SU437987A1 - Device for examining the shape of objects - Google Patents

Device for examining the shape of objects

Info

Publication number
SU437987A1
SU437987A1 SU1750108A SU1750108A SU437987A1 SU 437987 A1 SU437987 A1 SU 437987A1 SU 1750108 A SU1750108 A SU 1750108A SU 1750108 A SU1750108 A SU 1750108A SU 437987 A1 SU437987 A1 SU 437987A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
shape
objects
examining
reflected
devices
Prior art date
Application number
SU1750108A
Other languages
Russian (ru)
Inventor
Эвалд Хугович Херманис
Original Assignee
Институт Электроники И Вычислительной Техники Ан Латвийской Сср
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Институт Электроники И Вычислительной Техники Ан Латвийской Сср filed Critical Институт Электроники И Вычислительной Техники Ан Латвийской Сср
Priority to SU1750108A priority Critical patent/SU437987A1/en
Application granted granted Critical
Publication of SU437987A1 publication Critical patent/SU437987A1/en

Links

Description

Изобретение относитс  к области измерительной техНИки, в частности к рефлектометрическим устройствам дл  измерени  электрических парачметров. KpoiMe того, изобретение может быть использовано при решении задач распознава ни  образов, например дл  исследовал .и  формы объектов.The invention relates to the field of measurement technology, in particular to reflectometric devices for measuring electrical parameters. KpoiMe addition, the invention can be used in solving problems of pattern recognition, for example, for investigated and the shape of objects.

Известны измерительные устройства, иркиЦИП действи  которого ocHOBaiH на методе отраженных имоульсов (СВЧ-радиовол1Ны), содержащие тенератор напр жени , на выход которото подключена лини  передачи, св занна  с исследуемым объектом. Известные устройства примен ютс  дл  исследовани  физических хараКтеристик вещества ло коэффициенту отражэНИЯ, € помощью которого вычисл етс  диэлектри-ческа  лрозрач-ность соответствующих м атерИ ал о:в.Measuring devices are known, whose function is ocHOBaiH on the method of reflected emulsions (microwave radio waves), containing a voltage generator, to the output of which is connected a transmission line associated with the object under study. The known devices are used to investigate the physical characteristics of the material, the reflection coefficient, which is used to calculate the dielectric translucency of the corresponding materials.

Однако возможность лрименани  известных устройств ограничена, что  вл етс  следствием особенности способа передачи волны. В частности , известные устройства не могут быть йспользованы дл  Исследовани  металлических субъектов и в лриицине не пригодны дл  решени  задач раеноэнаванн  геометрической формы объектов, так как форма объекта  вл етс  функцией координат, а с помощью известных устройств регистрируетс  только одно число - коэффи. отражени .However, the limitation of known devices is limited, which is a consequence of the peculiarity of the wave transmission method. In particular, the known devices cannot be used to study metal subjects and in lyricin are not suitable for solving the problems of the geometric shape of objects, since the shape of the object is a function of coordinates, and with the help of known devices only one number, the coefficient, is recorded. reflections.

Цель -изобретени  - расширенне функциональных воз-можлостей устройств дл  исследовани  формы объектов.The purpose of the invention is to expand the functional capabilities of devices for examining the shape of objects.

Это достигаетс  тем. что в предлагаемом устройстве лини  передачи, лодключенна  к выходу генератора скачкообразного -наир /кени , выполиена в виде однородной замкнутой (На волновое сонротивление двух проводной л- Г1тии с воздушным диэлектриком, к входам которой нодключел лреобразователь отраженной волны в переменное 1 а11р жеине в области низких частот. В качестве такого иреобразовател  может быть использован, например, стробоскопический. Исследуемый объект размещаетс  в зазоре линии передачи.This is achieved by those. That in the proposed device, the transmission line, connected to the output of the hopping-Nair / Keny generator, is polypropylene in the form of a uniform closed circuit (On the wave resistance of two wired lines with an air dielectric, to the inputs of which the converter is reflected in Frequencies. A stroboscopic device, for example, can be used as such a converter. The object under study is located in the transmission line gap.

Достижение лоставленной цели возможно в результате исследовани   влен-и  отражени  электрической волны от неодаородлостей в ллни х передачи. Обычно это свойство электрической 1волны используетс  дл  обларужени  места -положени  неодаюродностей и олределеии  их характеристик и параметров, например таких, как обрыв, короткое зпмыкание, емкость , индуктивность пли более сложлых их комбинаций.Achievement of the established goal is possible as a result of investigating the reflection and reflection of an electric wave from non-hydrogengenerases in transmissions. Usually, this property of the electric wave is used to surround the location of inhomogeneities and not only their characteristics and parameters, such as breakage, short circuit, capacitance, inductance or more complex combinations.

Однако, если электрическа  волна отражаетс  от оиределенлого объекта, создающего неоднородности в линии передачи, -то форма отраженной воладь зависит от; геометрических .хдр и ;т;ер1-№хи,1ср б е:кт;а,лЭТ:0 свойство отражелHowever, if an electric wave is reflected from an object that creates discontinuities in the transmission line, then the shape of the reflected wave depends on; geometric .hdr and; t; ep1-хиkhi, 1sr b e: kt; a, lET: 0 reflected property

SU1750108A 1972-02-21 1972-02-21 Device for examining the shape of objects SU437987A1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU1750108A SU437987A1 (en) 1972-02-21 1972-02-21 Device for examining the shape of objects

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU1750108A SU437987A1 (en) 1972-02-21 1972-02-21 Device for examining the shape of objects

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU437987A1 true SU437987A1 (en) 1974-07-30

Family

ID=20503809

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU1750108A SU437987A1 (en) 1972-02-21 1972-02-21 Device for examining the shape of objects

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU437987A1 (en)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4546311A (en) Arrangement for measuring moisture content
US2859407A (en) Method and device for measuring semiconductor parameters
SU437987A1 (en) Device for examining the shape of objects
US2916694A (en) Coating thickness gage
US3360726A (en) Radiation responsive device
ATE360813T1 (en) SENSOR AND OVERALL DEVICE FOR HYDROMETRIC MEASUREMENT
US3296527A (en) Direct measurement probe for radio frequency energy
US2548836A (en) Electromagnetic field phase determining apparatus
SU422324A1 (en) Device for nondestructive inspection of dielectric materials
GB655116A (en) Improvements in or relating to supersonic inspection particularly adapted to the measurement of thickness of bodies
SU398896A1 (en) DEVICE FOR MEASUREMENT OF ELECTRIC
RU2767585C1 (en) Method of measuring physical properties of dielectric liquid
SU1260753A1 (en) Device for determining surface tension and viscous-elastic parameters of liquid
SU30853A1 (en) Method for detecting defects in metal objects
SU475529A1 (en) Ultrasonic method for measuring the thickness of materials
SU317276A1 (en) The method of measuring the thickness and movement of sheet metal
SU397858A1 (en) SENSOR FOR NONCONTACT MEASUREMENT OF CURRENT CARRIER CONCENTRATION IN SEMICONDUCTORS
SU497512A1 (en) Magnetization measuring device
SU150890A1 (en) Method of calibrating voltmeters in the microwave range
SU130695A1 (en) Electronic moisture meter
SU372517A1 (en) ALL-UNION
SU381036A1 (en) DEVICE FOR MEASURING PASSING POWER
SU445925A1 (en) Device for measuring parameters of sheet dielectrics
US2716215A (en) Pulse width measuring process
SU395809A1 (en) DEVICE FOR DETERMINATION OF POINTS ZERO