SU406172A1 - In P T B - Google Patents

In P T B

Info

Publication number
SU406172A1
SU406172A1 SU1713658A SU1713658A SU406172A1 SU 406172 A1 SU406172 A1 SU 406172A1 SU 1713658 A SU1713658 A SU 1713658A SU 1713658 A SU1713658 A SU 1713658A SU 406172 A1 SU406172 A1 SU 406172A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
microwave
measure
reflection
frequency
measured
Prior art date
Application number
SU1713658A
Other languages
Russian (ru)
Inventor
изобретени Авторы
метрологии институт
Original Assignee
В. И. Захаров , В. П. Петров Сибирский государственный научно исследовательс
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by В. И. Захаров , В. П. Петров Сибирский государственный научно исследовательс filed Critical В. И. Захаров , В. П. Петров Сибирский государственный научно исследовательс
Priority to SU1713658A priority Critical patent/SU406172A1/en
Application granted granted Critical
Publication of SU406172A1 publication Critical patent/SU406172A1/en

Links

Description

УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ОСЛАБЛЕНИЯ ПРОХОДНЫХ ЭЛЕМЕНТОВ СВЧ В ПОЛОСЕ ЧАСТОТDEVICE FOR MEASUREMENT OF WEAKENING OF MICROWAVE PASSAGE ELEMENTS IN THE AREA OF FREQUENCIES

1one

Изобретеиие относитс  к радноизмерительиой техиике СВЧ.The invention relates to microwave measurement techniques.

Известиы устройства дл  измерени  ослаблеии  ироходиых элементов СВЧ в иол-осе частот , в которых измер емый элемент включают между двум  датчиками проход щей мощности . При одинаковых частотиых характеристиках датчиков ослаблеин  оиредел ют ио отношению ноказаиий датчиков. Однако эти устройства характеризуютс  значительной иогрешностью измерени , часть которой обусловлеиа рассогласоваиием. (собственным отражением датчиков, нагрузки иереходных элементов и др.). При измерении малых ослаблеиий иогрешиость рассогласовани   вл етс  доминирующей, и уменьщение ее применением ирецизионных эле.меитов с малым собственным отражением не всегда возможно.The device is a device for measuring the attenuation of the microwave input elements in the frequency iol-axis, in which the measured element is connected between two transmitting power sensors. With the same frequency characteristics, the sensors weaken the position of the sensor indications. However, these devices are characterized by considerable measurement inaccuracy, part of which is due to a mismatch. (own reflection of sensors, loads of reference elements, etc.). When measuring small attenuations, the error of the mismatch is predominant, and its use of the effective electronic elements with a small proper reflection is not always possible.

Известен ЧМ-рефлектомстр дл  измерени  модул  коэффициента отражени  иерегул рностей в иередающих лини х и оконечных устройств СВЧ диаиазоиа.An FM reflector is known for measuring the reflection coefficient modulus of irregularities in the transmitting lines and the microwave devices.

Метод ЧМ-рефлектометрин заключаетс  в следуюи1ем: в исследуемую систему с распределенными источниками отражени  излучают сигнал посто нной амплитуды с модул цией частоты по линейному (пилообразному) закону; отраженный от нерегул рибстёй сигнал смешиваетс  с излученнным, и сигнал разностной частоты (биетитй) подаетс  на индикаториый канал. Вследствие линейност ЧМ частота биеиий строго иропорциональиа рассто иию до исследуемой нерегул риости, т- е. сиектр биений повтор ет распределение источников отражени  вдоль исследуемо линни. Это иозвол ет с иомощью НЧ перестраиваемого полосового фильтра выделить любой конкретный источник отражени  и но амплитуде биений определить значение этого отражени .The FM reflectometrine method consists in the following: a constant amplitude signal with frequency modulation according to a linear (sawtooth) law is emitted into the system under study with distributed sources of reflection; The signal reflected from the irregular Ribsty is mixed with the radiated signal, and the signal of the difference frequency (bietit) is fed to the indicator channel. Due to the linearity of the FM frequency of beats, it is strictly proportional to the investigated irregularity, i.e., the beats of the beats repeat the distribution of reflection sources along the line under study. It is possible with the help of low-frequency tunable bandpass filter to select any specific source of reflection and determine the value of this reflection by the amplitude of the beats.

0 Измерив изменение в течение периода ЧМ зоидирующего сигнала амплитуды конкретных биений (1 апример, с иомощью осциллографа с разверткой, синхронизированной с периодом ЧМ), т. е. его огибающую, можно вы вить0 By measuring the change in the amplitude of a particular beat during the FM period of the zooming signal (1, for example, with an oscilloscope with a scan synchronized with the FM period), i.e., its envelope can be detected

5 и частотную зависимость модул  коэффициеита отражени  соответствующей нерегул рности .5 and the frequency dependence of the reflection coefficient modulus of the corresponding irregularity.

Однако известное ycTpoiicTso ite нозвол ет измер ть ослабление проходных элемеитоиHowever, the well-known ycTpoiicTso ite allows measuring the attenuation of the passage elements.

0 СВЧ.0 microwave

Цель изобретеин  - устранение иогрещиости рассогласовани  ири измерении ослаблени The purpose of the invention is to eliminate the inconsistency of the mismatch and measure the attenuation

ироходиых элемеитов СВЧ в полосе частот.irohodyh eleleitov microwave in the frequency band.

Предлагаемое устройство отличаетс  тем,The proposed device is different in that

5 чтб ЧМ-рефлектометр использован в совокупности с иодключенной к выходу измер емого элемента калиброванной по коэффициенту отражени  СВЧ-нагрузкой (мерой КСВ), представл ющей собой некоторую расчетную нере0 гул рность (индуктивного, емкостного или5 that the FM reflectometer is used in conjunction with the measured element, connected to the output, of a microwave load calibrated by the reflectance (a measure of the CWS), which represents some calculated irregularity (inductive, capacitive or

смешанного типа) в отрезке передающей линии или отрезок передающей линии, нагруженной калиброванным активным сопротивлением.mixed type) in the segment of the transmission line or a segment of the transmission line, loaded with a calibrated resistance.

Меры КСВ выпускаютс  серийно; они предназначены дл  настройки, поверки и калиб РОБКИ измерителей КСВ в полосе частот.SWR measures are commercially available; they are intended to tune, calibrate and calibrate ROSCOW SWR meters in the frequency band.

Блок-схема устройства представлена на чертеже.The block diagram of the device shown in the drawing.

Вход измер емого проходного элемента СЕЧ подключают к выходу ЧМ-рефлектометра , к выходу измер емого проходного элемента подключают меру КСВ частотна  характеристика которой в рассматриваемой полосе частот известна. ЧМ-рефлектометр настроен на намерение коэффициента отражени  меры КСВ. Так как при прохождении через измер емый проходной элемент СВЧ ослабевают оба сигнала - и падающий (распростран ющийс  от ЧМ-рефлектометра к мере КСВ) и отраженный (распростран ющийс  от меры КСВ к ЧМ-рефлектометру), то измеренное ЧМ-рефлектометром значение коэффициента отражени  меры КСВ отличаетс  от действительного , причем отношение истинного значени  коэффициента отражени  меры КСВ к измер емому равно квадрату коэффициента отражени  измер емого проходного элемента СВЧ.The input of the measured SES pass-through element is connected to the output of the FM OTDR; The FM reflectometer is set to the intent of the reflection coefficient of the CWS measure. Since, when passing through the measured microwave pass-through element, both signals — and the incident (extending from the FM reflectometer to the CWS measure) and reflected (propagating from the CWS measure to the FM reflectometer) weaken — both the signal and the reflector measure the reflectance measured The CWS differs from the real one, and the ratio of the true value of the reflection coefficient of the measure of CWS to the measured one is equal to the square of the reflection coefficient of the measured microwave transmission element.

Если использована СВЧ-нагрузка (мера КСВ), коэффициент отражени  которой в исследуемой полосе частот от частоты не зависит , экран осциллоскопа ЧМ-рефлектометра можно отградуировать непосредственно в значени х квадрата коэффициента ослаблени . Устройство наиболее эффективно при измерении с высокой точностью малых коэффициентов ослаблени .If a microwave load is used (a measure of the CWS), the reflection coefficient of which in the frequency band under study does not depend on the frequency, the oscilloscope screen of the FM OTDR can be calibrated directly in the values of the square of the attenuation coefficient. The device is most effective when measuring with low precision low attenuation coefficients.

Предмет изобретени Subject invention

Устройство дл  измерени  ослаблени  проходных элементов СВЧ в полосе частот, содержащее ЧМ-рефлектометр, отличающеес  тем, что, с целью устранени  погрещности рассогласовани , измер емый проходной элемент СВЧ включают между ЧМ-рефлектометром и калиброванной по коэффициенту отражени  СВЧ-нагрузкой.A device for measuring the attenuation of microwave pass-through elements in a frequency band containing an FM reflectometer, characterized in that, in order to eliminate mismatch error, the measured microwave pass-through element is included between the FM reflectometer and the microwave load calibrated with reflectance.

измераемъшmeasurable

(п8но11(p8no11

элег- ентп CBtfElegent CBtf

Мера BfjfpaweHvaMeasure bfjfpaweHva

SU1713658A 1971-11-11 1971-11-11 In P T B SU406172A1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU1713658A SU406172A1 (en) 1971-11-11 1971-11-11 In P T B

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU1713658A SU406172A1 (en) 1971-11-11 1971-11-11 In P T B

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU406172A1 true SU406172A1 (en) 1973-11-05

Family

ID=20492768

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU1713658A SU406172A1 (en) 1971-11-11 1971-11-11 In P T B

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU406172A1 (en)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5945666A (en) Hybrid fiber bragg grating/long period fiber grating sensor for strain/temperature discrimination
US4666304A (en) Optical measurement apparatus
SU406172A1 (en) In P T B
EP0257959A2 (en) Optical fibre measurement apparatus and method
SU1188640A1 (en) Arrangement for measuring coefficient of acoustic oscillation damping
SU907466A1 (en) Device for measuring characteristics of pass-through microwave elements in a waveband
SU104573A1 (en) The method of calibration attenuators (attenuators) at microwave frequencies (UHF)
SU406171A1 (en) DEVICE FOR MEASUREMENT OF DIELECTRICS IN THE STRIP
SU381042A1 (en) DEVICE FOR CHECKING PHASOMETERS
SU1187280A1 (en) Device for determining mismatch degree of communication cables
SU767669A1 (en) Method for measuring selectivity of multiplexors
SU1095120A1 (en) Device for checking group lag time meters
SU1504584A1 (en) Shf moisture meter
SU1613859A1 (en) Method of phase determination of distance
SU1049846A1 (en) Process for automatic calibration testing of electrical measuring instrument
SU1511594A1 (en) Radiation thickness meter
SU482696A1 (en) OTDR indicator
SU1753264A1 (en) Device for measuring diameter of spherical bodies
SU108861A1 (en) Instrument for measuring the diameter of the thinnest wire
SU771564A1 (en) Meter of non-linearity of radoi frequency channel slightly non-linear elements
SU444134A1 (en) Coefficient of communication coefficient
SU411661A1 (en)
SU1257588A1 (en) Device for calibration checking of group lag time
SU1083136A1 (en) Uhf transistor parameter measuring method
SU875294A2 (en) Device for measuring frequency deviation rate