SU453564A1 - Способ измерения толщины слоя полупрозрачного материала - Google Patents
Способ измерения толщины слоя полупрозрачного материалаInfo
- Publication number
- SU453564A1 SU453564A1 SU1476529A SU1476529A SU453564A1 SU 453564 A1 SU453564 A1 SU 453564A1 SU 1476529 A SU1476529 A SU 1476529A SU 1476529 A SU1476529 A SU 1476529A SU 453564 A1 SU453564 A1 SU 453564A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- thickness
- radiation
- monitored
- measuring
- layer
- Prior art date
Links
Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Description
1
Изобретение относитс к области линейных измерений, котора использует тепловое (инфракрасное излучение) контролируемого материала .
Известный способ измерени толщины сло полупрозрачного материала, например стекл нной ленты в процессе ее изготовлени , заключаетс в том, что о толщине материала суд т по результату анализа потока .инфракрасного излучени , идущего от него.
Недостатком известных -способов вл етс их невысока точность, определ ема нестабильност ми нагрева и конечной величиной коэффициента температуропроводимости.
Предлагаемый способ отличаетс от известных тем, что, с целью повышени точности, измер ют поток излучени от участка контролируемого материала на фоне квази абсолютно чер.ного тела и поток излучени от участка контролируемого материала на фоне отражающей поверхности с известным коэффициентом отражени и о толщине контролируемого материала суд т ио величине отношени этих потоков.
Предлагаемый способ иллюстрируетс чертежом , где 1 - контролируемый материал, 2 - корпус, 3 - приемник инфракрасного (ИК) излучени , 4 - приемник ИК излучений , 5 - квази абсолютно черное тело, 6 - отражающа поверхность
Предлагаемый способ осуществл ют в следующей последовательности.
Контролируемый материал 1 движетс между корпусом 2, в котором скопированы приемНИКИ 3, 4 инфракрасного излучени , квази абсолютно черным телом 5 ,и отражающей поверхностью 6.
Приемник 3 регистрирует не только пр мое излучение материала, но и излучение контролируемого материала 1, отраженное от отражающей поверхности 6 и прошедшее через контролируемый материал 1. Приемник 4 регистрирует только пр мое излучение контролируемого материала. Измер ют величину отножени этих потоков, по которой л суд т о толЩИне контролируемого материала I.
Формула, св зывающа толщину контролируемого материала 1 и величины, характеризующие оптические свойства контролируемого материала 1, лмеет вид:
(l-r)Vi
х - п к f
А
J
2
где А; - толщина контролируемого материала 1
г - коэффициент отражени ИК излучени от отражающей поверхности fi
г-коэффициент отражени ИК излучени от поверхности контролируемого материала I,
/С - коэффициент поглощени ИК излучени в контролируемом материале 1.
Предмет изобретени
Способ измерени толщины сло полупрозрачного материала, например стекл нной ленты в процессе ее изготовлени , заключающийс в том, что анализируют поток инфракрасного излучени , идущего от материала, отличающийс тем, что, с целью повышени точности, измер ют лоток излучени от
участка контролируемого материала на фоне квази абсолютно черного тела и поток излучени от участка контролируемого материала на фоне отражающей поверхности с известным коэффициентом отражени и о толщине
контролируемого материала суд т по величине отнощени этих потоков.
X
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| SU1476529A SU453564A1 (ru) | 1970-10-05 | 1970-10-05 | Способ измерения толщины слоя полупрозрачного материала |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| SU1476529A SU453564A1 (ru) | 1970-10-05 | 1970-10-05 | Способ измерения толщины слоя полупрозрачного материала |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| SU453564A1 true SU453564A1 (ru) | 1974-12-15 |
Family
ID=20457454
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| SU1476529A SU453564A1 (ru) | 1970-10-05 | 1970-10-05 | Способ измерения толщины слоя полупрозрачного материала |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| SU (1) | SU453564A1 (ru) |
-
1970
- 1970-10-05 SU SU1476529A patent/SU453564A1/ru active
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US2611541A (en) | Radiation pyrometer with illuminator | |
| US3448616A (en) | Liquid level detector | |
| SE7807199L (sv) | Fiberoptisk temperaturgivare | |
| IT1192344B (it) | Misuratore di livello | |
| SU453564A1 (ru) | Способ измерения толщины слоя полупрозрачного материала | |
| JPH0222687Y2 (ru) | ||
| JPH0521412B2 (ru) | ||
| JPS56122923A (en) | Measuring method for temperature and emissivity of object | |
| JPS5542058A (en) | Method of measuring temperature in furnace | |
| Craig et al. | Thermal radiation from ablation products injected into a hypersonic shock layer | |
| SU570794A1 (ru) | Датчик спектрального отношени | |
| JPS6184528A (ja) | 温度測定装置 | |
| SU524085A1 (ru) | Способ измерени температуры оптических деталей | |
| JPS57111435A (en) | Measuring device for absorption intensity of infrared ray by atr method | |
| SU699404A1 (ru) | Способ измерени коэффициента отражени | |
| SU668414A1 (ru) | Тепловой приемник лазерного излучени | |
| SU694774A1 (ru) | Бесконтактный способ измерени температуры полупроводников | |
| JPS643067Y2 (ru) | ||
| JPS54143184A (en) | Temperature measurement | |
| JPS57132029A (en) | Infrared ray thermometer | |
| JPS5446829A (en) | Nephelometry | |
| SU783580A1 (ru) | Устройство дл измерени деформаций объекта | |
| JPS5764130A (en) | Radiation thermometer | |
| JPS6221953Y2 (ru) | ||
| JPS5267384A (en) | Reflectance and transmissivity meter |