SU847023A1 - Способ определени деформаций напОВЕРХНОСТи издЕли - Google Patents
Способ определени деформаций напОВЕРХНОСТи издЕли Download PDFInfo
- Publication number
- SU847023A1 SU847023A1 SU792835133A SU2835133A SU847023A1 SU 847023 A1 SU847023 A1 SU 847023A1 SU 792835133 A SU792835133 A SU 792835133A SU 2835133 A SU2835133 A SU 2835133A SU 847023 A1 SU847023 A1 SU 847023A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- product
- deformations
- article surface
- light
- locating
- Prior art date
Links
Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Description
1
Изобретение относитс к определени м деформаций твердых тел.
Известен способ определени деформадий на поверхности издели ,заключающийс в том, что на поверхность издели нанос т этешонную светоконтрастную сетку, нагружают изделие, деформированную сетку фотографируют через этёшонную сетку и по муаровой картине полос определ ют деформации 1 .
Недостатком известного способа вл етс низка точность определени деформаций, вызванна низкой разрешающей способностью фоточувствительного материала.
Наиболее близким к изобретению вл етс способ определени деформаций на поверхности издели , заключающийс в том, что на поверхность издели нанос т светоконтрастную сетку , нагружают изделие, деформированную сетку анализируют путем многострочного сканировани , полученный сигнал вместе с параметрами сканировани ввод т в ЭВМ и определ ют де-. формации на поверхности издели 23.
Недостатком этого способа вл етс низка точность определени деформаций , вызванна разрешакщей
способностью светоприемника, по которому производитс многострочное сканирование .
Цель изобретени -.повышение точности определени деформаций на поверхности издели .
Дл этого по поверхности деформированной сетки сканируют сфокусированным лучом света, а отргикенный от
10 поверхности сетки луч регистрируют с помощью сосредоточенного светоприемника .
На чертеже показана блок-схема . устройства дл реализгщии способа.
15
Устр ойство содержит осветитель 1, фокусирующий объектив 2, блок 3 сканировани , изделие 4, светоконтрастную .сетку 5, приемный объектив 6, сосредоточенный светоприемник 7, и ЭВМ 20 8, первый вход которой соединен с выходом блока сканировани 3, а второй вход - с выходом светоприемника 7.
Способ осуществл етс следующим
25 образом.
Луч осветител -1 фокусируетс объективом 2 и отклон етс в двух взаимно перпендикул рных направлени х блоком 3 сканировани по деформированной сетке 5 на поверхности издели 4. Отража сь от поверхности издели 4, луч через объектив б попадает на сосредоточенный светоприёмник 7, Затем сигнал со светоприемника 7 поступает на вход ЭВМ 8. В ЭВМ 8 сигнал обрабатываетс по заданной программе с учетом параметров сканировани и определ етс деформаци .
Таким образом, применение многострочного сканировани светоприемника позвол ет значительно повысить точность измерени деформаций, так как устранены погрешности, вызванные величиной измер емой деформации и размером контролируемой поверхности издели .
Claims (2)
1.Авторское свидетельство СССР 439695, кл. G 01 В 11/16, 1977.
2.Авторское свидетельство СССР В518620, кл. G 01 В 11/16, 1978
(прототип).
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| SU792835133A SU847023A1 (ru) | 1979-10-23 | 1979-10-23 | Способ определени деформаций напОВЕРХНОСТи издЕли |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| SU792835133A SU847023A1 (ru) | 1979-10-23 | 1979-10-23 | Способ определени деформаций напОВЕРХНОСТи издЕли |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| SU847023A1 true SU847023A1 (ru) | 1981-07-15 |
Family
ID=20857272
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| SU792835133A SU847023A1 (ru) | 1979-10-23 | 1979-10-23 | Способ определени деформаций напОВЕРХНОСТи издЕли |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| SU (1) | SU847023A1 (ru) |
-
1979
- 1979-10-23 SU SU792835133A patent/SU847023A1/ru active
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US4147052A (en) | Hardness tester | |
| ES8402931A1 (es) | Aparato para la inspeccion optica de objetos presentes en un campo de observacion. | |
| EP0302512B1 (en) | Simplified calibration for a distance information obtaining device | |
| US4659936A (en) | Line width measuring device and method | |
| US4682041A (en) | Coating quality measuring device and method | |
| GB2196121A (en) | Method and apparatus for visualizing ultrasonic waves in liquid-solid systems | |
| SU847023A1 (ru) | Способ определени деформаций напОВЕРХНОСТи издЕли | |
| US4207002A (en) | Apparatus for detecting an output image of an optical correlation | |
| US3814520A (en) | Method of, and apparatus for gauging, inspecting or measuring physical properties of objects | |
| JPS63163150A (ja) | プリント基板検査装置 | |
| EP0222346B1 (en) | Method of measuring a sound pressure distribution in a solid body due to a ultrasonic probe by using photoelasticity | |
| US7161687B2 (en) | Optical method and device for performing geometrical measurements | |
| US4679932A (en) | Method of and apparatus for measuring moving velocity of linear object moving and vibrating | |
| US4871910A (en) | Method and apparatus for measuring the size of wire rod with laser beam and reference rod | |
| EP0415405B1 (en) | Device for obtaining distance information from an object by instantaneously illuminating the object by a light beam | |
| RU1778512C (ru) | Устройство дл обработки спекл-фотографий | |
| JPH06258040A (ja) | レーザー変位計 | |
| JPH0516080B2 (ru) | ||
| SU1538047A1 (ru) | Способ измерени шероховатости поверхности | |
| JPS5735704A (en) | Surface state measuring method of metallic plate and its device | |
| Chiang et al. | Moire Strain Gauge With High Sensitivity | |
| JPS5861436A (ja) | 投影型ｍｔｆ測定装置の受光素子 | |
| JP3319666B2 (ja) | エッジ検出装置 | |
| RU2052771C1 (ru) | Устройство для контроля изделий | |
| JPS5852512A (ja) | 光学式形状測定装置 |