SU817567A1 - Способ тепловой дефектоскопиииздЕлий - Google Patents

Description

(54) СПСХ:ОБ ТЕПЛОВОЙ ДЕФЕКТОСКОПИИ ИЗДЕЛИЙ регистрацией частоты следовани  им пульсов изменени  температуры термочувствительного элемента, по которой суд т о наличии и величине дефектов. .На чертеже приведена диаграмма изменений во. времени температуры тер мочувствительного элемента. При скачкообразном увеличении тока JY через термочувствительный элемент последний начинает разогреватьс , стрем сь достичь максимальной температуры TO (участок 1), определ емой величиной тока -г Однако при достижении температуры разогрева Т термочувствительного элемента вели чины Т скачкообразно уменьшают ток, протекающий через термочувствительны элемент. При скачкообразном уменьшении тока IY температура нагрева Т термочувствительного элемента начина ет снижатьс , стрем сь достичь своего минимального значени  (участок 2 которое равно температуре поверхности издели  до его нагрева. При дости жений температуры нагрева термочувст вительного элемента значени  Т ск-ачкообразно увеличивают ток 3- через термочувствительный элемент. Пос ле этого цикл разогрева термочувствительного элемента до температуры Т| повтор етс , а при достижении тем пературы термочувствительного элемен та значени  Т снова осуществл етс  Скачкообразное уменьшение тока то Период одного изменени  температуры Т термочувствительного элемен та, а следовательно,и частота f .следовани  импульсов Up с термочувствительного элемента, характеризует с  крутизной кривой переходного процесса (участок 1) изменени  температуры Т термочувствительного элемента между уровн ми Т и Т. Крутизна кривой переходного процесса изменени  температуры термочувствительного элемента определ етс  коэффициентом рассе ни  Н термочувствительного эле мента, однозначно св занного с его тепловой посто нной временив. ГП, где t - теплова  посто нна  времени термочувствительного элемен та,m - масса нагретого тела с - удельна  теплоемкость материала контролируемого издели ; Н - коэффициент рассе ни  термочувствительного элемента. Коэффициент рассе ни  Н зависит от теплопроводности массы тела в месте разогрева. При наличии дефекта (полость, инородное тело и др.) в теле контролируемого издели  мен етс  тепловое сопротивление массы тела, что приводит к изменению значени  коэффициента рассе ни  Н, а следовательно и величины тепловой посто нной времени t Теплова  посто нна  времени о определ ет врем  остывани  tgcj места контакта термочувствительного элемента и контролируемой поверхности при скачусообразно уменьшающемс  токе Ijчер з термочувствительный элемент. Следовательно, при по влении дефекта в теле издели  коэффициент рассе ни  Н изменитс  на дН, что приведет к изменению :Времени остывани  tocr Это, в свою очередь, приведет к изменению крутизны кривой переходного процесса остывани  термочувствительного элемента между уровн ми Т и Т2 его температуры. Как следствие, изменитс  составл юща  времени t периода колебаний, привод  к изменению периода Тц следовани  импульсов (частота следовани ) гГадени  напр жени  U на термочувствительном элементе. Таким образом, при определении наличи  дефектов в теле контролируемого издели  достаточно осуществл ть контроль процесса разогрева только в одной точке поверхности контроли-. руемого издели . Осуществл ть контроль температурного режима на поверхности издели  в близлежащих точках не требуетс , что существенно повышает производительность определени  , дефектов в теле изделий. Это  вл етс  важным при больших парти х контролируемых изделий. В этом случае выходной сигнал при измерени х (падение напр жени  UQ на термочувствительном элементе) носит частный характер . По величине изменени  часто ,ты выходного сигнала можно судить о величине и характере дефекта. Данное обсто тельство упрощает процесс обработки выходных данных при измерени х на ЦВМ. Так, дл  случа  применени  в качестве термочувствительного элемента платиновой пленки толщиной 1 мкм, разогреваемой током ЗОО. Ом) до максимальной температуры Тд 300®С, изменение коэффициента рассе ни  Н на t 10% за счет наличи  внутренних дефектов в теле издели , приводит к изменению начальной частоты f ft 1500 Гц выходного сигнала UQ с термочувствительного элемента на 300 Гц ( 20°С). При этом врем  контрол - наличи  дефектов определ етс  временем периода f импульсов и составл ет 1/1500 с. Предлагаемый способ тепловой дефектоскопии изделий обеспечивает частотный выходной сигнал при измерени х .и повышает производительность при определении внутренних дефектов в теле изделий. Сложность, стоимость аппаратуры, реализующей данный способ , снижаетс  ориентировочнов 23 раза.

Claims (2)

1.Авторское свидетельство СССР 312192, кл. G 01 N 25/72, 1968.

2.Авторское свидетельство СССР по за вке 273972/18-25,

кл. G 01 N 25/72, -1979 (прототип).

Гн .

Л

/

Ч

at пер