SU853424A1 - Устройство дл измерени температуры,НАпР жЕННОСТи МАгНиТНОгО пОл и МЕХАНи-чЕСКиХ НАпР жЕНий - Google Patents
Устройство дл измерени температуры,НАпР жЕННОСТи МАгНиТНОгО пОл и МЕХАНи-чЕСКиХ НАпР жЕНий Download PDFInfo
- Publication number
- SU853424A1 SU853424A1 SU782670567A SU2670567A SU853424A1 SU 853424 A1 SU853424 A1 SU 853424A1 SU 782670567 A SU782670567 A SU 782670567A SU 2670567 A SU2670567 A SU 2670567A SU 853424 A1 SU853424 A1 SU 853424A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- magnetic field
- mechanical stresses
- contacts
- region
- intesity
- Prior art date
Links
Landscapes
- Measuring Magnetic Variables (AREA)
Description
4с проводимостью п-типа. Полупроводникова пластина 1 укреплена (пайкой или клеем) на упругом основании
5из немагнитного металла или диэлектрика . Электрическа изол ци областей 2 и 4 пластины 1 от упругого основани , при выполнении его из ме-.. талла, обеспечиваетс р-п-переходом, образованным между област ми 2 и 3 пластины 1. На внешней поверхности области 2, электрически изолированной от области 4 р-п-переходом, крестообразно расположено четыре контакта б , 7, 8 и 9. Участок области 2, ограниченный контактами б, 7, 8 и 9, вл етс областью, чувствительной к магнитному полю, приложенному перпендикул рно поверхности области 2 (контакты 7 и 9 вл ютс потенциальными дл измерени ЭДС Холла, а контакты
6и 8 - токовыми). Участок области 2 ограниченный контактами 6 и 8, одновременно вл етс резистором, чувствительным к механическим напр жени м , приложенным в плоскости упругого основани 5. Участок полупроводниковой пластины 1, заключенный.между контактом 8 области 2 и контактом 10 области 4, вл етс термодиодом, чувствительным к температуре. К контактам 6, 7, 8, 9 и 10 подсоединены электрические выводы 11. Полупроводникова пластина 1 с контактами помещена в корпус 12 из немагнитного материала и загерметизирована в нем изол тором 13 из компаунда. Контактами 6 и 10 чувствительный элемент подключен к источнику тока, а контактами б, 7, 8, 9 и к измерительной схеме. (Источник тока и измерительна схема на фиг. 1 не показаны).
Устройство работает следующим образом .
Ток ат источника тока протекает по двум парсшлельным цеп м: контакт 6, р-п-переход, образованный област ми 2 и 4 пластины 1, контакт 10;.контакт б, область 2 пластины 1, контакт 8, входное сопротивление измерител напр жени , подключенного к контактам 8 и 10, контакт 10. Измерител напр жени входит в состав измерителной схемы. Соотношение между токами в указанных цеп х будет определ тьс соотношением сопротивлени р-п-перехода и входного сопротивлени измерител напр жени . Дл эффективной совместной работы термодиода и измерител напр женности магнитного пол это сортнетиение следует выбирать таким образом, чтобы ток первой цепи, т.е. ток термодиода, был в пределах (10-50)- 10 А. Протекание тока от контакта 6 к контакту 8 через област 2 вйэывает инжекцию носителей тока в эту область, имеющую малую толщину (2-5 мкм) и достаточно хорошо изолированную от области 4 р-п-переходом. Прикладывание магнитного пол Н в
плоскости, перпендикул рной области 2, приводит к по влению напр жени Холла между контактами 7 и 9, пропорционального Н, UT-P (Н), вследствие повышени концентрации, например la/ieKTPOHOB у контакта 7 и дырок - контакта 9. Напр жение U. (1) Регистрируетс измерительной схемой.
Изменение температуры ведет к изменению тока через р-п-переход, образованный област ми 2 и 4 пластины 1, а следовательно, к изменению напр жени между контактами 8 и 10, величина которого пропорциональна температуре Ug.,o( t) .
Механические напр жени , приложенные в плоскости упругого основани 5, воздействуют на всю полупроводниковую пластину 1, в том числе и на ее область 2, сопротивление которой вл етс функциейоэтих механических напр жений. Выбор указанной области в качестве тензорезистора обусловлен ее достаточно высоким сопротивлением в св зи с тем, что она характеризуетс малой толщиной (2-г5 мкм) и наличием тока между контактами б и 8.
При изменении t, Н и г в области размещени первичного преобразовател ,напр жени Ug.(t), (Н) и (Ъ) измен ютс . На кгокдую чувствительную область первичного Преобразовател , т.е. на термодиод, датчик магнитного пол и тензорезистор, одновременно воздействуют t, Н кЪ , чт обуславливает магниторезистивную и тензорезистивную погрешность термодиода , температурную и тензорезистивную погрешности датчика магнитного пол и магниторезистивную и температурную погрешности тензорезистора. Учитыва суммарное воздействие t, Н иЬ на первичный преобразователь, ег градуировку необходимо проводить при поочередном наложении t, Н и , при посто нном значении питак цего тока, использу в процессе градуировки функции: Ue-e(H); U7-9 (Н): U0.,o(H)5 U.g(t); U7-9 (t); U0.o(t); ); и 7.9 (Ъ) И U0-yo (&) , которые хран тс в блоке пам ти, вход щем в состав измерительной , дл взаимной коррекции измер ек&гх напр жений, вычислени , индикации и регистрации измер емых величин.
При выполнении чувствительного элемента из арсенида галли (возможно использование и других полупроводт HHKOKJX материалов) устройство обеспечивает: измерение температуры в интервале /1 57370/К, его чувствительность А. 2 мВ/град При посто нном смещении р-п-перехода в пр мом направле НИИ измерение напр женности магнитного пол в диапазоне (07-5)Т при t&v. пературе (1,)К; измерение механи ческих напр жений при температуре /1,5гЗОО/К, dR ,ii 10 кг см. R
Claims (1)
- Формула изобретенияУстройство для измерения температуры, напряженности магнитного поля и механических напряжений, содержащее первичный преобразователь на основе полупроводникового чувствительного элемента, размещенного на упругом основании, источник тока, измерительную схему, о тл и ч ающе е с я тем, что, с целью локального и одновременного измерения температуры, напряженности магнитного поля и механических напряжений, чувствительный элемент выполнен в виде полупроводниковой пластины с чередующимися по ее толщине областями проводимости р, пи p-типа, причем верхняя область p-типа снабжена четырьмя крестообразно расположенными по краям пластины контактами, соединенными с измерительной схемой, а область пластины η-типа снабжена одним контактом, который совместно с одним из контактов области p-типа соединен с источником тока.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU782670567A SU853424A1 (ru) | 1978-10-04 | 1978-10-04 | Устройство дл измерени температуры,НАпР жЕННОСТи МАгНиТНОгО пОл и МЕХАНи-чЕСКиХ НАпР жЕНий |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU782670567A SU853424A1 (ru) | 1978-10-04 | 1978-10-04 | Устройство дл измерени температуры,НАпР жЕННОСТи МАгНиТНОгО пОл и МЕХАНи-чЕСКиХ НАпР жЕНий |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU853424A1 true SU853424A1 (ru) | 1981-08-07 |
Family
ID=20787898
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU782670567A SU853424A1 (ru) | 1978-10-04 | 1978-10-04 | Устройство дл измерени температуры,НАпР жЕННОСТи МАгНиТНОгО пОл и МЕХАНи-чЕСКиХ НАпР жЕНий |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU853424A1 (ru) |
-
1978
- 1978-10-04 SU SU782670567A patent/SU853424A1/ru active
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR100789119B1 (ko) | 자장 센서 | |
US3440883A (en) | Electronic semiconductor thermometer | |
JPS6355227B2 (ru) | ||
CA1088216A (en) | Ion-controlled diode | |
JPH01251763A (ja) | 縦型ホール素子と集積化磁気センサ | |
US7205622B2 (en) | Vertical hall effect device | |
US3351493A (en) | Diffused radiation tracking transducer having a lateral photo voltage junction | |
JPS6326501A (ja) | 位置センサ・アセンブリとその製造方法 | |
SU853424A1 (ru) | Устройство дл измерени температуры,НАпР жЕННОСТи МАгНиТНОгО пОл и МЕХАНи-чЕСКиХ НАпР жЕНий | |
US4654621A (en) | Semiconductor strain measuring apparatus | |
US4498007A (en) | Method and apparatus for neutron radiation monitoring | |
US2975286A (en) | Radiation detection | |
US4830514A (en) | Temperature measuring arrangement | |
US3577884A (en) | Pressure-measuring device | |
Blanchard et al. | Cylindrical Hall device | |
SU892379A1 (ru) | Устройство дл индукции магнитного пол | |
JPH02116174A (ja) | 半導体圧力センサ | |
Andrä et al. | Current measurements based on thin-film magnetoresistive sensors | |
JP2526689B2 (ja) | 半導体センサおよびその駆動方法 | |
SU966797A1 (ru) | Магниточувствительный прибор | |
SU782640A1 (ru) | Полупроводниковый магниточувствительный прибор | |
JPS6328615Y2 (ru) | ||
JPH04262578A (ja) | 半導体装置 | |
SU565220A1 (ru) | Термочувствительный элемент датчика температуры | |
Howes | Direct Reading Mobility Indicator |