SU873103A1 - Способ дефектоскопии однотипных изделий - Google Patents

Description

(54) СПОСОБ ДЕФЕКТОСКОПИИ ОДНОТИПНЫХ ИЗДЕЛИЙ

1

Изобретение относитс  к неразрушающему контролю изделий и может быть использовано дл  дефектоскопии . однотипных изделий с дефектами в виде пустот или инородних включений.

Наиболее близким по технической сущности к данному изобретению  бл етс  известный способ дефектоскопии однотипных изделий, заключающийс  в том, что изделие помещают в ванну с жидкостью, воздействуют на жидкость магнитным полем дл  изменени  ее кажуще.йс  плотности, а издели  с дефектами определ ют по положению их относительно дйа ваниы. Жидкость в данном способе использована электропроводна . Перед воздействием на нее магнитным полем через нее пропускают электрический ток П .

Недостатком известного способа  вл ютс  болыпие затраты энергии и ухудшение свойств жидкости вследствие воздействи  на нее электрического тока.

Цель..изобретени  - снижение энергозатрат .

Поставленна  цель достигаетс  тем, что используют магнитную жидт кость.

Способ дефектоскопии однотипных изделий осуществл етс  следующим образом./

10

В качестве магнитной жидкости используют, напримерJ керосин, в ко тором равномерно размещают мелкоизмельченные частицы магнетита (Ю 10м ). Контролируемые издели  помеt5 щают в ванну с магнитной жидкостью, воздействуют на нее магнитным полем дл  изменени  ее кажущейс  плотности до достижени  безраэ1личного положени  в ней исправных изделий. При этом

К на магнитную жидкость можно воздействовать магнитным полем как до, так и после погружени  в нее контролируемых изделий. Издели  с дефектами определ ют по изиенению положени  :их относительно дна ванны.

Предложенный способ дефектоскопии однотипных изделий увеличивает эффективность контрол  за счет снижени  энергозатрат и может быть реализован просПФШ средствами.

Claims (1)

1. Авторское свидетельство СССР 286318, кл. G 01 N 27/82, 1968 (прототип).