SU541197A1 - Quasistatic memory cell - Google Patents

Quasistatic memory cell

Info

Publication number
SU541197A1
SU541197A1 SU2039470A SU2039470A SU541197A1 SU 541197 A1 SU541197 A1 SU 541197A1 SU 2039470 A SU2039470 A SU 2039470A SU 2039470 A SU2039470 A SU 2039470A SU 541197 A1 SU541197 A1 SU 541197A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
memory cell
quasistatic
logical
cell
control transistor
Prior art date
Application number
SU2039470A
Other languages
Russian (ru)
Inventor
Валерий Дмитриевич Байков
Борис Акимович Ваградов
Юрий Михайлович Герасимов
Вячеслав Михайлович Гусаков
Андрей Николаевич Кармазинский
Игорь Александрович Можаев
Original Assignee
Московский Ордена Трудового Красного Знамени Инженерно-Физический Институт
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Московский Ордена Трудового Красного Знамени Инженерно-Физический Институт filed Critical Московский Ордена Трудового Красного Знамени Инженерно-Физический Институт
Priority to SU2039470A priority Critical patent/SU541197A1/en
Application granted granted Critical
Publication of SU541197A1 publication Critical patent/SU541197A1/en

Links

Landscapes

  • Semiconductor Memories (AREA)

Description

(54) КВАЗИСТАТИЧЕСКАЯ ЯЧЕЙКА ПАМЯТИ(54) QUASYSTATIC MEMORY CELL

В режиме записи на разр дную шину 13 подаетс  потенциал, соответствующий логической «1. Код записываемой информации определ етс  выбираемой адресной шиной. При записи логического «О потенциал, соответствующий уровню логического «О, подаетс  на адресную шину нул  11, при записи адресную шину единицы 12, что приводит к запиранию одного из коммутирующих транзисторов 7, 8 и отпиранию одного из управл ющих транзисторов 5, 6. Поскольку в плече триггера, к которому подключен открытый управл ющий транзистор, при записи противоположного кода переключающий транзистор триггера и коммутирующий транзистор закрыты, то на удельную крутизну (размер) управл ющего транзистора не накладываютс  ограничени  и запись информации производитс  так же, как и в динамических  чейках пам ти: путем зар да узловой емкости в плече триггера через управл ющий транзистор.In the recording mode, the potential bus 13 is supplied with a potential corresponding to a logical "1. The code of the recorded information is determined by the selectable address bus. When writing a logical "O, the potential corresponding to the level of a logical" O is fed to address bus zero 11, while writing address bus of unit 12, which leads to locking one of the switching transistors 7, 8 and unlocking one of the controlling transistors 5, 6. Since in the trigger arm, to which the open control transistor is connected, when writing the opposite code, the switching transistor of the trigger and the switching transistor are closed, then the specific slope (size) of the control transistor is not imposed Information is recorded in the same way as in dynamic memory cells: by charging the nodal capacitance in the trigger arm through the control transistor.

В режиме считывани  потенциал на разр дной шине 13 соответствует логическому «О. Разрешающий сигнал, соответствующий логическому «О, подаетс  на адресную шину единицы 12. Если в  чейке хранитс  логическа  «1, то управл ющий транзистор открыт и через него протекает ток. Если в  чейке хранитс  логический «О, то управл ющий транзистор закрыт и ток через него отсутствует . Поскольку в режиме считывани  «О управл ющий транзистор, переключающий транзистор триггера и коммутирующий транзистор закрыты, узлова  емкость в этом плече триггера может зар жатьс  с посто нной времени, определ емой токами утечки. Поэтому на длительность управл ющего сигнала в режиме считывани  могут накладыватьс  ограничени  сверху.In the read mode, the potential on the bit bus 13 corresponds to the logical "O. The permissive signal corresponding to the logical "O" is fed to the address bus of unit 12. If a logical "1 is stored in the cell, then the control transistor is open and current flows through it. If a logical "O" is stored in the cell, then the control transistor is closed and there is no current through it. Since, in the read mode " O control transistor, the switching trigger transistor and the switching transistor are closed, the nodal capacitance in this trigger arm may be charged with a constant time determined by the leakage currents. Therefore, the duration of the control signal in read mode may be superimposed on top of the restrictions.

Основным достоинством квазистатической  чейки пам ти  вл етс  возможность изготовлени  всех транзисторов  чейки минимальных размеров, что св зано с отсутствием ограничений на соотнощени  размеров транзисторов дл  режима записи. Это приводит к уменьщению активной площади на кристалле (приблизительно в два раза по сравнению с прототипом ), а следовательно, к увеличению процента выхода годных и надежности схемы. Площадь, занимаема   чейкой на кристалле, при этом не увеличиваетс .The main advantage of a quasistatic memory cell is the ability to manufacture all transistors of a minimum cell size, which is due to the absence of restrictions on the size ratios of the transistors for the recording mode. This leads to a decrease in the active area on a chip (approximately two times in comparison with the prototype), and, consequently, to an increase in the percentage of yield and reliability of the circuit. The area occupied by the cell on the crystal does not increase.

Поскольку в предлагаемой  чейке отношение удельных крутизн управл ющего транзистора и переключающего транзистора триггера меньше в 2-3 раза, че.м в прототипе, то ее помехоустойчивость в режиме считывани  увеличиваетс . В режиме записи помехоустойчивость  чейки также увеличиваетс  и становитс  равной помехоустойчивости в режиме хранени .Since, in the proposed cell, the ratio of the specific steepness of the control transistor and the switching transistor of the trigger is 2-3 times less than in the prototype, its noise immunity in the read mode increases. In recording mode, cell noise immunity also increases and becomes equal to noise immunity in storage mode.

Claims (2)

1.Патент США № 3641511, кл. 340-173, 1972.1. US patent number 3641511, CL. 340-173, 1972. 2.Патент США Л 3521242, кл. 340-173, 1970.2. US Patent L 3521242, cl. 340-173, 1970. аbut ПP UKUK ДиDi риг. 2rig. 2 1 Г1 G tt Фиг.ЗFig.Z
SU2039470A 1974-06-26 1974-06-26 Quasistatic memory cell SU541197A1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU2039470A SU541197A1 (en) 1974-06-26 1974-06-26 Quasistatic memory cell

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU2039470A SU541197A1 (en) 1974-06-26 1974-06-26 Quasistatic memory cell

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU541197A1 true SU541197A1 (en) 1976-12-30

Family

ID=20589513

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU2039470A SU541197A1 (en) 1974-06-26 1974-06-26 Quasistatic memory cell

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU541197A1 (en)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP0173980B1 (en) Semiconductor integrated circuit device
KR910002028B1 (en) Dynamic randum access memory consisting of mos integrcted circuit
US4156941A (en) High speed semiconductor memory
US5157634A (en) Dram having extended refresh time
JPH0935488A (en) Nonvolatile memory
US3745539A (en) Latch type regenerative circuit for reading a dynamic memory cell
US3949382A (en) Misfet circuit for reading the state of charge
US5250827A (en) Semiconductor integrated circuit having a DRAM cell unit and a nonvolatile cell unit
US5305271A (en) Circuit for controlling an output of a semiconductor memory
US3629612A (en) Operation of field-effect transistor circuit having substantial distributed capacitance
JP2003233996A (en) Semiconductor memory device
SU541197A1 (en) Quasistatic memory cell
US4380055A (en) Static RAM memory cell
JPH0459714B2 (en)
KR910000138B1 (en) Data read circuit for use in semiconductor memory device
KR930015015A (en) Memory Cells with Ferroelectric Capacitors
US3636528A (en) Half-bit memory cell array with nondestructive readout
JPH02285593A (en) Non-volatile semiconductor storage
JPH04228191A (en) Semiconductor integrated circuit
US5305255A (en) Non-destructive readout ferroelectric memory cell
US3742465A (en) Electronic memory storage element
SU767839A1 (en) Multistable dynamic memory member
SU523454A1 (en) Dynamic memory cell
JPS592116B2 (en) semiconductor memory
SU395900A1 (en) DYNAMIC MEMORY CELL ON MDP-TRANSISTORS