SU684409A1 - Способ определени критического угла полного внутреннего отражени света - Google Patents

Способ определени критического угла полного внутреннего отражени света

Info

Publication number
SU684409A1
SU684409A1 SU762355825A SU2355825A SU684409A1 SU 684409 A1 SU684409 A1 SU 684409A1 SU 762355825 A SU762355825 A SU 762355825A SU 2355825 A SU2355825 A SU 2355825A SU 684409 A1 SU684409 A1 SU 684409A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
light
angle
critical angle
polarization
frequency
Prior art date
Application number
SU762355825A
Other languages
English (en)
Inventor
Анатолий Иванович Пеньковский
Бронислав Омарович Исхаков
Владимир Николаевич Жданов
Original Assignee
Предприятие П/Я А-7526
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Предприятие П/Я А-7526 filed Critical Предприятие П/Я А-7526
Priority to SU762355825A priority Critical patent/SU684409A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU684409A1 publication Critical patent/SU684409A1/ru

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/41Refractivity; Phase-affecting properties, e.g. optical path length
    • G01N21/43Refractivity; Phase-affecting properties, e.g. optical path length by measuring critical angle

Description

1
Изобретение относитс  к измерительной технике и может быть использовано да  определени  критического угла.ПОЛНОГО внутреннего отражени  при автоматизации процессов измерени  ИЛИ контрол  степени изменени  коэффициента преломлени  сред.
Известны способы измерени  критического угла ПОЛНОГО внутреннего отражени  света путем измерени  скака интенсивности отраженного пучка света при разных углах падени  света на границу эталонной и исследуемой сред. При этом используют метод непосредственного изменени  угла падени  света 11 .
Основным недостатком способа измрени  интенсивности отраженного пучка  вл етс  низка  точность из-за существенного вли ни  нестабильности источников света и вс кого рода с.мещений энергетических центров в анализируемых пучках света.
Наиболее близким по технической сущности к данному изобретению  вл етс  способ определени  критического ПОЛНОГО внутреннего отражени  света, осуществл емый посредством модул ции азимута линейно пол ризованного падающего на границу раздела сред света, изменени  угла падени  и анализа отраженного света 2.
Данный способ имеет существенные недостатки, заключающиес  в том, что при внутреннем отражении поворот ПЛОСКОСТИ пол ризации отраженного света происходит при углах пад дени , меньших критического. За критическим углом поворота ппоскости пол ризации нет, а наблюдаетс  изменение другого параметра разности фаз между p-uS- составл ющими пол ризованного света. Поэтому при углах
5 падени , больщих критического, задача определени  критического угла становитс  затруднительной, поскольку нет информации о Tpe6yeN5CW направлении объективного изменени  угла па0 дени . В результате снижаетс  точность определени  критического угла в его окрестности, а резкие изменени  коэффициента преломлени  исследуемой среды ИЛИ угла падени  станов тс 
5 недопустимыми.
Целью изобретени   вл етс  повышение точности измерений.
Дл  этого в известном способе одновременно с изменением угла падени  линейно-пол ризованного с гюсTOHHHbJM азимутом пол ризации пучка света непрерывно модулируют на одной частоте, но в противофазе, параметр направлени  пол ризации и параметр разности фаз отраженного пучка света, а изменение угла падени  света производ т до положени , при котором в спектре электрического сигнала отсутствует перва  гармоника частоты модул ции параметров пол ризации света. На фиг.1 приведена структурна  схема одного из вариантов устройства , позвол ющего осуществить предложенный способ, например, с помощью магнитооптических модул торов состо ни  пол ризации света; на фиг.2 зависимости переменных составл ющих тока фотоприемника, пропорционально го интенсивности света, от изменени ориентации осей эллипса пол ризации на фиг.З - зависимость переменных составл ющих тока фотоприемника от изменени  эллиптичности отраженного пол ризованного пучка света. Способ реализуют следующим образом . Световой поток от источника свет Iпопадает на формирователь 2, в виде параллельного пучка света про ходит через пол ризатор 3 и под уг лом cL направл етс  на границу разд ла двух сред рефрактометрического блока, который выполнен, например, в виде стекл нной полусферы 4 с плоско-вогнутыми линзами 5 и кюветы с жидкостью б. Отраженный от границ сред 4 и б световой поток проходит первый магнито-оптический модул тор 7 состо ни  пол ризации, возбуждаемый переменным электрическим током частоты ( , четвертьволновую пласти ку 8, одна из главных осей которой посто нно совпадает с плоскостью пропускани  пол ризатора 3, второй магнито-оптический модул тор 9, воз буждаемый переменным электрическим током частоты А, анализатор 10, плоскость пропускани  которого посто нно составл ет пр мой угол с плоскостью пропускани  пол ризатора 3, и воспринимаетс  фотоприемником Если угол падени  света меньше критического (об ot кр ) то в результате эффектов поворота плоскости пол ризации при отражении и, небольших вынужденных колебаний параметра ориентации осей эллипса пол ризации (в данном случае плоскости линейной пол ризации) модул тором 7 переменна  составл юща  сигнала фотоприемника 11 по частоте и по форме будет такой же, как частота и форма возбуждени  модул тора 7 (см.точку а на фиг.2). в спектре сигнала фотоприемника 11 пропадает перва  гармоника частоты возбуждени  модул тора (см.точку 6, фиг.2). Если угол падени  света л (/icp, то в результате изменени  разности фаз между p-U5 - составл ющими при отражении и небольших вынужденных колебаний параметра разности фаз с помощью пластинки 8 и модул тора 9 переменна  составл юща  сигнала фотоприемника 11 по частоте и по форме будет такой же, как частота и форма возбуждени  модул тора 9 (см.точкуа на фиг.З). ИриаСоСср в спектре сигнала фотоприемника 11 пропадает перва  гармоника частоты возбуждени  модул тора 9 (см.точку в фиг.З). Таким образом, при углах падени  « cLf:p в спектре сигнала фотоприемника 11 присутствуют переменные составл ющие первых гармоник либо частоты возбуждени  модул тора 7, либо частоты возбуждени  модул тора 9 и только при di d ff переменные составл ющие первых гармоник частот возбуждени  модул торов 7 и 9 исчезают. Поэтому дл  определени  dLff. измен ют угол падени  пучка света di с помощью реверсивного двигател  12 до положени , при котором в спектре сигнала фотоприемника 11 исчезнут первые гармоники частот модул ции параметров пол ризации света. Наиболее просто критический угол определ ют, если в процессе определени  критического угла модул торы 7и 9 возбуждают токами одной частоты , но таким образом,чтобы модул ци  параметров пол ризации (ориентации осей и разности фаз Г ) происходила в противофазе (см.фиг.З). 8этом случае информаци  о величине и направлении отклонени  угла падени  от критического заключена в величине и фазе первой гармоники переменной составл ющей частоты возбуждени  модул торов 7 и 9. Дл  автоматического поиска критического угла реверсивный двигатель 12 подсоедин етс  к усилителю мощности 13, на вход которого подаетс  переменна  составл юща  сигнала фотоприемника 11 . Способ позвол ет автоматизировать процесс точного определени  критического угла при полном внутреннем отражении. формула изобретени  Способ определени  критического угла полного внутреннего отражени  света, осуществл емый посредством модул ции азимута линейно пол ризованного падающего на границу раздела сред света, изменени  угла падени  и анализа отраженного света, отличающийс  тем, что, с целью повышени  точности, одновременно с изменени ми угла падени 
линейно-пол ризованного с посто нным азимутом пол ризации пучка света непрерывно молулируют на одной частоте, но в противофаэе, параметр направлени  пол ризации и параметр разности фаз отраженного пучка света а изменение угла падени  света производ т до положени , при котором в спектре электрического сигна4409А
ла отсутствует перва  гармоника часто ты модул ции параметров пол ризации света.
Источники информации, прин тые во внимание при экспертизе 1. Авторское свидетельство СССР 5 385207, кл.С 01 N 21/46, 1972.
2, Авторское свидетельство СССР 498535, кл.С 01 N 21/46, 1975.
f
fUi. i
Иг
SU762355825A 1976-05-06 1976-05-06 Способ определени критического угла полного внутреннего отражени света SU684409A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU762355825A SU684409A1 (ru) 1976-05-06 1976-05-06 Способ определени критического угла полного внутреннего отражени света

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU762355825A SU684409A1 (ru) 1976-05-06 1976-05-06 Способ определени критического угла полного внутреннего отражени света

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU684409A1 true SU684409A1 (ru) 1979-09-08

Family

ID=20659807

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU762355825A SU684409A1 (ru) 1976-05-06 1976-05-06 Способ определени критического угла полного внутреннего отражени света

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU684409A1 (ru)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN101371129B (zh) 表面等离子体共振传感器以及利用其检测样品的方法
US4112367A (en) Magnetomer using a thin magnetic film optical waveguide with a.c. modulation and automatic nulling
US5319194A (en) Apparatus for measuring birefringence without employing rotating mechanism
US4456339A (en) Laser heterodyne surface profiler
JP3513247B2 (ja) 周波数シフター及びそれを用いた光学式変位計測装置
CN103471527B (zh) 一种激光外腔回馈小角度滚转角测量系统
CN201149541Y (zh) 一种光学相位延迟精密测量系统
US5351124A (en) Birefringent component axis alignment detector
SU684409A1 (ru) Способ определени критического угла полного внутреннего отражени света
CN105300891A (zh) 基于重心算法的激光调频双光路旋光仪及测量方法
CN106546165B (zh) 激光回馈干涉仪
CN205192936U (zh) 双光路旋光仪
TWI405959B (zh) 利用穿透式外差干涉術量測異方性物質之物理參數的裝置及方法
JPH0612333B2 (ja) 自動複屈折測定装置
CN108693247B (zh) 基于双测量光束的激光声表面波探测系统及其使用方法
JP2004279380A (ja) 旋光度測定装置
SU104005A1 (ru) Способ определени толщины и показател ; преломлени тонких пленок
SU1155921A1 (ru) Рефрактометр пол ризационный
CN110749551B (zh) 一种基于偏振分析的煤矿光纤电流传感器
RU2036447C1 (ru) Способ измерения давления
SU1081434A1 (ru) Способ измерени степени пол ризации
RU2060475C1 (ru) Способ измерения амплитуд гармонических колебаний
SU1179103A1 (ru) Интерферометр дл измерени рассто ний
SU1432334A1 (ru) Устройство дл определени поперечных смещений
RU1793205C (ru) Устройство дл определени поперечных смещений объекта