SU696281A1 - Instrument for measuring the phase and deformation of plates - Google Patents

Instrument for measuring the phase and deformation of plates

Info

Publication number
SU696281A1
SU696281A1 SU772514873A SU2514873A SU696281A1 SU 696281 A1 SU696281 A1 SU 696281A1 SU 772514873 A SU772514873 A SU 772514873A SU 2514873 A SU2514873 A SU 2514873A SU 696281 A1 SU696281 A1 SU 696281A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
measuring
plates
deformation
instrument
phase
Prior art date
Application number
SU772514873A
Other languages
Russian (ru)
Inventor
Юрий Константинович Щербаков
Original Assignee
Московское Ордена Ленина И Ордена Трудового Красного Знамени Высшее Техническое Училище Им. Н.Э.Баумана
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Московское Ордена Ленина И Ордена Трудового Красного Знамени Высшее Техническое Училище Им. Н.Э.Баумана filed Critical Московское Ордена Ленина И Ордена Трудового Красного Знамени Высшее Техническое Училище Им. Н.Э.Баумана
Priority to SU772514873A priority Critical patent/SU696281A1/en
Application granted granted Critical
Publication of SU696281A1 publication Critical patent/SU696281A1/en

Links

Description

II

Изобретение относитс  к устройствам дл  измерени  формы и деформани; пластин оптическими методами.The invention relates to a device for measuring shape and deformation; plates by optical methods.

Известно устройство дл  измерени  деформаций , содсржаи1ее растр, нанесенный на повер.хность детали, и фотоанна)ат J | .A device for measuring deformations, a raster deposited on the surface of the part, and a photoan) at J | .

Однако JTO устройство не позвол ет определ ть форму и деформации пластин, перпендикул рные к пх поверхност м.However, the JTO device does not allow to determine the shape and deformations of the plates, perpendicular to the nx surfaces.

Наиболее близким к изобретению те.хннчески .м реп1ением  вл етс  устройство дл  измерени  формы и деформаций пластин, содержащее расположенпые последовательно вдоль оптической оси фотоаппарат, экран с нанесенным на него растром, имеющий центральное отверстие, и измерительное зеркало 2.The closest to the invention, technically, is a device for measuring the shape and deformations of the plates, containing a camera arranged sequentially along the optical axis, a screen with a raster coated on it, having a central hole, and a measuring mirror 2.

Недостатком этого устройства  вл етс  то, что оно не позвол ет измер ть быстро измен ющиес  во времени, форму и деформации пластин из-за необходи.мости двойного фотографировани .A disadvantage of this device is that it does not allow for measuring rapidly varying in time, shape and deformation of the plates due to the need for double photographing.

Целью изобретени   вл етс  повышение производительпости и. точности измерений.The aim of the invention is to increase the productivity and. measurement accuracy.

Поставленна  цель достигаетс  тем, что устройство снабжено плоским полупрозрачным зеркалом, расположенным нернс-нликул рно оптической оси между экраном и нз .меритель П11м зеркалом, вблизи новорм ости последнего.This goal is achieved by the fact that the device is equipped with a flat translucent mirror, located on the optical axis of the optical axis between the screen and the naz meter P11m mirror, near the norm of the latter.

На чертеже показана оптическа  схема устройства.The drawing shows the optical layout of the device.

Устройство содержит экран I с нанесенным на iiero растром, фотоаппарат 2. размещенный за отверстием в центре экрана, узел 3 нагруженп  исследуемой пластины 4, закренленное на поверхности исследуемо пластины.The device contains a screen I with a raster deposited on the iiero, a camera 2. placed behind a hole in the center of the screen, the node 3 is loaded with the test plate 4, fixed on the surface of the test plate.

Устройство работает следуюии1М эбразом.The device works by following 1 Abraz.

Растр с экрана 1 ири его отражении от поверхности измерптельного зерка,1а 6 фиксируетс  фотоаппаратом 2. С)дповреме1 но изображение опорного растра, отраженное от педеформируемого полунрозрачного зеркала 5, также попадает в обт ектив фотоаипарата . При этом на фотопластинке образуетс  картина муаровых полос, по которым определ ют форму и деформации пластиньННаличие полупрозрачного зеркала над поверхностью пластины позво,1 ет измер ть форму и деформации пластин при быстромA raster from the screen 1 or its reflection from the surface of the measuring mirror, 1a 6, is fixed by the camera 2. C) secondly, the image of the reference raster reflected from the semi-transparent mirror 5 that is also deformed also falls into the lens of the photo image. In this case, a picture of moire strips is formed on the photographic plate, which determine the shape and deformations of the plates. The presence of a semitransparent mirror above the surface of the plate allows one to measure the shape and deformation of the plates during fast

изменении их формы и деформаций,   также повысить точность измерений.changing their shape and deformation, also improve the accuracy of measurements.

Claims (2)

1.Сухарев И. П. и Ущаков Б. Н. Исследование деформаций и напр жений методом муаровых полос. М., «Машиностроение 1969, с. 23.1.Suharev I.P. and Uschakov B.N. Investigation of deformations and stresses by the method of moire stripes. M., “Engineering 1969, p. 23. 2.Там же, с. 60-69 (прототип).2. In the same place 60-69 (prototype).
SU772514873A 1977-08-05 1977-08-05 Instrument for measuring the phase and deformation of plates SU696281A1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU772514873A SU696281A1 (en) 1977-08-05 1977-08-05 Instrument for measuring the phase and deformation of plates

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU772514873A SU696281A1 (en) 1977-08-05 1977-08-05 Instrument for measuring the phase and deformation of plates

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU696281A1 true SU696281A1 (en) 1979-11-05

Family

ID=20721012

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU772514873A SU696281A1 (en) 1977-08-05 1977-08-05 Instrument for measuring the phase and deformation of plates

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU696281A1 (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5471307A (en) * 1992-09-21 1995-11-28 Phase Shift Technology, Inc. Sheet flatness measurement system and method

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5471307A (en) * 1992-09-21 1995-11-28 Phase Shift Technology, Inc. Sheet flatness measurement system and method

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5155363A (en) Method for direct phase measurement of radiation, particularly light radiation, and apparatus for performing the method
US4147052A (en) Hardness tester
US3922093A (en) Device for measuring the roughness of a surface
US4703434A (en) Apparatus for measuring overlay error
JPH04220510A (en) Method and apparatus for measuring surface of substance in non-contact mode
JPH0712535A (en) Interferometer
SU696281A1 (en) Instrument for measuring the phase and deformation of plates
US5075560A (en) Moire distance measurements using a grating printed on or attached to a surface
US2703033A (en) Optical arrangement for analysis of refractive index
EP0343158B1 (en) Range finding by diffraction
US4141038A (en) Apparatus and method for quantifying irregularities in interference patterns
RU2036491C1 (en) Method of testing objective
Su et al. A simple method of producing accurately symmetrical scatter-plates
SU515937A1 (en) Interference method for measuring the wedge shape of optical transparent plates
US4319815A (en) Prism view finder for reflex cameras with built-in exposure meter
RU2042920C1 (en) Device for determination of profile of object surface
JPH04186553A (en) Measuring apparatus according to moire interference system
JPH0157285B2 (en)
SU389397A1 (en) MULTIBREAD WEDGE INTERFEROMETER
SU567945A1 (en) Apparatus for measuring deformation of thin-wall cylindrical casings
SU1040332A1 (en) Method of determination of object small displacements
JPS5940105A (en) Pattern measuring device
SU469943A1 (en) Device for quality control and alignment of telescopes
JPH0312684B2 (en)
JPS5451863A (en) Surface roughness measuring apparatus