SU721757A1 - Method of measuring pulse instantaneous value - Google Patents
Method of measuring pulse instantaneous value Download PDFInfo
- Publication number
- SU721757A1 SU721757A1 SU782569964A SU2569964A SU721757A1 SU 721757 A1 SU721757 A1 SU 721757A1 SU 782569964 A SU782569964 A SU 782569964A SU 2569964 A SU2569964 A SU 2569964A SU 721757 A1 SU721757 A1 SU 721757A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- pulse
- instantaneous value
- gating
- measured
- measuring pulse
- Prior art date
Links
Landscapes
- Manipulation Of Pulses (AREA)
Description
1one
Изобретение относитс к радиоиомерительной технике, в частнсюти к измерению мгновенных значений импульса путем стробировани .The invention relates to radio measurement technology, in particular, to the measurement of instantaneous pulse values by gating.
Известны стробоскопические способы измерени мгновенных значений импульсных сигЕшлов, по которым осуществл етс линейное суммирование измер емого импульса со строб-импульсом пр моугольной формы, имеющим амплитуду и длительность не меньше амплитуды и длительности измер емого импульса, при этом с целью измерени мгновенного значени напр жени сложной формы измер емый сигнал дополнительно стробируют вторым импульсом, который используют дл подавлени дополнительных максимумов преобразованного сигнала 1 .Stroboscopic methods are known for measuring instantaneous values of pulsed signals, which linearly measure the measured pulse with a rectangular gate pulse having an amplitude and duration not less than the amplitude and duration of the measured pulse, with the aim of measuring the instantaneous value of a complex shape voltage The measured signal is additionally gated with a second pulse, which is used to suppress additional maxima of the converted signal 1.
Однако известные способы не обеспечивают высокой точности измерени в точках, в которых скорость изменени мгновенного значени напр жени ве-However, the known methods do not provide high measurement accuracy at the points at which the rate of change of the instantaneous value of the voltage is
лшса( )о1Это обусловлено тем, Otlssa () o1This is due to Ot
что при измерении в таких точках длительность преобразованного импульса, полученного в результате линейного суммировани измер емого импульса со строб-импульсом пр моугольной формы, становитс чрезвычайно малой, а изменение его амплитуды значительно, что затрудн ет точное измерение.that, when measured at such points, the duration of the converted pulse resulting from linear summation of the measured pulse with the rectangular gate pulse becomes extremely small, and its amplitude change significantly, which makes it difficult to measure accurately.
Наиболее близким техническим решением к изобретению вл етс стробоскопический способ измерени мгновенных значений импульсного напр жени путем определени амплитуды преобразованного импульса, полученного в результате линейного суммировани измер емого импульса с коротким строб-импульсом противоположной пол рности 21 .The closest technical solution to the invention is a stroboscopic method of measuring the instantaneous values of the pulse voltage by determining the amplitude of the transformed pulse obtained by linearly summing the measured pulse with a short gate pulse of opposite polarity 21.
Применение данного способа св зано с р дом технических трудностей: формирование коротких (0,1 - 0,5 не) импульсов , обладающих необходимой стабильностью амплитуды и длительности, рг,чплиза .ции смесительных устройств и т.д. Крокю того, данный способ не позвол ет точноThe application of this method is associated with a number of technical difficulties: the formation of short (0.1 - 0.5 non) pulses with the necessary stability of amplitude and duration, ph, replication of mixing devices, etc. Moreover, this method does not allow
Claims (1)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU782569964A SU721757A1 (en) | 1978-01-18 | 1978-01-18 | Method of measuring pulse instantaneous value |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU782569964A SU721757A1 (en) | 1978-01-18 | 1978-01-18 | Method of measuring pulse instantaneous value |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU721757A1 true SU721757A1 (en) | 1980-03-15 |
Family
ID=20744624
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU782569964A SU721757A1 (en) | 1978-01-18 | 1978-01-18 | Method of measuring pulse instantaneous value |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU721757A1 (en) |
-
1978
- 1978-01-18 SU SU782569964A patent/SU721757A1/en active
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
EP0093437A3 (en) | Electronic control device for an electro-optical range finder using a light pulse transit time measuring method | |
SU721757A1 (en) | Method of measuring pulse instantaneous value | |
GB1465750A (en) | Method and apparatus for finding the centre amplitude of each pulse of a train of random amplitude asymmeteric pulses | |
US3970828A (en) | System for precision time measurement | |
JPS51143386A (en) | Magnetic flaw detector with water spray | |
SU391487A1 (en) | ^ AND & LIOTEKA | |
SU1368818A1 (en) | Device for measuring pulse duration | |
GB1273479A (en) | Method and device for determining tolerance values in cam profiles | |
JPS5583803A (en) | Dimension measuring unit | |
SU401753A1 (en) | DEVICE FOR AUTOMATIC CONTROL OF COATING THICKNESS IN THE METAL ELECTRIC PROCESS | |
SU815686A1 (en) | Device for measuring azimuth non-uniformity of sinusoidal magnetic fields | |
SU934495A1 (en) | Differentiating device | |
JPS5444818A (en) | Measuring instrument for pickup dimensions | |
JPS6466501A (en) | Thickness measurement of insb single crystal wafer for compound substrate | |
SU585499A1 (en) | Device for measuring integral non-linearity | |
SU980019A1 (en) | Method of discrete measuring of electric pulse duration | |
SU725016A1 (en) | Method of determining coordinates of acoustic emission discrete signal source | |
CALDWELL | Beam divergence: The measurement of nanosecond laser pulses(Laser beam divergence and measurement of nanosecond laser pulses)[M. S. Thesis.] | |
SU970307A1 (en) | Repeated time interval meter | |
SU464860A1 (en) | Device for measuring azimuthal inhomogeneity of sinusoidal magnetic fields | |
SU661457A1 (en) | Device for ranging electric discharge source | |
SU993141A1 (en) | Method of measuring instantaneous value of a pulse at the preset moment of leading edge thereof | |
SU471537A1 (en) | The method of measuring the velocity of the current on the ship | |
SU530266A1 (en) | Measuring the phase inhomogeneity of the magnetic field | |
SU629512A1 (en) | Method of evaluating the accuracy of digital measuring two-phase generators |