SU511630A1 - Ячейка пам ти дл посто нного запоминающего устройства - Google Patents

Ячейка пам ти дл посто нного запоминающего устройства

Info

Publication number
SU511630A1
SU511630A1 SU1935128A SU1935128A SU511630A1 SU 511630 A1 SU511630 A1 SU 511630A1 SU 1935128 A SU1935128 A SU 1935128A SU 1935128 A SU1935128 A SU 1935128A SU 511630 A1 SU511630 A1 SU 511630A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
current
transistor
voltage
memory cell
bus
Prior art date
Application number
SU1935128A
Other languages
English (en)
Inventor
Виктор Федорович Басалыга
Original Assignee
Предприятие П/Я М-5339
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Предприятие П/Я М-5339 filed Critical Предприятие П/Я М-5339
Priority to SU1935128A priority Critical patent/SU511630A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU511630A1 publication Critical patent/SU511630A1/ru

Links

Landscapes

  • Read Only Memory (AREA)

Description

(54) ЯЧЕЙКА ПАМЯТИ ДЛЯ ПОСТОЯННОГО ЗАПОМИНАЮиЕГО
УСТРОЙСТВА нии; на фиг. 3 « передаточна  хиракгери- стика МДП транэистора CD встроенным KaHSfiON ; Ни фиг, 4 стокозатворнй  ха рактеристика МДП -траНчЭнсторй со встроен ньш каналом. Ячейка пам ти ПЗУ подключаетеи к шина 1, 2 опроса м считывани , к и;инв 3 нулевого потенциала, к щпые 4 напр . женин смещени    содержит двухэлектрод йый газоразр дный прибор 5 с холоднык5 катодом б и акодо 7, первый МДП-тран эистор 8 со встроенным р- канйлом, второй МДП-транэнстор 9 со встроенным р-какал и конденсатор 10. Катод г зоразрадного (Прибора соединен с ш ной 4 напр1шенк  смешений - Е . Стоки первого и второго см транзисторов и перва  обкладка ко денсато рй подключень к аноду газоразр дного прИ бора. Затвор, исток первого транзистора 8 и втора  обкладка ковдексатора нодсо™ единены х шйне 3 г упевого потекшзала; Исток второго транзистора 8 noflKjiK 4eH к ш-ине 2 -cHHTbiBaHSili, а затвор « к ujime 1 . опроса. Вепйчинз напр жени  смешени  /Е / наход-итсэ между вепич намн напр жени  Uflj., и напрйжени  горенн  , пробо  vnp подключена к выходу отдельной ТТЛ-мш-:™ росхемы, вхой шей в дешифратор, и в исходном состо ни  ка «ей -высокий . уро вень аапрйжений U , равный ,SB Шина 2 считьш.анк  находитсн под потенциалом , б.тйзким к кулю, такой потенциал всегда МЭЯчНО обеоючить выбором входной цепи усилител  считывани . Дл   чейки пам ти шкиа счит| 1ванй  представл ет со--бой нагрузку в виде большой емкссти, за- шунтирова глой сопротивотением усилите.чй считывани . Емкость шины счи« тыванкй представл ет собой сумму емко- ;гей трекзистора 9  чеек памсти, соеди- в&иных с шиной, и монтажных емкостей МФж.щу шиной 0 другими проводн 1камй. В статике затвор МДП-транзистора 9 смещен относительно истока, находйшегосн под левым потенциалом, пoлoжитeльны з напр жением U 3,5-4,5 В. Передаточнай характеристика транзистора 9 . 4ЖГ. З) формируетс  так, чтобы пороговое напр м ение при котором открываетс  не превышало и транзистор. мин , тра гзкстор 9 закрыт. МДП-тр.ан анстор 8 с соединенными истоком   зат вором имеет вольтамперную хл актернстк- ,иу с 1трот женнь м участком насьнйек; : САН Нйсышешю тока начинаетс  пра разности -1 отенииалов между стоком и истскгл;, Jp-Ч Б «улевом состойнии ток через гизо азр дный прибор и транзистор 8 не течет, напр жение на. стокак трв зисторов авно нулю. В нулевое состо ние  чейке ам ти- уетанаБЛз1вает ::й отключением или онижением напр жешш смещеки . При том проис одт стирание . в матри« ПЗУ. ..... В состо нйэ единицы пам ти устанав шваетс  импульсом света мйниа- тюрной импульсной Л0МПЫ. Свет им тул:зсной лампы через прозрачную кодовую площадку информационного фототрафарета попадает на катсд к вызывает интенсивную фотоэмиссию электронов. Электроны образуют массу ла- вин, sneitTpH4ecKoe поле между анодом и катодом иекажветс  аа счет образовавшегос  облака ионов и создаетс  условие су шествовани  самосто тельного тлеющего разр да. На фиг. 2 показано ьаанмное положение вольтамперной характеристики (а) двухэлектродного г.1азорйзр .аного прибора и характеристики (б) МДП транзистора в двухполюсном включении. Перва  устойчи ва  рабоча  точка (в) соответствует tty левому состо нию  чейки пам ти, а втора  устойчнва  рабоча  точка (г) - сссто нию единицы. Если в первой рабочей точке  чейка пам ти ве рассеивает мощности, то во рабочей точке через триггер протекает ток, равный току (насыщени  транзистора 8 Втора  рабоча  точка (г) распслагаетс  на участке нормального тлеюшего разр да характерист1пш (а), где намерение тока через газоразр дный . прибор практиче ски не вызывает изменени  напр жени  ь:а нем, равного U.. . Ток нась8(.:1ени  трак зистора 8 болы1 е тока, при котором начинаетс  область нормвлтьного тлеющего раз- р да, т. е. рабоча  точка (г) рнсполагаетсь не ка участке отрниательвого сопротивлен .,ш характеристики (б), где зозможен са мопроизвольный сброс триггера ге- нера йи. В единичном состо нкл  чейки пам ти напр жение ка стоках трайзистороЕ и конденсаторе равно минус Е ™ U,. « см Когда иа шйну опроса поступает отри««атепьйый ймпульс и напр жение кн ней мен етс  с высокого уровн  if до низкого уровй  и О, 4В, канал транзистора 9 становитс  провод щим. В нулевом состо  ВИИ  чейки пам ти ток через транзистор 9 не течет, так как погекциалы истока и стока рав ы нулю. Через проходную ем кость межгу затвором и ис--оком тр.эизи стора 9 передаетс  сигнал помехи нул . ПосЛ) окончани  импудьса опроса напр «жеиие на шине счктыванк  воестанавливаетс , поскот ку по переднему и заднему (JIfOHTy импульса через проходную емкость на ишну считываний передаютс  равные, но противоположные по знаку эвр ды. Если при опросе шины опроса  чейка па м ти находитс  в состо нии единицы, ч рез транзистс 9 течет ток, и потенциал шины считывани  понижаетс . Пони жение noTefruHsna шины считывани  на 0,&-ЗмВ (} ксируетс  усилителем считыва ни  как сигнал считанной единицы Ковде сатор 10 сглаживает пульсации напр жен на стоках транзисторов при опросах  чейк инертности газоразр дного прибора ток через транзистор 7 протекает, в основном, за счет разр да конденсатора 10. Емкость конденсатора выбираетс  в диапазоне единиц пикофарад, позтощг он может изготавливатьс  вместе с транзисторами на кристалле кремни . Благодар  не/шнейной вольтамперной характеристике МДП транзистора ток через триггер п актически не измен ет при . изменении напр жени  cмeщe ш  широких пределах от J floU+Uh+uU гV где ли - изменение напр жени  на конденсаторе за врем  опроса  чейки. Ток насыщени  транзистора 8 можно подобрат из услови  получени  минимальной мошно сти рассе ни , его величина равна 10. 50 мкА и определ етс  минимальным током участка нормального тлеющего разр  да вольтамперной характеристики газораз р дного прибора. Если вместо транзистор 8 Использовать резистор, минимальный ток триггера будет около 150 мкА. Ввиду использовани  МДП-транзйсторов с встроенным р-каналом, опрос  чейки пам ти можно осуществл ть сигналами микросхем ТТЛ-типа, а благодар  однопол рности считываемых сигналов можно использовать простые усилителисчитывани , выполненные по интегральной технологии. Так как конденсатор 10 накапливает энергию в промежутках между импульса ми опроса, инерщюнность газоразр дного прибора не сказываетс  на быстродействий. Действительно; скачкообразного прираше- НИН тока газоразр дного прибора на вели-; ч ну тока транзистора 9 при наличии кон« деисатора не нужно. При увеличении частоты опроса  чейки средний ток газоразр д. ного прибора возрастает, и конденсатор быстрей восстанавливает зар д в проме {утках между имиульса И опроса. Форм у л а изобретен н   Ячейки tiaMHTu дл  посто нного запоминающего устройства, содержаиа  двух- электродный газоразр двый прибор, катод которого соединен с шивой напр жени  смешени , о т л и ч а ю щ а   с   тем;, что,,- с целью угтучшени  зксплуатацкон- ных характеристик, она содер ;-спт два МДП-транзистора со встроенгты ; каналом и конденсатор, причем стоки первого и второго МДП грги1311Стсров и перва  обкладка кондеюатора подключены к газоразр дного прибора, исток, загвор первого МДП трангп Стора и вторп  обкладка конденсатора подключены к шнне щлевого по тенциала, исток второго .МДП-транзнстора к шине считьшани , а затвор к ; шине оп1эоса.
н
ж
в
д
Ucu-O,5
-
.0
Фиг. 1
{,
сриг.2
Ua
few LS
и
kT,
и
мкА
us.J
nop MUH
.
SU1935128A 1973-06-22 1973-06-22 Ячейка пам ти дл посто нного запоминающего устройства SU511630A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU1935128A SU511630A1 (ru) 1973-06-22 1973-06-22 Ячейка пам ти дл посто нного запоминающего устройства

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU1935128A SU511630A1 (ru) 1973-06-22 1973-06-22 Ячейка пам ти дл посто нного запоминающего устройства

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU511630A1 true SU511630A1 (ru) 1976-04-25

Family

ID=20557421

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU1935128A SU511630A1 (ru) 1973-06-22 1973-06-22 Ячейка пам ти дл посто нного запоминающего устройства

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU511630A1 (ru)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR960001294B1 (ko) 반도체지연회로
US5276646A (en) High voltage generating circuit for a semiconductor memory circuit
JPH0817033B2 (ja) 基板バイアス電位発生回路
JPH0752592B2 (ja) 半導体記憶装置
JPH0249517B2 (ru)
US5208488A (en) Potential detecting circuit
EP0053428B1 (en) A memory device including a sense amplifier
JPH0666115B2 (ja) 半導体記憶装置
US4962482A (en) Nonvolatile memory device using a sense circuit including variable threshold transistors
US4825110A (en) Differential amplifier circuit
JPS5833638B2 (ja) メモリ装置
CN112149474A (zh) 电子装置
EP0661709A1 (en) Semiconductor memory having a high speed sense amplifier
KR0174339B1 (ko) 공급 전압 vdd가 증가함에 따라 증가된 지연을 갖는 클럭킹 회로
US4464591A (en) Current difference sense amplifier
US4109284A (en) Self-scanning photo-sensitive circuits
KR890004304B1 (ko) 전압 검출장치
SU511630A1 (ru) Ячейка пам ти дл посто нного запоминающего устройства
CN106162003B (zh) 一种读取电路及其驱动方法、x射线像素电路
US4758749A (en) CMOS current sense amplifier
US9006638B2 (en) Dual-mode capacitive transimpedance amplifier, and read-out device incorporating the same
JPS6027118B2 (ja) 半導体メモリ装置
JPS6129496A (ja) 半導体記憶装置
US7180805B2 (en) Differental current source for generating DRAM refresh signal
TWI584302B (zh) 用於半導體記憶體的控制裝置