the creation of currents, sources of 9-14 sinusoidal emf are included in each of the two circuits. In this case, the amplitude of the emf can vary. To enable compensation of the fields created by the two circuits, in the volume of the converter, common-mode currents are created using EMF sources and their directions are chosen as indicated in the configurations. Measurements of the thickness of the layers of a three-layer control object according to the proposed method are carried out as follows. Form a pair of contour change the emf of one of the sources from zero to the moment when the signal of the converter becomes zero, and in this position the ratio of currents is measured. Then, an elastic combination to the rounds is formed, and the ratio of the currents V- is measured in a similar way. The thicknesses of layers 2 and 3 are determined using expressions; (i), PjCUP) P5 (p 4 | Gp. P, 2 p ,, ei4p2.) In order to measure the thickness of each layer of the layer product, the conductors from the outermost converter are numbered sequentially, then four The wires of the 1st, 2nd, 3rd, pth, and described above method determine the values of the thick Q. Then four wires of the 3rd, 4th, 5th and pth n are chosen, the control object is supposed to contain (p-2) layer, starting from the 3rd, the thicknesses of Tz-Bs- are determined in the same way. 4 T, bt, Proceedings in the same way, determine the values of TOL, T, T successively. The method is characterized by the absence of the influence of the return wire, which allows expanding the area of its application. The invention of the method for measuring the thickness of layers of multilayer large-sized products with more than two layers, consists in the fact that in the manufacture of a product, linear conductors are stretched between its layers so that they are in the same plane, and an inductance transducer is placed on one of the surfaces of the product characterized in that, in order to increase the reliability of the control, the linear conductors are also placed on both surfaces of the product, from a group of four linear conductors, they form an electric pair For each of the circuits of the pair, common alternating current is passed in such a way that the magnetic fields created by each contour in the surface transducer are directed oppositely, in one of the circuits the pair change the current amplitude until the moment when The converter signal is zero, and in this position the ratio P of the currents of the first pair of circuits is measured and fixed, another pair of circuits from the same group of four linear conductors is formed and the ratio of the currents of the second is measured and fixed similarly. pairs of circuits, using the obtained ratios, determine the thickness of the layers between the linear conductors us, which were used to form the first two pairs of circuits, then all linear conductors are used in groups of four .r. 1; Ividmiki groups of four conductors and determine the thickness of all layers of the product. 9279 Sources of information taken into account during the examination 1. USSR Copyright Certificate s No. 619783, cl. G 01 B 7/06. 1977 (pototip).