SU1469390A1 - Фотоэлектрический способ измерени двупреломлени в оптически прозрачных материалах - Google Patents
Фотоэлектрический способ измерени двупреломлени в оптически прозрачных материалах Download PDFInfo
- Publication number
- SU1469390A1 SU1469390A1 SU874251359A SU4251359A SU1469390A1 SU 1469390 A1 SU1469390 A1 SU 1469390A1 SU 874251359 A SU874251359 A SU 874251359A SU 4251359 A SU4251359 A SU 4251359A SU 1469390 A1 SU1469390 A1 SU 1469390A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- compensator
- phase difference
- fast axis
- sin
- optically transparent
- Prior art date
Links
Abstract
Изобретение относитс к оптике и предназначено дл измерени пол ризационных характеристик веществ. Целью изобретени вл етс повышение точности измерений. Кбмпенсационный способ измерени дв преломлени осно ван на преобразовании исходно линейно пол ризованного излучени , падающего на объект 5, в эллиптически пол ризованное, что достигаетс при помощи компенсатора 4, При достижении компенсатором состо ни пол ризации , обеспечивающего исчезновение модул ции, создаваемой вследствие вращени .анализаторов,разность фаз , вносима объектом 5, и его азимут быстрой оси определ ютс по формулам cf arccos(sin (n-sin 1Г/4 0,5 arctg(cos ) где разность фаз, вносима компенсатором , азимут его быстрой оси. 1 ил. « (Л
Description
Изобретение относится к оптике, а именно к измерению поляризационных характеристик веществ.
Цель изобретения - повышение точности измерения. $
На фиг. 1 изображена схема устройства для осуществления способа.
Схема содержит источник 1 излучения, светофильтр 2, поляризатор 3, компенсатор 4, исследуемый объект 5, вращающийся анализатор 6, фотоприемник 7, измерительную систему 8.
Измерения производятся следующим образом. 15
Излучение источника 1 монохроматизируется светофильтром 2..и после прохождения поляризатора 3 становится линейно поляризованным. Компенсатор 4, например типа Солейля, пре- 2Q образует линейно поляризованный свет в эллиптически поляризованный. После прохождения исследуемого объекта 5 в случае его оптической анизотропии изменяется эксцентриситет 25 и азимут осей эллипса поляризации. (Анализатор 6 вращается с постоянной скоростью, вследствие чего интенсив-ность излучения содержит постоянную и переменную составляющую, изменяющую-30 ся с частотой, равной удвоенной частоте вращения анализатора.
Селективная измерительная система 8 регистрирует только переменную составляющую сигнала с фотоприемни- gg ка 7. Компенсатор 4 перестраивают таким.образом,. чтобы разность хода между компонентами излучения стала такой, что амплитуда переменной составляющей, регистрируемой измери- до тельной системой 8, стала равной нулю.
Разность фаз и азимут быстрой оси исследуемого объекта опреде'ляют по формулам «ζ, = arccos (sinVf,, sin }2<ХП Г) «г “ «4 = £ +<*П - j arctg(cos Jn-tg 2«4)г где , с/л- разность фаз и азимут быстрой оси компенсатора.
Предлагаемый способ позволяет использовать поляризационные элементы относительно невысокого качества и обеспечивает повышенную точность измерений, так как исключает ошибку, связанную с нестабильностью интенсивности источника 1 излучения.
Claims (1)
- Формула изобретенияФотоэлектрический способ измерения двупреломпения в оптически прозрачных материалах путем направления на него монохроматизированного линейно поляризованного излучения и регистрации прошедшего через него модулированного с помощью вращающегося анализатора излучения, о т л и ч аю щ и й с я тем, что, с целью повышения точности измерений, с помощью компенсатора преобразуют падающее на материал линейно поляризованное излучение в эллиптически поляризованное до устранения модуляции в прошедшем излучении, фиксируют разность фаз (сРп, вносимую компенсатором, и азимут быстрой оси компенсатора , после чего определяют разность фаз Jo и азимут быстрой оси исследуемого материала по формулам = arccos(sin sin I2JJ ) o(0= ·£ + Jn - 2 arctg(cos tg 2c(n) ,
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| SU874251359A SU1469390A1 (ru) | 1987-04-09 | 1987-04-09 | Фотоэлектрический способ измерени двупреломлени в оптически прозрачных материалах |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| SU874251359A SU1469390A1 (ru) | 1987-04-09 | 1987-04-09 | Фотоэлектрический способ измерени двупреломлени в оптически прозрачных материалах |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| SU1469390A1 true SU1469390A1 (ru) | 1989-03-30 |
Family
ID=21306738
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| SU874251359A SU1469390A1 (ru) | 1987-04-09 | 1987-04-09 | Фотоэлектрический способ измерени двупреломлени в оптически прозрачных материалах |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| SU (1) | SU1469390A1 (ru) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE4123935A1 (de) * | 1991-07-19 | 1993-01-21 | Thueringische Faser Ag Schwarz | Pruefverfahren zur automatischen und beruehrungslosen messung der doppelbrechung von faeden mit beliebigen gangunterschieden |
| DE4123936A1 (de) * | 1991-07-19 | 1993-01-21 | Thueringische Faser Ag Schwarz | Pruefverfahren und vorrichtung zur automatischen und beruehrungslosen messung derdoppelbrechung von faeden mit kleinen gangunterschieden |
-
1987
- 1987-04-09 SU SU874251359A patent/SU1469390A1/ru active
Non-Patent Citations (1)
| Title |
|---|
| Берн М. и Вольф Э. Основы оптики. М.: Наука, 1973. Чудаков B.C. и др. Модул ционньй метод наблюдени двупреломлени , - Кристаллографи , т. 16 вып.5, стр. 939-943. * |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE4123935A1 (de) * | 1991-07-19 | 1993-01-21 | Thueringische Faser Ag Schwarz | Pruefverfahren zur automatischen und beruehrungslosen messung der doppelbrechung von faeden mit beliebigen gangunterschieden |
| DE4123936A1 (de) * | 1991-07-19 | 1993-01-21 | Thueringische Faser Ag Schwarz | Pruefverfahren und vorrichtung zur automatischen und beruehrungslosen messung derdoppelbrechung von faeden mit kleinen gangunterschieden |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US7038788B2 (en) | Angle-of-rotation measuring device and angle-of-rotation measuring method | |
| US20060256334A1 (en) | Polarization state conversion in optically active spectroscopy | |
| US4176951A (en) | Rotating birefringent ellipsometer and its application to photoelasticimetry | |
| US4289403A (en) | Optical phase modulation instruments | |
| US4179217A (en) | Dynamic photoelasticimeter with rotating birefringent element | |
| SU1469390A1 (ru) | Фотоэлектрический способ измерени двупреломлени в оптически прозрачных материалах | |
| US7253896B1 (en) | Filter | |
| GB2087551A (en) | Measurement of path difference in polarized light | |
| US3737235A (en) | Polarization interferometer with beam polarizing compensator | |
| Yao et al. | Fast optical frequency detection techniques for coherent distributed sensing and communication systems | |
| JPH06317518A (ja) | 二色性分散計 | |
| JP2004279380A (ja) | 旋光度測定装置 | |
| SU1239626A1 (ru) | Калибратор фазовых сдвигов | |
| SU1019235A1 (ru) | Устройство дл измерени углов скручивани | |
| SU1021959A1 (ru) | Устройство дл измерени пол ризационных характеристик анизотропных сред | |
| SU679787A1 (ru) | Способ измерени разности углов поворота двух валов | |
| JPH08278202A (ja) | 偏光解析用光学系装置及びこれを用いた偏光解析装置 | |
| SU1525489A1 (ru) | Способ исследовани гармонических напр жений в образце | |
| SU1045004A1 (ru) | Устройство дл исследовани пол ризационных свойств анизотропных материалов | |
| SU1307384A1 (ru) | Калибратор фазовых сдвигов | |
| SU789686A1 (ru) | Денситометр | |
| SU591792A1 (ru) | Фотоэлектрический автоколлиматор | |
| SU368536A1 (ru) | ||
| SU1693385A1 (ru) | Устройство дл измерени угла поворота объекта | |
| SU521455A1 (ru) | Устройство дл диагностики оптических активных сред |