(54) СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ПОВЕРХНОСТНОЙ ПЛОТНОСТИ ЗАРЯДА ПЛЕНОЧНЫХ ЭЛЕКТРЕТОВ Изобретение относитс к измерительной технике. Известен способ измерени поверхносг ной плотности зар да пленочных электретов , включающий помещение электрета между двум электродами, подключение к электро 1ам замкнутого конденсатора, размыкание последнего, отвод одного из электродов от электрета и измерение напр жени на конденсаторе ll. Однако известный способ не обеспечивает высокой точности измерени . Цель изобретени - повышение точнс с ти измерени . Дл этого при измерении поверхностной плотности зар да пленочных электретов способом, включающим помоцение электре та между двум электродами, подключетие к электродам замкнутого конденсатора, размыкание последнего, отвод одного из электродов от электрета и изменение напр жени на конденсаторе, перед подклю чевиЕМ к электродам конденсатора измер ют eviKocTb между электродами с расположенным между ними aneirrpieTOM и определ ют поверхностную плотность вэ зар аа электрета посоотн6шеншо|Си --Xlx. (где . U - вапр жен е на ковдевсаторе; С - емкость конденсатора, U и - толщина и диэлектрическа проницательность электрета . На чертеже щ}иведена структурна :электрическа схема устройства, реализующего способ. Устройство содфжит измерительную чейку 1, включак цую неподв1тжный ал Етрод 2, на котором располагаетс элек трет 3, и подвижный относительно э лек грета 3 электрод 4, нереключатели 5 и 6, изм нтель 7 емкост , конденсатор 8 н волыметр 9. Способ реализуетс следуххцим . Элекорет 3 помешают между электродами 2 4, 1ФН помс ци переключател S измеритель 7 емкости подключают к измерительной чейке I и измер ют ем- ;сосгь Од между электродами 2 и 4 с рас38 положенным между ними электретом 3. Затем переключателем 5 подключают к иэмерительной чейке I замкнутые переклю чателем 6 конденсатор 8 и вольтметр 9, размыкают переключатель 6 и с помощью вольтметра 9 определтот напр жение на конденсаторе 8, аар жешюм тщуцированными зар дами на электродах 2 и 4, Поверхностна плотность бз зар да электре . у и-С-е та определ етс соотношением иа ,- -- L-э -и Способ по сравнению с прототипом поз вол ет йовьгсить точность измерени за счет учета напр жени в воздуш ных зазорах между электретом 3 и электродами 2 и 4. Формула. изобретени Способ измерени поверхностной плотности зар да пленочных электретов, вклю84 чающий операшш помесцение электрета между двум электродами, подключение к электродам замкнутого конденсатора, размьпсаниб последнего, отвод одного из электродов от электрета и кзмер& г напр жени U на. конденсаторе, оичающийс тем, что, с целью повышени точности измерени , перед подключением к электродам конденсатора измер ют емкость Сд между электродами с расположенным между ними электретом и определ ют поверхностную плотность ff зар да электрета по соотношению и-С- с - емкость конденсато ,дс--,:где Э« ра; ti н - толщина и диэлектрическа проницаемость электрета. Источшпш информации, щэин тые во внимание при экспертизэ I. Авторское свидетельство СССР № 498575,,кл. Q )1 R 29/.12, 1972 (прототип).(54) METHOD FOR MEASURING SURFACE DENSITY OF CHARGING FILM ELECTRETS The invention relates to measurement technology. The known method of measuring the surface density of the charge of film electrets includes placing an electret between two electrodes, connecting a closed capacitor to the electrodes, opening the latter, removing one of the electrodes from the electret, and measuring the voltage across capacitor ll. However, the known method does not provide high measurement accuracy. The purpose of the invention is to improve the accuracy of measurement. To do this, when measuring the surface density of a film of electrets by a method that includes electrostimulation between two electrodes, connecting a closed capacitor to the electrodes, opening the latter, removing one of the electrodes from the electret and changing the voltage on the capacitor, before connecting to the capacitor electrodes, measure The eviKocTb between the electrodes with the aneirrpieTOM located between them and the surface density of the charge electrolyte in relation to the intensity of | Cu - Xlx is determined. (where. U is the vacuum pump on the dome; C is the capacitance of the capacitor, U and is the thickness and dielectric insight of the electret. The drawing u} shows the structure: the electrical circuit of the device that implements the method. The device contains measuring cell 1, including the reference al Etrode 2, on which the electrolyte 3 is located, and the electrode moving relative to the electrolyte 3, the electrode 4, non-switches 5 and 6, capacitance measuring 7, capacitor 8 n wave meter 9. The method is realized by following the electrodes 2 4, 1 FN p switch S and A capacitance meter 7 is connected to a measuring cell I and measured by a capacitor Od between electrodes 2 and 4 with electret 3 placed between them. Then switch 5 is connected to measuring cell I by a switch 6 closed by switch 6 and a voltmeter 9, open switch 6 and, using a voltmeter 9, the test voltage on a capacitor 8, aar has been filled with charged charges on electrodes 2 and 4, and the surface density of the charge electr. The i-C-e ta is determined by the ratio ia, - - L-ei. The method compared to the prototype allows you to determine the measurement accuracy by taking into account the voltage in the air gaps between the electret 3 and electrodes 2 and 4. Formula . The method of measuring the surface density of the charge of film electrets, including operatively putting electret between two electrodes, connecting a closed capacitor to the electrodes, expanding the latter, removing one of the electrodes from the electret and kzmer & g voltage u on. capacitor, which is indicated by the fact that, in order to improve the measurement accuracy, before connecting to the capacitor electrodes, the capacitance Cd between the electrodes with an electret located between them is measured and the surface density ff of the electret is determined by the ratio i-C - c - the condensate capacitance, dc -,: where E “ra; ti n is the thickness and dielectric constant of electret. Sources of information that are taken into account during examination I. USSR author's certificate No. 498575,, cl. Q) 1 R 29 / .12, 1972 (prototype).