SU406172A1 - In P T B - Google Patents
In P T BInfo
- Publication number
- SU406172A1 SU406172A1 SU1713658A SU1713658A SU406172A1 SU 406172 A1 SU406172 A1 SU 406172A1 SU 1713658 A SU1713658 A SU 1713658A SU 1713658 A SU1713658 A SU 1713658A SU 406172 A1 SU406172 A1 SU 406172A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- microwave
- measure
- reflection
- frequency
- measured
- Prior art date
Links
Description
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ОСЛАБЛЕНИЯ ПРОХОДНЫХ ЭЛЕМЕНТОВ СВЧ В ПОЛОСЕ ЧАСТОТDEVICE FOR MEASUREMENT OF WEAKENING OF MICROWAVE PASSAGE ELEMENTS IN THE AREA OF FREQUENCIES
1one
Изобретеиие относитс к радноизмерительиой техиике СВЧ.The invention relates to microwave measurement techniques.
Известиы устройства дл измерени ослаблеии ироходиых элементов СВЧ в иол-осе частот , в которых измер емый элемент включают между двум датчиками проход щей мощности . При одинаковых частотиых характеристиках датчиков ослаблеин оиредел ют ио отношению ноказаиий датчиков. Однако эти устройства характеризуютс значительной иогрешностью измерени , часть которой обусловлеиа рассогласоваиием. (собственным отражением датчиков, нагрузки иереходных элементов и др.). При измерении малых ослаблеиий иогрешиость рассогласовани вл етс доминирующей, и уменьщение ее применением ирецизионных эле.меитов с малым собственным отражением не всегда возможно.The device is a device for measuring the attenuation of the microwave input elements in the frequency iol-axis, in which the measured element is connected between two transmitting power sensors. With the same frequency characteristics, the sensors weaken the position of the sensor indications. However, these devices are characterized by considerable measurement inaccuracy, part of which is due to a mismatch. (own reflection of sensors, loads of reference elements, etc.). When measuring small attenuations, the error of the mismatch is predominant, and its use of the effective electronic elements with a small proper reflection is not always possible.
Известен ЧМ-рефлектомстр дл измерени модул коэффициента отражени иерегул рностей в иередающих лини х и оконечных устройств СВЧ диаиазоиа.An FM reflector is known for measuring the reflection coefficient modulus of irregularities in the transmitting lines and the microwave devices.
Метод ЧМ-рефлектометрин заключаетс в следуюи1ем: в исследуемую систему с распределенными источниками отражени излучают сигнал посто нной амплитуды с модул цией частоты по линейному (пилообразному) закону; отраженный от нерегул рибстёй сигнал смешиваетс с излученнным, и сигнал разностной частоты (биетитй) подаетс на индикаториый канал. Вследствие линейност ЧМ частота биеиий строго иропорциональиа рассто иию до исследуемой нерегул риости, т- е. сиектр биений повтор ет распределение источников отражени вдоль исследуемо линни. Это иозвол ет с иомощью НЧ перестраиваемого полосового фильтра выделить любой конкретный источник отражени и но амплитуде биений определить значение этого отражени .The FM reflectometrine method consists in the following: a constant amplitude signal with frequency modulation according to a linear (sawtooth) law is emitted into the system under study with distributed sources of reflection; The signal reflected from the irregular Ribsty is mixed with the radiated signal, and the signal of the difference frequency (bietit) is fed to the indicator channel. Due to the linearity of the FM frequency of beats, it is strictly proportional to the investigated irregularity, i.e., the beats of the beats repeat the distribution of reflection sources along the line under study. It is possible with the help of low-frequency tunable bandpass filter to select any specific source of reflection and determine the value of this reflection by the amplitude of the beats.
0 Измерив изменение в течение периода ЧМ зоидирующего сигнала амплитуды конкретных биений (1 апример, с иомощью осциллографа с разверткой, синхронизированной с периодом ЧМ), т. е. его огибающую, можно вы вить0 By measuring the change in the amplitude of a particular beat during the FM period of the zooming signal (1, for example, with an oscilloscope with a scan synchronized with the FM period), i.e., its envelope can be detected
5 и частотную зависимость модул коэффициеита отражени соответствующей нерегул рности .5 and the frequency dependence of the reflection coefficient modulus of the corresponding irregularity.
Однако известное ycTpoiicTso ite нозвол ет измер ть ослабление проходных элемеитоиHowever, the well-known ycTpoiicTso ite allows measuring the attenuation of the passage elements.
0 СВЧ.0 microwave
Цель изобретеин - устранение иогрещиости рассогласовани ири измерении ослаблени The purpose of the invention is to eliminate the inconsistency of the mismatch and measure the attenuation
ироходиых элемеитов СВЧ в полосе частот.irohodyh eleleitov microwave in the frequency band.
Предлагаемое устройство отличаетс тем,The proposed device is different in that
5 чтб ЧМ-рефлектометр использован в совокупности с иодключенной к выходу измер емого элемента калиброванной по коэффициенту отражени СВЧ-нагрузкой (мерой КСВ), представл ющей собой некоторую расчетную нере0 гул рность (индуктивного, емкостного или5 that the FM reflectometer is used in conjunction with the measured element, connected to the output, of a microwave load calibrated by the reflectance (a measure of the CWS), which represents some calculated irregularity (inductive, capacitive or
смешанного типа) в отрезке передающей линии или отрезок передающей линии, нагруженной калиброванным активным сопротивлением.mixed type) in the segment of the transmission line or a segment of the transmission line, loaded with a calibrated resistance.
Меры КСВ выпускаютс серийно; они предназначены дл настройки, поверки и калиб РОБКИ измерителей КСВ в полосе частот.SWR measures are commercially available; they are intended to tune, calibrate and calibrate ROSCOW SWR meters in the frequency band.
Блок-схема устройства представлена на чертеже.The block diagram of the device shown in the drawing.
Вход измер емого проходного элемента СЕЧ подключают к выходу ЧМ-рефлектометра , к выходу измер емого проходного элемента подключают меру КСВ частотна характеристика которой в рассматриваемой полосе частот известна. ЧМ-рефлектометр настроен на намерение коэффициента отражени меры КСВ. Так как при прохождении через измер емый проходной элемент СВЧ ослабевают оба сигнала - и падающий (распростран ющийс от ЧМ-рефлектометра к мере КСВ) и отраженный (распростран ющийс от меры КСВ к ЧМ-рефлектометру), то измеренное ЧМ-рефлектометром значение коэффициента отражени меры КСВ отличаетс от действительного , причем отношение истинного значени коэффициента отражени меры КСВ к измер емому равно квадрату коэффициента отражени измер емого проходного элемента СВЧ.The input of the measured SES pass-through element is connected to the output of the FM OTDR; The FM reflectometer is set to the intent of the reflection coefficient of the CWS measure. Since, when passing through the measured microwave pass-through element, both signals — and the incident (extending from the FM reflectometer to the CWS measure) and reflected (propagating from the CWS measure to the FM reflectometer) weaken — both the signal and the reflector measure the reflectance measured The CWS differs from the real one, and the ratio of the true value of the reflection coefficient of the measure of CWS to the measured one is equal to the square of the reflection coefficient of the measured microwave transmission element.
Если использована СВЧ-нагрузка (мера КСВ), коэффициент отражени которой в исследуемой полосе частот от частоты не зависит , экран осциллоскопа ЧМ-рефлектометра можно отградуировать непосредственно в значени х квадрата коэффициента ослаблени . Устройство наиболее эффективно при измерении с высокой точностью малых коэффициентов ослаблени .If a microwave load is used (a measure of the CWS), the reflection coefficient of which in the frequency band under study does not depend on the frequency, the oscilloscope screen of the FM OTDR can be calibrated directly in the values of the square of the attenuation coefficient. The device is most effective when measuring with low precision low attenuation coefficients.
Предмет изобретени Subject invention
Устройство дл измерени ослаблени проходных элементов СВЧ в полосе частот, содержащее ЧМ-рефлектометр, отличающеес тем, что, с целью устранени погрещности рассогласовани , измер емый проходной элемент СВЧ включают между ЧМ-рефлектометром и калиброванной по коэффициенту отражени СВЧ-нагрузкой.A device for measuring the attenuation of microwave pass-through elements in a frequency band containing an FM reflectometer, characterized in that, in order to eliminate mismatch error, the measured microwave pass-through element is included between the FM reflectometer and the microwave load calibrated with reflectance.
измераемъшmeasurable
(п8но11(p8no11
элег- ентп CBtfElegent CBtf
Мера BfjfpaweHvaMeasure bfjfpaweHva
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU1713658A SU406172A1 (en) | 1971-11-11 | 1971-11-11 | In P T B |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU1713658A SU406172A1 (en) | 1971-11-11 | 1971-11-11 | In P T B |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU406172A1 true SU406172A1 (en) | 1973-11-05 |
Family
ID=20492768
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU1713658A SU406172A1 (en) | 1971-11-11 | 1971-11-11 | In P T B |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU406172A1 (en) |
-
1971
- 1971-11-11 SU SU1713658A patent/SU406172A1/en active
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US5945666A (en) | Hybrid fiber bragg grating/long period fiber grating sensor for strain/temperature discrimination | |
US4666304A (en) | Optical measurement apparatus | |
SU406172A1 (en) | In P T B | |
EP0257959A2 (en) | Optical fibre measurement apparatus and method | |
SU1188640A1 (en) | Arrangement for measuring coefficient of acoustic oscillation damping | |
SU907466A1 (en) | Device for measuring characteristics of pass-through microwave elements in a waveband | |
SU104573A1 (en) | The method of calibration attenuators (attenuators) at microwave frequencies (UHF) | |
SU406171A1 (en) | DEVICE FOR MEASUREMENT OF DIELECTRICS IN THE STRIP | |
SU381042A1 (en) | DEVICE FOR CHECKING PHASOMETERS | |
SU1187280A1 (en) | Device for determining mismatch degree of communication cables | |
SU767669A1 (en) | Method for measuring selectivity of multiplexors | |
SU1095120A1 (en) | Device for checking group lag time meters | |
SU1504584A1 (en) | Shf moisture meter | |
SU1613859A1 (en) | Method of phase determination of distance | |
SU1049846A1 (en) | Process for automatic calibration testing of electrical measuring instrument | |
SU1511594A1 (en) | Radiation thickness meter | |
SU482696A1 (en) | OTDR indicator | |
SU1753264A1 (en) | Device for measuring diameter of spherical bodies | |
SU108861A1 (en) | Instrument for measuring the diameter of the thinnest wire | |
SU771564A1 (en) | Meter of non-linearity of radoi frequency channel slightly non-linear elements | |
SU444134A1 (en) | Coefficient of communication coefficient | |
SU411661A1 (en) | ||
SU1257588A1 (en) | Device for calibration checking of group lag time | |
SU1083136A1 (en) | Uhf transistor parameter measuring method | |
SU875294A2 (en) | Device for measuring frequency deviation rate |