SU670991A1 - Spherical aberration-corrected optronic device - Google Patents
Spherical aberration-corrected optronic deviceInfo
- Publication number
- SU670991A1 SU670991A1 SU772527565A SU2527565A SU670991A1 SU 670991 A1 SU670991 A1 SU 670991A1 SU 772527565 A SU772527565 A SU 772527565A SU 2527565 A SU2527565 A SU 2527565A SU 670991 A1 SU670991 A1 SU 670991A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- spherical aberration
- corrected
- optronic device
- optronic
- middle electrode
- Prior art date
Links
Landscapes
- Electron Sources, Ion Sources (AREA)
Description
получение отрицательной сферической аберрации ширины изображени при его формировании в заданном направлении. Дл этого следует средний электрод линзы расположить так, чтобы направление, в котором выт нуто его отверстие, совпадало с выбранным направлением фокусировки, а крайние электроды были соединены с полюсом источника питани , знак которого совпадает со знаком зар женных частиц. Средний электрод при этом соединен с точкой делител .obtaining negative spherical aberration of the image width when it is formed in a given direction. For this, the middle electrode of the lens should be positioned so that the direction in which its aperture extends coincides with the chosen focusing direction, and the extreme electrodes are connected to the pole of the power source, the sign of which coincides with the sign of charged particles. The middle electrode is connected to the splitter point.
Следует отметить, что форма отверсти среднего электрода может отступать от пр моугольной .It should be noted that the hole shape of the middle electrode may recede from the rectangular one.
Пучок зар женных частиц, папример электронов, расположенный на оптической оси Z, попадает под действие пол линзы. Осесимметрична составл юща слабо фокусирует электроны во всех направлени х, и основное воздействие на пучок оказывает квадрупольна составл юща пол , более сильна по своей природе. Она фокусирует пучок в направлении оси X и рассеивает в направлении оси У. Октупольна составл юща при этом дает положительную величину сферической аберрации ширины линейного изображени .A beam of charged particles, for example electrons, located on the optical axis Z, is affected by the field of the lens. The axisymmetric component weakly focuses the electrons in all directions, and the quadrupole component is the main influence on the beam, which is stronger in nature. It focuses the beam in the direction of the X axis and scatters in the direction of the W axis. The Octopole component thus gives a positive spherical aberration of the width of the linear image.
Использование предлагаемого устройства позвол ет улучщить качество создаваемого им изображени за счет уменьшени дополнительных аберраций, св занных с неточностью юстировки, более точно выполнить юстировку и значительно облегчить сам процесс юстировки.The use of the proposed device improves the quality of the image it creates by reducing the additional aberrations associated with the inaccuracy of the alignment, more accurately aligning and greatly facilitating the alignment process itself.
Claims (2)
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| SU772527565A SU670991A1 (en) | 1977-09-29 | 1977-09-29 | Spherical aberration-corrected optronic device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| SU772527565A SU670991A1 (en) | 1977-09-29 | 1977-09-29 | Spherical aberration-corrected optronic device |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| SU670991A1 true SU670991A1 (en) | 1979-06-30 |
Family
ID=20726207
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| SU772527565A SU670991A1 (en) | 1977-09-29 | 1977-09-29 | Spherical aberration-corrected optronic device |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| SU (1) | SU670991A1 (en) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4443736A (en) * | 1981-09-23 | 1984-04-17 | Rca Corporation | Electron gun for dynamic beam shape modulation |
-
1977
- 1977-09-29 SU SU772527565A patent/SU670991A1/en active
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4443736A (en) * | 1981-09-23 | 1984-04-17 | Rca Corporation | Electron gun for dynamic beam shape modulation |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| GB1426359A (en) | Microbeam probe apparatus | |
| JPS6290839A (en) | Ion microbeam device | |
| KR890012346A (en) | Color cathode ray tube | |
| GB1490496A (en) | Raster scanning ion microscope with quadrupole mass filte | |
| JPH0447944B2 (en) | ||
| SU670991A1 (en) | Spherical aberration-corrected optronic device | |
| GB1364930A (en) | Microscope employing a beam of chargedparticles | |
| SU654979A1 (en) | Electrostatic lens | |
| JP5934517B2 (en) | Chromatic aberration corrector and control method for chromatic aberration corrector | |
| JPS5760648A (en) | Electron microscope | |
| SU1732392A1 (en) | Cathode-ray device | |
| SU1048533A1 (en) | Apparatus for aberration correction | |
| KR870000281B1 (en) | Electron-gun for a c.r.t. | |
| SU1048532A1 (en) | Optronic device with aberration correction | |
| SU920892A1 (en) | Optronic device with corrected spheric aberration | |
| SU44867A1 (en) | Electron-optical system | |
| SU519790A1 (en) | Electron microscope objective lens unit | |
| SU936087A1 (en) | Optronig device | |
| SU632262A1 (en) | Electronic optical device with abberation correction | |
| SU600638A1 (en) | Double-stage electrostatic energy analyzer | |
| SU853702A1 (en) | Optronic system | |
| SU999124A1 (en) | Electronic astigmatic tubular lens | |
| SU928463A1 (en) | Optronic system | |
| RU96116893A (en) | OPTICAL SPEAKER FOR PARTICLE RADIATION | |
| JPS62108442A (en) | Electrostatic lens |