SU1081434A1 - Способ измерени степени пол ризации - Google Patents

Способ измерени степени пол ризации Download PDF

Info

Publication number
SU1081434A1
SU1081434A1 SU823379902A SU3379902A SU1081434A1 SU 1081434 A1 SU1081434 A1 SU 1081434A1 SU 823379902 A SU823379902 A SU 823379902A SU 3379902 A SU3379902 A SU 3379902A SU 1081434 A1 SU1081434 A1 SU 1081434A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
modulation
sample
photocurrent
harmonic
azimuth
Prior art date
Application number
SU823379902A
Other languages
English (en)
Inventor
Сергей Семенович Остапенко
Макарий Анатольевич Танатар
Original Assignee
Институт Полупроводников Ан Усср
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Институт Полупроводников Ан Усср filed Critical Институт Полупроводников Ан Усср
Priority to SU823379902A priority Critical patent/SU1081434A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU1081434A1 publication Critical patent/SU1081434A1/ru

Links

Abstract

СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ СТЕПЕНИ ПОЛЯРИЗАЦИИ, при осуществлении которого формируют первый световой монохроматический пучок в оптическом диапазоне спектра, осуществл ют модул цию азимута его плоскости пол ризации на звуковой частоте при ориентации среднего положени  плоскости пол ризации модул ции под углом 45° к оси наибольшего фотоотклика образца и азимута колебаний от О до 45, направл ют его на исследуемый образец и измер ют амплитуду первой гармоники фототока, отличающийс  тем, что, с целью повышени  точности и надежности измерений , формируют второй световой монохроматический пучок в том же диапазоне спектра, и на той же длине волны что и первый, модулируют его с той же частотой, что и первый, направл ют его на образец, измен ют коэффициент модул ции интенсивности второго светового Пучка до получени  нулевого значени  первой гармоники фототока и определ ют значение коэффициента модул ции. 2.Способ по п. 1, о т л и ч аю щ и и с   тем, что первый светов й пучок до модул ции линейно пол ризуют , измен ют азимут линейной пол ризации относительно среднего положени  плоскости пол ризации модул ции до обращени  в нуль ампли (Л туды первой гармоники фототока на образце и определ ют коэффициент модул ции путем регистрации азимута. 3.Способ по п. 1, .о т л и ч аю щ и и с   тем, что, с целью исследовани  прозрачных образцов, измер ют амплитуду первой гармоники фототока в цепи ФЭУ, расположенэо ного за образцом. 4: :о 4 9 /О

Description

Изобретение относитс  к области измерени  оптических спектров и их параметров и может быть использова но в лабораторных исследовани х и электронной технике. Известен способ измерени  степе ни пол ризации, который включает следующие операции: вргицение анали затора, через который проходит пучок частично пол ризованного света направдчние модулированного пучка на $OTOfl;eTQKTopf которйй вцрабатыва ,ет элек1;рич с1 ий сигнал Фотоотклика; направление двух электричес ких сигналов на процессоры, выдел  ющие разность 1.-1. и сумму подачу электрических сигнйлов на интеграторы, после которых получают величину степени пол ризации р ()7(1,,+12) Си. Однако способ не позвол ет с достаточной точность определить зн чение степени пол ризации, посколь ку требует раздельного измерени  в личин и 2 и последующего их делени . Этот способ может быть реализован с помощью устройства, содержащего вращающийс  пол ризатор, два микропроцессора и интегратор. Недостатком данного устройства  вл етс  сложность конструкции, св занна  с использованием в качестве процессоров и интегратора сложных электронных схем, что снижает надеж ность измерений. Наиболее близким к и:зобретению техническим решением  вл етс  способ измерени  степени пол ризации, при осуществлении которого формиру ют первый световой монохроматический пучок в оптическом диапазоне спектра, осуществл ют модул цию аз мута его плоскости пол ризации на звуковой частоте при операции среднего положени  плоскости пол ризации модул ции под углом 45 к оси наибольшего фотоотклика образца и азимута колебаний от О до 45, направл ют его на исследуемый образец и измер ют амплитуду первой гармоники фототока 2. Недостатками известного устройст ва  вл ютс  невысокие точность и надежность, измерений. Целью и:эобретени   вл етс  повышение точности и надежности измерений . Поставленна  цель достигаетс  те что согласно спосГобу измерени  степени пол ризации,- при осуществлении которого формируют первый световой монохроматический пучок в оптическом диапазоне спект а, осуществл ют модул цию азимута его плоскости пол ризации на звуковой частоте при ориентации среднего положени  плоскости пол ризации модул ции под углом 45 к оси наибольшего фотоотклика образца и азимута колебаний от О до 45°, направл ют его на исследуемый образец и измер ют амплитуду первой гармоники фототока, формируют второй световой монохроматический пучок в том же диапазоне спектра и на той же длине волны, что и первый, модулируют его с той же частотой , что и первый, направл ют его на образец, измен ют коэффициент модул щ1и ин,тенсивности второго световогопучка до получени  нулевого значени  первой гармоники фототока и определ ют значение коэффициента модул ции, причем первый световой пучок до модул ции линейно пол ризуют , измен ют азимут линейной пол ризации относительно среднего положени  плоскости пол ризации модул ции до обращени  в нуль перэой гармоники фототока на образце и определ ют коэффициент модул ции путем регистрации азимута. С целью исследовани  прозрачных образцов измер ют амплитуду первой гармоники фототока в цепи ФЭУ, расположенного за образцомi Устройство дл  реализации способа содержит, лампу 1, накаливани  (источник излучени ) , котора  создает в монохроматоре 2 пучок мо-; нохроматического света в диапазоне 9,,4-2,5 мкм. Световой поток проходит через бипризму 3 и раздел етс  на два пучка. Пучок проходит через депол ризатор - ромб Френел  4 дл  удалени  частичной пол ризации и пол ризационный модул тор 5. Последний представл ет собой две пол роидные пленки, расположенные р дом в плоскости, перпендикул рной к пучку. При вращении двигател  СД-54 с частотой 1200 об/мин рамка приводитс  в возвратно-поступательное движение. В результате осуществл етс  пр моугольна  модул ци  плоскости пол ризации первого пучка на угол 45. Попада  на образец, этот свет возбуждает фототок, перва  гармоника которого при ориентации образца 45 по отношению к среднему положению модул тора имеет вид где о величина фототока на длине волны А; Р - степень пол ризации; ft - частота модул ции. Второй пучок проходит через плocкопараллельную пластинку 6, котора  может смещать пучок и амплитудный модул тор 7, синхронизированный по частоте и фазе с пол ризованным модул тором , В качестве такого модул тора может использоватьс  вращающийс  диск с прорез ми, насаженный на вал того же двигател  СД-54. Пла тинка б с помощью микрометрического винта перемещает в гТространстве вто рой пучок f тем сам1лм измен етс  глу бина модул ции Is этого пучка. Попа да  на образец, свет второго пучка возбуждает фототок, амплитуда перво гармоники которого определ етс  выражением . lU-k, SinSJi. - -I ID Свет обоих пучков фокусируетс  с помощью линзы 8 на исследуемом образце 9; Дл  измерени  первой гар моники фототока может использоватьс  схема 10 синхронного детектировани . Величина степени пол ризации фртотока Р (г„-i)/(ir,-«-i), где i,, i - величины фототока при возбуждении cвeтo 4, пол ризован.ным параллельно и перпендикул рно вьщеленной оси кристалла, измен етс  по значе нию коэфф1щиента V ko,. при котором амплитуда первой гармоники фототока равна нулю. Дл  модул ции используемого типа выражение, которое св величины Р зывает вид р. Jia: Выражение используетс  дл  слу;ча  Р 0. Если Р О, то в пол ризационном модул торе измен етс  фаза кблебаний относительно амплитудного модул тора. Значени  коэффициента i колибруетс  по фотоэлектрическому приемнику., тем самым этот коэффициент измер етс  в углах поворота .пластины 6 или миллиметрах линейного смещени  светового пучка в плоскос .ти прерывател . Дл  измерени:  степени пол риза1 ии коэффициента поглощени  при малых его значени х используетс  та же схема., но после образца располагаетс  ФЭУ и измер етс  перва  гармоника фототока в цепи ФЭУ. Предлагаемый способ измерени  стенки пол ризации позвол ет повысить точность измерени  степени пол ризации до 0,1° за счет использовани  пол ризационной модул ции. При этом получаетс  нова  информаци  об исследуемых объектах, например , о мультипольности оптических переходов в спектрах люминесценции.

Claims (3)

  1. СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ СТЕПЕНИ ПОЛЯРИЗАЦИИ, при осуществлении которого формируют первый световой монохроматический пучок в оптическом диапазоне спектра, осуществляют модуляцию азимута его плоскости поляризации на звуковой частоте при ориентации среднего положения плоскости поляризации модуляции под углом 45° к оси наибольшего фотоотклика образца и азимута колебаний от 0 до 45°, направляют его на исследуемый образец и измеряют амплитуду первой гармоники фототока, отличающийся тем, что, с целью повышения точности й надежности из мерений, формируют второй световой монохроматический пучок в том же диапазоне спектра, и на той же длине волны что и первый, модулируют его с той же частотой, что и первый, направляют его на образец, изменяют коэффициент модуляции интенсивности второго светового йучка до получения нулевого значения первой гармоники фототока и определяют значение коэффициента модуляции.
  2. 2. Способ по π. 1, о τ' л и чающий с я тем, что первый световой пучок до модуляции линейно поляризуют, изменяют азимут линейной поляризации относительно среднего с положения плоскости поляризации мо- <g дуляции до обращения в нуль амплитуды первой гармоники фототока на образце и определяют коэффициент модуляции путем регистрации азимута.
  3. 3. Способ по π. 1, о т л и ч аю щ и й с я тем, что, с целью исследования прозрачных образцов, измеряют амплитуду первой гармоники фототока в цепи ФЭУ, расположенного за образцом.
    SU .,.108143
SU823379902A 1982-01-07 1982-01-07 Способ измерени степени пол ризации SU1081434A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU823379902A SU1081434A1 (ru) 1982-01-07 1982-01-07 Способ измерени степени пол ризации

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU823379902A SU1081434A1 (ru) 1982-01-07 1982-01-07 Способ измерени степени пол ризации

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1081434A1 true SU1081434A1 (ru) 1984-03-23

Family

ID=20991670

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU823379902A SU1081434A1 (ru) 1982-01-07 1982-01-07 Способ измерени степени пол ризации

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1081434A1 (ru)

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
1. Патент US № 4203670, кл. 356-117, опублик. 1981. 2. За вка JP № 52-46708, кл. 6 *

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4171908A (en) Automatic two wavelength photoelasticimeter
EP0468487B1 (en) Method of detecting angle of optical rotation in solution having time-dependent concentration, detection apparatus therefor, and detector cell therefor
US4309110A (en) Method and apparatus for measuring the quantities which characterize the optical properties of substances
US4176951A (en) Rotating birefringent ellipsometer and its application to photoelasticimetry
US3594085A (en) Ellipsometric method and device
US3157727A (en) Polarimeter
CN101738375A (zh) 基于数据信号处理的激光调频旋光仪及其测量方法
SU1081434A1 (ru) Способ измерени степени пол ризации
CN208350621U (zh) 一种基于差动过零检测的旋光仪
US4298284A (en) Method and apparatus for measuring magnetooptic anisotropy
US3967902A (en) Method and apparatus for investigating the conformation of optically active molecules by measuring parameters associated with their luminescence
JP3341928B2 (ja) 二色性分散計
US4003663A (en) Device for calibrating instrument that measures circular dichroism or circularly polarized luminescence
JPH0612333B2 (ja) 自動複屈折測定装置
FR2485206A2 (fr) Dispositif de detection de resonance magnetique nucleaire
JP2004279380A (ja) 旋光度測定装置
JP2780988B2 (ja) スペクトロポーラリメータ
SU1140009A1 (ru) Способ эллипсометрической спектроскопии
JPS60113132A (ja) ラマン分光測定装置
JP2698935B2 (ja) 高感度自動複屈折測定装置
SU1469390A1 (ru) Фотоэлектрический способ измерени двупреломлени в оптически прозрачных материалах
SU789686A1 (ru) Денситометр
RU16314U1 (ru) Эллипсометр
RU2269101C1 (ru) Турбополяриметр
SU104005A1 (ru) Способ определени толщины и показател ; преломлени тонких пленок